【SN商检标准】 锆英砂化学分析方法第2部分:锆、铁、钛含量的测定,波长色散X射线荧光光谱法
本网站 发布时间:
2023-12-18 09:48:49
- SN/T 3318.2-2015
- 现行
标准号:
SN/T 3318.2-2015
标准名称:
锆英砂化学分析方法第2部分:锆、铁、钛含量的测定,波长色散X射线荧光光谱法
标准类别:
商检行业标准(SN)
标准状态:
现行出版语种:
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标准简介:
SN/T 3318.2-2015.Chemical analysis of zirconium sand-Part 2 :Determination of zirconium , iron and titanium contents-Wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometric method.
1范围
SN/T 3318.2规定了锆英砂中锆、铁、钛含量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
SN/T 3318.2适用于用波长色散X射线荧光光谱法测定锆英砂中锆、铁、钛含量,测定范围见表1。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法
GB/T 8170数值修约规则 与极限数值的表示和判定
JJG 810 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1锆英砂Zirconium sand
锆英砂,是一种以锆的硅酸盐(ZrSiO:)为主要组成的矿物。纯净的锆英砂为无色透明晶体,常因产地不同、含杂质的种类与数量不同而染成黄、橙、红、褐等包,结晶构造属四方晶系,呈四方锥柱形。
4方法提要
试样用四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂(12:22)熔融,以少量溴化锂为脱模剂,制成玻璃熔片用波长色散X射线荧光光谱仪测定。在特征谱线附近位置的基线处测量背景,作为试样背景扣除。用理论α系数校正元素间的基体效应,同时进行谱线干扰校正,校正后的谱线强度和浓度用最小二乘法作直线。测量出待测元素特征谱线的X射线荧光光谱强度,根据待测元素的X射线荧光光谱强度与待测元素含量之间的定量关系,计算出待测元素的含量。
1范围
SN/T 3318.2规定了锆英砂中锆、铁、钛含量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
SN/T 3318.2适用于用波长色散X射线荧光光谱法测定锆英砂中锆、铁、钛含量,测定范围见表1。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法
GB/T 8170数值修约规则 与极限数值的表示和判定
JJG 810 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1锆英砂Zirconium sand
锆英砂,是一种以锆的硅酸盐(ZrSiO:)为主要组成的矿物。纯净的锆英砂为无色透明晶体,常因产地不同、含杂质的种类与数量不同而染成黄、橙、红、褐等包,结晶构造属四方晶系,呈四方锥柱形。
4方法提要
试样用四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂(12:22)熔融,以少量溴化锂为脱模剂,制成玻璃熔片用波长色散X射线荧光光谱仪测定。在特征谱线附近位置的基线处测量背景,作为试样背景扣除。用理论α系数校正元素间的基体效应,同时进行谱线干扰校正,校正后的谱线强度和浓度用最小二乘法作直线。测量出待测元素特征谱线的X射线荧光光谱强度,根据待测元素的X射线荧光光谱强度与待测元素含量之间的定量关系,计算出待测元素的含量。
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