【电子行业标准(SJ)】 半导体光敏二极管结电容的测试方法

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二极管结电容的测试方法本标准适用于光敏极管结电容C的测试。1测试结电容C,的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。2结电容C,的测试
2.1定义
在无光照及规定偏压下被测管两端的电容值。2.2结电容的测试原理图应符合下图。振荡器
3测试步骤
遮光罩
选频放大器
鉴频器
SJ2214.5-82
指示器此内容来自标准下载网
调节零位，然后放上被测管，加规定偏压在指示器上显示出来的读数即为该管之电容值C，。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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