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- SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
标准号:
SJ 2215.12-1982
标准名称:
半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-11-30 -
实施日期:
1983-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
37.34 KB
部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间
隔离电容的测试方法
SJ2215.12—82免费标准bzxz.net
本标准适用于光耦合器人出间隔离电容Ciso的测试测试输人一输出间电容Ciso的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输人一输出间电容Crso的测试
2.1定义
光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。2.2输人至输出间电容Ciso的测试原理图应符合下图。电容计
3测试步骤
调节零位,然后放上被测管在指示器上显示出来的读数,即为该管的输人输出间的隔离电容。注:测试、频率及讯号幅度在产品标准中规定。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
隔离电容的测试方法
SJ2215.12—82免费标准bzxz.net
本标准适用于光耦合器人出间隔离电容Ciso的测试测试输人一输出间电容Ciso的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输人一输出间电容Crso的测试
2.1定义
光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。2.2输人至输出间电容Ciso的测试原理图应符合下图。电容计
3测试步骤
调节零位,然后放上被测管在指示器上显示出来的读数,即为该管的输人输出间的隔离电容。注:测试、频率及讯号幅度在产品标准中规定。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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