- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 电子行业标准(SJ) >>
- SJ 1278-1977 金属镀层和化学处理层外表的检验方法
标准号:
SJ 1278-1977
标准名称:
金属镀层和化学处理层外表的检验方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1978-03-01 -
实施日期:
1978-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
25.81 KB
替代情况:
SJ 43-1964

点击下载
标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准适用于检验金属镀层和化学处理层的外表质量 SJ 1278-1977 金属镀层和化学处理层外表的检验方法 SJ1278-1977

部分标准内容:
中华人民共和国第四机械工业部部标准
金属镀层和化学处理层
外表的检验方法下载标准就来标准下载网
SJ1278-77
SJ43-64
本标准适用于检验金属镀层和化学处理层的外表质量,一般用肉眼在日光或人工照明(日光灯或普通电灯)100~200勒克斯(约相当于在相距750mm远左右的一支40瓦日光灯)下进行检验。在有争议的情况下,允许借用放大4~5倍的放大镜进行检验。检验有特殊要求的零件时,应与在一定期限内被批准的企业“标准样品”进行肉眼观察和比较,允许缺陷按SJ1276-77技术要求中的规定。“标准样品”应贮存在良好的气候条件(温度为一10~+25℃,相对湿度≤80%,天内温度变化<10℃,没有工业、锅炉和其它有害气体。)或密封容器内
一九七八年三月一日实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
金属镀层和化学处理层
外表的检验方法下载标准就来标准下载网
SJ1278-77
SJ43-64
本标准适用于检验金属镀层和化学处理层的外表质量,一般用肉眼在日光或人工照明(日光灯或普通电灯)100~200勒克斯(约相当于在相距750mm远左右的一支40瓦日光灯)下进行检验。在有争议的情况下,允许借用放大4~5倍的放大镜进行检验。检验有特殊要求的零件时,应与在一定期限内被批准的企业“标准样品”进行肉眼观察和比较,允许缺陷按SJ1276-77技术要求中的规定。“标准样品”应贮存在良好的气候条件(温度为一10~+25℃,相对湿度≤80%,天内温度变化<10℃,没有工业、锅炉和其它有害气体。)或密封容器内
一九七八年三月一日实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

标准图片预览:

- 其它标准
- 热门标准
- 电子行业标准(SJ)
- SJ/T31142-1994 荧光灯排气车完好要求和检查评定方法
- SJ1417-1978 3DA103型NPN硅高频大功率三极管
- SJ50033.150-2002 半导体分立器件 2DW230-236型硅电压基准二极管详细规范
- SJ1413-1978 3DA2型NPN硅高频大功率三极管
- SJ1795-1981 50-1000mA小电流半导体闸流管
- SJ795-1974 3DG142型NPN硅外延平面高频小功率低噪声三极管
- SJ/T31198-1994 玻壳退火炉完好要求和检查评定方法
- SJ2646.3-1985 冷冲模 顶杆
- SJ1056-1976 CKM-99脉冲磁控管
- SJ1469-1979 3CG101型PNP硅外延平面高频小功率三极管
- SJ2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
- SJ261-1966 双极型插头和插座
- SJ1856-1981 电子陶瓷材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
- SJ20216-1992 WJ22型螺杆驱动非线绕预调电位器详细规范
- SJ50033.86-1995 半导体分立器件 CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
- 行业新闻
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:bzxznet@163.com
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1