【电子行业标准(SJ)】 电子器件详细规范 ３ＤＧ３１３０型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)

中华人民共和国国家标准
电子元器件详细规范
3DG3130型
高频放大环境额定双极型晶体管Detail specification forelectroniccomponentBipolar transistor for ambient-ratedhigh-frequencyamplificationof type3DG3130本标准规定了3DG3130型高频放大环境额定双极型晶体管的详细要求本标准适用于3DG3130型高频放大环境额定双极型晶体管。GB10279—88
降为SJ/T11060-96
本标准是按GB6217《高低频放大环境额定双极型晶体管空白详细规范》制定的，符合GB4936.1《半导体分立器件总规范》I类的要求。中华人民共和国电子工业部1988-04-22批准1
TTTKKAca
1989-08-01实施
国家标准局
评定器件质量的根据：
《半导体分立器件总规范》
3DG31S0型详细规范
订货资料：见本规范第7章
1机械说明
GB10279—88
GB10279--88
2简要说明
外形标准，GB7581《半导体分立器件外形尺寸》中代号E3—01A型
外形图及引出端识别：
3~0千6°
0,65±0.15
标志：见本规范第6章
0.65±0.15
高频放大环境额定双极型晶体管半导体材料，N型硅
封装：塑料（非空腔）
应用，主要用于电子调谐器UHF、VHF频段本振，混频及其它高频电路中。
质量评定类别
参考数据
Plot=150mW
Ie=50mA
ft≥1400MHz
YYKAONYKa
极限值（绝对最大额定值）
除非另有规定，Tamb=25℃
条文号
5电特性
环境温度
贮存温度
最大集电极一基极直流电压
GB10279--88
最大集电极一发射极直流电压
最大发射极一基极直流电压
最大集电极直流电流
最大集电极耗散功率
最高有效结温
检验要求见本规范第8章
条文号
特性和条件
除非另有规定，T.=25℃
共发射极正向电流传输比静态值Vc4V,Jc-5mA
特征频率
f200MHz
集电极一-基极载止电流
VcB-15V
集电极一发射极截止电流
Vcn10V
hFe(1)
IcBo(1)
最小值
YYKAONTKa
最小值
最大值
最大值
检验组别
条文号
6标志
特性和条件
除非另有规定，T.=25℃
高温下的集电极-一基极截止电流Ven=10V Ig-0
Tm.b=100℃
发射极一基极截止亢流
Vgm=2V
集电极一发射极饱和压降
Ie=20mA
共基极输出电容
f=1MHz
共基极反馈电容
VcB-4V
f=1MHz
集电极一基极时间第数
VcB=4V
Ig=5mA
6.1器件上的标志
a。简略型号，
b．制造厂商标。
6.2包装盒上的标志
型号（和简略型号）和质熹类别：a.
制造厂名称和商标，
检验批识别代码，
防潮”等。
GB10279-88
最小值
IcBo(2)
rh', Ce
YYKAONYKCa
最大值
检验组别
7订货资料
a：型号；
b.本规范编号，
c其它。
8试验条件和检验要求
GB10279-88
在本章中，除非另有规定，引用的条文号对应于GB4936.1的条文号，测试方法引自GB4936.1第6.1.1条
A组逐批
全部试验都是非破坏性的
检验或试验
A1分组
外部目检
A2a分组
不工作器件
共发射极正向电流传输比静
集电极一基极截止电流
A2b分组
共发射极正向电流传输比静
集电极一基极截止电流
集电极一发射极裁止电流
发射极一基极截止电流
集电极一发射极饱和压降
A4分组
特征频率
hre(1)
IcBoct)
hpE(1)
IcBoc)
VcE(rat)
引用标准
除非另有规定
T.m=25℃
VcE=4V,Ic-5mA
VcB=15V,Ig=0
VcE=4V,Ic-5mA
Vc=15V,Ig=0
VcE=10V,IB=0
Vg82V,Ic=0
Ic=20mA,Ip=4mA
VcB=4V,Ig=5mA
f=200MHz
YYKAONTKAa
检验要求
最小值最大值
标志清晰，表
面无机械损伤
只有标明（D）的试验是破坏性的检验或试验
B1分组
B3分组
引出端强度：
弯曲(D)
B4分组
可焊性
B5分组
温度变化
继之以
交变湿热（D）
最后测试，
集电极一基极截止电流
共发射极正向电流传输比静
GB10279—88
B组—逐批
引用标准
GB4937,1)
GB4937，
GB4937，
GB2423.42)
Icro(1)
方法1
除非另有规定
Teab=25℃
受试引出端数：3
弯曲20°，1次
外加力：0.5N
试验b
受试引出端数：3
其它规定见本规范附录A
TA=55℃
Te=125℃
ti=30min
严酸等级：
温度55℃，
周期数6天
恢复条件、正常的试验
大气条件
按A2b分组
按A2b分组
检验要求
最小值最大值
按本规范
第1章
无损伤
按GB4937，
按A2b分组
按A2b分组
注；1）GB4937《半导体分立器件机械和气候试验方法》2）GB2423.4《电工电子产品基本环境试验规程试验D：交变湿热试验方法》.YYKAONTKa
检验或试验
B8分组
电耐久性
最后渺试
第电极一塞极截止电流
共发射极正向电流传输
比静态值
集电极一发射极饱和压降
B9分组
高温览存
最后测试：
同B8组
CRRL分组
IcBo(1)
hee(t)
GB10279--88
引用标准
GB49381)
T--006
GB4937,
除非另有规定
Tamb25℃
工作寿命t=168h
Pr.-150mW
Vcg-gv
VcB=15V,Ig=0
Vcz—4V
Ic=5mA
Ic-20mA,I=4mA
t=168h,T，t125℃
按B8分组
就B3、B4、B5、B8和B9分组提供计数检查结果注：1）GB4938《半导体分立器件接收和可靠性）。C组周期
只有标明（D）的试验是破坏性的条
检验或试验
C1分组
引用标准
除非另有规定
T-25℃
YYKAONTKAa
检验要求
最小值最大值
按B8分组
检验要求
最小值最大值
按本规范
第1章
检验或试验
C2a分组
共基极输出电容
基极反馈电容
集电极一基极时间
C2b分组
高温下集电极一基极载
止电流
C3分组
引出端强度，
拉力(D)
C4分组
耐焊接热（D）
最后测试，
同B5分组
C7分组
稳态湿热（D）
最后测试：
同B5分组
C8分组
电耐久性
最后测试：
同B8分组
Thbhicc
lc8o(2)
GB10270--B8
引用标准
GB4937
GB4937,
GB4938
除非另有规定
Vc8-4V, Ig-0
f=1MHz
Vc-4V,Ig=0
f=1MH名，本规范附录B
Vc=4V.Jg*5mA
f=31.9MHz，本规范附录C
Vc1-10V,Ig-0
T.m-100℃
外加力：IN
受试引出端数，3
方法1A
按B5分组
严格度1，
Vcgt12V,t168h
按B5分组
P1-150mW.Vcz-8V
工作寿命=1000h
按B8分组
YYKAONYKCa
检验娶求
最小值最大值
按GB4937，
B5分组
按B5分组
按B8分组
检验或试验
C9分组
高温存（D）wwW.bzxz.Net
最后测试，
同B8分组
C11分组
标志耐久性
C12分组
易燃性（外部引起）
CRRL分组
9D组·一监定批准试验
GB10279--88
引用标准
GB4937,
GB4937，
CB4937,
除非另有规定
T.mb=25℃C
T.-125℃
t=1000h
按B8分组
方法2
按GB4937，
就C2、C3、C4、C7、C9分组提供计数检查结果：提供C8分组试验前后的计量检查结果检验要求
最小值最大值
按B8分组
按GB4937.
按GB4937，
D组试验除鉴定时必须进行外，每12个月应进行一次，仅为了提供资料，不作验收依据。条
检验或试验
电耐久性
最后测试：
同C8分组
CRRL分组
引用标准
GB4938
除非另有规定
m=259℃
（见GB4936.1第4章）
时间：至少2000h，在168h、
1000h、2000h测试，其它同
B8分组
同C8分组
提供D组试验前后的计量检查结果YYKAONTKa
检验要求
最小值最大值
同C8分组
A1加速老化
GB10279-88
附录A
器体管可焊性
（补充件）
对于在器件制成后，又进行沾锡（或镀锡）的器件，需做加速老化。其条件是：100℃水蒸气中置放一小时。
A2试验方法
优先采用槽焊法。
b。必要时，可采用润湿称量法。按国标GB2423.32《电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法》进行。润湿过程，按使用非活性焊剂时，在3秒钟内达到理论润湿力的35%。附录B
基极反馈电容Ct测试图
（补充件）
YYKAONTKa
?输出
附加说明：
GB10279-88
附录C
集电极一基极时间常数测试电路（补充件）
100nHs
本标准由丹东半导体器件总厂起草11
10OHHI
3300pt
YYKAONYKa
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