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- GB/T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)

【国家标准(GB)】 半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
本网站 发布时间:
2024-08-05 08:00:55
- GB/T4589.1-1989
- 已作废
标准号:
GB/T 4589.1-1989
标准名称:
半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
标准类别:
国家标准(GB)
英文名称:
General specification for discrete semiconductor devices and integrated circuits (for certification purposes)标准状态:
已作废-
发布日期:
1989-03-31 -
实施日期:
1990-01-01 -
作废日期:
2007-02-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
815.19 KB
标准ICS号:
电子学>>31.080半导体器件中标分类号:
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
替代情况:
替代GB/T 4589.1-1984;被GB/T 4589.1-2006代替采标情况:
≡IEC 747-10-84

部分标准内容:
1范围
中华人民共和国国家标准
半导体器件
分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices
Generit specificatlon for
discrete devices aad integrated circuits(可供认证用)
本标准构成国际电工委员会电予元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。CB 4589. 1-89
IEC 747-10
IECQ QC 700000
本标准是半导体器件(分立器件和集成电路,包括客片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。本标准规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则:电特性的测试方法
气候的机械试验:
耐久性试验。
注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、种类(或族)规范和空白详细规范时,必须用这些规范来补充本标准。
2总则
2.1优先顺序
当出现矛盾的娶求时,各种文件应按以下权限顶序排列:(1)详细规范;
种类(或族)规范(若存在时)
空白详细规范;
分规范,
(5)总规范;
基础规范+
IECQ程序规则;
需要参考的其他国际文件,如IEC文件;(9)
国家文件。
同样的优先顺序也适用于等效的国家文件。2.2有关文件
详细规范应指出适用的文件:
IEC标准:
IEC 27
电工技术中使用的文字符号
国际电工技术词汇(IEV)
基本环境试验规程
中华人民共和国机械电子工业部1989-03-18批准1990-01-01实施
GB 4589.189
IEC 681(1982)第1部分:总则和导则IEC68-2第2部分:试验
或者IEC 147,IEC 148 :
IEC147半导体器件的基本额定值和特性及测试方法的一般原理IEC 147-0(1966)
第0部分:总则和术语
及其补充
IEC 147-1(1972)
第1部分:基本额定值和特性
及其补充
IEC 147-2(1963)
及其补充
第2部分,测试方法的一般原理
TEC 147-4(1976)
接收和可靠性
IEC148(1969)半导体器件和集成电路的文字符号及其补充
IEC 147-5(1977)
及其补充
第5部分:机械和气候试验方法
或者 IEC 747.IEC 748.IEC 749:IEC747半导体器件分立器件和集成电路EC747-1(1983)第1部分:总则IEC748半导体器件集成电路
IEC749机械和气候试验方法
IEC191半导体器件的机械标准化IEC 191-1(1966)bzxZ.net
第1部分,半导体器件的制图
及其补充
IEC 191-2(1966)
及其补充
IEC 191-3(1974)
及其补充
第2部分:尺寸
第3部分:集成电路外形图制图的一般原理EC 410(1973)
计数检查抽样方案和程序
IEC617示图中的图形符号
1ECQ QC001002(1981)IECQ程序规则ISO标准:
ISO 1000(1973)
ISO 2015(1976)
国际单位(S1)和推荐使用的国际单位的组合及其他单位周的编号
IS0 2859(1974)
计数检查抽样程序和抽样表
2.3单位,符号和术语
1S0 1000
IEC617
执行本总规范的某一种半导体器件所特有的任何其他单位符号和术语,应取自有关的 IEC 或 ISO标准(见2.2条)或根据上述标准的原则导出。2. 4电压、电流和温度的优先值电特性测试,试验和工作条件电压,电流和温度的优先值,见IEC747-1号标准和748-1号标准。2.5标志
a.在器件上
GB 4589.189
当面积许可时,应在器件上标出以下标志:(1)引出端识剃标志(见2.5.1条)。(2)型号名称(见2.5.2条)、质量评定类别(见2.6条)和适用时的筛选序列(见2.7条)。(3)制造商名称、起首字母或商标和适用时的工厂识别代码(见2.5.3条)。(4)检验批识别代码(死2.5.4条)。(5)如不采用合格证,就应有合格标志。(6)适用时,标出特殊注意事项。当面积不允许全部标出时,详细规范应按上述优先顺序给出最低要求。b.在初始包装上
以下标志应出现在作为交货时的最初保护或包装的初始包装物上:(1)除引出端标志之外的2.5条a.项所列的全部标志。(2)详细规范号。
(3)任何特殊注意事项,例如小心标记等。2.5.1引出端识别(参照IEC747.1号标准第M章第8条)在详细规范中应参照规定的外形或底座图规定引出端的识别。2.5.2型号名称
当在器件上标志型号名称时,最好以字母和数字表示,或当详细规范有规定时用色标表示。色标可以在分规范中给出。
2.5.3制造商名称或商标
如果制造商名称或商标不能追潮到生产厂,则应采用生产广识别代码。2.5.4检验批识别代码
检验批识别代码用ISO2015号标准规定的周的编号之前加上年份的最后两位数宁来表示(例如:8345表示1983年的第45周)。当器件上可标志的面积有限,且详细规范有规定时,则年份的第一位数字可以省略(例如:345表示1983的第45周)。这个代码是批提交检验时的日期。当在同·周内某种型号提交检验的批多于一个批时,则可采用检验批识别后缴(例如用“个字母)米区别各个连续批。2.6质量评定类别
本规范规定了三个质最评定类别。有检验批代码的同·检验批内的器件,按规定的质基类别进行检验。与同样的检验分组对应的AQL或LTPD可依类别而异,并应符合详细规范的规定。对各类别的最低要求如下,
类一一该类器件符合1类或Ⅱ类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每三个月对一批进行可焊性检验,应符合要求。每年进行一次B组和C组检验,均应符合要求。I类一该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。类一一该类的批需进行100%筛选,并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。分规范应规定对各类的最低要求。详细规范可以包括在总规范、分规范或空白详细规范中没有的,包括筛选在内的补充要求。
2.7筛选
筛选是施加于一批中所有器件的检验或试验。当详细规范有要求时,应按分规范的有关表中所给出的序列之一种,对提交批中的全部器件进行筛选,并剔除全部有缺陷的器件。只有当上述序列与公认的火效机理无关或有矛盾时,才采用术规定的其他序列。当分规范的有关表中规定的筛选程序的一部分,按规定的顺序构成「制造工序的一部分时,则不必重复这些程序。就本规范而言,老化定义为在规定时间内对批中所有器件施加热应力和电应力,以检指并剔除潜在的早期失效器件。3质量评起程序
GB 4589.1—89
质量评定包括3.5条中规定的获得鉴定批的程序及之后按详细规范规定的逐批(如要求时也包插筛选)以盈周期的质量一致性检验。质量评定试验分为逐批或周期进行的<按2.6条规定)A组、B组和C组试验。在某些情况下,也可以规定D组试验,侧如为了进行鉴定批准。3.1鉴定批准的资格
当IECQQC001002号标准程序规则的第11章得以满足时,某个型号的器件即有资格进行鉴定批推。
3.1.1初始制造阶
初始制造阶段在分规范中规定。3.2商业保密信息
如果制造过程的一部分是商业上保密的,则应加以适当的标注,而总检查员应当证明已经遵循了IECQQC001002号标准《程序规则》的10.2.2条的要求,使国家监督检查机构(NSI)满意。3.3捡验排的构成
见IECQQC001002号标准《程序规则的12.2条。3.4结构似器件
见IECQQC001002号标准程序规则》的8.5.3条。有关分组的细节在有关的分规范中给出。3.5鉴定批准的授予
见IECQQC001002号标准释序规则》的11.3.1暴制造商可以按分规范中辫出的检验要求,选用程序规则的11.3.1条的方法a)或方法b)。样品可由适当的结构相似器件组成。在基些情况下,鉴定批准要求D细试验。详细规范中作为实验结东后要求的所有变化量测试,膨录变化量数据。鉴定报告应包括一份各组和各分组所进行的全部试验结果的摘要,包括被试器件数种效器件数,根据变化量和(或>计数数据得出这份摘要。制造商应保留所有的数据,以供NSI提出要求时使用。3.6质量·致性检验
质量一致性检验应由A组、B组、C 组和当有规定时的D组检查和试验组成。对于B组检验和 C组检验,其样品可由结构相似器件组成。周期检验的样品应从一批或几批中抽取。这些批也应通过A组和B组检验。各个器件应通过按详细规范要求的A组测试。
3.6.1组和分组的划分
制订详细规范时要遵循以下准则。3.6.1.1A组检验(逐批)
本组规定了逐批进行的评定器件主要特性的目检和测试。除另有规定外,不允诈结构相似分组。A组检验分为以下各分组:
A1分组:本分组由4.2.1.1条规定的外部月检组成。A2分组:本分组由对器件丰要特性的测试组成。A3和A4分组:可不要求这些分组。它们由对器件次要特性的测试组成。对每个器件类别的恰当要求,在有关的分规范中给出。测试项列入A3还是A4分组本质上取决于需要在哪一个质量水平上进行这些测试。
GB 4589.1-89
3.6.1.2B组检验[率批,1类除外(见2.6条)本组规定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括正常情说下在一周内能够完成的机械,气候和电耐久性试验。
3.6.1. 3C 组检验(周期)
本组规定了周期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括适合于每间隔三个月(I类和直类)或间隔一年(I类),或按有关规范规定进行检验的电测试、机械、气候和电耐久性试验3.6.1.4B组和 C组分组的划分
为了能够比较和在必要时(见 3. 6. 3 条)便于从 B 组到 C 组及相反的变化,B组和 C组中相应的试验列入具有相同编号的分组。
划分如下:
B1/C1分组,包括控制器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组:包括评定器件设计特征的电性能的测试,B2b/C2b分组:包括在不同电压,电流或温度下对器件在A组中已测试过的某些电特性进-步评是的测试。
B2c/C2c分组:适用时,包括器件额定值的验证。B3/C3分组:包括用以评定器件引州端机械强度的试验。例如,螺栓转矩、引线弯曲等试验。B4/C4分组:包括用以评定器件焊接性能的试验,B5/C5分组:包括用以评定器件经受气候应力能力的试验。例如,温度变化,密封等试验。B6/C6分组:包括用以评定器件经受机械应力能力的试验。例如,恒定加速度试验,B7/7分组:包括用以评定器件经受长时间混热能力的试验。B8/C8分组:包括用以评定器件在耐久性试验条件下失效特征的试验。B9/C9分组:包括用以评定器件在极限温度贮存条件下电性能的试验。B10/C10 分组:包括用以评定器件在气压变化时的性能的试验。B11/C11分组:包括标患耐久性试验。CRRL分组:选择并列出上述各分组中已做过的部分试验和(或)测试,将其结果在放行批证明记录(CRRE)中给出。
这些分组可以不全部要求。
3.6.1.5JD组检验
本组规定了每隔十二个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。3.6.2检验要求
应当采用在3.7条中叙述的统计抽样程序。3.6.2.1批拒收判据
不符合A组或B组质量一致性检验的批,不得接收。如果在质量致性检验过程中,器件未能通过某个分组中的一项试验,将会导致这个批被拒收,质量一致性检验即可终止,并将这个批视作A组或B组的拒收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被单新提交,则应被认为是拒收批。3.6.2.2重新提交的批
当技术上可能时,经过返工并重新提交质量一致性检验的失败批,应只包含原米批中的那些器件,且每个检验组(A组和B组)只能重新提交一次。重新提交的那些批应与新的行批分开,并应清楚地标明为重新提交批。重新提交的批应采用加严检验的办法随机地重新抽取样品,并对全部失败分组进行检验。3组失败的重新提交应包括A组检验。3.6.2.3试验设备故障或操作人员失误情况下的程序如果确信器件失效是由于试验设备故障或操作人员失误引起的,应把失效记入试验记录中(但经NSI同意后可不记入CRRL中),连同为什么确认不计作失效的一份完整说明提交给NSI,总检查员应GB 4589.1—89
决定是否可将同一个检验批中的替代器件补充到样品中。替代器件应经受报废器件在失效之前已经受过的同样的试验,还应经受报废器件按规定进行而在失效之前尚未进行过的试验3.6.2.4周期性检验失败时的摇序当B组失效时,则相应的C组检验(见 3. 6. 1.4条)即无效如果周期检验失效不是由于设备故障惑操作几员失误引起的,灿:执行IECQQC001002号标准《程序规则》的12.6条,并作如下修改:12.6.1条a项:\暂停该结构相似组合内的所有露件在本体系内放行。”12.6.4条a项:在改正了制造错误之后,对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序”。12.6,名条“如I果鉴定批准是按《程序规则》的12.6.7条撤销的,则可按NSI的意见采用一种简化程序(主要针对引起失效的那些特性的试验)恢复鉴定批准”。3.6.3放宽检验的附加程序
3. 6. 3 1 B组
可采用一种特殊的放宽检验程序,允许制造商在最长三个月间隔时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批来代替避批地进行B组正常检验,当某一分组符合要求条件时,这种特殊程序即适用于该分组。这种变化的条件是连续十批通过B组检验,在放宽检验程序下,当某组样品不符合某分组检輪时,该分组应恢复为B组正常检验。3. 6. 3. 2 C 组
当周期试验的间隔时间规定为三个月时,如果按三个月的间隔时间连续三次通过了周期试验,则试验周期可延长为六个月。在延长间隔时间程序下,当某组样品不符合某分组检验时,应恢复为正常的三个月间隔时间(也见3.6.2.4条)。3.6.4小批量抽样要求
批小于或等于200时,应采用符合附录A相应要求的下列程序(当规定采用AQI方案时,应首先从附录A的表A3选择等效的LTPD值)。%、非破坏性试验
(1)100%的器件应进行指明为非被环性的试验,或者:附录A的表A2中适用的1TPD·次抽样方案。或者:(2)
适用的 LPD)二次轴样方案。
h。破坏性试验
根据附录 A 的表 A2 中适用的 LTPD 一次抽样方案。或者:(2)适用的LTPD二次抽样方案。3.6.5放行批证明记录(CRRL)
见1FQQC001002号标准程序规则》的第14章。3.6.6经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货在空白详细规范中标明(D)的试验被认为是破坏性的。经受过破坏性试验的器件,不得包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件,只要它们按A组要求重新检验且符合要求则可交货。3.6.7延期交货
贮存超过两年的批在交货之前·整批或要交货的部分,应经受规定的A组检验和B组可焊性试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后,则以后两年不再要求重新试验。3.6.8交货的附加程序
制造商可提供比指定的评定水平更加严格的器件代替评定水平较不严格的器件。3.7统计抽样程序
对于A组检验,可以采用AQL抽样程序(按IEC410号标准和ISO2859号标准),或者LTPD抽样程序(按附录A)。详细规范应规定采用哪一种程序;在分规范中给出AQL值(和检验水平)及LTPD值。
GB4589.1-89
对其他组检验·应当采用LTPD程序。在任何个分组或次分组中的所有试验,应按一个AQI.(和检查水半)或一个LTPD进行总评定。3.7.1 AQL 抽样方案
有三种类型的抽样方案:一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定的AQL和代码字母时,则可采用任何·种(见IEC410号标准的3.5条)。3.7.2批允许不合格品率(LTPD)抽样方案见附录A。
3.7.3AQL抽样方案和LTPD抽样方案间的相互关系为保证AQL.和LTFD抽样方案间的对应关系,A组检验的最大合格判定数,应不人于4(见附录A的表A3)。
3.8规定1.TPD时的耐久性试验
当规定了LTPD时,接收程序应按附录A的A2条的规定。倘若不合格,可采用附录A的A3或A4条的程序。
倘荐最后该批仍不合格,则应采用3.6.2.4条的程序。3. 9规定尖效率(A)时的耐久性试验本规范所采用的失效率定义为以每1000h的百分数表示的LTPD。注:耐久性试验的录大允许失效率,不应该用于正带工作条件下的可算性的预测。在正常工作条件下,加在器件上的应力通带比耐久性试验时(具有加速效应)要低得多。同时在寿命的初期(例如在工作的第一个1000h)器件的失效率往往比以后要高得多。
3.9.1概述
当详细规范规定以^为判据时,试验时间为1000h的耐久性试验应按所述的程序进行。器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验,应认为是非破坏性的。3.9.2样品的抽取
附久性试验的样品应从该检验批中随机抽取(见附录A)。1000h试验的样品盘应由制造商从表A1或表A2(见附录A)的规定失效率栏(表A1)或实际批量栏(表A2)中选择。合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。3.9.3失效
一个器件在任何规定的读出时间,未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值,则应认为是个失效,而且在之后的任何读出时间也认为是失效的。如果一组样品已不能符合耐久性试验的要求,制造商可自行停止试验。
3.9.4耐久性试验时间和样品量
每当规定了失效率,初次耐久性试验时间应是1000h。一且通过了1000h的试验,对于自1000h耐久性试验之后不超过120天所进行的新的试验,即可开始至少340h的耐久性试验。详细规范可以允许最长2000h的试验时间。试验时间不是1000h的久性试验样品量,应按试验时间与样品最之间的反比关系米选择,使累计的总的器件小时(样品量×试验小时)等于1000h耐久性试验所选择的器件小时数,合格判定数也应以1000h试验时对应的样品量来确定。如果在试验周期结束时失效数不超过合格判定数,则该项试验合格。
3.9.5发现的失效数超过合格判定数时采用的程序尚若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数,制造商应任选下列方案中的一种:(1)执行3.6.2.4条的程序,
(2)按3.9.5.1条追加样品
(3)如果最初选择的试验时间短于1000h,则按3.9.5.2条将试验时间延长到1000h。CB 4589. 1—89
执行(2)或(3)的程序后,如果试验不合格,则热行3.6.2.1条的程序。3.9.5.1追加样品
对于每次提交,这种方案只能来用一次。当选择这种方案时,新的总样品基(最初的加上追如的)应由制造商以表A1或表A2(附录A)的规定的失效率(表A1)或实际批量(表A2)栏中选取。应从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相对应。追加的样品应经受与最初的样品相同的耐久性试验条件和时间。如果发现的总的不合格品数(最初的加上增加的)不超过总样品对应的合格判定数,则该项试验合格:如果发现的不合格品数超过了新的合格判定数,则认为该项试验不合格。3.9.5-2耐久性试验时间的延长
如果采用的耐久性试验时间短于1000h,而且在最初的样品中发现不合格品数超过了合格判定数,制造商可不追加样品,而决定将整个最初样品的试验时间延长到1000h,并根据表A1或表A2(附录A)确定-个新的合格判定数。新的合格判定数与规定栏内小于或等于试验样品量的最人抽样基相对应,在最初读出时间失效的器件,在1000h读出时间应仍认为是失效的,如果发现的不合格品数超过这个合格判定数,则认为该项试验不合格。4试验和测试程序
4.1电测试的标准人气条件
除另有规定外,所有的电测试均在IEC:147.5或IF:749号标准规定的大气条件下进行。环境温度:25上5℃。
相对湿度:45%与75必之间(同时见1EC68-1号标准的5.3.2条)。大气压力:86kPa与106kPa之间(860-~1060mbar)。制造商也可以在其他温度下进行测试,只要能使国家监督检查机构确信在环境温度为25工1℃,相对凝度在48%至52%之间(若相对湿度是重要的)测试时器件仍将符合详细规范。4.2物理检查
4.2.1目检
4.2.1.1外部目检
除另有规定外,应在工厂正带照明条件下和正常月视条件下进行外部目视检查。应检查下述各项的正确性;
(1)标志及其清晰度;
(2)引出端识别;
(3)外观(机械缺陷)。
4.2.1.2内部目检
在分规范中规定。
4.2.2 尺寸
应按规定的图样检验尺小。附录B中规定了在B组和C组中应检验的尺寸。4.2.3标志耐久性
应按IEC147-5号标准第【章第2条或IEC749号标准第N章第2条对标志进行试验。4.3电测试
4.3.1一般条件和注意事项
4.3.1.1替代方法
可以采用规定的方法或能给出等效结果的任何其他方法进行测试,但在有争议的情况下,只能采用规定的方法。
注:“等效”指的是用这种方法所确定的特性值,当用规定的方法测试时也在规定的范留之内GB 4589. 189
a。电测试方法应按IEC147-2或IEC747和748号标准的规定。当需要而且详细规范规定时应采用这些方法。
b.在IEC147.2或在IEC747和748号标准中未作规定的电测试方法,应在详细规范中规定。4. 3. 1. 2 测试精确度
详细规范中列出的极限是绝对的。在确定实际测试极限时,应考虑到测试误差。4.3.1.3一般注意事项
通常应注意将测试误差降到最小和避免损坏器件。在IEC147-2或IEC747-1号标准中给出了最重要的注意事项。
4.4环境试验
环境试验方法应按IEC68-2和IEC147-5或IEC749号标准的规定。当带要而且详细规范规定时应来用这些方法。根据3.6.6条指明它们为“破坏性的”或“非破坏性的”。当要求强制性的试验顺序时,即应在分规范或在空白详细规范中予以规定。在IEC682或IEC147-5或IEC749号标准中未作规定的环境试验方法,应在详细规范中规定。对于需要观察或施加与器件的方位有关的外力的那些试验方法,这种方位和施力的方向应按附录C的规定。
41概述
GB 4589. 1—89
附录A
批允许不合格品率(LTPD)抽样方案(补充件)
以下规定的程序适用于所有的质量一致性要求。A1.1样品的抽取
应从检验批中随机地抽取样品。在连续生产的情况下,只要批符合批的构成要求,在生产期间制造商可白行按有规律的周期方式抽取样品。A1.2失效
一个样品在一个分组的一项或几项试验中失效,应记为一个失效。A2抽样方法
逐批检验数据(样品量和发现的不合格品数)应在单一检验批中累计,以证明是否符合各分组的判据,周期检验见3.6条。
A2.1样品量
每个分组的样品量应根据表A1或表A2确定,且应符合规定的LTPD。制造商可自行选择比需要量更大的样品量,但是,允许的失效数不得超过表A1或表A2中与所选样品量相应的合格判定数。在表A2中,确定样品量用的LTPD栏应是数量上最接近实际提交批量的那个批量栏,如果实际批量处于表中给出的两个批量之间,则制造商可自行采用相邻批量栏中的任一栏。在表A2中,如果适用的批量栏中没有等于或小于规定的LTPD值的I.TP1)值,则应采用100%检验。在表A2中,应采用数值最接近规定的LTPD值的适用批量栏中的I.TPD值确定样品量。A2.2接收程序
第一次抽样时,应选择一个合格判定数,然后根据规定的LTPD抽取相应数量的器件并对其进行试验(见3.9.2条)。如果在第一次抽取的样品中发现的不合格品数小于或等于预选的合格判定数,该批应当接收。如果发现的不合格品数超过了预选的合格判定数,则可选择追加样品使得总的样品符合3.9.2条。对每一批的提交适用于给定分组的第一次抽样的表A1或表A2,也适用于同一批和分组的以后各次抽样。
A3追加样品
制造商可以增加一个追加量到最初样品上,但对于任何一个分组都只能追加一次,追加的样品必须经受该分组的全部试验。应用由表A1或表A2所选定的一个新的合格判定数来确定总样品量(最初的和追加的样品)。
A4多重判据
当一组样品有一个以上的合格判据时,分组中的全部样品应对应于分组中的所有判据。在表A1中,合格判定数应与适用的LTPD栏中小于或等于所使用的样品量的最大样品景相对应。在表A2中,合格判定数应与所使用的样品量对应的批量栏中规定的LTPD值相对应。A5百分之百检验
在制造商自愿时,允许对于不认为是“破坏性”的那些分组进行批的100%检验。如果发现该批的百GB 4589.189
分不合整品率超过了规定的1TPD值,就应认为该批通不过该分组检验。在100%检验基础上试验的那些批只能在100%基础上重新提交,且按如严检验的LTPD进行检验。A6加严检验
加严检验应按表A1或表A2中比规定的检验标难严-级的LTPD进行。89
(12)(6*2)(2')
(900)(80(1)(180)(62(0)(290)(680)(9)
(00)90)0)2)20(830)()9)1(08'0)
(t00)(200*0(2900)(600(t0)
(880*0) [(290*0)(220 '0)](511*0)(61*0)8976
(980*0)(90*0)(220*0)(801*0)
(81*0)
(F0*0)|(190'0)(290'0)(101'0)(21*0)66
(“0)
(8%0)
(89*0)
(98*0)
(\0)(\0)
(0)(*0)(*0)
(800)(000)(90058000)
(98*0)
(920*0)(260*0(670*0)(20'0)(1*0)662
(810*0)(180*0)(10*0)(290 *0)(01*0)1899
(980)(60)
(02)
(EO)
(*0)(\0)
(910)00)(10*0)(*)(0800)
(29*0)
(9%0)
(600*0)(6100)(80*0)(220*)(960*0)(900)
(600)
(81*0)
(6*6)
(9 'z)
(S9*0)
(60)
(“9)
(8'21)(0't2)
(“8)
(6*6
(g'i)('61)
(*)
(“[)
(9291)
(9'st)
(F0\0)(20*0)
(9*0)(82*0)
(80) (9*0)(9 0)
(200*0)(200 *0)(500'0)(200'0)(T0 *0)(80*0)
(80\)(80*0)
(I+3=+)
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中华人民共和国国家标准
半导体器件
分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices
Generit specificatlon for
discrete devices aad integrated circuits(可供认证用)
本标准构成国际电工委员会电予元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。CB 4589. 1-89
IEC 747-10
IECQ QC 700000
本标准是半导体器件(分立器件和集成电路,包括客片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。本标准规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则:电特性的测试方法
气候的机械试验:
耐久性试验。
注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、种类(或族)规范和空白详细规范时,必须用这些规范来补充本标准。
2总则
2.1优先顺序
当出现矛盾的娶求时,各种文件应按以下权限顶序排列:(1)详细规范;
种类(或族)规范(若存在时)
空白详细规范;
分规范,
(5)总规范;
基础规范+
IECQ程序规则;
需要参考的其他国际文件,如IEC文件;(9)
国家文件。
同样的优先顺序也适用于等效的国家文件。2.2有关文件
详细规范应指出适用的文件:
IEC标准:
IEC 27
电工技术中使用的文字符号
国际电工技术词汇(IEV)
基本环境试验规程
中华人民共和国机械电子工业部1989-03-18批准1990-01-01实施
GB 4589.189
IEC 681(1982)第1部分:总则和导则IEC68-2第2部分:试验
或者IEC 147,IEC 148 :
IEC147半导体器件的基本额定值和特性及测试方法的一般原理IEC 147-0(1966)
第0部分:总则和术语
及其补充
IEC 147-1(1972)
第1部分:基本额定值和特性
及其补充
IEC 147-2(1963)
及其补充
第2部分,测试方法的一般原理
TEC 147-4(1976)
接收和可靠性
IEC148(1969)半导体器件和集成电路的文字符号及其补充
IEC 147-5(1977)
及其补充
第5部分:机械和气候试验方法
或者 IEC 747.IEC 748.IEC 749:IEC747半导体器件分立器件和集成电路EC747-1(1983)第1部分:总则IEC748半导体器件集成电路
IEC749机械和气候试验方法
IEC191半导体器件的机械标准化IEC 191-1(1966)bzxZ.net
第1部分,半导体器件的制图
及其补充
IEC 191-2(1966)
及其补充
IEC 191-3(1974)
及其补充
第2部分:尺寸
第3部分:集成电路外形图制图的一般原理EC 410(1973)
计数检查抽样方案和程序
IEC617示图中的图形符号
1ECQ QC001002(1981)IECQ程序规则ISO标准:
ISO 1000(1973)
ISO 2015(1976)
国际单位(S1)和推荐使用的国际单位的组合及其他单位周的编号
IS0 2859(1974)
计数检查抽样程序和抽样表
2.3单位,符号和术语
1S0 1000
IEC617
执行本总规范的某一种半导体器件所特有的任何其他单位符号和术语,应取自有关的 IEC 或 ISO标准(见2.2条)或根据上述标准的原则导出。2. 4电压、电流和温度的优先值电特性测试,试验和工作条件电压,电流和温度的优先值,见IEC747-1号标准和748-1号标准。2.5标志
a.在器件上
GB 4589.189
当面积许可时,应在器件上标出以下标志:(1)引出端识剃标志(见2.5.1条)。(2)型号名称(见2.5.2条)、质量评定类别(见2.6条)和适用时的筛选序列(见2.7条)。(3)制造商名称、起首字母或商标和适用时的工厂识别代码(见2.5.3条)。(4)检验批识别代码(死2.5.4条)。(5)如不采用合格证,就应有合格标志。(6)适用时,标出特殊注意事项。当面积不允许全部标出时,详细规范应按上述优先顺序给出最低要求。b.在初始包装上
以下标志应出现在作为交货时的最初保护或包装的初始包装物上:(1)除引出端标志之外的2.5条a.项所列的全部标志。(2)详细规范号。
(3)任何特殊注意事项,例如小心标记等。2.5.1引出端识别(参照IEC747.1号标准第M章第8条)在详细规范中应参照规定的外形或底座图规定引出端的识别。2.5.2型号名称
当在器件上标志型号名称时,最好以字母和数字表示,或当详细规范有规定时用色标表示。色标可以在分规范中给出。
2.5.3制造商名称或商标
如果制造商名称或商标不能追潮到生产厂,则应采用生产广识别代码。2.5.4检验批识别代码
检验批识别代码用ISO2015号标准规定的周的编号之前加上年份的最后两位数宁来表示(例如:8345表示1983年的第45周)。当器件上可标志的面积有限,且详细规范有规定时,则年份的第一位数字可以省略(例如:345表示1983的第45周)。这个代码是批提交检验时的日期。当在同·周内某种型号提交检验的批多于一个批时,则可采用检验批识别后缴(例如用“个字母)米区别各个连续批。2.6质量评定类别
本规范规定了三个质最评定类别。有检验批代码的同·检验批内的器件,按规定的质基类别进行检验。与同样的检验分组对应的AQL或LTPD可依类别而异,并应符合详细规范的规定。对各类别的最低要求如下,
类一一该类器件符合1类或Ⅱ类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每三个月对一批进行可焊性检验,应符合要求。每年进行一次B组和C组检验,均应符合要求。I类一该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。类一一该类的批需进行100%筛选,并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。分规范应规定对各类的最低要求。详细规范可以包括在总规范、分规范或空白详细规范中没有的,包括筛选在内的补充要求。
2.7筛选
筛选是施加于一批中所有器件的检验或试验。当详细规范有要求时,应按分规范的有关表中所给出的序列之一种,对提交批中的全部器件进行筛选,并剔除全部有缺陷的器件。只有当上述序列与公认的火效机理无关或有矛盾时,才采用术规定的其他序列。当分规范的有关表中规定的筛选程序的一部分,按规定的顺序构成「制造工序的一部分时,则不必重复这些程序。就本规范而言,老化定义为在规定时间内对批中所有器件施加热应力和电应力,以检指并剔除潜在的早期失效器件。3质量评起程序
GB 4589.1—89
质量评定包括3.5条中规定的获得鉴定批的程序及之后按详细规范规定的逐批(如要求时也包插筛选)以盈周期的质量一致性检验。质量评定试验分为逐批或周期进行的<按2.6条规定)A组、B组和C组试验。在某些情况下,也可以规定D组试验,侧如为了进行鉴定批准。3.1鉴定批准的资格
当IECQQC001002号标准程序规则的第11章得以满足时,某个型号的器件即有资格进行鉴定批推。
3.1.1初始制造阶
初始制造阶段在分规范中规定。3.2商业保密信息
如果制造过程的一部分是商业上保密的,则应加以适当的标注,而总检查员应当证明已经遵循了IECQQC001002号标准《程序规则》的10.2.2条的要求,使国家监督检查机构(NSI)满意。3.3捡验排的构成
见IECQQC001002号标准《程序规则的12.2条。3.4结构似器件
见IECQQC001002号标准程序规则》的8.5.3条。有关分组的细节在有关的分规范中给出。3.5鉴定批准的授予
见IECQQC001002号标准释序规则》的11.3.1暴制造商可以按分规范中辫出的检验要求,选用程序规则的11.3.1条的方法a)或方法b)。样品可由适当的结构相似器件组成。在基些情况下,鉴定批准要求D细试验。详细规范中作为实验结东后要求的所有变化量测试,膨录变化量数据。鉴定报告应包括一份各组和各分组所进行的全部试验结果的摘要,包括被试器件数种效器件数,根据变化量和(或>计数数据得出这份摘要。制造商应保留所有的数据,以供NSI提出要求时使用。3.6质量·致性检验
质量一致性检验应由A组、B组、C 组和当有规定时的D组检查和试验组成。对于B组检验和 C组检验,其样品可由结构相似器件组成。周期检验的样品应从一批或几批中抽取。这些批也应通过A组和B组检验。各个器件应通过按详细规范要求的A组测试。
3.6.1组和分组的划分
制订详细规范时要遵循以下准则。3.6.1.1A组检验(逐批)
本组规定了逐批进行的评定器件主要特性的目检和测试。除另有规定外,不允诈结构相似分组。A组检验分为以下各分组:
A1分组:本分组由4.2.1.1条规定的外部月检组成。A2分组:本分组由对器件丰要特性的测试组成。A3和A4分组:可不要求这些分组。它们由对器件次要特性的测试组成。对每个器件类别的恰当要求,在有关的分规范中给出。测试项列入A3还是A4分组本质上取决于需要在哪一个质量水平上进行这些测试。
GB 4589.1-89
3.6.1.2B组检验[率批,1类除外(见2.6条)本组规定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括正常情说下在一周内能够完成的机械,气候和电耐久性试验。
3.6.1. 3C 组检验(周期)
本组规定了周期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括适合于每间隔三个月(I类和直类)或间隔一年(I类),或按有关规范规定进行检验的电测试、机械、气候和电耐久性试验3.6.1.4B组和 C组分组的划分
为了能够比较和在必要时(见 3. 6. 3 条)便于从 B 组到 C 组及相反的变化,B组和 C组中相应的试验列入具有相同编号的分组。
划分如下:
B1/C1分组,包括控制器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组:包括评定器件设计特征的电性能的测试,B2b/C2b分组:包括在不同电压,电流或温度下对器件在A组中已测试过的某些电特性进-步评是的测试。
B2c/C2c分组:适用时,包括器件额定值的验证。B3/C3分组:包括用以评定器件引州端机械强度的试验。例如,螺栓转矩、引线弯曲等试验。B4/C4分组:包括用以评定器件焊接性能的试验,B5/C5分组:包括用以评定器件经受气候应力能力的试验。例如,温度变化,密封等试验。B6/C6分组:包括用以评定器件经受机械应力能力的试验。例如,恒定加速度试验,B7/7分组:包括用以评定器件经受长时间混热能力的试验。B8/C8分组:包括用以评定器件在耐久性试验条件下失效特征的试验。B9/C9分组:包括用以评定器件在极限温度贮存条件下电性能的试验。B10/C10 分组:包括用以评定器件在气压变化时的性能的试验。B11/C11分组:包括标患耐久性试验。CRRL分组:选择并列出上述各分组中已做过的部分试验和(或)测试,将其结果在放行批证明记录(CRRE)中给出。
这些分组可以不全部要求。
3.6.1.5JD组检验
本组规定了每隔十二个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。3.6.2检验要求
应当采用在3.7条中叙述的统计抽样程序。3.6.2.1批拒收判据
不符合A组或B组质量一致性检验的批,不得接收。如果在质量致性检验过程中,器件未能通过某个分组中的一项试验,将会导致这个批被拒收,质量一致性检验即可终止,并将这个批视作A组或B组的拒收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被单新提交,则应被认为是拒收批。3.6.2.2重新提交的批
当技术上可能时,经过返工并重新提交质量一致性检验的失败批,应只包含原米批中的那些器件,且每个检验组(A组和B组)只能重新提交一次。重新提交的那些批应与新的行批分开,并应清楚地标明为重新提交批。重新提交的批应采用加严检验的办法随机地重新抽取样品,并对全部失败分组进行检验。3组失败的重新提交应包括A组检验。3.6.2.3试验设备故障或操作人员失误情况下的程序如果确信器件失效是由于试验设备故障或操作人员失误引起的,应把失效记入试验记录中(但经NSI同意后可不记入CRRL中),连同为什么确认不计作失效的一份完整说明提交给NSI,总检查员应GB 4589.1—89
决定是否可将同一个检验批中的替代器件补充到样品中。替代器件应经受报废器件在失效之前已经受过的同样的试验,还应经受报废器件按规定进行而在失效之前尚未进行过的试验3.6.2.4周期性检验失败时的摇序当B组失效时,则相应的C组检验(见 3. 6. 1.4条)即无效如果周期检验失效不是由于设备故障惑操作几员失误引起的,灿:执行IECQQC001002号标准《程序规则》的12.6条,并作如下修改:12.6.1条a项:\暂停该结构相似组合内的所有露件在本体系内放行。”12.6.4条a项:在改正了制造错误之后,对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序”。12.6,名条“如I果鉴定批准是按《程序规则》的12.6.7条撤销的,则可按NSI的意见采用一种简化程序(主要针对引起失效的那些特性的试验)恢复鉴定批准”。3.6.3放宽检验的附加程序
3. 6. 3 1 B组
可采用一种特殊的放宽检验程序,允许制造商在最长三个月间隔时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批来代替避批地进行B组正常检验,当某一分组符合要求条件时,这种特殊程序即适用于该分组。这种变化的条件是连续十批通过B组检验,在放宽检验程序下,当某组样品不符合某分组检輪时,该分组应恢复为B组正常检验。3. 6. 3. 2 C 组
当周期试验的间隔时间规定为三个月时,如果按三个月的间隔时间连续三次通过了周期试验,则试验周期可延长为六个月。在延长间隔时间程序下,当某组样品不符合某分组检验时,应恢复为正常的三个月间隔时间(也见3.6.2.4条)。3.6.4小批量抽样要求
批小于或等于200时,应采用符合附录A相应要求的下列程序(当规定采用AQI方案时,应首先从附录A的表A3选择等效的LTPD值)。%、非破坏性试验
(1)100%的器件应进行指明为非被环性的试验,或者:附录A的表A2中适用的1TPD·次抽样方案。或者:(2)
适用的 LPD)二次轴样方案。
h。破坏性试验
根据附录 A 的表 A2 中适用的 LTPD 一次抽样方案。或者:(2)适用的LTPD二次抽样方案。3.6.5放行批证明记录(CRRL)
见1FQQC001002号标准程序规则》的第14章。3.6.6经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货在空白详细规范中标明(D)的试验被认为是破坏性的。经受过破坏性试验的器件,不得包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件,只要它们按A组要求重新检验且符合要求则可交货。3.6.7延期交货
贮存超过两年的批在交货之前·整批或要交货的部分,应经受规定的A组检验和B组可焊性试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后,则以后两年不再要求重新试验。3.6.8交货的附加程序
制造商可提供比指定的评定水平更加严格的器件代替评定水平较不严格的器件。3.7统计抽样程序
对于A组检验,可以采用AQL抽样程序(按IEC410号标准和ISO2859号标准),或者LTPD抽样程序(按附录A)。详细规范应规定采用哪一种程序;在分规范中给出AQL值(和检验水平)及LTPD值。
GB4589.1-89
对其他组检验·应当采用LTPD程序。在任何个分组或次分组中的所有试验,应按一个AQI.(和检查水半)或一个LTPD进行总评定。3.7.1 AQL 抽样方案
有三种类型的抽样方案:一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定的AQL和代码字母时,则可采用任何·种(见IEC410号标准的3.5条)。3.7.2批允许不合格品率(LTPD)抽样方案见附录A。
3.7.3AQL抽样方案和LTPD抽样方案间的相互关系为保证AQL.和LTFD抽样方案间的对应关系,A组检验的最大合格判定数,应不人于4(见附录A的表A3)。
3.8规定1.TPD时的耐久性试验
当规定了LTPD时,接收程序应按附录A的A2条的规定。倘若不合格,可采用附录A的A3或A4条的程序。
倘荐最后该批仍不合格,则应采用3.6.2.4条的程序。3. 9规定尖效率(A)时的耐久性试验本规范所采用的失效率定义为以每1000h的百分数表示的LTPD。注:耐久性试验的录大允许失效率,不应该用于正带工作条件下的可算性的预测。在正常工作条件下,加在器件上的应力通带比耐久性试验时(具有加速效应)要低得多。同时在寿命的初期(例如在工作的第一个1000h)器件的失效率往往比以后要高得多。
3.9.1概述
当详细规范规定以^为判据时,试验时间为1000h的耐久性试验应按所述的程序进行。器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验,应认为是非破坏性的。3.9.2样品的抽取
附久性试验的样品应从该检验批中随机抽取(见附录A)。1000h试验的样品盘应由制造商从表A1或表A2(见附录A)的规定失效率栏(表A1)或实际批量栏(表A2)中选择。合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。3.9.3失效
一个器件在任何规定的读出时间,未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值,则应认为是个失效,而且在之后的任何读出时间也认为是失效的。如果一组样品已不能符合耐久性试验的要求,制造商可自行停止试验。
3.9.4耐久性试验时间和样品量
每当规定了失效率,初次耐久性试验时间应是1000h。一且通过了1000h的试验,对于自1000h耐久性试验之后不超过120天所进行的新的试验,即可开始至少340h的耐久性试验。详细规范可以允许最长2000h的试验时间。试验时间不是1000h的久性试验样品量,应按试验时间与样品最之间的反比关系米选择,使累计的总的器件小时(样品量×试验小时)等于1000h耐久性试验所选择的器件小时数,合格判定数也应以1000h试验时对应的样品量来确定。如果在试验周期结束时失效数不超过合格判定数,则该项试验合格。
3.9.5发现的失效数超过合格判定数时采用的程序尚若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数,制造商应任选下列方案中的一种:(1)执行3.6.2.4条的程序,
(2)按3.9.5.1条追加样品
(3)如果最初选择的试验时间短于1000h,则按3.9.5.2条将试验时间延长到1000h。CB 4589. 1—89
执行(2)或(3)的程序后,如果试验不合格,则热行3.6.2.1条的程序。3.9.5.1追加样品
对于每次提交,这种方案只能来用一次。当选择这种方案时,新的总样品基(最初的加上追如的)应由制造商以表A1或表A2(附录A)的规定的失效率(表A1)或实际批量(表A2)栏中选取。应从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相对应。追加的样品应经受与最初的样品相同的耐久性试验条件和时间。如果发现的总的不合格品数(最初的加上增加的)不超过总样品对应的合格判定数,则该项试验合格:如果发现的不合格品数超过了新的合格判定数,则认为该项试验不合格。3.9.5-2耐久性试验时间的延长
如果采用的耐久性试验时间短于1000h,而且在最初的样品中发现不合格品数超过了合格判定数,制造商可不追加样品,而决定将整个最初样品的试验时间延长到1000h,并根据表A1或表A2(附录A)确定-个新的合格判定数。新的合格判定数与规定栏内小于或等于试验样品量的最人抽样基相对应,在最初读出时间失效的器件,在1000h读出时间应仍认为是失效的,如果发现的不合格品数超过这个合格判定数,则认为该项试验不合格。4试验和测试程序
4.1电测试的标准人气条件
除另有规定外,所有的电测试均在IEC:147.5或IF:749号标准规定的大气条件下进行。环境温度:25上5℃。
相对湿度:45%与75必之间(同时见1EC68-1号标准的5.3.2条)。大气压力:86kPa与106kPa之间(860-~1060mbar)。制造商也可以在其他温度下进行测试,只要能使国家监督检查机构确信在环境温度为25工1℃,相对凝度在48%至52%之间(若相对湿度是重要的)测试时器件仍将符合详细规范。4.2物理检查
4.2.1目检
4.2.1.1外部目检
除另有规定外,应在工厂正带照明条件下和正常月视条件下进行外部目视检查。应检查下述各项的正确性;
(1)标志及其清晰度;
(2)引出端识别;
(3)外观(机械缺陷)。
4.2.1.2内部目检
在分规范中规定。
4.2.2 尺寸
应按规定的图样检验尺小。附录B中规定了在B组和C组中应检验的尺寸。4.2.3标志耐久性
应按IEC147-5号标准第【章第2条或IEC749号标准第N章第2条对标志进行试验。4.3电测试
4.3.1一般条件和注意事项
4.3.1.1替代方法
可以采用规定的方法或能给出等效结果的任何其他方法进行测试,但在有争议的情况下,只能采用规定的方法。
注:“等效”指的是用这种方法所确定的特性值,当用规定的方法测试时也在规定的范留之内GB 4589. 189
a。电测试方法应按IEC147-2或IEC747和748号标准的规定。当需要而且详细规范规定时应采用这些方法。
b.在IEC147.2或在IEC747和748号标准中未作规定的电测试方法,应在详细规范中规定。4. 3. 1. 2 测试精确度
详细规范中列出的极限是绝对的。在确定实际测试极限时,应考虑到测试误差。4.3.1.3一般注意事项
通常应注意将测试误差降到最小和避免损坏器件。在IEC147-2或IEC747-1号标准中给出了最重要的注意事项。
4.4环境试验
环境试验方法应按IEC68-2和IEC147-5或IEC749号标准的规定。当带要而且详细规范规定时应来用这些方法。根据3.6.6条指明它们为“破坏性的”或“非破坏性的”。当要求强制性的试验顺序时,即应在分规范或在空白详细规范中予以规定。在IEC682或IEC147-5或IEC749号标准中未作规定的环境试验方法,应在详细规范中规定。对于需要观察或施加与器件的方位有关的外力的那些试验方法,这种方位和施力的方向应按附录C的规定。
41概述
GB 4589. 1—89
附录A
批允许不合格品率(LTPD)抽样方案(补充件)
以下规定的程序适用于所有的质量一致性要求。A1.1样品的抽取
应从检验批中随机地抽取样品。在连续生产的情况下,只要批符合批的构成要求,在生产期间制造商可白行按有规律的周期方式抽取样品。A1.2失效
一个样品在一个分组的一项或几项试验中失效,应记为一个失效。A2抽样方法
逐批检验数据(样品量和发现的不合格品数)应在单一检验批中累计,以证明是否符合各分组的判据,周期检验见3.6条。
A2.1样品量
每个分组的样品量应根据表A1或表A2确定,且应符合规定的LTPD。制造商可自行选择比需要量更大的样品量,但是,允许的失效数不得超过表A1或表A2中与所选样品量相应的合格判定数。在表A2中,确定样品量用的LTPD栏应是数量上最接近实际提交批量的那个批量栏,如果实际批量处于表中给出的两个批量之间,则制造商可自行采用相邻批量栏中的任一栏。在表A2中,如果适用的批量栏中没有等于或小于规定的LTPD值的I.TP1)值,则应采用100%检验。在表A2中,应采用数值最接近规定的LTPD值的适用批量栏中的I.TPD值确定样品量。A2.2接收程序
第一次抽样时,应选择一个合格判定数,然后根据规定的LTPD抽取相应数量的器件并对其进行试验(见3.9.2条)。如果在第一次抽取的样品中发现的不合格品数小于或等于预选的合格判定数,该批应当接收。如果发现的不合格品数超过了预选的合格判定数,则可选择追加样品使得总的样品符合3.9.2条。对每一批的提交适用于给定分组的第一次抽样的表A1或表A2,也适用于同一批和分组的以后各次抽样。
A3追加样品
制造商可以增加一个追加量到最初样品上,但对于任何一个分组都只能追加一次,追加的样品必须经受该分组的全部试验。应用由表A1或表A2所选定的一个新的合格判定数来确定总样品量(最初的和追加的样品)。
A4多重判据
当一组样品有一个以上的合格判据时,分组中的全部样品应对应于分组中的所有判据。在表A1中,合格判定数应与适用的LTPD栏中小于或等于所使用的样品量的最大样品景相对应。在表A2中,合格判定数应与所使用的样品量对应的批量栏中规定的LTPD值相对应。A5百分之百检验
在制造商自愿时,允许对于不认为是“破坏性”的那些分组进行批的100%检验。如果发现该批的百GB 4589.189
分不合整品率超过了规定的1TPD值,就应认为该批通不过该分组检验。在100%检验基础上试验的那些批只能在100%基础上重新提交,且按如严检验的LTPD进行检验。A6加严检验
加严检验应按表A1或表A2中比规定的检验标难严-级的LTPD进行。89
(12)(6*2)(2')
(900)(80(1)(180)(62(0)(290)(680)(9)
(00)90)0)2)20(830)()9)1(08'0)
(t00)(200*0(2900)(600(t0)
(880*0) [(290*0)(220 '0)](511*0)(61*0)8976
(980*0)(90*0)(220*0)(801*0)
(81*0)
(F0*0)|(190'0)(290'0)(101'0)(21*0)66
(“0)
(8%0)
(89*0)
(98*0)
(\0)(\0)
(0)(*0)(*0)
(800)(000)(90058000)
(98*0)
(920*0)(260*0(670*0)(20'0)(1*0)662
(810*0)(180*0)(10*0)(290 *0)(01*0)1899
(980)(60)
(02)
(EO)
(*0)(\0)
(910)00)(10*0)(*)(0800)
(29*0)
(9%0)
(600*0)(6100)(80*0)(220*)(960*0)(900)
(600)
(81*0)
(6*6)
(9 'z)
(S9*0)
(60)
(“9)
(8'21)(0't2)
(“8)
(6*6
(g'i)('61)
(*)
(“[)
(9291)
(9'st)
(F0\0)(20*0)
(9*0)(82*0)
(80) (9*0)(9 0)
(200*0)(200 *0)(500'0)(200'0)(T0 *0)(80*0)
(80\)(80*0)
(I+3=+)
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