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- SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
标准号:
SJ 2214.8-1982
标准名称:
半导体光敏三极管暗电流的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-11-30 -
实施日期:
1983-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
35.52 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏三极管暗电流的测试方法本标准适用于光敏三极管暗电流I,的测试。测试暗电流总的要求应符合SJ2214.1-82《半导体光敏管测试方法总则》。暗电流I的测试
2.1定义
SJ2214.8-82
在无光照下(基极开路),集电极一发射极间的电压为规定值时,流过集电极的电流为暗电流Io2.2暗电流的测试原理图应符合下图。@
3测试步骤免费标准下载网bzxz
稳压源
调节集电极与发射极间的稳压电源至规定值,这时电流表上的读数即为所测的暗电流Ip中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
2.1定义
SJ2214.8-82
在无光照下(基极开路),集电极一发射极间的电压为规定值时,流过集电极的电流为暗电流Io2.2暗电流的测试原理图应符合下图。@
3测试步骤免费标准下载网bzxz
稳压源
调节集电极与发射极间的稳压电源至规定值,这时电流表上的读数即为所测的暗电流Ip中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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