【国家标准】 识别卡 测试方法 第2部分：带磁条的卡

ICS35.240.15
中华人民共和国国家标准
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2：2006识别卡
测试方法
第2部分：带磁条的卡
Identification cardsTest methodsPart 2:Card with magnetic stripes（ISO/IEC10373-2:2006,IDT）
2015-05-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2016-01-01实施
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2:2006目
规范性引用文件
术语和定义
测试方法的默认条款
测试环境
预处理
测试方法的选择
默认容差
总度量的不确定度
测试方法
磁条区域的翘曲
磁条的高度和表面轮廓
磁条的表面粗糙度
磁条的耐磨性测试
幅度测量
磁通翻转间距变化·
磁条黏合力
静磁特性
波形Us
高矫顽力高密度覆写
附录A（资料性附录）测试头磨损的影响和抗磨损测试头的使用·18
卡》。
GB/T17554.2—2015/ISO/IEC10373-2:2006前言
GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为如下部分：第1部分：一般特性测试；
第2部分：带磁条的卡；
一第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备；——第5部分：光记忆卡；
一第6部分：接近式卡；
第7部分：邻近式卡。
本部分为GB/T17554的第2部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草，本部分使用翻译法等同采用ISO/IEC10373-2：2006《识别卡测试方法第2部分：带磁条的与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：GB/T131一2006产品几何技术规范（GPS）技术产品文件中表面结构的表示法(ISO1302:2002,IDT);
GB/T9286—1998色漆和清漆漆膜的划格试验（eqvISO2409：1992）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任，本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国信息技术标准化技术委员会（SAC/TC28）归口。本部分起草单位：中国电子技术标准化研究院、云南南天电子信息产业股份有限公司、山东省标准化研究院，
本部分主要起草人：夏娣娜、段霞、冯敬、金倩、杨扬、耿力、养申杰、袁理、王文峰。1范围
GB/T17554.2—2015/ISO/IEC10373-2:2006识别卡测试方法
第2部分：带磁条的卡
GB/T17554的本部分规定了符合GB/T14916一2006所定义识别卡特性的一些测试方法。每一个测试方法交叉引用一个或多个基本标准，这些基本标准可以是GB/T14916一2006，也可以是一个或多个定义了在识别卡应用中使用的信息存储技术的补充标准。本部分定义了特别针对磁条技术的测试方法。注1：可接受的准则不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中，注2：本部分描述的若干测试方法可单独进行。对一张指定的卡不要求按顺序地通过所有测试。2规范性引用文件wwW.bzxz.Net
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T14916一2006识别卡物理特性（ISO/IEC7810：2003.IDT）ISO1302产品几何技术规范（GPS）技术产品文件中表面结构的表示法（Geometricalproductspecifications (GPS)—Indication of surface texture in technical product documentation)ISO24O9：1992色漆和清漆漆膜的划格试验（Paintsandvarnishes一Cross-cuttest）ISO3274产品几何技术产品规范（GPS）表面纹理：割面方法接触设备的标准特性（Geometrical product specifications （GPS)—Surface texture:Profile method-Nominalcharacteristics ofcontact（stylus）instruments）ISO4288产品几何技术产品规范（GPS）表面纹理：割面方法表面纹理评估的规则和程序(Geometrical product specifications(GPS)-Surface texture:Profile method-Rules and proceduresfortheassessment of surfacetexture)ISO/IEC7811-2识别卡记录技术第2部分：低矫顽力磁条（IdentificationcardsRecordingtechniquePart 2:Magnetic stripeLow coercivity)ISO/IEC7811-6识别卡记录技术第6部分：高矫顽力磁条（Identificationcards—Recordingtechnique—Part 6:Magnetic stripe—High coercivity)ISO/IEC7811-7识别卡记录技术第7部分：高矫顽力高密度磁条（IdentificationcardsRecording technique—Part 7:Magnetic stripe—High coercivity,high density)IEC454-2电气用途的压敏胶带规范第2部分：测试方法（Specificationforpressure-sensitiveadhesivetapes for electrical purposes—Part2:Methods of test)3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。1
GB/T17554.2—2015/ISO/IEC10373-2:20063.1
测试方法testmethod
为了确认识别卡符合若干国家或国际标准而对其特性进行测试的方法。3.2
可测试功能testablyfunctional经受了某些可能的破坏性作用后，仍有以下功能：a）卡上的任何磁条都给出了根据基本标准进行暴露前后信号幅度间的关系；b）卡上的任何集成电路仍然给出了符合基本标准的复位应答响应；c）与卡上的任何集成电路相关的任何触点仍然给出了符合基本标准的电阻和阻抗；d）卡上的任何光存储器仍然给出了符合基本标准的光特性；e)
卡上的任何非接触集成电路仍然可按其用途进行操作。warpage
与平面的偏差。
fluxtransitions per millimetre磁通翻转每毫米
应用于磁条磁道上的线性记录密度。3.5
记录recording
用所有规定适用的测试参数，根据本部分规定的测试方法建立一个磁通翻转的磁道。3.6
编码encoding
根据一种编码规则，建立一个修正间距的磁通翻转的磁道，以表示数据。3.7
表面粗糙度surfaceroughness
表面区域的分布结构，在国家或国际标准中参照不同的分辨率和计算方法进行的规定。3.8
幅度测量amplitudemeasurements用所有规定可用的测试参数值，根据本部分给出的测试方法测量磁条的读出信号幅度。3.9
磁通翻转间距变化
fluxtransitionspacingvariation沿着平行于编码磁道的中心线的方向，测量到的相邻磁通翻转间距与标称间距的偏差。3.10
磁条黏合力magneticstripeadhesion磁条和卡片间黏合的强度。
正常使用
normaluse
涉及对卡技术而言是适当的设备处理的识别卡使用，以及设备操作之间个人文件的存储。LGB/T14916—2006，定义4.4
静态饱和M（H）回线staticsaturationM（H）loop磁场强度以足够慢的速率在极限值一H和十H之间循环变化时，回线不再改变，此时的正常2
磁滞回线就是静态饱和M（H）回线。（见IEC50（221））3.13
矫顽力
coercivity
HeM=H'
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2:2006持续作用的磁场从先前的饱和磁化状态，沿相反方向把磁化减小到零时，在与磁条纵轴平行的方向测量到的磁场强度。（见IEC50（221））3.14
剩余矫顽力
remanent coercivity
作用的磁场把材料从先前的饱和磁化状态沿相反方向减小到零时，在与磁条纵轴平行的方向测量到的磁场强度。
奥斯特
oersted
磁场强度高斯CGS制的单位，通常用在磁记录行业，约等于79.578A/m。3.16
静态消磁
staticdemagnetisation
在相反磁场强度的作用下，磁化的减小；以（M，一M+（一160)）/M，描述；磁场强度值在H=0和H=一160kA/m之间的静态饱和M（H)回线的消磁象限的平均斜率。3.17
矩形比
squareness
零磁场强度（H=0）下的磁化值M。与静态饱和回线上Hmax处的磁化值M（Hmax）的比值，注：SQ=M,/M(Hmax)
longitudinal squareness
纵向矩形比
平行于磁条的纵轴方向测量到的介质矩形比。3.19
垂直矩形比
perpendicular squareness
垂直于磁条平面测量到的介质矩形比。3.20
开关场分布
switching field by derivativeSFp
静态磁化曲线M（H）的微分曲线的半高宽度除以同一静态磁化曲线上矫顽力的值。3.21
开关场斜率
Eswitchingfieldbyslope
在静态磁化M（H）回线上截取M（H）=0.5M，和M（H）=一0.5M，时的磁场强度的差值，除以矫顽力。
注：SFs=(IH|-|HI)/HM其中M(-IH,I)=0.5M,M(-|H21)=-0.5M,3
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2:20063.22
最大矩形角angleofmaximumsquareness（SQmax）
矩形比取最大值时的方向和磁条纵轴方向间的夹角。3.23
分辨率
resolution
些规定的较高记录密度的平均信号幅度除以一些较低记录密度的平均信号幅度，再乘以100，以百分比的形式表示。
在磁条整个波形的傅立叶频谱上规定频率下的基波的幅值。4测试方法的默认条款
测试环境
除非另有规定，测试应在温度为23℃士3℃和相对湿度为40%～60%的环境下进行。预处理
若测试方法要求预处理，在测试前应将被测卡在测试环境中放置24h。4.3
测试方法的选择
测试应与在相关基本标准中定义的被测卡的属性要求相符合。4.4
默认容差
除非另有规定，土5%的默认容差应适用于已给出的量值，以规定测试设备的特性（例如：线性尺寸）和测试方法步骤（例如：测试设备校准）。4.5
总度量的不确定度
这些测试方法所确定的每个量的总度量的不确定度应在测试报告中予以说明。5测试方法
5.1磁条区域的翘曲
本测试的目的是测量被测样品卡磁条区域的翘曲程度（见ISO/IEC7811-2，ISO/IEC7811-6，和ISO/IEC7811-7)。
本测试适用于凸印卡和非凸印卡。测试装置
测量装置如图1所示，包括：
a）一块符合ISO1302要求，表面粗糙度不大于3.2um的水平刚性板。该平台应含有一个使千分尺的探头能通过的小孔；
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2:2006一个精度为2.5μm的千分尺，上面有探头，探头的接触区是一个直径为3mm～8mm范围的b)
半圆球，探头的外压力应为F=0.6N士0.3N；在相对于磁条区域的卡片正面均勾施加F=2.2N的力。c）
无比例关系
基准面
磁条区域
5.1.2步骤
图1测量装置
千分尺
（精度2.5μm）
将样品卡正面向上放在水平刚性板上。将要测量的磁条区域置于小孔之上。在2.2N的负载力之外应增加一个外力于，用以补偿千分尺探头在相反方向上施加的力。将这个力F（十f)直接施加于磁条区域对应的卡的正面。在进行任何测量前等待1min。如图2所示，沿着磁条上的9个位置点测量卡片磁条区域的翘曲。如果磁条其他区域的翘曲出现大于这9个指定区域的翘曲，则其他区域也应被测量。单位为毫米
无比例关系
注：X的数值在表1中给出。
卡片的测量区域
GB/T17554.2—2015/ISO/IEC10373-2:2006线性测量点的位置
测试磁条区域
第1磁道和第2磁道
第1磁道、第2磁道和第3磁道
测试报告
测试报告应给出从这9个测量点上得到的最大值。5.2
磁条的高度和表面轮廓
本测试的目的是确定被测样品卡的磁条高度和平坦度（见ISO/IEC7811-2，ISO/IEC7811-6和ISO/IEC7811-7)。
磁条的高度由卡的基准面和磁条的表面轮廓决定，5.2.1
测试装置
要求的条款如下：
a）一个轮廓曲线仪（见图3）；b）一个有凹口的刚性金属板如图4所示。任何一种刚性金属都可以用来制作成此金属板，但是它的厚度要根据此种金属的密度加以调整，以使其重量为2.2N土0.1N。此金属板的整体尺寸偏差范围应在0.5mm之内。
无比例关系
测量和记录工具
传感器
测量方向
卡片固定板
磁条高度和表面轮廓的测量装置5.2.2步骤
10.00~15.00
GB/T17554.2—2015/IS0/IEC10373-2:2006单位为毫米
无比例关系
10.00~15.00
10.00~15.00
图4卡片固定板（接触区域）
将被测卡固定在如图4所示的有凹口的刚性金属板下方，使用测量记录工具测量磁条的高度和表面轮廓以及卡表面的周围区域。用半径为0.38mm～2.54mm，力度为0.5mN~6mN的探针，以最大1mm/s的速度测量轮廓。穿过每个样品的磁条宽度做3次测试。3个位置V、X、Y被定义为距离卡的各端15mm土2mm，X位于卡的中心线上（见图5）。如果卡片其他区域的高度或表面轮廓的偏离超出了以上3个区域的偏离，则其他区域也应被测量，沿着V、X、Y各条线的测量开始于磁介质上边缘以上最小1mm处，结束于磁介质下边缘以下最小1mm处。
注：在准备对卡进行表面轮廓测量时，用锋利的小刀在卡表面轻轻地划一条平行于卡的上基准边缘的线，对于在轮廊记录上定位磁条的最小宽度W是有用的。单位为毫米
无比例关系
15.00±2.00
15.00±2.00
图5磁条轮廓的测量位置