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【电子行业标准(SJ)】 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
本网站 发布时间:
2024-07-13 20:29:03
- SJ2214.3-1982
- 现行
标准号:
SJ 2214.3-1982
标准名称:
半导体光敏二极管暗电流的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1982-11-30 -
实施日期:
1983-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
36.05 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二极管暗电流的测试方法本标准适用于光敏二极管暗电流I的测试。SJ2214.3--82
测试反向电流总的要求应符合SJ2214.1-82《半导体光敏管测试方法总则》。2暗电流ID的测试
在无光照下在被测管两端加规定反向工作电压V时,二极管中流过的电流。暗电流!的测试原理图应符合下图。2.2
盗光罩
稳压源
测试步骤bzxZ.net
调节稳压电源,使直流电压表读数为规定值,这时流过电流表的读数即为所测暗电流p。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
测试反向电流总的要求应符合SJ2214.1-82《半导体光敏管测试方法总则》。2暗电流ID的测试
在无光照下在被测管两端加规定反向工作电压V时,二极管中流过的电流。暗电流!的测试原理图应符合下图。2.2
盗光罩
稳压源
测试步骤bzxZ.net
调节稳压电源,使直流电压表读数为规定值,这时流过电流表的读数即为所测暗电流p。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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标准图片预览:

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