【电子行业标准(SJ)】 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

中华人民共和国国家标准
电子玻璃高频介质损
耗和介电常数的测试方法bzxz.net
Test method for high frequencydielectric losses and dielectric constant of electronic glass本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电带数。1方法提要
GB9622.9—88
降为SJ/T11043-96
本标准利用Q表，在高频波段，根据谐振原理，对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量，求得在谐振回路的品质因数和回路电容，通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数。2测试仪器及材料
2.1高频Q表，振荡频率范围：50kHz~50MHz，电容调节范围：40~400pF，Q值测量范围：20~300。2.2游标卡尺。
2.3无水乙醇，分析纯。
2.4低温银膏。
3试样制备
3.1选取无结石、气泡和条纹等缺陷的玻璃圆片，直径为40mm，厚度为3mm，进行退火处理，消除应力。
3.2将试样表面研磨至厚度为2.5士0.5mm。3.3试样用蒸馅水、无水乙醇清洗、烘干，在两平面涂以低温银膏，量于高温炉中，在460500℃保温10min，缓慢冷却到室温。表面涂覆层应紧密均匀、导电良好。最后用细砂纸磨去边缘的银层，再用无水乙醇清洗干净。
3.4在每个试样两面对称位置焊接导线。4测试步骤
4.1准确测量试样直径和厚度。
.4.2接通Q表电源，预热。
4.3根据试样要求的频率，选择Q值最大的电感线圈接在Q表电感线圈接线柱上，并在频段调节盘上选取测试所要求的频率。
4.4调整Q表。
4.5调节回路电容，使之谐振，记录Q表的读数Q和电容C1。4.6将试样接入Q表接试样的接线柱上，再调节回路电容到谐振，记录Q表的读数Q2和电容C2。5计算
5.1用（1)式计算介质损耗角正切值t8p中华人民共和国电子工业部1988-03-21批准1
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1989-02-01实施
GB9622.9—88
(QQ2)(Ch—Co)
(C,— C2) Q . Q2
式中：Co——电感线圈的分布电容，pF，一般可忽略不计，Q—未接入试样时，回路的品质因数；Ci-未接入试样时，回路的电容，pF;Q——接入试样时，回路的品质因数；C,——接入试样时，回路的电容，pF。5.2用（2)式计算试样的介电常数e(pF/m）c.8
式中：C—试样的电容量，pF;
o-试样的厚度，m;
D-试样的直径，m。
6测试结果
·（2）
本方法允许测定误差，以t9表示，为0.0002，同一批试样五次平行测定数据之间相差在此范围内时，取平均值作为测试结果。
附加说明：
本标准由电子工业部4401厂、4404厂4400厂、标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：沈雁迅、罗声华、白义祥、庞淑琴、刘承钧。2
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