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【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门详细规范

本网站 发布时间: 2024-07-05 05:55:38
  • SJ20281-1993
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 20281-1993

  • 标准名称:

    半导体集成电路 JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门详细规范

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1993-05-11
  • 实施日期:

    1993-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    595.34 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    石油>>石油综合>>E01技术管理

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    电子工业出版社
  • 页数:

    20页
  • 标准价格:

    19.0 元
  • 出版日期:

    1993-06-01

其他信息

  • 起草人:

    胡燕、童本敏
  • 起草单位:

    电子工业部第四研究所
  • 归口单位:

    中国电子工业总公司科技质量局
  • 发布部门:

    中华人民共和国电子工业部
  • 相关标签:

    半导体 集成电路 详细 规范
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标准简介:

标准下载解压密码:www.bzxz.net

本规范规定了半导体集成电路JT54LS13、JT541S14和JT54LS132型LS-TTL与非门(有施密特触发器)(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20281-1993 半导体集成电路 JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门详细规范 SJ20281-1993

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ20281-93
半导体集成电路JT54LS13、
JT54LS14和JT54LS132型
LSTTL 与非门详细规范
Detail specification for types JT54LS13,JT54LS14,andJT54LS132positive-NANDgates
ofLS-TTLsecmicondudtorcircuits1993-05-11发布
中华人民共和国电子工业部
1993-07-01实施
1.1主题内容
1.2适用范围
1.3分类
2引用文件
详细要求
设计、结构和外形尺寸
引线材料和涂覆
电特性
电试验要求
微电路组的划分
质量保证规定·
抽样和检验
鉴定检验
质量一致性检验
4.5检验方法
5交货准备·
5.1包装要求
6说明事项
6.1订货资料
6.2缩写、符号和定义
6.3替代性
iiKAoNiKAca-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS一TTL与非门详细规范Detail specification for types JT541S13,JT54LS14 andJT54LS132positiveNANDgates
of LS-TTLsecmiconductorintegrated circuits1范围
1.1主题内容
SJ20281-93
本规范规定了半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门(有施密特触发器)(以下简称器件)的详细要求。1.2适用规范
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号
JT54LS13
JT54LS14
JT54LS132
1.3.1.2器件等级
器件名称
双4输入与非门(有施密特触发器)六反相器(有施密特触发器)
四2输入与非门(有施密特触发器)器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B,级。1.3.1.3封装形式
封装形式如下:
中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实施
SI2028193
封装形式\
C20P3(离瓷无引线片式载体封装)D14S3(陶瓷双列封装)
F14X2(陶瓷扁平封装)
H14X2(陶瓷熔封扁平封装)
J14S3(陶瓷熔封双列封装)
注:1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸)的规定。1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
电源电压
输入电压
贮存温度
JT54LS13
功耗1
JT54LS14
JT54LS132Www.bzxZ.net
引线耐焊接温度(10s)
注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios)时所增加的功耗。1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下:
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电压
输出高电平电流
输出低电平电流
工作环境温度
2引用文件
GB3431.1-82
GB3431.2—86
GB3439-82
—2—
半导体集成电路文字符号
规范值
电参数文字符号
半导体集成电路文字符号
引出端功能符号
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理iiKAoNiKAca-
GB4590-84
GB4728.12-—85
GB7092—93
GJB548—88
GJB597-88
GJB164993
3要求
3.1详细要求
SJ20281—93
半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。JT54LS13
逻辑符号
逻辑图
JT54LS14
逻辑符号
D、F、HJ型
D、F、HJ塑
14bvoc
引出端排列
910111213
引出端排列
F,3212019
910111213
逻辑图
JT54LS132
逻辑符号
逻辑图
3.2.2功能表
功能表如下:
JT54LS13
SJ20281-93
D、F、HJ型
引出端排列
4321209
S101112
逻辑符号、逻辑图和引出端排列输
-iiKAoNiKAca-
SJ2028193
JT54LS14
JT54LS132
注:H为高电平:L为低电平。
3.2.3电原理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电待性应符合本规范表1的规定。S
输入正向阀值电压
输入负向阅值电压
滞后电压
输出高电平电压
输出低电平电压
输入箱位电压
最大输入电压时输
入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2)
输出高电平时电源
输出低电平时电源
传输延时间
SJ20281—93
表1-1JT54LS13的电特性
条件1)
(若无其他规定,-55≤T<125℃)Vcc=5.0V
Vcc=4.5V,V=0.5V,
VoH=-0.4mA
Vcc=4.5V,Vm=1.9V,IoL=4mA
Vcc=4.5V,Vix=-18n.4
Vcc=5.5V, V,=7V
Vcc=5.5V, V,=2.7V
Vcc=5.5V,V,=0.4V
Vcc=5.5V,
Voc=5.5V.
V,=GND
Vcc-5.5V,
RL=2kn
C,=15pF
注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只能短路一个输出端。
表1-2JT45LS14的电特性
输入正向阔值电压
输入负向阈值电压
滞后电压
输出高电平电压
输出低电平电压
输入猎位电压
最大输入电压时输
入电流
条件)
(若无其他规定,-55≤T≤125℃)Vac=5.0V
Vcc=4.5V,Vi=0.5V,
VoH=-0.4mA
Vcc=4.5V,VH=1.9V,IoL=4mA
Vcc=4.5V,Vk=-18mA
Vcc=5.5V,V,=7V
规范值
规范值
iiKAoNiKAca
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2)
输出高电平时电源
输出低电平时电源
传输延迟时间
SJ20281—93
续表1-2
条件1
(若无其他规定,-55℃≤T≤125℃)Vcc=5.5V,V,=2.7V
Vcc=5.5V.V,=0.4V
Vcc=5.5V,
Vec=5.5V,
V,=GND
Vcc=5.5V,
Cf=15pF
注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只能短路十个输出端。
表1-3JT45LS132的电特性
输入正向閣值电压
输入负向网值电压
滞后电压
输出高电平电压
输出低电平电压
输入籍位电压
最大输入电压时输
入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2)
输出高电平时电源
输出低电平时电源
传输延迟时间
条件)
(若无其他规定,-55C≤T≤125)Vec=5.0V
Vcc=4.5V,V=0.5V,
Vom=-0.4mA
Vcc=4.5V.Vu=1.9V,loL=4mA
Vcc=4.5V.Vx=-18mA
Vcc=5.5V, V,=7V
Vcc=5.5V,V,=2.7V
Vcc=5.5V,V,=0.4V
Vcc=5.5V,
V,=GND
Vcc=5.5V,
Ri=2kn
C,=15pF
注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只能短路一个输出端。
规范值
规范值
3.5电试验要求
SJ20281—93
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组,各分组的电测试按本规范表3的规定。
表2电试验要求
中间(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
最终电测试
A组试验要求
C组终点电测试(方法5005)
C组检验增加的分组
D组终点电测试(方法5005)
B级件
A2,A3,A7.A9
A1,A2,A3.A7,A9,A10,A11
A1,A2,A3
不要求
A1,A2,A3
注:1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。组
(见表3)
B,级器件
A2,A3,A7,A9
A1,A2,A3,A7,A9
A1,A2,A3
A10,A11
Al,A2,A3
表3-1
JT54LS13电测试
引用标准
GB3439
(若无其他规定,T=25)
Vcc=4.SV,输入条件按功能表预置\,被测输出IoH=-400μA
Vcc=4.5V,被测输入Vm=2.0V.被测输出IoL=4mA
Vcc=5.5V,被测输入k=-1.8mA
Vcc=5.5V,被测输入V,=7V
Vcc=5.5V.被测输入V,=5.5V
Vcc=5.5V,被测输人V,=0.4V
Vcc=5.5V,被测输入接地
Vcc=5.5V.所有输入接地,输出开路Vcc=5.5V.所有输入V,=5.5V.输出开路TA=125C.除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组-55℃,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组TA
Vcc=5.0V,见本规范图2
规范值
-iiKAoNiKAca-
引用标准
GB3439
SJ20281--93
续表3-1
(若无其他规定,T^=25℃)
Vcc=5.0V,见本规范图2
Ta=125
55C,参数、条件、规范值同A10分组注3)功能表中H为2.0V,L为0.7V。表3-2JT54LS14电测试
引用标准
GB3439
(若无其他规定,TA=25℃)
Vcc=4.5V,输入条件按功能表预置\,被测输出IoH=-400,A
Vcc=4.5V被测输入Vm=2.0V.被测输出IoL=4mA
Vcc=5.5V,被测输入Iik=-1.8mA
Vcc=5.5V.被测输入V,=7V
Vcc=5.5V.被测输入V,=5.5V
Vcc=5.5V被测输人V,=0.4V
Vcc=5.5V,被测输入端接地
Vcc=5.5V,所有输入接地.输出开路Vcc=5.5V,所有输入V,=5.5V,输出开路TA=125C,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组-55C.除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组TA
Vcc=5.0V,见本规范图2
Vcc=5.0V.见本规范图2
Ta=125c
除TA--55℃,参数、条件、规范值同A10分组注1)功能表中H为2.0V,L为0.7V。规范值
引用标准
GB3439
SJ20281-93
表3-3JT54LS132电测试
(若无其他规定,T=25℃)
Vcc=4.5V,输入条件按功能表预置\,被测输出IoH-400mA
Vcc=4.5V,被测输入VH=2.0V,被测输出Tol=4mA
Vcc=5.5V,被测输入Ik=-1.8mA
Vcc=5.5V,被测输入V,=7V
Vcc=5.5V.被测输入V,=5.5V
Vcc=5.5V,被测输入V,=0.4V
Vcc=5.5V.被测输入端接地
Vcc=5.5V,所有输入接地,输出开路Vcc=5.5V.所有输入V,=5.5V,输出开路TA=125C,除Vix不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组Ta=-55C,除Vik不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组IPHL
Vcc=5.0V,见本规范图2
Vce=5.0V,见本规范图2
TA=125
除TA=-55℃C,参数、条件、规范值同A10分组注1)功能表中H为2.0V,L为0.7V。负载线路
测试点
本平平
波形图
注:①输入波形:f=1MHz,t15ns,16ns,t=200±20ns。规范值
R2ka.C1SpF(包括探头和夹具电容),二极管为2CK76或其等效型号。图2负载线路和波形图
iiKAoNiKAca-
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