【电子行业标准(SJ)】 石英晶体件－电子器件质量评定体系规范 第３部分：分规范－鉴定批准 第一篇 空白详细规范

备案号：90—1997
中华人民共和国电子行业标准
SJ/T 10707-1996
石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第2部分：分规范一能力批准第1篇：空白详细规范
Quartzcrystalunits-Aspecificationin the Quality Assessment System for Electronic ComponentsPart2:Sectional specification-Capability approvalSectionl:Blankdetailspecification1996-07-22发布
1996-11-01实施
中华人民共和国电子工业部
YYKAONYKAa
本标准等同采用
IEC1178-2-1:1993
QC680101
《石英晶体元件IECQ规范第2部分：分规范一能力批准第一篇：空白详细规范》。本规范的上层规范是GB/T12273一1996《石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第1部分：总规范）和GB/T16516一1996《石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第2部分：分规范一能力批准》。
这样，使我国石英晶体元件国家标准与IEC电子元器件质量评定体系的标准相一致，以适应国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的这类产品进行质量认证并在国际市场流通。
本标准的附录A为提示的附录。
本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：国营北京晨星无线电器材厂和电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人：章怡、宋钰、邓鹤松、边一林。YKAoMrKAa
IEC前言
1）IEC（国际电工委员会）是由各国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织（ISO）根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。
2）IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3）这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。4）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。国际标准IEC1178-2-1是由IEC第49（频率控制和选择用压电与介电器件）技术委员会制定的。
本标准部分技术内容依据IEC122-1制定。本标准构成石英晶体元件IECQ规范的第2部分第一篇：空白详细规范一能力批准。IEC1178-1构成总规范。
TEC1178-2构成分规范：能力批准。IEC1178-3构成分规范：鉴定批准。IEC1178-3-1构成空白详细规范：鉴定批准。本标准文本以下列文件为依据：国际标准草案
49(CO)226
表决报告
49(CO)241
表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面上的QC号是IECQ规范号。附录A仅作为资料提供。
YKAoNrKAa
空白详细规范
空白详细规范是分规范的补充文件，它规定了详细规范中最少内容要求。本页所示格式只适用于标准产品的详细规范。因不打算出版定制石英晶体元件的详细规范，推荐的格式在附录A中给出。它不是强制性的，但建议尽可能采用此格式。详细规范的识别
对应于本页和附录A中方括号的数字，应在相应位置填上下列相应项目内容：【1］按其权限发布详细规范的国家标准机构名称。适用时，可从该机构得到详细规范。[2]IECQ编号和由IEC分配给的详细规范编号。[3］总规范和相关分规范编号及其版本号；若有差异，也可加上国家标记。【4]与IECQ编号不同的详细规范的国家编号、出版日期，以及国家体制要求的任何进一步内容和任何修订的编号。
石英晶体元件的识别
[5】石英晶体元件或石英晶体元件范围的简述（如频率、泛音次数、切型、振动模式)。[6】按IEC122-3及其修改件的典型结构的内容(适用时)(如电阻焊、冷压焊）。对于[5]和[6],详细规范给出的内容应按IECQC00100S和TECQC001004填入足够的内容。
[7]标有主要互换性尺寸的外形图，它应符合IEC122-3和（或)符合相应的国家或国际标准文件中关于外形的要求。此外，该图也可在详细规范的附录中给出。可从
获得规范
能力批准
评定质量的电子元件
外形和尺寸：（第三角视图）
尺寸：mm
IECQ版本号
第1页共
石英晶体元件
晶体盒Www.bzxZ.net
YKAONrKa
中华人民共和国电子行业标准
石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第2部分：分规范一能力批准
第1篇：空白详细规范
Quartzcrystalunits-A specificationintheQualityAssessmentSystemforElectronicComponentsPart2:Sectional specification-CapahilityapprovalSection1:Blankdetail specification额定值
（优先额定值见GB/T12273--1996的2.3）：一工作温度范围；
一电路条件：
一激励电平；
一气候类别；
一机械试验严酷度。
SJ/T10707--1996
idtIEC1178-2-1:1993
QC680101
按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC001005得到。2特性值
（见GB/T12273--1996的2.2）：一标称频率/范围；
一基准温度：
频差；
一最大谐振电阻。
另外，也可以规定下述的其他特性；一最大并电容；
一频率牵引范围或动态参数；
一无用响应；
一老化；
一激励电平相关性。
注：若有必要，上述特性可以表格形式给出。中华人民共和国电子工业部1996-07-22批准YKNYKAca
1996-11-01实施
3引用标准
SJ/T10707—1996
GB/T12273-1996石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第1部分：总规范(idtIEC1178-1:1993)
GB/T16516—1996
IEC122-3
IEC410:1973
石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第2部分：分规范能力批准（idtIEC1178-2：1993）频率控制和选择用石英晶体元件第3部分：标准外形和插脚连接修改件4（1993）
计数检查抽样方案和程序
IECQC001004：1992规范目录
IECQC001005：1992合格产品目录4标志
石英晶体元件和初级包装的标志应符合GB/T12273的2.4要求。应在详细规范中给出完整细则。
5订货资料
应规定下列订货资料：
数量：
一电子元器件质量评定体系或用户的详细规范号，版本号和发布日期，以及适用的细节；一标称频率，用kHz或MHz表示，以及泛音次数；盒型；
一频差和工作温度范围：
一电路条件；
一任何附加要求的详尽说明。
6证明合格的试验记录
详细规范应按GB/T12273的3.11规定是要求还是不要求证明合格的试验记录。7附加资料（不用于检验目的）
详细规范可以包括附加资料，通常它们不要求用检验程序予以证实。如电路图、曲线图以及为进一步说明详细规范用的图和注释。8检验要求
试验条款号和性能要求条款号引自GB/T12273。表1给出的检查水平（IL)和合格质量水平（AQL)从IEC410中选取。表中：
D=破坏性的；
ND=非破坏性的；
IL=检查水平；
YKAONKa
AQL=合格质量水平。
SJ/T10707—1996
制造厂和用户应保证所提供的按能力批准计划维持未覆盖的石英晶体元件的任何质量状况仍满足详细规范要求。
本空白详细规范不包括周期试验，因为按照GB/T12516的3.11和3.12的规定，能力批准的维持由CQC试验控制。
条款号和试验项目
100%检验
4.5.1日检A
4.7.1频率和谐振电阻
A组检验
按逐批抽样方案进行
A1分组
4.7.9绝缘电阻
A2分组
4.7.3试验A
频率和谐振电阻随温度
的变化
4.7.3试验B
颜率和谐振电阻随温度的变化
B组检验
按逐批抽样方案进行
B1分组
4.6.1尺寸检验
B2分组
4.8.2项目2)细检漏试验
（真空玻壳除外）
4.8.2项目1)粗检漏试验
（真空玻壳除外）
4.8.2项目3）真空晶体元件
的真空度试验
（仅对真空玻壳）
试验条件
试验A
试验B
项目2)
项目1)
项目3)
YKAoMYKAa
性能要求
频差和最大谐振电阻
颖差和（或）频率最大
变化及最大谐振电阻
4.7.3试验B
4.8.2项目1)
4.8.2项目3）
制造广
SJ/T10707-1996
附录A
（提示的附录）
用户详细规范首页格式示例（不用于出版）规范标记
版本号
第1页共贡
能力批准
评定质量的电子元件
外形和尺寸：（第三角视图）
尺寸：mm
额定值
（优先额定值见GB/T12273的2.4）一工作温度范围；
一电路条件；
一激励电平；
一气候类别；
一机械试验严酷度。
制造厂型号
石英晶体元件
晶体盒
YKAoMYKAa
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