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- GB/T 33564.1-2017识别卡 卡使用寿命 第1部分:应用轮廓和要求
标准号:
GB/T 33564.1-2017
标准名称:
识别卡 卡使用寿命 第1部分:应用轮廓和要求
标准类别:
国家标准(GB)
英文名称:
Identification cards—Card service life—Part 1:Application profiles and requirements标准状态:
现行-
发布日期:
2017-05-12 -
实施日期:
2017-12-01 出版语种:
简体中文下载格式:
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标准ICS号:
信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置中标分类号:
电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
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标准简介:
本部分包括一个用于确定应用轮廓及其要求的方法和相应的示例(参见附录A)。? 它不包含任何增加或变更其他适用标准中定义的识别卡属性的要求。它旨在以一套简单而合理的评价方法定义本部分定义的每个应用的相对严谨性。?GB/T 33564的目的是在模拟一个卡使用寿命的方法及其使用方面提供指南。为了达到这一目的,定义了卡使用寿命的两个参数:寿命和使用。这可以用一个二维矩阵来表示:其中每一个寿命/使用的组合对应一个卡使用寿命类。GB/T 33564的两部分共同描述用到的评价方法及其准则。?GB/T 33564适用于符合GB/T 14916-2006的ID ?1型卡的使用寿命标准,对其他类型和形态条件的卡也可能是全部或部分适用的。?相应的评价方法的参考在ISO/IEC 24789?2:2011中和其他地方给出。?
部分标准内容:
ICS35.240.15
中华人民共和国国家标准
GB/T33564.1—2017
识别卡
卡使用寿命
第1部分:应用轮廓和要求
IdentificationcardsCardservicelife-Part 1:Application profiles and requirements(ISO/IEC24789-1:2012,MOD)
2017-05-12发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2017-12-01实施
2规范性引用文件
3术语、定义和缩略语
3.1术语和定义
缩略语
卡应用及其轮廊
应用轮廊的确定
老化和使用类别的确定
5评价模式的确定
5.2采用独立方法的评价模式
5.3使用评价序列的评价模式
附录A(资料性附录)
附录B(资料性附录)
应用轮廊示例
评价模式示例
GB/T33564.1—2017
GB/T33564《识别卡卡使用寿命》拟分为以下两个部分:第1部分:应用轮和要求;
第2部分:评价方法。
本部分为GB/T33564的第1部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T33564.1—2017
本部分修改采用ISO/IEC24789-1:2012《识别卡卡使用寿命第1部分:应用轮廊和要求》本部分与ISO/IEC24789-1:2012的技术性差异及其原因如下:关于规范性引用文件,本部分做了具有技术性差异的调整,以适应标准的使用,调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中,具体调整如下:用等同采用国际标准的GB/T14916—2006代替ISO/IEC7810(见3.1、3.2);1)
用修改采用国际标准的GB/T17554.1—2006代替ISO/IEC10373-1(见3.1、3.2、5.3.2);2)
用等同采用国际标准的GB/T17554.2—2015代替ISO/IEC10373-2(见3.1、3.2、5.3.2);3)
增加引用了ISO/IEC10373-12006/AMD1:2008(见5.3.2);4)
5)ISO/IEC24789-2:2011改为注日期引用(见3.1、3.2、第5章及B.1.4)。本部分还作了下列编辑性修改:对国际标准第5章、附录B中的悬置段进行了处理,对应章条的编号进行了相应修改;a)
b)删除了附录A中重复性描述的语句;附录B中的“二维pdf417条码”改为“如:二维GM条码,参见SJ/T11349一2006”。c)
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院、中电智能卡有限责任公司、上海一芯智能科技有限公司。
本部分主要起草人:金倩、冯敬、李建军、周、耿力、刘文莉、王莉萍、乔申杰、王峻峰。m
GB/T33564.1—2017
本部分给出了一个用于确定识别卡应用轮廊及其要求的方法。这些应用轮廊及其要求,旨在引导本部分的读者考虑不同识别卡使用寿命应用的相对严谨性。这些轮廊和要求以适合采用相应测试方法进行评价的方式,提供了一种对影响ID卡使用寿命的主要因子进行排名和比较的方法。
为了适应现有的卡,最简单的分类至少使用到GB/T14916一2006中定义的特性和准则,以及GB/T17554.1一2006中定义的测试方法、装置和规程。考虑了两种类型的卡:包含集成电路的卡和不包含集成电路的卡。
虽然在GB/T33564中为了模拟老化或使用,引用到GB/T17554.1一2006中某些测试方法的部分规程和装置,然而这些引用明显区别于GB/T17554.1一2006的正常使用。在正常使用情况下,这些GB/T17554.1一2006的测试方法用于确定卡是否符合GB/T14916一2006,而并没有明确针对特定应用的卡使用寿命要求
由于缺少现场/实验室相关数据,本部分目前仅能提供有限的接收准则(规范的应用轮廊和要求)。然而,预计在将来的版本中将会有更全面的接收水平的值。目前,表明直接等价于任何实际现场使用条件的测量的数据有限。在针对所讨论的识别卡结构建立起一定程度的定量相关性之前,建立任何这样的等价关系都是不可能的。本部分的附录给出了若干识别卡应用轮廊及其评价模式的示例,这些示例依据ISO/IEC24789-1,可能与国内目前的应用现状并非一一对应,仅供标准使用者参考。为了某些使用者方便,给识别卡行业普遍使用的某些量值赋予非国际单位制量纲。这些量纲在括号中给出,仅供参考。
1范围
识别卡卡使用寿命
第1部分:应用轮廓和要求
GB/T33564.1—2017
GB/T33564的本部分包括一个用于确定应用轮廊及其要求的方法和相应的示例(参见附录A)。它不包含任何增加或变更其他适用标准中定义的识别卡属性的要求。它旨在以一套简单而合理的评价方法定义本部分定义的每个应用的相对严谨性。GB/T33564的目的是在模拟一个卡使用寿命的方法及其使用方面提供指南。为了达到这一目的,定义了卡使用寿命的两个参数:寿命和使用。这可以用一个二维矩阵来表示:其中每一个寿命/使用的组合对应一个卡使用寿命类。GB/T33564的两部分共同描述用到的评价方法及其准则。GB/T33564适用于符合GB/T14916一2006的ID-1型卡的使用寿命标准,对其他类型和形态条件的卡也可能是全部或部分适用的。相应的评价方法的参考在ISO/1EC24789-2:2011中和其他地方给出。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T14916—2006识别卡物理特性(ISO/IEC7810:2003,IDT)GB/T17554.1一2006识别卡测试方法第1部分:一般特性测试(ISO/IEC10373-1:1998,MOD)
GB/T17554.2—2015识别卡测试方法第2部分:带磁条的卡(ISO/IEC10373-2:2006,IDT)ISO/IEC10373-1:2006/AMD1:2008识别卡测试方法第1部分:一般特性测试补充件1(Identification cards-Testmethods-Part1:General characteristicsAMENDMENT1)ISO/IEC24789-2:2011识别卡卡使用寿命第2部分:评价方法(IdentificationcardsCardservicelife-Part2:Methodsof evaluation)3术语、定义和缩略语
3.1术语和定义
GB/T14916—2006、GB/T17554.1—2006、GB/T17554.2—2015、ISO/IEC24789-2:2011界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1.1
卡使用寿命cardservicelife
时间和使用周期;在这个周期里,一张卡,从发放到持卡人之时起,为其应用保留一组在针对该应用规定的使用条件下的规定特性。1
GB/T33564.1—2017
applicationprofile
应用轮廊
组参数的总和,定义了一个应用规定使用的条件。3.1.3
evaluationregime
评价模式
连同组合方式和应用的一组评价方法。3.2缩略语
GB/T14916—2006、GB/T17554.1—2006、GB/T17554.2—2015、ISO/IEC24789-2:2011给出的以及下列缩略语适用于本文件。ATM:自动柜员机(AutomatedTellerMachine)IC:集成电路(IntegratedCircuit)PICC:接近式IC卡(ProximityIntegratedCircuitCard)VICC:邻近式IC卡(VicinityIntegratedCircuitCard)4卡应用及其轮廓
应用轮廓的确定
4.1.1原始应用轮廓
三个变量用于建立原始应用轮廊,它们是:环境;
一存储;
读写器轮廊。
原始应用轮廊具备两个参数:
寿命(A);
一使用(U))。
注:寿命是取决于时间的参数,使用是取决于应力的参数。为了确定应用轮廓,第一步,分别在表1、表2和表3中通过为每一个条件在“概率力”列定义概率的方式定义了环境、存储和读写器因子。每个因子的概率和为1。第二步,对概率大于0的每个条件,用“寿命”列中的值乘以“概率p”列中的概率p计算出“寿命点”列中的寿命点;用“使用”列中的值乘以“概率”列中的概率力计算出“使用点”列中的使用点。第三步,计算所有寿命点的和A及所有使用点的和U。这对值(A,U)即为该应用的原始应用轮廊。
温度变化
(在上述温度范围
内的任意两点间
的过渡)
相对湿度
化学品和微粒暴
露(例如:沙子和
灰尘、油和脂肪、
腐蚀性气体、盐
Sum(A,U)
(5℃~30℃)
(低于5℃)
(30℃~50℃)
(高于50℃)
《1,每周
>1,每周,并且
≤1,每天
>1,每天,并且
≤3,每天
>3,每天
(30%~70%)
干燥(<30%)
潮湿(>70%)
环境因子
条件概率巾
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(p×寿命)
使用点
GB/T33564.1—2017
示例和指南
(p×使用)
通常放置在钱包或
袋子中
室内作为识别卡醒
目佩赖
室外作为识别卡醒
目佩戴,例如在建筑
工地或作为滑雪通
住宅、办公室或零售
店环境
轻工业环境;室外识
别卡使用
汽车维修或重工业
GB/T 33564.1—2017
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(弯曲)
物理应力
(摩擦)
物理应力
(压力)
Sum(A,U)
存储因子
条件概率p
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(px寿命)
使用点
(p×使用)
示例和指南
硬塑料夹
钱包或手袋;插入车
载读写器
多卡堆放在软塑料
袋中;或裤内的钱
多卡叠放在裤兜内
的钱包中;单卡松散
或放置于口袋或包
中的纸袋或软塑料
卡总是放置在袋中,
例如:PICC
钱包或手袋;卡堆放
在袋子或钱包中;
硬塑料夹;卡叠放在
袋子或钱包中;裤兜
中的钱包;软塑料袋
插入车载读写器;松
散在口袋或包中
硬塑料夹
钱包或手袋;卡堆放
在袋子或钱包中;插
人车载读写器
多卡叠放在袋子或
钱包中;裤兜中的
松散在口袋或包中
物理应力
(弯曲,例如:滚
轴压力)
物理应力
(摩擦)
物理应力
(冲击,例如;将
卡压向非接触
式读写器)
读写器污染
(读写器内部污
垢引起磨损导
致的结果)
读写器因子
条件概率巾
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(px寿命)
使用点
(p×使用)
GB/T33564.1—2017
示例和指南
PICC或VICC读写器
直插式磁条或接触式
IC卡读写器;通过滚轴
压过卡的机械式ATM
读写器
插入路径弯曲的接触
式IC卡读写器
磁条刷卡器;未考虑人
体工学的读写器位置
导致卡在插入/拨出时
的弯曲;粗糙的机械
PICC或VICC读写器;
机械式卡读写器;插人
读写器时的微摩擦
插人读写器时的微摩
擦;考虑了防止卡弯曲
的结构和安装的磁条
刷卡器
插人读写器时的中度
摩擦,例如:带车用夹
紧装置的(读写器)
磁条刷卡器,其结构或
安装导致卡弯曲
插人式读写器;机械式
读写器;VICC读写器;
大多数PICC读写器
磁条刷卡器
公共交通设施的门应
用中的PICC读写器
粗糙的机械处理
大多数办公室、零售、
银行或其他环境
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中,但受
到良好维护和低强度
使用的插入或刷磁
GB/T33564.1—2017
读写器污染
(读写器内部污
垢引起磨损导
致的结果)
Sum(A,U)
表3(续)
条件概率P
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(p×寿命)
使用点
(p×使用)
示例和指南
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中且未受
到良好维护,或高强度
使用的插入或刷磁
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中或在户
外,未受到良好维护,
并且高强度使用的插
人或刷磁
:读写器的结构和读写器的安装位置均可能导致插人路径弯曲,从而导致在插人或拔出期间卡在卡槽中被弯曲。4.1.2
校正的应用轮廓
在现场中,使用频率和卡寿命对卡不得不承受的各种应力有巨大影响。把寿命系数[以年计的预期卡使用寿命(至少为1)和使用系数(每天使用次数十1)应用于原始应用轮廊(A,U),得到校正的应用轮廓(A。,U),如下:
A。=A×以年计的预期卡使用寿命(至少为1);-U。=U×(每天的使用次数十1)。4.2老化和使用类别的确定
按4.1规定确定校正的应用轮廊(A。,U)。然后对照表4核查A。值,确定应用的老化类别;对照表5核查U。值,确定应用的使用类别。表4
A。值
>10~20
>20~50
应用老化类别
老化类别
应用使用类别
>10~20
>20~50
使用类别
评价模式的确定
应用轮廊一旦确立,就需要定义所要执行的评价。卡使用寿命的评价可能用到两种评价模式:独立方法;
评价序列。
独立方法用于卡样品的评价,其结果可以直接看作卡性能指示。GB/T33564.1—2017
评价序列由一系列老化和使用模拟方法后随一组用于确定卡性能指示的评价方法组成。5.2和5.3分别定义由独立方法构成的评价模式和由采用评价序列构成的评价模式。只应对每个类型按所给出的指南选择评价模式中的一种。采用独立方法的评价模式
该评价模式只应在满足以下三个条件的情况时使用:老化类别为0或1;
卡不包含IC:
卡不带凸印。
表6、表7、表8中给出的评价方法可用于所有此类卡。表6
产生根据ISO/IEC24789-2:2011中5.10的卡宽边弯曲的ID卡屈曲使用类别
不要求
不要求
注:产生宽边(B)轴弯曲的屈曲在行业中也称之为“A届曲”。表7
老化类别
产生根据ISO/IEC24789-2:2011中5.10的卡高边弯曲的ID卡屈曲使用类别
不要求
不要求
注:产生高边(A)轴弯曲的届曲在一些行业被称之为“B届曲”。老化类别
到停止点的最小周期
不要求
25 000
到停止点的最小周期
不要求
中华人民共和国国家标准
GB/T33564.1—2017
识别卡
卡使用寿命
第1部分:应用轮廓和要求
IdentificationcardsCardservicelife-Part 1:Application profiles and requirements(ISO/IEC24789-1:2012,MOD)
2017-05-12发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2017-12-01实施
2规范性引用文件
3术语、定义和缩略语
3.1术语和定义
缩略语
卡应用及其轮廊
应用轮廊的确定
老化和使用类别的确定
5评价模式的确定
5.2采用独立方法的评价模式
5.3使用评价序列的评价模式
附录A(资料性附录)
附录B(资料性附录)
应用轮廊示例
评价模式示例
GB/T33564.1—2017
GB/T33564《识别卡卡使用寿命》拟分为以下两个部分:第1部分:应用轮和要求;
第2部分:评价方法。
本部分为GB/T33564的第1部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T33564.1—2017
本部分修改采用ISO/IEC24789-1:2012《识别卡卡使用寿命第1部分:应用轮廊和要求》本部分与ISO/IEC24789-1:2012的技术性差异及其原因如下:关于规范性引用文件,本部分做了具有技术性差异的调整,以适应标准的使用,调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中,具体调整如下:用等同采用国际标准的GB/T14916—2006代替ISO/IEC7810(见3.1、3.2);1)
用修改采用国际标准的GB/T17554.1—2006代替ISO/IEC10373-1(见3.1、3.2、5.3.2);2)
用等同采用国际标准的GB/T17554.2—2015代替ISO/IEC10373-2(见3.1、3.2、5.3.2);3)
增加引用了ISO/IEC10373-12006/AMD1:2008(见5.3.2);4)
5)ISO/IEC24789-2:2011改为注日期引用(见3.1、3.2、第5章及B.1.4)。本部分还作了下列编辑性修改:对国际标准第5章、附录B中的悬置段进行了处理,对应章条的编号进行了相应修改;a)
b)删除了附录A中重复性描述的语句;附录B中的“二维pdf417条码”改为“如:二维GM条码,参见SJ/T11349一2006”。c)
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院、中电智能卡有限责任公司、上海一芯智能科技有限公司。
本部分主要起草人:金倩、冯敬、李建军、周、耿力、刘文莉、王莉萍、乔申杰、王峻峰。m
GB/T33564.1—2017
本部分给出了一个用于确定识别卡应用轮廊及其要求的方法。这些应用轮廊及其要求,旨在引导本部分的读者考虑不同识别卡使用寿命应用的相对严谨性。这些轮廊和要求以适合采用相应测试方法进行评价的方式,提供了一种对影响ID卡使用寿命的主要因子进行排名和比较的方法。
为了适应现有的卡,最简单的分类至少使用到GB/T14916一2006中定义的特性和准则,以及GB/T17554.1一2006中定义的测试方法、装置和规程。考虑了两种类型的卡:包含集成电路的卡和不包含集成电路的卡。
虽然在GB/T33564中为了模拟老化或使用,引用到GB/T17554.1一2006中某些测试方法的部分规程和装置,然而这些引用明显区别于GB/T17554.1一2006的正常使用。在正常使用情况下,这些GB/T17554.1一2006的测试方法用于确定卡是否符合GB/T14916一2006,而并没有明确针对特定应用的卡使用寿命要求
由于缺少现场/实验室相关数据,本部分目前仅能提供有限的接收准则(规范的应用轮廊和要求)。然而,预计在将来的版本中将会有更全面的接收水平的值。目前,表明直接等价于任何实际现场使用条件的测量的数据有限。在针对所讨论的识别卡结构建立起一定程度的定量相关性之前,建立任何这样的等价关系都是不可能的。本部分的附录给出了若干识别卡应用轮廊及其评价模式的示例,这些示例依据ISO/IEC24789-1,可能与国内目前的应用现状并非一一对应,仅供标准使用者参考。为了某些使用者方便,给识别卡行业普遍使用的某些量值赋予非国际单位制量纲。这些量纲在括号中给出,仅供参考。
1范围
识别卡卡使用寿命
第1部分:应用轮廓和要求
GB/T33564.1—2017
GB/T33564的本部分包括一个用于确定应用轮廊及其要求的方法和相应的示例(参见附录A)。它不包含任何增加或变更其他适用标准中定义的识别卡属性的要求。它旨在以一套简单而合理的评价方法定义本部分定义的每个应用的相对严谨性。GB/T33564的目的是在模拟一个卡使用寿命的方法及其使用方面提供指南。为了达到这一目的,定义了卡使用寿命的两个参数:寿命和使用。这可以用一个二维矩阵来表示:其中每一个寿命/使用的组合对应一个卡使用寿命类。GB/T33564的两部分共同描述用到的评价方法及其准则。GB/T33564适用于符合GB/T14916一2006的ID-1型卡的使用寿命标准,对其他类型和形态条件的卡也可能是全部或部分适用的。相应的评价方法的参考在ISO/1EC24789-2:2011中和其他地方给出。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T14916—2006识别卡物理特性(ISO/IEC7810:2003,IDT)GB/T17554.1一2006识别卡测试方法第1部分:一般特性测试(ISO/IEC10373-1:1998,MOD)
GB/T17554.2—2015识别卡测试方法第2部分:带磁条的卡(ISO/IEC10373-2:2006,IDT)ISO/IEC10373-1:2006/AMD1:2008识别卡测试方法第1部分:一般特性测试补充件1(Identification cards-Testmethods-Part1:General characteristicsAMENDMENT1)ISO/IEC24789-2:2011识别卡卡使用寿命第2部分:评价方法(IdentificationcardsCardservicelife-Part2:Methodsof evaluation)3术语、定义和缩略语
3.1术语和定义
GB/T14916—2006、GB/T17554.1—2006、GB/T17554.2—2015、ISO/IEC24789-2:2011界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1.1
卡使用寿命cardservicelife
时间和使用周期;在这个周期里,一张卡,从发放到持卡人之时起,为其应用保留一组在针对该应用规定的使用条件下的规定特性。1
GB/T33564.1—2017
applicationprofile
应用轮廊
组参数的总和,定义了一个应用规定使用的条件。3.1.3
evaluationregime
评价模式
连同组合方式和应用的一组评价方法。3.2缩略语
GB/T14916—2006、GB/T17554.1—2006、GB/T17554.2—2015、ISO/IEC24789-2:2011给出的以及下列缩略语适用于本文件。ATM:自动柜员机(AutomatedTellerMachine)IC:集成电路(IntegratedCircuit)PICC:接近式IC卡(ProximityIntegratedCircuitCard)VICC:邻近式IC卡(VicinityIntegratedCircuitCard)4卡应用及其轮廓
应用轮廓的确定
4.1.1原始应用轮廓
三个变量用于建立原始应用轮廊,它们是:环境;
一存储;
读写器轮廊。
原始应用轮廊具备两个参数:
寿命(A);
一使用(U))。
注:寿命是取决于时间的参数,使用是取决于应力的参数。为了确定应用轮廓,第一步,分别在表1、表2和表3中通过为每一个条件在“概率力”列定义概率的方式定义了环境、存储和读写器因子。每个因子的概率和为1。第二步,对概率大于0的每个条件,用“寿命”列中的值乘以“概率p”列中的概率p计算出“寿命点”列中的寿命点;用“使用”列中的值乘以“概率”列中的概率力计算出“使用点”列中的使用点。第三步,计算所有寿命点的和A及所有使用点的和U。这对值(A,U)即为该应用的原始应用轮廊。
温度变化
(在上述温度范围
内的任意两点间
的过渡)
相对湿度
化学品和微粒暴
露(例如:沙子和
灰尘、油和脂肪、
腐蚀性气体、盐
Sum(A,U)
(5℃~30℃)
(低于5℃)
(30℃~50℃)
(高于50℃)
《1,每周
>1,每周,并且
≤1,每天
>1,每天,并且
≤3,每天
>3,每天
(30%~70%)
干燥(<30%)
潮湿(>70%)
环境因子
条件概率巾
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(p×寿命)
使用点
GB/T33564.1—2017
示例和指南
(p×使用)
通常放置在钱包或
袋子中
室内作为识别卡醒
目佩赖
室外作为识别卡醒
目佩戴,例如在建筑
工地或作为滑雪通
住宅、办公室或零售
店环境
轻工业环境;室外识
别卡使用
汽车维修或重工业
GB/T 33564.1—2017
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(弯曲)
物理应力
(摩擦)
物理应力
(压力)
Sum(A,U)
存储因子
条件概率p
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(px寿命)
使用点
(p×使用)
示例和指南
硬塑料夹
钱包或手袋;插入车
载读写器
多卡堆放在软塑料
袋中;或裤内的钱
多卡叠放在裤兜内
的钱包中;单卡松散
或放置于口袋或包
中的纸袋或软塑料
卡总是放置在袋中,
例如:PICC
钱包或手袋;卡堆放
在袋子或钱包中;
硬塑料夹;卡叠放在
袋子或钱包中;裤兜
中的钱包;软塑料袋
插入车载读写器;松
散在口袋或包中
硬塑料夹
钱包或手袋;卡堆放
在袋子或钱包中;插
人车载读写器
多卡叠放在袋子或
钱包中;裤兜中的
松散在口袋或包中
物理应力
(弯曲,例如:滚
轴压力)
物理应力
(摩擦)
物理应力
(冲击,例如;将
卡压向非接触
式读写器)
读写器污染
(读写器内部污
垢引起磨损导
致的结果)
读写器因子
条件概率巾
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(px寿命)
使用点
(p×使用)
GB/T33564.1—2017
示例和指南
PICC或VICC读写器
直插式磁条或接触式
IC卡读写器;通过滚轴
压过卡的机械式ATM
读写器
插入路径弯曲的接触
式IC卡读写器
磁条刷卡器;未考虑人
体工学的读写器位置
导致卡在插入/拨出时
的弯曲;粗糙的机械
PICC或VICC读写器;
机械式卡读写器;插人
读写器时的微摩擦
插人读写器时的微摩
擦;考虑了防止卡弯曲
的结构和安装的磁条
刷卡器
插人读写器时的中度
摩擦,例如:带车用夹
紧装置的(读写器)
磁条刷卡器,其结构或
安装导致卡弯曲
插人式读写器;机械式
读写器;VICC读写器;
大多数PICC读写器
磁条刷卡器
公共交通设施的门应
用中的PICC读写器
粗糙的机械处理
大多数办公室、零售、
银行或其他环境
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中,但受
到良好维护和低强度
使用的插入或刷磁
GB/T33564.1—2017
读写器污染
(读写器内部污
垢引起磨损导
致的结果)
Sum(A,U)
表3(续)
条件概率P
(每个因子的
概率和=1)
寿命点
(p×寿命)
使用点
(p×使用)
示例和指南
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中且未受
到良好维护,或高强度
使用的插入或刷磁
读写器安装在灰尘/沙
尘/油污环境中或在户
外,未受到良好维护,
并且高强度使用的插
人或刷磁
:读写器的结构和读写器的安装位置均可能导致插人路径弯曲,从而导致在插人或拔出期间卡在卡槽中被弯曲。4.1.2
校正的应用轮廓
在现场中,使用频率和卡寿命对卡不得不承受的各种应力有巨大影响。把寿命系数[以年计的预期卡使用寿命(至少为1)和使用系数(每天使用次数十1)应用于原始应用轮廊(A,U),得到校正的应用轮廓(A。,U),如下:
A。=A×以年计的预期卡使用寿命(至少为1);-U。=U×(每天的使用次数十1)。4.2老化和使用类别的确定
按4.1规定确定校正的应用轮廊(A。,U)。然后对照表4核查A。值,确定应用的老化类别;对照表5核查U。值,确定应用的使用类别。表4
A。值
>10~20
>20~50
应用老化类别
老化类别
应用使用类别
>10~20
>20~50
使用类别
评价模式的确定
应用轮廊一旦确立,就需要定义所要执行的评价。卡使用寿命的评价可能用到两种评价模式:独立方法;
评价序列。
独立方法用于卡样品的评价,其结果可以直接看作卡性能指示。GB/T33564.1—2017
评价序列由一系列老化和使用模拟方法后随一组用于确定卡性能指示的评价方法组成。5.2和5.3分别定义由独立方法构成的评价模式和由采用评价序列构成的评价模式。只应对每个类型按所给出的指南选择评价模式中的一种。采用独立方法的评价模式
该评价模式只应在满足以下三个条件的情况时使用:老化类别为0或1;
卡不包含IC:
卡不带凸印。
表6、表7、表8中给出的评价方法可用于所有此类卡。表6
产生根据ISO/IEC24789-2:2011中5.10的卡宽边弯曲的ID卡屈曲使用类别
不要求
不要求
注:产生宽边(B)轴弯曲的屈曲在行业中也称之为“A届曲”。表7
老化类别
产生根据ISO/IEC24789-2:2011中5.10的卡高边弯曲的ID卡屈曲使用类别
不要求
不要求
注:产生高边(A)轴弯曲的届曲在一些行业被称之为“B届曲”。老化类别
到停止点的最小周期
不要求
25 000
到停止点的最小周期
不要求
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