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- SJ/T 11059-1996 电子器件详细规范 CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用)

【电子行业标准(SJ)】 电子器件详细规范 CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用)
本网站 发布时间:
2024-07-14 15:57:20
- SJ/T11059-1996
- 现行
标准号:
SJ/T 11059-1996
标准名称:
电子器件详细规范 CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用)
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1996-11-20 -
实施日期:
1997-01-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
526.40 KB
替代情况:
原标准号GB 10278-88采标情况:
IEC 47(co)816 MOD

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管的详细要求。本标准适用于CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管。 SJ/T 11059-1996 电子器件详细规范 CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用) SJ/T11059-1996

部分标准内容:
UDC621.5BZ.33
中华人民共和国国家标准
GB10278-88
降为SJ/T11059-96
电子元器件详细规范
CS4220A型
单栅N沟结型场效应晶体管
Detail specification for electronic componentN-channel single-gate junction type field-effecttransistor of type CS4220A
(可供认证用)
1988-12-30发布
1989-08-01实施
国家技术监督局发布
TTTKKAca
中华人民共和国国家标准
电子元器件详细规范
CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管Detail specification for electronic componentN-channel single-gate junction type field-effecttransistoroftypeCS4220A
(可供认证用)
本标准规定了CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管的详细要求。本标准适用于CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管。GB10278--88
本标准是按GB6219《1GHZ、5W以下单栅场效应晶体管空白详细规范》制订的,符合GB4936.1《半导体分立器件总规范》直类的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国电于工业部1988-04-22批准YYKAONYKCa
1989-08-01实施
国家标准局
评定器件质量的根据:
GB4936.1《半导体分立器件总规范》CS4220A型详细规范
订货资料:见本规范第7章
1机械说明
GB10278--88
外形源准,GB7581《半导体分立器件外形尺寸》中代号A4-51B
外形图及引时器识究:
5.31~5:84
4.59~4.95
S源、D满、G棚,(C接外壳(屏蔽),标志:见本规范第6章2
GB10278—88
簡路说明
单N沟结型场效应晶体管
平导体材料:硅
封装:金属(空腔)
应用:适用高输入阻抗电压控制低频低噪声、小信号放大电路
注意,源、漏极性不能互换
质量评定类别
参考数据:
V(BR)GSS= -30V
IG=10mA
Ip=15rA
Ptet=300mw
按本详创规范鉴定合格的器件,其制造厂的有关资料,见合格产品一览表2
YYKAONTKAa
极限值(绝对慢大额定值)
除非另有规定,Tmb=25℃
条文号
电特性
最低和最高的工作环境温度
最低和最高的贮存温度
最高漏源电压
(VGs-Ves(01n)+(-1)V)
源极开路时的最高栅漏电压
最大正向栅极电流
最大漏极电流
最大耗散功率
检验要求见本规范第8章。
条文号
特性和条件
除非另有规定,T.=25℃
栅-源击穿电压
VDs-0V,IG--10μA
栅极截止电流
(栅极反向电流)
VGs--15V
栅极截正电流
m=125℃
VDs=0V,VGS--15V
栅源截正电压
VDs-15V.Ip=0.1nA
涌极电流
(饱和漏极电流)
VDs-15V
VGS=OV
小信号短路正向跨导
VGs-0V
f=1kHz
小信号短路输出电导
Vps-15V
VGs-OV
小信号短路输入电容
VDs=15V,
VGs-OV
f=1MHz
小信号短路反馈电客
VDs-15V
VGS-OVbZxz.net
f=1MHz
等效输入噪声电压
ID=200μA
VDs=15V
GB10278—88
V(BR)GDO
V(BR)GSS
IGss(1)
IGss(2)
VGs(eft)
YYKAONTKAa
最小值
最小值
最大值
最大值
检验组别
6标志
6.1器件上的标志
型号和质量类别,
制造厂商标,
检验批识别代码,
认证合格标志(适用时)。
6.2包装盒上的标志
型号和质量类别:
制造厂名称和商标,
检验批识别代码;
认证合格标志(适用时)
e.“防潮”等。
7订货资料
型号,
b,本规范编号。
8试验条件和检验要求
GB1027888
在本章中,除非另有规定,引用的条文号对应于GB49361的条文号,测试方法引自GB4936,1第6.1.1条。
A组逐批
全部试验都是非破坏性的
检验或试验
A1分组
外部目检
A2a分组
不工作器件
栅源截止电压
A2b分组
栅极截止电流
漏极电流
盐原截止电压
燃源击穿电压
A3分组
小信号短路正向跨导
A4分组
等效输入噪声电压
VGs(off)
IGss()
VGs(ett)
V(BR)GSS
引用标准
T--071
T--072
除非另有定规,T.m=25℃
Vps-15V
Vps=0V.Ves---15V
VDs-15V
VDs-15V.ID-0.1nA
VDS-0V,IG--10 μA
Vps=15V,VGs=0V
f=1kHz
Vps=-15V,f=100Hz
ID=200μA
YYKAONYKCa
最小值最大值
标志清晰,表
面无机械损伤
只有标明(D)的试验是破坏性的检验或试验
B1分组
B3分组
引出端强度:
弯曲(D)
B4分组
可焊性
B5分组
温度变化
继之以
BB分组
电耐久性
最后测试:
栅源截止电压
漏极电流
栅极截止电流
CRRL分组
引用标准
GB10278-88
B组一一逐批
除非另有规定,T。m=25℃
GB4937,
GB4937,
方法1
受试引出端数:4
外加力:2.5N
试验b,
其它规定见本规范附录A
TA=-55℃,TB=125℃
方法1
方法2,试验液体:氟油
高温反偏
Vestott)
IGss(n)
TA125℃.VDGo:4V
VDs=15V,ID=0.1nA
VGs-0V,VDs-15V
VDsV,VGs--J5V
就B1、B3、B4、B5、B8分组提供计数检查结果注:1)GB4937《半导体分立器件机械和气候试验方法》。YYKAONTKa
最小值
检验要求
最大值
按本规范第1章
无损伤
按GB4937
5×10-2Pa.cma
接GB4837,
3.7.5.5.5
只有标明(D)的试验是破坏性的检验或试验
C1分组
C2a分组
前入电客
反馈电容
输出电导
C2b分组
酬极截止电流
C3分组
引出端强度:
拉力(D)
C4分组
焊接热
最后测试:
栅源截止电压
C6分组
恒定加速度
最后测试:
栅源截止电压
册极截止电流
IGss(2)
GB10278--88
C组—周期
引用标准
T--086
T—071
除非另有规定,Tamb=25℃
Vps= 15V, VGs=0V.
f=1MHz
Vps=15V,Ves-0V,
VDs=15V, VGs=0V,
T amb= 125℃, VDs=0V.
最小值最大值
按本规范第1章
VGs--15V
GB4937
VGs(ain)
GB4937,
VGstoff)
IGss(1)
T--074
T--071
外加力:5N
受试引出端数:4
方法IA
Vps=15V,In=0.inA
严格度:196000m/sz
加速度轴和方向:Y1,X
Vps15V.Ip=0.1nA
Vps=0V,VGs-15V
YYKAONTKa
按GB4937,
检验或试验
C8分组
电耐久性
最后测试:
齿源截正电压
榭极截止电流
正向跨导
漏极电流
C9分组
高温贮存
最后测试:
栅痕截止电压
栅极截止电流
正向跨导
极电流
C11分组
标志耐久性
CRRL分组
VGss(orm)
IGss(t)
引用标准
GB10278-88
除非另有规定,Tb=25℃
工作寿命
GB6219
T--074
T--078
GB4937,
T—-074
Vss(ofn)
IGss(n)
T—071
GB4937,
VDs-15V,Ip-IDs
t=1000h
Vps=15V,Ip=0.1nA
VDs-0V,VGs--15V
Vps-15V,VGs=0V
f=IKHz
VGs=0V,VGs=15V
T.tg=200℃,t=1000h
VDs=J5V,ID=0.inA
VDs=oV.VGs-15V
VDs=15V.VGs0V
f=1KHz
VGs=0V,VDs=15V
方法2,溶液:三氯乙烯
检验要求
最小值
最大值
按GB4937,4.2
就C2、C3.C4.C6、C9和C!1分组提供计数检查结果,提供C8分组试验前后的计量检查结果鉴定批准试验
D组试验除鉴定时必须进行外,每12个月应进行一次,仅为了提供资料,不作验收依据。条
检验或试验
电耐久性
最后测试:
同C8分组
CRRL分组
引用标准
GB6219
除非另有规定,T.mb=25℃
VDs=15V.ID-IDss,
t=3000h
同C8分组
提供D组试验前后的计最检查结果YYKAONYKCa
检验要求
最小值最大值
同C8分组
310278-88
附录A
体管可焊
(补充件)
加速老化
对于在器件制成后,又进行沾锡(或镀锡)的器件,做加速老化,其条件是100℃水蒸气中置放1h。
试验方法
a。优先采用槽焊法。
b.必要时,可采用润湿称量法。按国标GB2423.32《电工电子产品基本环境试验规程》的润湿称量法的可焊性试验方法进行。润湿过程,按使用非活性焊剂时,在3s内达到理论润湿力的35%。附加说明:
本标准由上海无线电十四厂负责起草。8
YYKAONrKAa
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
中华人民共和国国家标准
GB10278-88
降为SJ/T11059-96
电子元器件详细规范
CS4220A型
单栅N沟结型场效应晶体管
Detail specification for electronic componentN-channel single-gate junction type field-effecttransistor of type CS4220A
(可供认证用)
1988-12-30发布
1989-08-01实施
国家技术监督局发布
TTTKKAca
中华人民共和国国家标准
电子元器件详细规范
CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管Detail specification for electronic componentN-channel single-gate junction type field-effecttransistoroftypeCS4220A
(可供认证用)
本标准规定了CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管的详细要求。本标准适用于CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管。GB10278--88
本标准是按GB6219《1GHZ、5W以下单栅场效应晶体管空白详细规范》制订的,符合GB4936.1《半导体分立器件总规范》直类的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国电于工业部1988-04-22批准YYKAONYKCa
1989-08-01实施
国家标准局
评定器件质量的根据:
GB4936.1《半导体分立器件总规范》CS4220A型详细规范
订货资料:见本规范第7章
1机械说明
GB10278--88
外形源准,GB7581《半导体分立器件外形尺寸》中代号A4-51B
外形图及引时器识究:
5.31~5:84
4.59~4.95
S源、D满、G棚,(C接外壳(屏蔽),标志:见本规范第6章2
GB10278—88
簡路说明
单N沟结型场效应晶体管
平导体材料:硅
封装:金属(空腔)
应用:适用高输入阻抗电压控制低频低噪声、小信号放大电路
注意,源、漏极性不能互换
质量评定类别
参考数据:
V(BR)GSS= -30V
IG=10mA
Ip=15rA
Ptet=300mw
按本详创规范鉴定合格的器件,其制造厂的有关资料,见合格产品一览表2
YYKAONTKAa
极限值(绝对慢大额定值)
除非另有规定,Tmb=25℃
条文号
电特性
最低和最高的工作环境温度
最低和最高的贮存温度
最高漏源电压
(VGs-Ves(01n)+(-1)V)
源极开路时的最高栅漏电压
最大正向栅极电流
最大漏极电流
最大耗散功率
检验要求见本规范第8章。
条文号
特性和条件
除非另有规定,T.=25℃
栅-源击穿电压
VDs-0V,IG--10μA
栅极截止电流
(栅极反向电流)
VGs--15V
栅极截正电流
m=125℃
VDs=0V,VGS--15V
栅源截正电压
VDs-15V.Ip=0.1nA
涌极电流
(饱和漏极电流)
VDs-15V
VGS=OV
小信号短路正向跨导
VGs-0V
f=1kHz
小信号短路输出电导
Vps-15V
VGs-OV
小信号短路输入电容
VDs=15V,
VGs-OV
f=1MHz
小信号短路反馈电客
VDs-15V
VGS-OVbZxz.net
f=1MHz
等效输入噪声电压
ID=200μA
VDs=15V
GB10278—88
V(BR)GDO
V(BR)GSS
IGss(1)
IGss(2)
VGs(eft)
YYKAONTKAa
最小值
最小值
最大值
最大值
检验组别
6标志
6.1器件上的标志
型号和质量类别,
制造厂商标,
检验批识别代码,
认证合格标志(适用时)。
6.2包装盒上的标志
型号和质量类别:
制造厂名称和商标,
检验批识别代码;
认证合格标志(适用时)
e.“防潮”等。
7订货资料
型号,
b,本规范编号。
8试验条件和检验要求
GB1027888
在本章中,除非另有规定,引用的条文号对应于GB49361的条文号,测试方法引自GB4936,1第6.1.1条。
A组逐批
全部试验都是非破坏性的
检验或试验
A1分组
外部目检
A2a分组
不工作器件
栅源截止电压
A2b分组
栅极截止电流
漏极电流
盐原截止电压
燃源击穿电压
A3分组
小信号短路正向跨导
A4分组
等效输入噪声电压
VGs(off)
IGss()
VGs(ett)
V(BR)GSS
引用标准
T--071
T--072
除非另有定规,T.m=25℃
Vps-15V
Vps=0V.Ves---15V
VDs-15V
VDs-15V.ID-0.1nA
VDS-0V,IG--10 μA
Vps=15V,VGs=0V
f=1kHz
Vps=-15V,f=100Hz
ID=200μA
YYKAONYKCa
最小值最大值
标志清晰,表
面无机械损伤
只有标明(D)的试验是破坏性的检验或试验
B1分组
B3分组
引出端强度:
弯曲(D)
B4分组
可焊性
B5分组
温度变化
继之以
BB分组
电耐久性
最后测试:
栅源截止电压
漏极电流
栅极截止电流
CRRL分组
引用标准
GB10278-88
B组一一逐批
除非另有规定,T。m=25℃
GB4937,
GB4937,
方法1
受试引出端数:4
外加力:2.5N
试验b,
其它规定见本规范附录A
TA=-55℃,TB=125℃
方法1
方法2,试验液体:氟油
高温反偏
Vestott)
IGss(n)
TA125℃.VDGo:4V
VDs=15V,ID=0.1nA
VGs-0V,VDs-15V
VDsV,VGs--J5V
就B1、B3、B4、B5、B8分组提供计数检查结果注:1)GB4937《半导体分立器件机械和气候试验方法》。YYKAONTKa
最小值
检验要求
最大值
按本规范第1章
无损伤
按GB4937
5×10-2Pa.cma
接GB4837,
3.7.5.5.5
只有标明(D)的试验是破坏性的检验或试验
C1分组
C2a分组
前入电客
反馈电容
输出电导
C2b分组
酬极截止电流
C3分组
引出端强度:
拉力(D)
C4分组
焊接热
最后测试:
栅源截止电压
C6分组
恒定加速度
最后测试:
栅源截止电压
册极截止电流
IGss(2)
GB10278--88
C组—周期
引用标准
T--086
T—071
除非另有规定,Tamb=25℃
Vps= 15V, VGs=0V.
f=1MHz
Vps=15V,Ves-0V,
VDs=15V, VGs=0V,
T amb= 125℃, VDs=0V.
最小值最大值
按本规范第1章
VGs--15V
GB4937
VGs(ain)
GB4937,
VGstoff)
IGss(1)
T--074
T--071
外加力:5N
受试引出端数:4
方法IA
Vps=15V,In=0.inA
严格度:196000m/sz
加速度轴和方向:Y1,X
Vps15V.Ip=0.1nA
Vps=0V,VGs-15V
YYKAONTKa
按GB4937,
检验或试验
C8分组
电耐久性
最后测试:
齿源截正电压
榭极截止电流
正向跨导
漏极电流
C9分组
高温贮存
最后测试:
栅痕截止电压
栅极截止电流
正向跨导
极电流
C11分组
标志耐久性
CRRL分组
VGss(orm)
IGss(t)
引用标准
GB10278-88
除非另有规定,Tb=25℃
工作寿命
GB6219
T--074
T--078
GB4937,
T—-074
Vss(ofn)
IGss(n)
T—071
GB4937,
VDs-15V,Ip-IDs
t=1000h
Vps=15V,Ip=0.1nA
VDs-0V,VGs--15V
Vps-15V,VGs=0V
f=IKHz
VGs=0V,VGs=15V
T.tg=200℃,t=1000h
VDs=J5V,ID=0.inA
VDs=oV.VGs-15V
VDs=15V.VGs0V
f=1KHz
VGs=0V,VDs=15V
方法2,溶液:三氯乙烯
检验要求
最小值
最大值
按GB4937,4.2
就C2、C3.C4.C6、C9和C!1分组提供计数检查结果,提供C8分组试验前后的计量检查结果鉴定批准试验
D组试验除鉴定时必须进行外,每12个月应进行一次,仅为了提供资料,不作验收依据。条
检验或试验
电耐久性
最后测试:
同C8分组
CRRL分组
引用标准
GB6219
除非另有规定,T.mb=25℃
VDs=15V.ID-IDss,
t=3000h
同C8分组
提供D组试验前后的计最检查结果YYKAONYKCa
检验要求
最小值最大值
同C8分组
310278-88
附录A
体管可焊
(补充件)
加速老化
对于在器件制成后,又进行沾锡(或镀锡)的器件,做加速老化,其条件是100℃水蒸气中置放1h。
试验方法
a。优先采用槽焊法。
b.必要时,可采用润湿称量法。按国标GB2423.32《电工电子产品基本环境试验规程》的润湿称量法的可焊性试验方法进行。润湿过程,按使用非活性焊剂时,在3s内达到理论润湿力的35%。附加说明:
本标准由上海无线电十四厂负责起草。8
YYKAONrKAa
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