【电子行业标准(SJ)】 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器输出
饱和压降的测试方法
本标准适用于光耦合器输出饱和压降VcE（san）的测试SJ2215.8--82
测试输出饱和压降总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输出饱和压降VeE(a)的测试
2.1定义
发光二极管工作电流I,和集电极电流Ic为规定值时，并保持Ic/Ir3测试步骤
恒流源
接上被测管后，调节发光二极管部分恒流源，使I达到规定值，然后调节集电极恒流源使Ic为规定值，这时电压表上的读数即为输出饱和压降VcE（an）。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1免费标准下载网bzxz
1983-07-01实施
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