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【电子行业标准(SJ)】 半导体光敏二极管正向压降的测试方法

本网站 发布时间: 2024-07-13 20:29:31
  • SJ2214.2-1982
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2214.2-1982

  • 标准名称:

    半导体光敏二极管正向压降的测试方法

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1982-11-30
  • 实施日期:

    1983-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    35.97 KB

标准分类号

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出版信息

  • 页数:

    1页
  • 标准价格:

    8.0 元

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SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 SJ2214.2-1982

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二极管正向压降的测试方法本标准适用于光敏二极管止向电压降VF的测试。SJ2214.2-82
1测试正向压降总的要求应符合SJ2214.182《半导体光敏管测试方法总则》。2正向压降VF的测量。bzxz.net
2.1定义
在无光照下极管通过的正向电流为规定值时,正负极之间所产生的电压降。2正向压降V?的测试原理图应符合下图。2.2
遮光罩
恒流源
3测试步骤
调节恒流源,使直流电流表的读数为规定值,这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V值。
中华人民共和国电子工业部198211-30发布1983-07-01实施
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