- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 电子行业标准(SJ) >>
- SJ/T 10174-1991 AM1·5稳态太阳模拟器

【电子行业标准(SJ)】 AM1·5稳态太阳模拟器
本网站 发布时间:
2024-07-14 06:37:53
- SJ/T10174-1991
- 现行
标准号:
SJ/T 10174-1991
标准名称:
AM1·5稳态太阳模拟器
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1991-05-28 -
实施日期:
1991-12-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
95.97 KB

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业行业标准AM1.5稳态太阳模拟器
sleady sunlight simulafor for air-mossJ.51主题内容与适用范压
SJ/T 10174—91
本标准规定了各级AM1,5稳态太阳模拟器的技术指标,以及检测这些指标的方法。本标准适用于AM1.5稳态太阳模拟器,2引用标准
CB/T12637太拍模拟器通用规范
GE 2297
3产品分类
太阳光伏能源系统术诺
按GB/T 12637 中 3. 1 条,3. 2 条,3. 3 条规定。4技术要求
4.1外观要求
太阳模拟器的光学件不得有划伤、裂纹、脱膜、污染等,4. 2工作条件
4.2.1消洁度:10000级,
4.2.2相对湿度:小于75为。
4.2. 3坏境温度:5~35℃
4.2.4电源工作电压:380土38V或220士22V4.2.5冷却水温度:5~35℃.
4.2.6通风,应设有排气设备,将有害气体排出,有害气体含量应按国家有关规定。4.3技术指标
4. 3. 1 A级,B级、C级 AM1. 5稳态太阳模拟器的技术指标均应符合 GB/T 12637 中表 1和表 2 的规定要求。
4.3.2AM1.5稳态太阳模拟器输出总辐照度应在8C0~l200W/m2范围内可调。4.3.3AMl.5稳态太阳棋拟器在保持各项指标不变的情况下应能逆续工作8h。5试验方法
中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991-12-01 实施
5.1测量仪器
SJ/T 1017491
5.1. 1测试所用测试仪表在测试前必须经有关法定计量机构校验,并有检定证书。5.1.2测量仪器精确度
a.X-Y 断数记录仪的精确度应不低于 0. 5 级;数字电压表的摘确度应不骶于士0.2%;b
c。太阳电池凝路电流与辐照度的线性精确度应不低于±0.5%,d,均度测试仪的精确度应不低于土1.0%;绝对辐射计的不确定度不大于2%.e.
5.2总辐照度
在有效辐照面内用绝对辐射计测量总辐照度。测量时以有效辐照面的中心为起点,在X和Y方向上等间隔对称取测试点。测试点数目根据有效辐照面大小而定,规定除中心点外每个方向不少于2点。各测试点辐照度的平均值即为总辐照度。总插期度用公式(1)计算
E, + E. + E, + .E.
式中.E..E.测试点辐照度,W/m\n——测试点数目。
5.3辐照不均匀度
5.31在有效辐照面内用均匀度测试仪测辐照不均匀度。均匀度测试仪的记录系统用X-Y函数记录仪。检测器使用单晶硅太阳电泄,检测器尺寸按CB/T12637的5.4.3条规定,按图1.图2布量测试。无论有效韬照面是什么样的形状,均从有效辐照面的中心处取4条测试线。矩形辐照面测试线的确定方法为边对边,角对角,其它形状照面每隔45\取1条测试线,在4条记录曲线中取最大值和最小值。图1
辐照不均匀度用公式(2)计算
±E+Ei
式中,E—最大辑照度.W/m
Em—m最小辐照度,W/m
SJ/T 10174—91
5.3.2在有效辑照面内4条测试线的测试时间不大于2min。5.4摘照不稳定度
测试位量的选法按GB/T12837的4.5条规定。用单晶硅太阳电池为线性接收元件,用X-F函数记录仪或打印机为记录系统,测试辐照不稳链度。测试中接收元件温度的变化不得大于士2℃。规定以1h作为检测辑照不稳定度的时间间隔。在1l1内又-Y函数记录仪或打印机连续记录的数值中取最大值和最小值。辐照不稳定度用公式(3)计算
Emr —Egr
= Emak + E
式中,E.—最大辑照度,W/m*;
E_--最小辐照度,W /m\.
5.5光谱辐照度分布
5.5.1标准
X 100%
本标准规定采用总赖射AM1.5标准阳光谱(见附录A)。5.5.2光谐谱辐照度分布测量
太模拟器光谱辐照度分布测量,应按国家有关规定。5.6计算方法
+-*(3)
本标准规定,标准太阳光谱和AM1.5稳态模拟器光谱,在总摘照度相等的情况下,各个相对应波长间履内的光谱辐照度进行比较光谱失匹误差。6检验规购
按GB/T12637的第6章规定
7 标志、包装、运输、贮存
按GB/T 1263的第7章规定。
SJ/T 1017491
AM1. 5 标准太阳光谱数据(总辐射)(补充件)
光谱辑照度
W+m-*. μm~1
光谱光予流辐照度
cm-*-3-1 - μm-1
1.459E+G15
6. 602E+ C15
1.710F+016
2.916E+016
4.038E+016
6.567E+016
G.579E+016
7.451E+016
7.623E+016
8.523E+016
9.430E+016
1.241E-I 017
1.363E+017
1.415E+017
2. 040F+017
2. 391E+017
2.504E+017
2. 320E+617
2.88十017
3. 457E+017
3.704E-+017
3. 741E+017
3.935E+017
3. 797E+017
3.898E+017
4. 074E+017
3.8R7E+017
4.196E+017
4.216E+017
1.324E+017
4.309E+017
4.145E+017
4.561E+017
4. 549F+017
4.647E+517
4.89GE+517
3.925E+017
聚积积分辅所
光诺蝠照度
SJ/T 1017491
光谐光子流辐照度
W·m--. μm--
tn-++$+ μn-+
4.707E+017
3.652E+117
3.805E1017
4. 512F+017
.523E+017
483E+017
2.469E+017
3.983E/017
4.442F+017
4.356E+017
3.489E+017
3.255E+017
3.836E+017
4.059F+017
4.838E+017
4.134E+017
2.110E+017
3.075F+017
3.215E+017
1.890EF-017
1. 218E+017
1.197E+017
2.559E+017
3.189E+017
3.735E-+-017
3.615E+017
3.434E+017
2.285E+017
5.140E+U16
1.076E+017
7.567E+016
1.98EL017
2.733F.+017
2.559E+017
2.988E+017
2.683E+017
1.663E+01?
2.209E+G16
1.124E+C15
4.045E+C16
7.738E+016
7.845E+016
双积积分据度
SJ/T 10174—91wwW.bzxz.Net
光谱辋照度
W- u-- μ-
光谱光子流幅照度
cin-. s-1+μm-:
1-372E+017
2.015E+017
2.125E-+017
2.157E+017
1.943+$17
1.983E+017
1.854E+017
2.006E+017
1.946E+017
1.863E+17
1.502E+017
2.782F+313
1.B73E+015
1.150E1515
2.992E+515
9.104E+016
2.765E+016
1.19E+017
6.279E+616
9.420E+016
8.589E+C16
7.512E+C16
5.023E+016
7.367+016
2.616E+C16
2.323E+016
4. 187E+015
5. 515F+015
1.138E+016
9. 834E1 015
4.023E+015
8.515E+015
3.082E+016
2. 097E+015
5.228E+-015
2.188E+016
5.387E+015
累积积分辐期度
910,75
附加说明,
SJ/T 1017491
光谱辐照度
W+m-++μn-!
光谐光子流韬照度
cm-z + $-1 * μm-!
2.310E+016
2.141E+016
1.858E+016
1.527E+016
本标准由中华人民共和国机械电子工业部电子标准化研究所提出。累积积分辐照度
本标准由中国科学院长春光学精密机械研究所,机械电子工业部电子标准化研究所、机械电子工业部第十八研究所负责起草。本标推主要起草人:郎永志,周耀宗、由志箍。7
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
sleady sunlight simulafor for air-mossJ.51主题内容与适用范压
SJ/T 10174—91
本标准规定了各级AM1,5稳态太阳模拟器的技术指标,以及检测这些指标的方法。本标准适用于AM1.5稳态太阳模拟器,2引用标准
CB/T12637太拍模拟器通用规范
GE 2297
3产品分类
太阳光伏能源系统术诺
按GB/T 12637 中 3. 1 条,3. 2 条,3. 3 条规定。4技术要求
4.1外观要求
太阳模拟器的光学件不得有划伤、裂纹、脱膜、污染等,4. 2工作条件
4.2.1消洁度:10000级,
4.2.2相对湿度:小于75为。
4.2. 3坏境温度:5~35℃
4.2.4电源工作电压:380土38V或220士22V4.2.5冷却水温度:5~35℃.
4.2.6通风,应设有排气设备,将有害气体排出,有害气体含量应按国家有关规定。4.3技术指标
4. 3. 1 A级,B级、C级 AM1. 5稳态太阳模拟器的技术指标均应符合 GB/T 12637 中表 1和表 2 的规定要求。
4.3.2AM1.5稳态太阳模拟器输出总辐照度应在8C0~l200W/m2范围内可调。4.3.3AMl.5稳态太阳棋拟器在保持各项指标不变的情况下应能逆续工作8h。5试验方法
中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991-12-01 实施
5.1测量仪器
SJ/T 1017491
5.1. 1测试所用测试仪表在测试前必须经有关法定计量机构校验,并有检定证书。5.1.2测量仪器精确度
a.X-Y 断数记录仪的精确度应不低于 0. 5 级;数字电压表的摘确度应不骶于士0.2%;b
c。太阳电池凝路电流与辐照度的线性精确度应不低于±0.5%,d,均度测试仪的精确度应不低于土1.0%;绝对辐射计的不确定度不大于2%.e.
5.2总辐照度
在有效辐照面内用绝对辐射计测量总辐照度。测量时以有效辐照面的中心为起点,在X和Y方向上等间隔对称取测试点。测试点数目根据有效辐照面大小而定,规定除中心点外每个方向不少于2点。各测试点辐照度的平均值即为总辐照度。总插期度用公式(1)计算
E, + E. + E, + .E.
式中.E..E.测试点辐照度,W/m\n——测试点数目。
5.3辐照不均匀度
5.31在有效辐照面内用均匀度测试仪测辐照不均匀度。均匀度测试仪的记录系统用X-Y函数记录仪。检测器使用单晶硅太阳电泄,检测器尺寸按CB/T12637的5.4.3条规定,按图1.图2布量测试。无论有效韬照面是什么样的形状,均从有效辐照面的中心处取4条测试线。矩形辐照面测试线的确定方法为边对边,角对角,其它形状照面每隔45\取1条测试线,在4条记录曲线中取最大值和最小值。图1
辐照不均匀度用公式(2)计算
±E+Ei
式中,E—最大辑照度.W/m
Em—m最小辐照度,W/m
SJ/T 10174—91
5.3.2在有效辑照面内4条测试线的测试时间不大于2min。5.4摘照不稳定度
测试位量的选法按GB/T12837的4.5条规定。用单晶硅太阳电池为线性接收元件,用X-F函数记录仪或打印机为记录系统,测试辐照不稳链度。测试中接收元件温度的变化不得大于士2℃。规定以1h作为检测辑照不稳定度的时间间隔。在1l1内又-Y函数记录仪或打印机连续记录的数值中取最大值和最小值。辐照不稳定度用公式(3)计算
Emr —Egr
= Emak + E
式中,E.—最大辑照度,W/m*;
E_--最小辐照度,W /m\.
5.5光谱辐照度分布
5.5.1标准
X 100%
本标准规定采用总赖射AM1.5标准阳光谱(见附录A)。5.5.2光谐谱辐照度分布测量
太模拟器光谱辐照度分布测量,应按国家有关规定。5.6计算方法
+-*(3)
本标准规定,标准太阳光谱和AM1.5稳态模拟器光谱,在总摘照度相等的情况下,各个相对应波长间履内的光谱辐照度进行比较光谱失匹误差。6检验规购
按GB/T12637的第6章规定
7 标志、包装、运输、贮存
按GB/T 1263的第7章规定。
SJ/T 1017491
AM1. 5 标准太阳光谱数据(总辐射)(补充件)
光谱辑照度
W+m-*. μm~1
光谱光予流辐照度
cm-*-3-1 - μm-1
1.459E+G15
6. 602E+ C15
1.710F+016
2.916E+016
4.038E+016
6.567E+016
G.579E+016
7.451E+016
7.623E+016
8.523E+016
9.430E+016
1.241E-I 017
1.363E+017
1.415E+017
2. 040F+017
2. 391E+017
2.504E+017
2. 320E+617
2.88十017
3. 457E+017
3.704E-+017
3. 741E+017
3.935E+017
3. 797E+017
3.898E+017
4. 074E+017
3.8R7E+017
4.196E+017
4.216E+017
1.324E+017
4.309E+017
4.145E+017
4.561E+017
4. 549F+017
4.647E+517
4.89GE+517
3.925E+017
聚积积分辅所
光诺蝠照度
SJ/T 1017491
光谐光子流辐照度
W·m--. μm--
tn-++$+ μn-+
4.707E+017
3.652E+117
3.805E1017
4. 512F+017
.523E+017
483E+017
2.469E+017
3.983E/017
4.442F+017
4.356E+017
3.489E+017
3.255E+017
3.836E+017
4.059F+017
4.838E+017
4.134E+017
2.110E+017
3.075F+017
3.215E+017
1.890EF-017
1. 218E+017
1.197E+017
2.559E+017
3.189E+017
3.735E-+-017
3.615E+017
3.434E+017
2.285E+017
5.140E+U16
1.076E+017
7.567E+016
1.98EL017
2.733F.+017
2.559E+017
2.988E+017
2.683E+017
1.663E+01?
2.209E+G16
1.124E+C15
4.045E+C16
7.738E+016
7.845E+016
双积积分据度
SJ/T 10174—91wwW.bzxz.Net
光谱辋照度
W- u-- μ-
光谱光子流幅照度
cin-. s-1+μm-:
1-372E+017
2.015E+017
2.125E-+017
2.157E+017
1.943+$17
1.983E+017
1.854E+017
2.006E+017
1.946E+017
1.863E+17
1.502E+017
2.782F+313
1.B73E+015
1.150E1515
2.992E+515
9.104E+016
2.765E+016
1.19E+017
6.279E+616
9.420E+016
8.589E+C16
7.512E+C16
5.023E+016
7.367+016
2.616E+C16
2.323E+016
4. 187E+015
5. 515F+015
1.138E+016
9. 834E1 015
4.023E+015
8.515E+015
3.082E+016
2. 097E+015
5.228E+-015
2.188E+016
5.387E+015
累积积分辐期度
910,75
附加说明,
SJ/T 1017491
光谱辐照度
W+m-++μn-!
光谐光子流韬照度
cm-z + $-1 * μm-!
2.310E+016
2.141E+016
1.858E+016
1.527E+016
本标准由中华人民共和国机械电子工业部电子标准化研究所提出。累积积分辐照度
本标准由中国科学院长春光学精密机械研究所,机械电子工业部电子标准化研究所、机械电子工业部第十八研究所负责起草。本标推主要起草人:郎永志,周耀宗、由志箍。7
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

标准图片预览:





- 热门标准
- 电子行业标准(SJ)标准计划
- SJ/T11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
- SJ/T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
- SJ2242-1982 散热器强制风冷热阻测试方法
- SJ/T11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
- SJ/T11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
- SJ/T11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片
- SJ20965-2006 光电器件用氧化铍陶瓷载体规范
- SJ/T11410-2009 九针点阵式打印机芯通用规范
- SJ/T11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
- SJ/T11407.1-2009 数字接口内容保护系统技术规范 第1部分:系统结构
- SJ/T11395-2009 半导体照明术语
- SJ/T11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范
- SJ/T10631-1995 工艺文件的编号
- SJ/T11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
- SJ51919/5-2002 JGL30-2.5-01型舰用两芯多模光缆连接器详细规范
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:[email protected]
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1