【国家标准】 信息技术 存折本的磁条

ICS35.240.15
中华人民共和国国家标准　
GB/T15935—2013
代替GB/T15935-1995
信息技术
存折本的磁条
Information technologyMag netic stripes on savings books(ISO/IEC8484:2007,MOD）
2013-12-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2014-07-15实施
规范性引用文件
术语和定义
存折本封面的物理特性
磁条的物理特性
磁性材料的性能
编码技术
编码规范
差错检测\
编码磁道的位置
附A、规范性附录“
可选吉矫顾力磁条
GB/T15935—2013
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替GB/T15935一1995《存折本的磁条》。本标准与GB/T15935—1995相比，主要变化如下：-术语和定义、准则和测试方法与GB/T15120.2保持一致；基准材料从SRM3200变更为RM7811-2；对信号幅度要求进行了扩展（基于GB/T15120.2）；增加了对未使用的存折本和返回的存折本的分类；增加了更完整的对磁通翻转间距变化的要求（基于GB/T15120.2）；增加了对磁条区域表面轮廓和翘曲的要求；基于GB/T15120.6和RM7811-6，增加了高矫顽力磁条的选择。GB/T15935—2013
注：信号幅度和磁通翻转间距变化的数值取自GB/T15120.2和GB/T28177.2，并且基于样品存折在这两种测试设备上的测试表现。
本标准使用重新起草法修改采用ISO/IEC8484：2007《信息技术存折本的磁条》。本标准与ISO/IEC8484：2007相比，存在如下少量差异：在第3章中增加了标准中规范性引用的GB/T15120.2；删除了文本中大部分的英制单位，但对于工业界的习惯用法，某些部分的英制单位仍保留；根据目前源标准和二级标准的迁移情况，将源标准（见4.1)定义为“一套由德国物理技术研究院（PTB)建立，并且目前在美国Q-Card保存的基准卡，代表RM7811-2指定的UR和IR的数值”；将二级标准（见4.2)中的“注”改为二级标准目前可以从美国Q-Card订购，地址为：301ReaganStreet,Sunbury,PA17801,USA”请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国信息技术标准化技术委员会（SAC/TC28)提出并归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究院、云南南天电子信息产业股份有限公司。本标准主要起草人：金倩、段霞、冯敬、乔申杰、耿力。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T15935—1995。
GB/T15935—2013
本标准中大部分的磁特性要求都基于GB/T15120.2《识别卡记录技术第2部分：磁条
顽力》。因为大部分存折本都是使用纸质材料，所以一些准则和测试方法也来源于GB/T28177.2柔性薄卡第2部分：磁记录技术》。2011《识别卡
1范围
信息技术存折本的磁条
GB/T15935—2013
本标准规定了如第4章中定义的在交换中使用的存折本上磁条的特性和位置。通过本标准的要求提供与交换系统的兼容性，从而使带有磁条的存折本可读，并且可被与在交换中使用的读出识别卡相兼容的设备编码。
本标准规定了对存折本上磁条（包括任何保护涂层)的要求、编码技术和字符集。它还规定了存折本封面的特性，如硬度、最小尺寸、表面不规则度、粗糙度以及封面材料和磁条间的相互作用。根据人、机两者因素规定了最低要求。
矫顽力影响到本标准中许多量值的规定但不是其自身的规定。把存折本暴露于磁场之中很可能使已记录的数据被破坏。
本标准定义了存折本应遵循的准则。在本标准中没有考患使用次数的因素，若需要，则可以根据之前存折本测试的经验。如产品不符合本标准规定的准则，则应在涉及到的各方中进行协商。ISO/IEC10373-2规定了检测存折本符合本标准规定参数的测试步骤。本标准适用于存折本用磁条的生产和验收。注：在本标准中用到的国际单位制和/或英制测量体系中的数值可能已经被换算，因而相互间并不完全相等。两种制式都可能被使用，但两者不宜被混杂或再被转换。最初的设计是使用英制测量体系。2一致性
如果存折本符合本标准规定的所有必达要求，则其是符合本标准的，另有规定者除外。3规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T3505产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廊法术语、定义及表面结构参数(GB/T3505—2009，ISO4287:1997,IDT)GB/T15120.2识别卡记录技术第2部分：磁条低矫顽力（GB/T15120.2—2012，ISO/IEC7811-2:2001,MOD
GB/T22364纸和纸板弯曲挺度的测定（GB/T22364—2008，ISO2493：1992、ISO5629：1983，MOD)
ISO/IEC10373-2识别卡测试方法第2部分：带磁条的卡（Identificationcards一Testmethods-Part2：Cardswithmagneticstripes4术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。1
GB/T15935—2013
源标准PrimaryStandard
套由德国物理技术研究院（PTB)建立，并且目前在美国Q-Card保存的基准卡，代表RM7811-2指定的UR和I的数值。
二级标准
Secondary standard
RM7811-2指定的基准卡，它和源标准的关系在与每张卡一起提供的校准证书中说明。注：二级标准目前可以从美国Q-Card订购，地址为：301ReaganStreet，Sunbury，PA17801，USA。4.3
未编码未使用的存折unusedun-encoded savingsbook具有预期用途所要求的全部成分，未进行过任何个人化或测试操作，并且被保存在清洁环境中，在5℃～30℃的温度和10%～90%的湿度条件下暴露在日光下的时间不超过48h，也未遭受过热力冲击的存折。
已编码未使用的存折本unusedencodedsavingsbook根据4.3，为了将来的应用，只是进行了数据编码（例如磁条编码、凸印、电子编码)的存折本。4.5
返回的存折本returnedsavingsbook在被发放给存折本持有人后为了测试的目的又被返回的已编码未使用的存折本（见4.4）。4.6
磁通翻转fluxtransition
磁化距离变化率最大的位置。
基准电流reference current
在给定测试条件下的最小记录电流幅度，它使得基准卡上在密度为8次磁通翻转每毫米（200次磁通翻转每英寸）的情况下（见图6），读出的信号幅度为基准信号幅度U的80%。4.8
freferencefluxlevel
基准磁通水平
与基准电流I相对应的测试磁头内的磁通水平4.9
测试记录电流testrecordingcurrents两个记录电流定义如下：
Imin=对应于3.5倍FR的记录电流；Imax=对应于5.0倍FR的记录电流。4.10
单个信号幅度individualsignalamplitudeU
单个读出电压信号的基-峰值幅度。4.11
平均信号幅度
averagesignalamplitude
一个磁道上，覆盖整个磁条区域的每个信号峰值（U)的绝对值相加后的总和，再除以信号峰值的总2
个数后得到的数值。
基准信号幅度referencesignalamplitudeUR
基准卡校正到源标准后得到的平均信号幅度的最大值。4.13
物理记录密度physicalrecordingdensity记录在一个磁道上的每单位长度内的磁通翻转数量。4.14
位密度bitdensity
单位长度内存储的数据位的数量（单位为bits/mm或bpi)。4.15
位单元bitcell
两个时钟磁通翻转间的距离。
子间距subinterval
两个时钟磁通翻转间的距离的一半。4.17
存折本savingsbook
GB/T15935—2013
有边界并是折叠的文件，至少包含一个封面和封底，通常由纸基材料制成，用来确定其持有人与发行者，它可携带需要的数据作为预期用途的输入，从而用于基于其本身的交易。4.18
正常使用
normaluse
对存折本（见4.17)的使用，包括适用于存折本技术的设备处理和设备处理之间作为个人文件存储。5存折本封面的物理特性
在进行测试之前，存折本应被保存在温度为23℃土2℃、相对湿度为（50士10）%的环境中至少24h。测试应在同样的环境中进行，或者按照ISO/IEC10373-2的规定进行。已编码未使用的存折本应符合以下特性。
一本带磁条的存折本应在以下条件下可以使用：温度：5℃～40℃；
相对湿度：20%～80%无冷凝；
最大湿球温度：25℃。
警告：存折本的发行者应注意保存在磁条上的信息可能会因为与不洁物质或化学物品接触后受污染而失效。还应注意任何打印或放置在磁条表面的遮盖物不得使磁条功能有所减弱。5.1磁条区域翘曲
在与磁条相对的正面均匀施加2.2N的力，导致的整个磁条在刚性平面上的偏离应不超过0.08mm。
5.2表面变形
存折本封底上如图1所示区域内的正、反两面均不得有变形、不规则和突起的部分，否则会影响磁3
GB/T15935—2013
头和磁条的接触。
左基准边缘
无变形区域
93（最小）
存折本封底
带磁条的存折本的无变形区域
在存折本封面、封底上的标签或其他附着物应位于无变形区域之外。单位为毫米
下基准边缘
注：存折本上其他区域的突起和变形可能会影响存折本在磁条处理设备上的传送，从而导致读写失败。5.3硬度
按照GB/T22364中规定的弯矩测试方法，在磁条方向上（平行于下基准边缘)的弯矩力应大于或等于0.032N。
注：最初的测试方法是基于现已被废止的TappiT489os-76。根据此测试方法，力臂长50mm速度为210°/min士20°/min。Tappi方法的要求是0.0016Nm，转换后即为0.032N=1.6Nmm/0.05m。5.4材料
在磁条被置于存折本封底，封面材料（前面和后面）和磁条之间不得有任何可能导致磁条正常使用故障的反应。
磁条的物理特性
6.1位置
磁条区域应位于如图2所示的存折本封底的表面。如果读/写器被集成在存折本打印机中，磁条应与打印机线平行。在使用独立的读/写器的应用中，最好使磁条平行于存折本的折线而与存折本的使用类型无关，见图2。4
磁条区域
左基准边缘
垂直折叠
打印线方向
下基准边缘
注：此区域基于GB/T15120.2中定义的第1、第2和第3磁道的磁条区域。图2
6.2磁条区域的表面轮廓
存折本磁性材料的位置
磁条区域截面轮廊的最大垂直偏差（α）应小于或等于8μm，见图3。W
表面轮廊
6.3磁条区域的高度
磁条区域相对于相邻存折本表面的垂直偏差（h）应小于0.102mm。GB/T15935—2013
单位为毫米
水平折叠
打印线方向
磁条区域
左基准边缘
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6.4表面粗糙度
根据GB/T3505一2009测量到的磁条区域内的平均表面粗糙度（Ra）在纵向和横向都应小于或等于1.4μm。Www.bzxZ.net
磁条与存折本的粘合
在正常使用的情况下，磁条不应与存折本分离。6.6环境耐性
磁条在暴露于光线和其他正常使用中可能遇到的环境因素时，应能抵抗退化。磁性材料的性能特性
7.1总则
本章的主要目的是使存折本和处理系统间具有磁的可交换性，不规定磁介质的矫顾力。7.3中规定的磁介质的性能准则不考虑矫顾力的大小。本方法使用基准卡，基准卡的磁材料可以潮源到源标准（见第4章）。所有使用二级基准卡得到的信号幅度结果应采用随二级基准卡提供的因子进行校正，7.2测试和操作环境
信号幅度测量的测试环境温度为23℃土3℃，相对湿度为40%～60%。在其他相同条件下测试时，存折本在如下操作环境范围内曝露5min后，从密度为8ft/mm（200 ftpi)的磁条上测量到的平均信号幅度不能偏离在上述测试环境下其值的15%以上：温度：-35℃～50℃；
相对湿度：5%～95%。
7.3对磁介质信号幅度的要求
对存折本上记录特性的要求见表1、图3和图4。表1对未编码未使用的存折本的信号幅度要求描述
信号幅度
信号幅度
信号幅度
信号幅度
分辨率
ft/mm(ftpi)
8(200)
8(200)
8(200)
20(500)
20(500)
测试记录
Imn，直流
信号幅度
0.8UR≤UAl≤1.3U
Ui≤1.36UR
U≥U≥0.8U
Uiz≥0.65Ux
UA3≥0.7UA2
UA≤0.03U
额外脉冲
ft/mm(ftpi)
表1（续）
测试记录
Imm，直流
位于In和Imax之间的饱和曲线的斜率永远不得为正值。信号幅度
GB/T15935—2013
U.≤0.05UR
注：不允许把上面的要求进行算术联合。这些值用于对未编码的存折本的测试，不适用于已编码的存折。130-
：100-
记录电流
示例曲线
校正到主标准
的基准卡曲线
注：此曲线定义了（在卡上的)源标准响应。窗口参数用于定义可在机器读取环境中使用的存折本。上面描述的校正后的基准曲线可能不满足第7章中定义的规范。图4密度为8ft/mm(200ftpi)的容差范围的饱和曲线示例作为选择，可以使用高矫顾力磁条。在此情况下，在附录A中给出的性能要求将取代7.3中给出的要求。
8编码技术
每个磁道的编码技术采用的是倍频记录。这种方法允许自时钟数据进行串行记录。编码由数据和时钟翻转一起构成。在两个时钟翻转间出现磁通翻转标记为“1”，而在两个时钟翻转间没有出现磁通翻转则标记为“0”（见图5和图6）。7