【电子行业标准(SJ)】 机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验

1范围
中华人民共和国电子行业军用标准机载雷达环境条件及试验方法
温度冲击试验
Environumental conditions and test methods for aircraft radarTemperature shock tesl
1.1 主题内容
本标准规定了机载雷达的温度冲击环境条件及试验方法，1.2适用范菌
本标准适用于机载需达的温度冲击试验1.3应用指南
SJ 20115. 3—92
本标推是用来评定机载雷达在使用期间，温度迅速变化条件下的适应能力。2引用文件
GJB150.1--150.2086军用设备环境试验方法SJ 20115. 1-92
3术语
本章无条文：
4一般要求。
本章无祭文，
5详细要求。
5.1试验等级
5. 1. 1试验温度
低温—55℃
5.1.2循环试验
机载留达环境条件及试验方法总则5.1.2.1温度冲击试验循环过程如图1所示。中电子工业总公司1992-11-19发布1993-05-01实施
高温70℃
低癌-55℃
SJ 20115. 3 -92
图1·温度冲击试验循环过程图
图中：1试验样机在高温箱、低摄箱中放置的时间。放置时间的选取按5.1.2.2条规定；is一试验样机从低温箱搬到高溢箱或者从高温箱搬到低温箱的时间。t5min；一试验样机放入试验箱中，试验箱内的温度回归到容差范，保持试验箱的温度稳定时间。25min。
5.1.2.2效置时bZxz.net
当试验样机温度稳定时间小于2h时，放置时闻为2lh，当试验样机温度稳定时闻大于2h时，放置时间为4h，5.1.2.3循环次数
将试验样机按图1温度油出循环过程医进行3次试验。5.2试验条件
5.2.1当不具备用一箱法进行试验时，可用两个试验箱，一个高温箱，一个低温箱。两个试验箱的放置应便试验拌机在两箱之间迅速转换。5.2.2试验箱在试验样机放入后,应能在规定的时间t内使箱内温度达到所要求的额定值并能保持此额定值温度。
5.2. 3用~-箱法试验时,除非产品规范另有规定,箱祖的升降在不超过5min时间内的平均速度为:5±1'C/min.
5.3试验程序
5.3.1预处理
为消除试验样机在前阶段试验过程中各种环境因素的影有，在试验之前应进行清洁、外观检查，并置工试验的标推大气案件使之达到温度稳定。5.3.2初始检測
按产品规范规定的项目、方法和要求对试验样机进行外观和性能检测，并记录。5.3.3条件试验
5.3.3. 1一箱法
a、不带包装约试验样矶接使用状态的正常位置放入试验箱中，试验箱温度按5.2.3条ITKAONKAca-
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现定，降猛到一b，放置时间为温度稳定时问为：将试验错温度按1.2.3案规定升到70么，放置时间为盘度稳定时间sh
将试验箱温度按5.2.3条规定降到室温。至此，试验过程树成一个循环，按比循环过程进行3次。
5.3.3.2两箱法
将商猫箱的温度升到70℃，低温箱的煜度降到一℃：试验样机按使用状态的正常位置放人低溢箱中，在，时间内使箱内温度达到规定值b.
试验样机注一65C的低温下效置时间为,d从低温箱内取出试验择机，迅速放入高温箱内，转换时间为2，不得大于5mini试验祥机放入高温箱中，在与时间内箱内温度达到70亡，在此温度下放暨时问为1e.
将试验样机以高温箱内取出，放到室温下，歪比，试验过程构成一个错计。按比循环过f
程进行3次。
5.3.4恢复
最后一个循环结束后，从试验箱内取出试验样机，在室温下放置25或名更长时间，使之达到庭稳定
5.3.5最后检测
报据产品规范规定的项目、方法和要求，对试整样机进行外观检套和性能检测，并记录，5.4试验中断与故障分析
5.4.1试验中断
试验中断按 SJ 20115. 1 第 1. 4 条的规定。5.4.2故障分析
应对试验样玑出现的故障、性能参数超差等所有问题进行分析，确定产生的原困和影响，提出应采取的补教措施。
5.5合格判定
合格帮据由有关产品规范规定，5.6引用本规范时应规定的细：
预处埋；
初始捡测的项和要求；
试验等级、试验周期和方法；
试验样机安装位置和状态：
中间检测的项自、方法、仪表私要求最后检测的项目、方法、仪表和要求；合格判定的规定和判据；
其它。
附加说明：
本标准由中国电子总公司科技质星局提出本标准由电子标准化研究所归口。本标准由 780,781 、782.广起草。本标准主要起草人：魏世栋、高述宝、王金林计划项目代号：J431C。
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