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- SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
标准号:
SJ 2215.14-1982
标准名称:
半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-11-30 -
实施日期:
1983-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
38.51 KB
部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间
绝缘耐压的测试方法
SJ2215.14-82
本标准适用于光耦合器人出间绝缘耐压Viso的测试。测试入出间绝缘耐压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2人出间绝缘耐压Viso的测试
2.1定义
光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。2.2人出间绝缘耐压Viso的测试原理图应符合下图。Rbzxz.net
测试步骤
调节电源,使其电压达到规定值,在额定时间,电流不超过规定值,此电压表读数,即为人出间绝缘耐压值Viso。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
绝缘耐压的测试方法
SJ2215.14-82
本标准适用于光耦合器人出间绝缘耐压Viso的测试。测试入出间绝缘耐压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2人出间绝缘耐压Viso的测试
2.1定义
光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。2.2人出间绝缘耐压Viso的测试原理图应符合下图。Rbzxz.net
测试步骤
调节电源,使其电压达到规定值,在额定时间,电流不超过规定值,此电压表读数,即为人出间绝缘耐压值Viso。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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