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【电子行业标准(SJ)】 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法

本网站 发布时间: 2024-07-13 20:16:16
  • SJ2215.14-1982
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2215.14-1982

  • 标准名称:

    半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1982-11-30
  • 实施日期:

    1983-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    38.51 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理

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出版信息

  • 页数:

    1页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

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标准下载解压密码:www.bzxz.net

SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 SJ2215.14-1982

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间www.bzxz.net
绝缘耐压的测试方法
SJ2215.14-82
本标准适用于光耦合器人出间绝缘耐压Viso的测试。测试入出间绝缘耐压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2人出间绝缘耐压Viso的测试
2.1定义
光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。2.2人出间绝缘耐压Viso的测试原理图应符合下图。R
测试步骤
调节电源,使其电压达到规定值,在额定时间,电流不超过规定值,此电压表读数,即为人出间绝缘耐压值Viso。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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