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电子行业标准(SJ)
SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
1982-11-30
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
1982-11-30
SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
1982-11-30
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
1982-11-30
SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则
1982-11-30
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
1982-11-30
SJ 2193-1982 整流滤波阻流圈电气参数系列
1982-11-13
SJ 2182-1982 压电滤波器总技术条件
1982-10-26
SJ 2179-1982 压电滤波器术语和定义
1982-10-26
SJ 2176-1982 电子产品防潮包装容器透湿度试验方法
1982-10-19
SJ 2170-1982 一般电子产品运输包装基本试验方法 总则
1982-10-19
SJ 2168-1982 涂覆用环氧粉末
1982-10-15
SJ 2154-1982 薄膜集成电路用微晶玻璃基片
1982-08-20
SJ 2152-1982 烧结含油轴承
1982-08-20
SJ 2148-1982 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
1982-08-20
SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
1982-08-20
SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
1982-08-20
SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
1982-11-30
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
1982-11-30
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