【国家标准(GB)】 无损检测 计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法

ICS 19.100
中华人民共和国国家标准
GB/T21356—2008
无损检测
计算机射线照相系统的长期
稳定性与鉴定方法
Non-destructive testing-Qualification and long-term stability of compuledradiologysystems
2008-01-14发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-05-01实施
GB/T 21356—2008
本标准修改采用ASTME2415-05&计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法\(英文版），本标准根据ASTM E2445-05 重新起革，考虑到我国国情,在采用 ASTM E2445-0 时,本标准做了-些修改。有关技术性差如下：a）将规范性引用文件E1316更改为我国标准GB/T12601.2：b）将规范性用文件E1815更改为我国标准GB/T19348.1：c）将规范性引用文件F244G更改为我国标准GB/T21355；d）删除规范性引用文件E2007和E2033，为便于使用，本标准还做了下列编辑性修改：a）\本方法”词为“本标推”；6b）按GB/T1.1~2000规定的格式要求，对部分条号和标题做了修改：c）在第 2 章和第 3 章中使用GB/T 1.1一200G规定的引导语。本标准的附录 A 为资料性附录。本标雅由中国机械工业联合会提出本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归山。本标准起草单位：上海苏州美柯达探器材有限公司、中国特种设备检测研究中心、1.海星标科技信息咨询开务所，上游材料研究所本标推王要起草人：必中玉、章怡、张佳银，赵成金宇飞。1范围
无损检测，计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法
GB/T 21356—2008
本标准规定了计算机射线照相系统(CR)的基本参数，以保证其无损检测时获得令人满意的和可量复的结巢。
本标准描述了对工业用计算机射线照相系统的评价，其口的旨在对成像质量，以放扫描器或IP系统对成像质量的影响进行评价，确保满足用户要求并能保持检测的长期稳定性：本标准描述的每一种测定.可以采用特定的专用指示计来完成：对系统控制所进行的测试，是采用专用的试样还是CR板（附录A），真体做由用决定，计算机照相测试里，本标准指明为用测试的，可以山用户在检测操作过摇中，利小适当问隙自己来进行，这些潮试是系统的便用范画和所辆材料相适应的，影像的起退、均匀性和擦除能力的测试，也应是系统控制的部分。所有其他与质量和检测能力相关项H的测诚,应击CR设备制造商实施和出具证明，本标昶未提出与安全相关的规定。本标雅使用者有责任在事先依据适用的法规条款，制定适当的安全卫生实施细则，并供测试时遵循执行，2规范性引用文件
下件中的祭款通过在标准的用而成为不标推的象款，凡是注期的用文件，县随后所有的修总单（不包括慰误的内容惑修订版均不适用于本标推，然而，鼓励根据本标谁达成协设的各方研是否叫使用这些文件的最新版本。凡是不注月期的引用文件，其最新版本适用于本标难。GB/T12604.2无损检测术话射线照相检測(GB/T 12604.22005.IS0)5576：1997,IDTGB/T19318.【无损检测工业射线照相胶片篇1部分：工业射线照相胶片系统的分类(CGB/T 19348. 1--2003-IS0 11699 1:1908.ILTG3/21355无损检测计算机射线照相系统的分类ASTME1617射线照相对比灵敏度测定方法ASTMF2002射线照相图像总不清晰度测定方法3术语和定义
GB/12601.2确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1
混叠aliasing
超过奈奎斯特(Nyquist)频率（由像素间隔决定)的预置试样的高空间频率信号.在较低空间频率时反射进人图像，
计算机射线照相系统（CR系统）computed radiologysystem（CRsystem）击存储磷光成像板（1P）,相应的读山装置（扫描器或读出器)和软件等组成的一个完整系统。它能将I上的信息转换成数字图像。
计算机射线照相系统分级computed radinlogy system class由一组特定磷光图像存储板组成的CR系统，其特性可依据表1所示的SNR(倍号与噪声之比)值GB/T 21356—2008
和特定曝光区域的不清晰度（例如MTF2.值)来进行分类。3.4
CR板CR phantom
包含布置有一系列像质计、既可用来评价CR系统质量也可监视已选系统质量的装置。3.5
增益/放大gain/amplification
扫描系统光-电增益的设定。
ISO 速度 IS0 speed
指CR系统的速度，它可以山CR系统必须达到规定的最小SNR值时所对应的以瑞为单位的辐射剂量值计算求得。
激光束颐动 laser beam jitter成像板/激光扫描装置平滑移动时形成的一种不足，其结果呈现一-列阶跃的图像线。3.8
线性化信号强度linearized signal intensity数字图像像元（像素）的-种数字信号值，它正比于该处的辐射剂量。若辑射剂量为零，则线性信号强度也为零。
长期稳定性long-term stahilityCR系统寿命期内的性能测量，用以评价相关系统在一段时间里的性能。3.10
扫描器抖动scanner slippage
IP板在扫描器传送系统中清动时，导致水平图像线强度波动。3.11
信噪比signal-to-noiseratio
指线性的信号强度平与值与在信号强度处噪市（强度分布)标推偏差的比值。SNR取决于辐射剂量利CR系统的特性。
4意义和用途
4.1影响CR的成像质量的网素包括IP系统空间分辨力几何不清晰度、散射和对比灵敏度(信噪比）。此外，在使用光学扫描器读出曝光IP上的图像时，还有其他因素（例如扫描参数）会响到读山精度。
4.2CR设备制造商可按GB/T 21355的规定，对影响像质的因素进行相当精确的测定。推荐给用户的测试使用的专用像质计，在质量保证手册中描述，这些测试，既可单独进行，也可采用CR板进行（附录A)。CR板集合了多种基本像质评价方法，这些方法，对CR系统包括扫描器的正确运行做出关联评价：曝光成像板的读出和每张待用板的误擦除。4.3本标准是为业CR系统用户提供的。这些由用户实施的测试，就是为定期评价并验证在寿命期内 CR 系统性能的恰当性
4.4、下列为各种试验及测试方法的应用。4. 4. 1维修、升级或换用其他型号 IP 后的测试：2
GB/T 21356—-2008
由于改造，例如R系统扫描器的维修或升级和IP的改良，均可能带来R系统性能的提升，所以需要逃行专门的测试,以验证CR系统性能的恰当性。4.4.2用户进行的长期稳定性测试：在检测实验室，质量保证要求定期对CR 系统进行测试，以验证系统性能的恰当性，测试周期取决于该系统使用频率，而H在参考研究CR设备制造裔的说明后，由用严做出规定，
4. 4. 3本标推 6, 2. 1-~6, 2. 6 所述的测试,要求采用 5. 规定的像质计,或者通赏地,在用户规定周期里，使用C尺板来测试基本的性能。记录内容包括：a）空间分辩力（用双丝法，任意楔形丝对）：b）对比度(可识别被检材料厚度百分比)抖动(有或无)；
颤动有或无）
阴影（在选定距离上白分比)：
f）实施测试的射线参数；
名）测试人员姓名及H期。
4.4.4仅当拍器或IP牌号更换而文无CR制造商提供的数据,或者系统用于极端(超出制造商推荐)温度条件下时，才实施图像退化测试。从曝光到扫描的这段关注的时间内，图像退化程度应小于50%
4.4.5应对IPs的伪像（6.2.7)以及擦除程度（6.2.6)进行检查，4.4.6在大量使用污.Ps和扫摘器巾光电倍增管的若化有可导致系统灵敏度下降，所以虚在较长间隔时间(例如-年)后百用广或供应商服务人员对其SVR进行测定，测得的SNR不得小于初始的90为，假如该系统的不清晰度没有增大而NR值增加.则可无条件接受，5器械——CR像质计
5.1供用户测试用的CR像质计类型：下面所述CR像质计，均可作为本标施的基本类型。5.1.1对比灵敏度像质计；
此对比灵敏度像质计的参数,与 ASTM E1617规定相符。和标准采而铅(C2 组材料),铜(C4 组材料)和不锈刚(1红材料)制成三种像质计,其各白基体厚度分别为 12. 5 rI1In1,6. 3 InIn1 和 6. 3 [mI,每种像质计含有一个对比区域,对应1%,2%、3%和4%基体壁厚的对比灵敏度。5.1.2双丝像质计：
此双丝像质计的参数，与ASTME2002规定相符。其摆放位置应与扫捕线方间（快速扫描方向)成5或与低速扫挡方向相垂直，贴放在试件表面。5.1.3模形像质计
此像质计由5根（.03Ⅱm厚的铅丝构成形状，通过可识别线条最小间距的读数，用米测定空间分辨力，其接盖的范围从每毫来1.号至20丝对/mm。成使用两个像质计调试，申的---个与抖描线平行·而另一个则与扫描线相垂直。5.1.4线型像质计：
指由高吸收材料制成的放置在描区域周边的标尺，通常使用两个指示计：其中：个乎行于扫描线，面另一个则乘直于扫描线，其上刻度至少应为毫米。5. 1.5 T形指示计：
由厚度0.5mm的带有锐利边沿的黄铜或铜箔板，经加工成戴面宽度为5mm的T学形而制成，T字的尺小至少应为（50×70)mm。将它垂直于和并行于扫描线方向放置，可用来检查激光器的颜动：也可用来测定整个系统的调制传递函数（见图A，1）。5.1.6扫捕抖动像质计：
GB/T213562008
由厚度为0.5mm的光亮又均勾的铝材制成，呈矩形（见图A.1)。放置在与扫描线方向相垂直和相平行的位置。
5、1.7阴影质让：
可以使用不同的阴影像质计。其中一种是厚度为0.5mm~10mm的铅薄板，放置在成像板（IP)工一起进行均匀曝光，曝光时使用低能(50kcV~100keV)射线。另一种是 CR板里的阴影像质计(见 A,1)。5.1.8中心束指向像质计(BAM蜗旋盘)：此像质计由高度为(1.5～2.0)m1m的铅箔片卷制而成,卷之间有(0.1~～0.2)mm的间隙间隙填充物质为低吸收材料，如图A.2所示。5.2CR像质计的用法。CR像质计,为 CR系统的质量和进行定期的质量控制提供一种评价，它们应按照木标准的要求或依照工程工管部门的规定进行放置。5.2.1CR像质计的骤光<用测试）：CR像质计，可以单独地使用或者全部集合在CR板中一起使用，选定的CR像质计或CR板，放置在装有成像板的暗盒上。射线源置于离成像板1m或更大的距离上·且其射线束对准板的中心。射线能量高于100keV时，在CR像质计或CR板与IP之间，应使用0.1mm厚的铅屏，借以减弱散射线。进行实验曝光并使辐射和CR系统的功能达到优化。供评价用的最终图像应得到合同双方·致认可。爆光时间和CR扫描单元的参数设置，决定于图像质量以及所应用的成像板类型。这些参量值、X射线装和IP的类型，都应形成文件并得到确认，还有射线能量（keV，彻玛源种类），剂量大小（比如IA·≤)和品质(前置滤光板，射线管类型和管窗口)应以记录。注：长的嗪光间和低的增益设晋，有助于状得高的对比度利SN。而对于对比灵度，大的像素设置（高不清晰度)，要商于小的像素设置（低不清晰度）。5. 2.2CR像质计的初始评定：
像质计的初始质景评价，在监视器（硬拷贝）上进行，考查CR板或单个像质计的射线照相图像，图像特性描述在本标准的 5.1,1~5.1. 8 和 6,2. 1~6. 2. 8 里,其结果可为合同双方协商.-致提供基础。5.3定期控制。在合同双方确认的任一期间里，用5.1.1-~5.1.7(按5.1.8放置）的CR像质计或者CR板进行曝光，并考查其结果。通过定期控制，确保6.1.3和6.2.1～6.2.8的测试获得已认同的质量品质。
5.4成像板的退化．成像板中存储图像的强度，超过一定时间后会退化（也称老化）。退化的测定，应按熙下述步骤实施：
a）对成像板以典型的膝光条件予以均匀曝光。作为资料，记录下列参数：kV，mA·s，SDD(射线源至戒像板的距离），前置滤光板和滤波板的材料和厚度。在最低增益和呈线性化的条件下，曝光的图像强度应到读出器的最大可能强度的(70～90)%；h）曝光后5min内读出成像板的图像；调节读出器强度使其达到线性化，以此作为测量参考基准（=100%）；c
d）始终用相同的X射线参数（kV,mA·s和焦距）,对成像板进行曦光：e）时问的改变在曝光和读出之间进行。每次测量，爆光和读出之间的时间间隔将翻倍：步进是15 min.30 min,1 h、2 h、1 h,-直至 4天.或者,根据需要直到与读出使用要求相匹配的程度;f）绘制线性化的读出强度（戈瑞值）与成像板曝光与读出之间的时间关系图。为确保骤光条件的正确，必须考虑退化效应。为了能重现测试结果，考虑迟化效应是很重要的，因为它会影响需要的曝光时间。对于所有测试，爆光与读出之间的时间.依赖于CR系统特有的使用。4
6CR系统品质和长期稳定性的测试6，1对比度、不清晰度和基本空间分辨率的测定6.1.1对比灵敏度的测定：
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ASTMF1647的对比灵敏度计,用于对选定壁厚部件的对比灵敏度的计算机辅助测量及观察。对比灵敏度分为四个级别：1%、2%、3%和1%，测定的等级高低，不受成像的基本空叫分辨力的影响。相关详细说明,见ASTME1647。假如采用图像处理的话，那么沿者像质计可以画出个轮廓（宽度一1个像元）。此轮的平均噪声小于或等于个壁厚处与减海了的壁厚处强度读出自分比之差，记录曝光条件（kV.ⅡA·.滤光板，焦距.曝光时间，月期）、CR系统没备名称与型式。6.1.2应用双丝法测定不清晰度和基本空间分辩力：6.1.2.1供测试基本空间分辨力的双丝像质计，应符合ASTME2002的要求，曝光应在1m或更大的距离1并采用焦点尺寸1mm的射线源实施。焦点人寸和焦距的选择应使几何不清晰度小于测得的总不清晰度的10%。将双丝像质计首接放置在装有1P和铅增感展的暗盒1，进行测量时，应使其与激光束的扫描方间相垂直和平行，为此，用-个像质计需曝光二次，而用两个像质计只需曝光…-次，应用双丝像质计时，要使其与激光束的扫描方而成约为5°的夹角，与垂直方向成5°的夹角，6.1.2.2不清晰度的测量结果与辐射射线线质有关。对下使用160kV以1的情况，实施测试的高压为220kV（带有铍窗口的×射线管，钨靶和无前置滤光板），对于低能射线的情况，射线线质为90kV（带有镀离口的X射线管、钨靶和无前置滤光板）6.1.2.3不能分辨的第一丝对，用来与ASTME2002规定相致的不消断度的测量，此时的第一丝对，丝与丝的图像信号相重叠详形成-个下沉20%的交点（见图1）。基本空间分辨力SR相当于测得的不清晰度的--半，
X—-长度,单位 ntn:
Y—信凸强度，单位信息
如果两丝信号峰值可下沉点大于最大强度的20%,则此丝对的两根丝是可认别的。图1应用双丝下沉点评定分辨能力6、1.2.4记录双丝像质计的读出数据，以便测试系统长期稳定性时使用，24
6.1.2.5双丝法只能得出早阶梯变化的不清晰度值的读出值（见ASIMF2002的表）。6.1.3楔形像质计的使用：
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6.1.3.1楔形像质计,既能在平行也能在垂直于扫描线的方向读出。如果此像质计与扫描方向成45角放置，测其读出的值必须除以系数1.414，6.1.3.2这些像质计,由楔形丝对组战,并以 1p/mm来度量。这种以lp/mm为单位的读出值,既可在分开与术分开的丝对之间的位置上取得（情况\a\），也可在情况b\的位置上取得，此时的丝数要减1或更多。Www.bzxZ.net
6.1.3.3对于情况a\，由读山数值（单位lp/mm)乘以1/2计算得出基本的空间分辨力（SR）。对于情说\b，在出现分辩混叠[超过奈奎斯特(Nyquist)频率的预置试样的高空间频率信号，在较低空间频率时反射进入图像」时进行像质计测定，通常会依赖于扫描器的像元尺寸，此时的基本的空间分辨力的计算与情况\a\相同。
6.1.3.4推荐的质量保证I3，由合同双方协商，无论怎样，在换用新型IP和维修CR读出器的光学元件后，也应对分辨力的测试进行评价。6.1.3.5楔形丝对法的准确程度，取决于曝光的SNR值、射线线质和几何条件以及赔盒/1P/增感屏系统的散射效应。对很大的SNR（>100)和很小的儿L何不清晰度的情况，本方法的标难偏差在（1～10)Ip/m之间,误差约为士0. 2 lp/m。假如方法 6. 1.2 与方法 6.1. 3之间存在差别,取 6. 1, 2 的值(与ASTM F2002 -致)。
6.2其他评价
6.2.1几何略变：
CR系统的空问线性，应使用空间线性指示器（毫米尺或更精密量具）曝光检查，该指示器的X和Y方向都由高吸收的材料制成。扫过程中会产生图像几何畸变，所以传输系统不允许IP弯曲戒瓦片状或扭曲。测是得到的空间非线性应小于5%，6.2.2激光束功能：
6.2.2.1本项测试涉及激光束扫描线完整性、束颤动、信号漏失和聚焦程度的评价。6.2.2.2将出高吸收材料制成的T形指示计进行曝光（见5.1,5），通过检查图像上T形指示计的边缘部分来评价激光束的颤动。I形边缘应是半直的和连续的。扫描线的上下偏移，使得I形边缘由充到赔的转换呈现一个持续误差，或激光束调制问题，在计算机屏上观察放大10倍（或更大倍数)的扫摘线图像，或在打印的胶片（用放人镜）上，对整个图像的不同区域的空问均勾性进行检查。由于数字化效应，平直边沿的“阶嵌\特性是正常的。对在空白的区中出现一种发亮的首线和在光导摄像管上很可能是现一种十分游遍的类似污物/灰尘的伪像的情况，扫描线的漏失是可以测出的。6.2.2.3伪像表明存在非感光特性，对此维修人员应来取修正措施。6.2.2.4本过程可用来测定CR系统中的激光束功能，允许采用计算机图像与打印的硬烤贝复制件的比较，来评价硬拷贝设备。
6.2.3模糊或闪烁
通过核查I形指示计的计算机射线照相，为证实强度过人或名高密度对比区域内山现条纹提供依据。这样的情况，能够引起光度计的饱和，或者将高亮度区变成低亮度的赔区的强度转换。通过对低骤光强度（高增益读出）与高爆光强度（低增益读出）的比较来完成这种测试，但须注意，所用的电子系统不得饱和，
6.2.4扫描器料动：
扫描器中成像板的抖动，或者系统扫描和读出均句性的任何变，导致一个均勾曝光区域的读出线间出现强度差别。为此，通过检查计算机射线照相的扫描抖动指示计，来确定扫描出的线的偏差。各描线间的强度偏差应小于（或等于）从这些线中之一里测得的噪声水平。在CR板里可见到一种可用于检测抖动的指示计(附录A)。
6.2.5阴影：
6.2.5.1本项测试用于硫保扫描激光器的强度在成像板的整个扫描宽度上是一致的，并用来检查光导6
光电增强管集束的恰当分布。
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6.2.5.2CR制造商测试时，IP置丁离射线源距离大于5m处均句地曝光。用户也可利用本方法，用SDD21 IⅡ的条件来进行长期稳定性测试，在计算机F:为线性化强度面测量IP中心和边沿的平均像素值；在打印底片上，用密度计测量底片的密度。超过IP中心区域土10为的以外区域.不得存在像素强度值或密度。用1m的S爆光时的阴，用户得到的固有阴影可能可送8片，因此，用F成充订士15%的阴影。本项测试的应用，出合同双方在推荐的质保一览表里协商达成一致：当然，如有必要，随后光学系统的任何维护，将对阴影修正做出评价，为专门进行阴影测试，附录A所示的CR板所含的像质计，满足上述要求。
6.2.6燎除：
上述所有测试完毕，应通过CR读取器，在没有任何赚光的情况下实施成像板的接除处理。假如CR系统用下特殊的应用（例如高能X射线或伽玛射线源）：用这样的方法对高吸收的物件（例如钨或铅)进行曝光，则获得的图像包括物件的疫影和一个射线末被吸收区的区域;对于这样的用法,在没有曝光的情记下，对I进行擦除和处理，如果有潜影存在，则表明擦除时间不够长，或者是搽除装置有故障。影像转化到线性化强度（灰度等级)之后，可能存在强度小丁1为最大强度的不明缘由的影像。显现些许阴影是充诈的，仙它们的强度应小于图像累积线性强度最大值（格雷等级)的1%，本项测试的应用，由合同双方作撤荐的质保一览表里协商达成一致。6.2.7伪像：
6.2.7.1下述测试中的所有参数，包括扫措参数和射线条件均应记录，6.2.7.2盘存的所有IP应给予排序。特别要注意和验明的是：IP不得与无保护的铅承接触。6.2.7.3用IP检测时,应使用较低的kV曝光，为了得到均匀一致的曦光独度（见6.2.5）,所用的滕光条件(例如 TLA·s)要充足。扫描 IP并将它存放在相成的图像巾，在筹个 IP的(:R图像爽中，励规律性地存储以便辨认能的伪像，面且要编排出IP的序列编号。6.2.8标称化SNR的测定
6.2.8.1对个由暗盒和成像板组成的系统,进行均勾地骤光。将前后均贴放0.1 IIII 厚的铅增感屏的IP装作典型的暗盒中,面向X射线管钨阳极放置,在X射线管窗前，安置一8mm 厚的铜制滤光板后进行躁光，管电压设定为220 kV6.2. 8,2使用低能射线时;射线线质应为 90 kV,而且滤光板应是 32. 5 mm厚的铅板,无前后铅屏。6.2.8.3在成像板读取系统处十最低增益和特性曲线呈线性化的状况时，在强度为90%二5%的最大而能强度的情况下,对 SNR进行测量。强度的 90%值,通过调节 X 射线管电流 mA 和曝,光时问,以及必要时变更SDD距离来获得，但SDD至少成为1mM。暗盒后面不使用铅或任何其他材料，且其后至少应有」㎡的自山空间，
6.2.8.4从 IP中心区单的 1 10）或更多像数值组成的个数据集来计算信号强度Ima和标准偏差F，在测试区巾不成观察严重的划痕或灰生和阴影。将数据集，分成55或者更多组，每2个像数值红成一组;对每个，当用i标注时,则 In,就表示该非滤波的信号强度乎均值，而si,即为同-组的标推偏差计算值。
6. 2.8.51.mx。的最终值,取自所有「m:的中值:0zsr.的最终值,取白所有25:i.=sr值的中值，通过测定分辨力参考值为100m的圆形器械，或者参考值为88.6！m的方形器械，来计算a:sl.isL:ta的最终值内下式算出：
SLus -(SRu/88. 6)
SR.以rm为单位表示的最大基本空间分辨力。....(1)
6.2.8.6依据ASTME2002（见6.1.2)规定测得的基亦空间分辨力，等于不清晰度值的-半。基本空间分辨力，在垂直和平行于激光扫描的两个方向上都要测定，两个SR值（单位为)中的较高者，用GB/T 21356—2008
于按公式(2)来进行标称化计算。6.2.8.7标称化SNR的计算：
SNRN - Imea/oPSLeu
6.2. 8. 8应记录测试的和标称化后的 SNR,而且对于这些上艺流程(包括诸如软件,系统设定和曝光数锯），CR设备制造应提供给用广，以便用户或服务技术人员在测定SNR时实施曝光并使用软件，6.2.8. 9所有的测试应在相同射线质量(管电压和前置滤光板)、相同距离和准直条件下实施，所有参数和结果均应记录。
7报告
7.1用户应将所有测试条件和结果写人报告。测试周期，应记录在公司的传面工艺文件里，或者由合同双方协商一致。
7.2将测定结果汇总于表1中。
表1CR系统的测试报告
CR系统
制造年价
最近检修日期
使用的ps
测试H期
操作者
精确度与误差
基本空间分辨力
几何失真
激光束功能
模糊或闪烁
扫描器抖动
影像消除
EP伪像
双丝ASTME2C02
烫形丝对
不阐述本标准的精确度或误差。其结果仅仅说明是否与规定程序里的验收要求相符合。A. 1CR 像质计在 CR 板里的位置及排列附录A
(资料性附录）
CR测试板
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所有撑述的（R像质计（见5.1)均安置在个被称为CR板中，它出一块低收材料（例如二甲基丙烯酸)的承载板制成，如图A.1所示的排列。这些CR像质计集中放宵在十止的一边。如有的求，也可单独使用用米测定特定的结果。(l.y cm)-
A -一供激光科动测试用的 T 形指示计,长(111 X5) :-!-黄制 +I5-
双丝像质计.符合A5TME:2302；
中心炎指冶(RAM蜗旋盐);
换形丝对像质让，
EL,EC,ER：附影修正测卧点，在内烯酸板上的钻除量为直径19 mm.深1.3 trm：暗盒定位计(不示在病线照相图像)；均匀铝制条,ri. 5 t:im 序;
二某内烯酸板：
I-cm级线性检测标尺;
J-—对比灵欲度像质产.招：1.2.7mm.铜6.35mm，不锈钢6.35mm图A：1评定计算机照相系统的包含多税像质计的K板像
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A.2阴影测定
A.2.1概述
有不同的阴影测试方法。CR板使用下述的像质让和方法A.2.？阴影像质计
此像质计中-个直径为19mm，深段为0.3mm的孔组成，各孔之间的距离至少10cm，而且这些孔的排列方向应与激光束的扫描方向平行。A.2.3测定法
在CR板中有三个直径19mn1、深度0.3 mm的孔(FI.,FC和ER),这些孔用于确保扫括激光器的强度在成像板的整个扫描宽度上是一致的，并用来检查光导光电增强管集束的恰当分布。在计算机上，以像素的格雷值度量这些孔的像素值，而在打印的底片上，则以密度度量，外环（EL和上R)的像豪值或密度不应具有超过环FC的士10%，本项测试的应用.由个同双为在推荐的质保一览表里协商达成致。
A.3中心束指向
A.3.1CR指向像质计（BAM蜗旋盘）此像质计由厚（0.3～c,5)mm的铅箱片卷制而成，卷之间有0.1mm的间隙，间隙填充物质为低吸收材料，也可采用蜂窝材料。
A.3.2方法
经过调整，应使射线束年直指向CR板的指向像质计（BAM蜗施盘）中心，如果计算机射线照和结界是组均匀排列的彼此相隔螺旋，则表示指问是正确的。沿济厚度
垫片箔
注1：报据BAM蜗旋盘的射线照相影像,确定其与韬射垂直位置的鸠离，注2：推荐尺寸为：h-（1.5~2.0)m5—h/11.5mn(偏离>5\时结构消失），d,>8mmd,—（C.02--0.1)mm，图 A. 2指向像质计和源位置指示计(BAM 蜗旋盘)
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