
【商检行业标准(SN)】 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法
本网站 发布时间:
2024-06-29 13:38:34
- SN/T2003.1-2005
- 现行
标准号:
SN/T 2003.1-2005
标准名称:
电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法
标准类别:
商检行业标准(SN)
标准状态:
现行-
发布日期:
2005-07-18 -
实施日期:
2006-01-18 出版语种:
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本部分规定了电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的波长色散X射线荧光光谱定性筛选方法。本部分适用于电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的定性筛眩 SN/T 2003.1-2005 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T2003.1-2005

部分标准内容:
本部分为SN/T2003的第1部分。
本部分的附录人为资料性附录。前言
本部分山国家认证认可监督咨理埋委员会提出并归1。SN/T 2003.1—2005
本部分白中华人民共和国深圳出人境检验检疫局起草、中华人民共利国广东出入境检验检疫同、中华人民共和国告林出人境检验检疫局参加起草,本部分土要起草人:刘贤杰、刘志红,吴景武、刘丽、宋武元、荣会,李树华、张珠福。木部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准1
1范围
电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第1部分X射线荧光光谱定性筛选法SN/T 2003.1—2005
本部分规定了电子电气产品中铅、铬,汞,镉和溴的波长色散X射线荧光光谱定性筛选方法。本部分适用于电子电气产品中铅、路、汞、和溴的定性筛选。2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过SV/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订均不适用于本部分,然而,敦励根据本部分达成协议的各方研究是否可以使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T16597射线荧光光谱法通则
3方法提要
样品经制备后在各元素定性筛选条件下用X射线荧光光谱仪进行测定,根据元素特征谱峰确定待检测元素是否存在。
4试剂和材料
4.1硼酸(H,BO.):分析纯.105℃烘1h,置于干燥器中储存。4.2甲烷组气混合气体(1十9)。5仪器
5.1波长色散X射线荧光光谱仪:符合GB/T16597规定,佬靶X射线光管。5.2研磨机。
5.3金属切制机。
5.4压片机:压力不小于400kM。
6样品制备bzxz.net
6.1均匀材质样品
经切割机切割或机越破碎感20 mm~40 rm大小t直接用×射线荧光光谱议测定6.2非均匀材质及较小尺寸样品
经机械破碎和研磨机研磨,制成粒径不超过1nim的粉末样,混匀后用硼酸村底压片制样(样品厚度不低于 1 mm)压力300 kN。
7测定
待仪器稳定后,将制备好的样品按定性筛选条件(参见附录A)进行测定,测定结果以是否出现铅、铬、汞、镉和漠的特征谱峰来表示。1
附录產
(资料性附录)
波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件波长色散义射线荧光光谱定性筛选条件如表A.1所示:表 A. 1波长色散 X射线荧光光谱定性筛选条件分折线
107.133 4
X光管皮呆/电流
LiF220
LiF220
LiF220
LiF220
LiF200
LiF220
检测器
SN/T2003.1--2005
准白器
鸿光片
Erashsou
注:其他元素对部分谱线有干扰,底注意分析排除。估分析过畏中!.分析线常出现砷干扰,应选致铅1分析线化辅助分析;乘分析过程中1分析綫常出现储和谜「扰,应选驶求1.分析线作辅助分析:铬、锅利浪一股儿千扰
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本部分的附录人为资料性附录。前言
本部分山国家认证认可监督咨理埋委员会提出并归1。SN/T 2003.1—2005
本部分白中华人民共和国深圳出人境检验检疫局起草、中华人民共利国广东出入境检验检疫同、中华人民共和国告林出人境检验检疫局参加起草,本部分土要起草人:刘贤杰、刘志红,吴景武、刘丽、宋武元、荣会,李树华、张珠福。木部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准1
1范围
电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第1部分X射线荧光光谱定性筛选法SN/T 2003.1—2005
本部分规定了电子电气产品中铅、铬,汞,镉和溴的波长色散X射线荧光光谱定性筛选方法。本部分适用于电子电气产品中铅、路、汞、和溴的定性筛选。2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过SV/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订均不适用于本部分,然而,敦励根据本部分达成协议的各方研究是否可以使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T16597射线荧光光谱法通则
3方法提要
样品经制备后在各元素定性筛选条件下用X射线荧光光谱仪进行测定,根据元素特征谱峰确定待检测元素是否存在。
4试剂和材料
4.1硼酸(H,BO.):分析纯.105℃烘1h,置于干燥器中储存。4.2甲烷组气混合气体(1十9)。5仪器
5.1波长色散X射线荧光光谱仪:符合GB/T16597规定,佬靶X射线光管。5.2研磨机。
5.3金属切制机。
5.4压片机:压力不小于400kM。
6样品制备bzxz.net
6.1均匀材质样品
经切割机切割或机越破碎感20 mm~40 rm大小t直接用×射线荧光光谱议测定6.2非均匀材质及较小尺寸样品
经机械破碎和研磨机研磨,制成粒径不超过1nim的粉末样,混匀后用硼酸村底压片制样(样品厚度不低于 1 mm)压力300 kN。
7测定
待仪器稳定后,将制备好的样品按定性筛选条件(参见附录A)进行测定,测定结果以是否出现铅、铬、汞、镉和漠的特征谱峰来表示。1
附录產
(资料性附录)
波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件波长色散义射线荧光光谱定性筛选条件如表A.1所示:表 A. 1波长色散 X射线荧光光谱定性筛选条件分折线
107.133 4
X光管皮呆/电流
LiF220
LiF220
LiF220
LiF220
LiF200
LiF220
检测器
SN/T2003.1--2005
准白器
鸿光片
Erashsou
注:其他元素对部分谱线有干扰,底注意分析排除。估分析过畏中!.分析线常出现砷干扰,应选致铅1分析线化辅助分析;乘分析过程中1分析綫常出现储和谜「扰,应选驶求1.分析线作辅助分析:铬、锅利浪一股儿千扰
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