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【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 JT54LS125和JT54LS126型LS-TTL四缓冲器(3S)详细规范

本网站 发布时间: 2024-07-05 05:53:25
  • SJ20283-1993
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 20283-1993

  • 标准名称:

    半导体集成电路 JT54LS125和JT54LS126型LS-TTL四缓冲器(3S)详细规范

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1993-05-11
  • 实施日期:

    1993-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    552.43 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    石油>>石油综合>>E01技术管理

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    电子工业出版社
  • 页数:

    20页
  • 标准价格:

    18.0 元
  • 出版日期:

    1993-06-01

其他信息

  • 起草人:

    李燕荣、孙人杰
  • 起草单位:

    中国电子技术标准化研究所
  • 归口单位:

    中国电子技术标准化研究所
  • 发布部门:

    中华人民共和国电子工业部
  • 相关标签:

    半导体 集成电路 缓冲器 详细 规范
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标准简介:

标准下载解压密码:www.bzxz.net

本规范规定了硅单片 JT54lS02、JT54LS26型四总线缓冲器(3S)(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20283-1993 半导体集成电路 JT54LS125和JT54LS126型LS-TTL四缓冲器(3S)详细规范 SJ20283-1993

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ20283-93
半导体集成电路JT54LS125、
JT54LS126型LS-TTL四缓
冲器(3S)详细规范
Detail specification for types JT54LS125.JT54LS126of quadruple bus buffer gates with three-state outputsLS-TTL semiconductor integrated circuits1993-05-11发布
1993-07-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS125、JT54LS126型LS-TTL四缓冲器(3S)详细规范
DetailspecificationfortypesJT54LS125.JT54LS126of quadruplebus buffergates withthree-state outputsLS-TTL semiconductor integrated circuits1范围
1.1主题内容
SJ20283-93
本规范规定了硅单片JT54LS125、JT54LS126型四总线缓冲器(3S)(以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597(微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号
JT54LS125
JT54LS126
1.3.1.2器件等级
四总线缓冲器(3S)
四总线缓冲器(3S,EN高电平有效)称
器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。1.3.1.3封装形式
封装形式如下:
中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布iiKAoNrKAca-
1993-07-01实施
SI20283-93
封装形式1)
C20P3(陶瓷无引线片式载体封装)D14S3(陶瓷双列封装)
F14X2(陶瓷扁平封装)
H14X2(陶瓷熔封扇平封装)
J14S3(陶瓷熔封双列封装)
注:1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸)。1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
电源电压
输入电压
更存温度
引线耐焊接温度
JT54LS125
JT54LS126
注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios)时所增加的功耗。1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下:
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电压
输出高电平电流
输出低电平电流
工作环境温度
2引用文件
GB3431.1—82
GB3431.2—86
GB3439-82
JT54LS125
JT54LS126
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号
引出端功能符号
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理最
GB4590—84
SJ20283-93
半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元GB4728.12-—85
GB7092
GJB548—88
GJB597—88
GJB×××
3要求
3.1详细要求
半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。JT54LS125
逻辑符号
逻辑图
2Y口6
D、F、H、J型
14bvcc
引出端排列
3212019
iiKAoNiKAca-
910111213
JT54LS126
逻辑符号
逻辑图
3.2.2功能表
功能表如下:
JT54LS125
JT54LS126
SJ20283-93
D、F、H、J型
逻辑符号
引出端排列
1003EN
逻辑图和引出端排列
3212019
10111213
SJ20283-93
注:H一高电平;L一低电平:X一任意;Z一高阻态。3.2.3电原理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。
3.2.5封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。表11
JT54LS125电特性
输入籍位电压
输出高电平电压
输出低电平电压
输出高阻态时高
电平电流
输出高阻态时低
电平电流
最大输入电压时
的输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
电源电流此内容来自标准下载网
输出短路电流1)
输出传输时间
(若无其它规定,-55≤T≤125℃)Vcc=4.5V,Vk=-18mA(TA=25C)
Vcc= 4.5V.VH= 2.0V,
IoH=-1mA, Vi. = 0.7V
Voc=4.5V,
IoL=12mA,Vn=0.7V
Vac = 5.5V, VH = 2.0V,
V。=2.4V,V=0.7V
Vcc=5.5V,VH=2.0V,
Vo= 0.4V, Vn.= 0.7V
Vcc=5.5V,VH=7V
Voc=5.5V,Vm=2.7V
Vcc=5.5V,被测EN端Vh.=0.4V
Vcc=5.5V.EN端接5.5V,
被测A端V.=0.4V
Vcc=5.5V,EN端接GND
被测A端V.=0.4V
Vcc=5.5V,EN端接4.5V.
A端接GND,输出端开路
Vcc=5V,R,=6670
Ct=45pF
-iiKAoNKAca-
输出允许时间
输出禁止时间
注:1)
SJ20283-93
续表1-1
(若无其它规定,-55℃≤T≤125℃)Vcc = 5V,R= 6670.
CL=45pF
Vcc = 5V,RL = 6670,
Ci=5pF
不能有一个以上的输出端同时短路,输出短路时间不超过1秒。表1-2JT54LS126电特性
输入猎位电压
输出高电平电压
输出低电平电压
输出高阻态时高
电平电流
输出高阻态时低
电平电流
最大输入电压时1
的输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
电源电流
输出短路电流1》
输出传输时间
(若无其它规定,-55C≤T≤125℃)Vcc=4.5V.Vix=-18mA(TA=25)
Vcc = 4.5V. VH = 2.0V,
IoH=-lmA
Vcc= 4.5V.VH=2V,
Io.=12mA,Vn.=0.7V
Vce = 5.5V, ViH = 2.0V,
Vo=2.4V,Vu = 0.7V
Vcc = 5.5V,VH= 2.0V.
Vo=0.4V,Vu.=0.7V
Vcc=5.5V,VW=7V
Vcc=5.5V,VH=2.7V
Vcc=5.5V,被测EN端Vi.=0.4V
Vcc=5.5V.EN端Vn=0V.
被测A端V.=0.4V
Vcc=5.5V,EN端VH=5.5V.
被测A端Vm.=0.4V
Vcc=5.5V、A端、EN端接GND,输出端开路
Vcc = 5.5V
Vcc=5V.R=6670,
Ct=45pF
输出允许时间
输出禁止时间
SJ20283-93
续表1-2
(若无其它规定,-55≤T≤125C)Vcc=5V,R=667a,
Ct= 45pF
Vcc=5V.RL=667a,
CL=SpF
注:1)不能有一个以上的输出端同时短路,输出短路时间不超过1秒。3.5电试验要求
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组,各分组的电测试按本规范表3的规定。
表2电试验要求
中间(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
最终电测试
A组检验电测试
B组终点电测试
C组终点电测试(方法5005)
C组检验增加的分组
D组终点电测试(方法5005)
B级器
A2,A3,A7,A9
A1.A2,A3,A7,A9,A10,A11
注:1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。组
(见表3)
A2,A3.A7,A9
A1,A2,A3,A7,A9
A1,A2,A3
A10,A11
A1,A2,A3
-iiKAoNKAca-
分组符号
引用标准
GB3439
SJ20283-93
表3—1JT54LS125电测试
(若无其它规定,TA=25C)
Vcc=4.5V,被测输人端Ik=-18mA
Vcc=4.5V,A端接2V.EN端接0.7V,被测输出端1oH=-1mA
Vcc=4.5V,A端、EN端接0.7V,
被测输出端Iot=12mA
Vcc=5.5V.EN端接2V、A端接0.7V、被测输出端V。=2.4V
Vcc-5.5VEN端接2V.A端接2V、
被测输出端V。=0.4V
Vcc=5.5V被测输入V,=2.7V
(测A时EN接GND)
Vcc=5.5V.被测输入V,=7V
(测A时EN接GND)
Vcc=5.5V,被测EN端V,=0.4V
Vcc=5.5V.EN端接5.5V
被测A输入端V,=0.4V
Vcc=5.5V.EN端接GND,
被测A输入端V=0.4V
Vcc=5.5V、A端接GND.EN端接4.5V.输出端开路Vcc=5.5V.EN端接GND.A端接4.5V.被测输出接GND
TA=125℃,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组TA=-55C,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同AI分组Vcc=5V,按功能表进行测试
Vcc=5V,C.=45pF,
R,=6670
见本规范图2
Vcc =5V. CL =5pF
RL=6670
见本规范图2
EN接GND
EN接GND
A接5V
A接GND
A接5V
A接GND
EN-→Y
规范值
引用标准
GB3439
SJ20283-—93
续表3-1
(若无其它规定,T=25℃)
TA=125C,条件同A9分组
-55C,参数、条件、规范值同A10分组表32
JT54LS126电测试
引用标准
GB3439
(若无其它规定,T=25℃)
Vcc=4.5V,被测输人端Iik=-18mAA→Y
EN→Y
EN→Y
Vcc=4.5V,ViH=2V.被测输出端Ior=-ImAVcc=4.5V,A端接0.7V,EN端接2V,被测输出端loL=12mA
Vcc=5.5V,EN攀接0.7V.A端接0.7V、被测输出端Vo=2.4V
Vcc=5.5V,EN端接0.7V.A端接2V
被测输出端V。=0.4V
Vcc=5.5V,被测输入V,=2.7V
(测A时EN接5.5V)
Vcc=5.5V.被测输入V,=7V
(测A时EN接5.5V)
Vcc=5.5V,被测EN端V,=0.4V
Vcc=5.5V.EN端接GND,
被测A输入端Vm=0.4V
Voc=5.5V.EN端5.5V.
被测A输入端Vm=0.4V
Vcc=5.5V.A端接GND,EN端接GND,输出端开路Vcc=5.5VEN端接4.5V.A端接4.5V,被测输出接GND
TA=125C,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组iiKAoNiKAca-
规范值
规范值
引用标准
GB3439
SJ20283-93
续表3-2
(若无其它规定,T=25C)
-55C,除Vk不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组Vcc=5V,按功能表进行测试
Vc=5V.CL=45pF,
RL=6670
见本规范图2
Vα=5V,C.=5pF.
R1=6670
见本规范图2
EN接5V
EN接5V
A接5V
A接GND
A接5V
A接GND
Tx=125C,条件同A9分组
一55,参数、条件、规范值同A10分组All
负载线路
测试点
被测输出端
A-→Y
EN→Y
EN→Y
A-→Y
A-→Y
EN→Y
EN-→Y
EN→Y
规范值
最小最大
电压波形
EN输人(高电平允许)
EN输入(低电平允许)
输出1
输出2
SJ20283-93
传输延迟时间的电压波形
Ttn()y
ten(ZH)
KVoni+0.5v
tas(HZ)
三态输出允许和禁止的电压波形注:①S闭合,S2开启时测量tpzL;S,开启,S,闭合时测量tpzH;S,闭合,Sz闭合时测量tphz、tpu2、tpu和tpla.。1.5V
测tpHL、tpuH、tpzl.和tFzh时O=45F;测pz和plz时C=5pF(包括显示器探头和爽具?
电容)。
RL=6670±5%。
所有二极管为2DK76或等效型号。脉冲发生器:f=IMHz,Zo=50n,Vm=3V,t,≤15ns,1≤6ns?
图2开关测试负载线路和电压波形图3.6标志
标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微电路的划分
本规范所涉及的器件为第9微电路组(见GJB597附录E)。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2筛选
-iiKAoNiKAca-
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