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【电子行业标准(SJ)】 50/125μm多模光纤详细规范
本网站 发布时间:
2024-07-05 05:57:33
- SJ20223-1992
- 现行
标准号:
SJ 20223-1992
标准名称:
50/125μm多模光纤详细规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-11-19 -
实施日期:
1993-05-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
134.64 KB

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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本规范规定了50/l25μm多模光纤的技木要求和质量保证规定,本规范应与GJBl427-92《光纤总规范》同时使用。本规范适用于一般军事用途的光纤。 SJ 20223-1992 50/125μm多模光纤详细规范 SJ20223-1992

部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL6010
SJ20223-92
50/125μm多模光纤详细规范
Multimodefiber,Optical
50/125um,Detailspecificationfor1992-11-19发布
中国电子工业总公司
1993-05-01实施
1范围
1.1主题内容
中华人民共和国电子行业军用标准50/125um多模光纤详细规范
Multimodefiber,Optical
50/125um,DetailspecificationforSJ20223--92
本规范规定了50/125um多模光纤的技术要求和质量保证规定,本规范应与GJB1427-92《光纤总规范》同时使用。
1.2适用范围
本规范适用于一般军事用途的光纤。1.3分类
本规范的分类标志字符为MM1a。1.3.1型别
系多模光纤,标志字符为“MM”1.3.2种类
系渐变型折射率分布(折射率分布指数g的值为:1系光纤纤芯/包层尺寸,50/125μm光纤,标志字符为“a”。2引用文件
GJB1427—92光纤总规范
3要求
3.1尺寸和外形
中国电子工业总公司1992-11-19发布:被覆层
1993-05-01实施
纤芯折射率分布
浙变型
渐变型
渐变型
新变型
渐变型
渐变型
第一圆
第三腐
第三圆
第四圆
3.1.1直径
零件号
Jaxax-01
Jarr/r-02
Jarr/rr-03
Jarr/rz-04
Jzrr/rr-05
圆直径
SJ20223-92
125±2
125±2
125±2
125±2
125±2
125±2
光纤的结构尺寸和外形
250±15
400±20
500±25
250±15
400±20
500±25
纤芯界面
一包层界面
图2四同心圆标线尺寸
光纤的结构尺寸和外形见图1。
光纤纤芯和包层直径公差带见图2。3.1.2不圆度
纤芯:≤5%
包层,≤2%
被覆层:10%
3.1.3同心度
纤芯一包层,≥94%
包层一被覆层:≥86%
3.1.4接头处被覆层直径最大变化率不适用。
3.2连续长度
不小于1100m或1100m的整数倍。3.3接头
不允许。
3.4张力筛选
筛选张力为690MPa(或1%光纤应变),持续时间约1s3.5单位长度重量
不大于1kg/km。
数值孔径
0.20±0.02
0.20±0.02
0.20±0.02
0.23±0.02
0.23±0.02
0.23±0.02
3.6衰减常数
SJ20223-92
光纤在1310士20nm波长时的衰减常数为:≤1.0dB/km;光纤在850±10nm波长时的衰减常数为:≤3.0dB/km。3.7数值孔径
光纤在850nm波长时的有效数值孔径为:0.20±0.02或0.23±0.02。3.8带宽
光纤在1310士20nm波长时的带宽为:≥500MHz·km;光纤在850士10nm波长时的带宽为:≥200MHz·km。3.9浸渍
不适用。
3.10温度范围
光纤的使用温度范围为:一55~85℃;光纤的贮存温度范围为:一55~85℃。3.11耐核辐照
不适用。
3.12零件号(见图1))
Jxxx/xx-01;
Jxxx/xx-02;
Jxxx/xx-03;
Jxxx/xx-04;
Jxxx/xx-05;
Jxxx/xx-06。
4质量保证规定
4.1鉴定检验
鉴定检验应由表1所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2质量一致性检验
4.2.1A组检验
A组检验应由表2所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2.2B组检验
B组检验应由表3所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2.3C组检验
C组检验应由表4所规定的检验组成,并应按所示顺序进行,C组检验的周期为12个月。表1鉴定检验
外观和尺寸
张力筛选
衰减常数
试样长度m
试样数量(根)
衰减均匀性
数值孔径
宏弯衰减
机械剥离性
温度循环
非稳态衰减
温度冲击
温度一湿度循环
加速老化
尺寸稳定性
柔软性bzxz.net
注:1)用经温度冲击的试样;
2)在经1组检验后的试样上截取。检
外观和尺寸
张力筛选
轰减常数
衰减均匀性
数值孔径
温度循环
宏弯衰减
非稳态衰减
机械剃离性
柔软性
SJ20223—92
续表1
试样长度m
表2A组检验
表3B组检验
试样数量(根)
试样长度m
试样长度
温度冲击
温度一湿度循环
加速老化
尺寸稳定性
附加说明:
SJ20223—92
表4C组检验
试样长度m
本标准由中国电子工业总公司提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。试样数量(根)
本标准由机械电子工业部第二十三研究所、中国电子技术标准化研究所负责起草。本标准起草人:严润生、黄浩显、王毅。计划项目代号:B02035。
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SJ20223-92
50/125μm多模光纤详细规范
Multimodefiber,Optical
50/125um,Detailspecificationfor1992-11-19发布
中国电子工业总公司
1993-05-01实施
1范围
1.1主题内容
中华人民共和国电子行业军用标准50/125um多模光纤详细规范
Multimodefiber,Optical
50/125um,DetailspecificationforSJ20223--92
本规范规定了50/125um多模光纤的技术要求和质量保证规定,本规范应与GJB1427-92《光纤总规范》同时使用。
1.2适用范围
本规范适用于一般军事用途的光纤。1.3分类
本规范的分类标志字符为MM1a。1.3.1型别
系多模光纤,标志字符为“MM”1.3.2种类
系渐变型折射率分布(折射率分布指数g的值为:1
GJB1427—92光纤总规范
3要求
3.1尺寸和外形
中国电子工业总公司1992-11-19发布:被覆层
1993-05-01实施
纤芯折射率分布
浙变型
渐变型
渐变型
新变型
渐变型
渐变型
第一圆
第三腐
第三圆
第四圆
3.1.1直径
零件号
Jaxax-01
Jarr/r-02
Jarr/rr-03
Jarr/rz-04
Jzrr/rr-05
圆直径
SJ20223-92
125±2
125±2
125±2
125±2
125±2
125±2
光纤的结构尺寸和外形
250±15
400±20
500±25
250±15
400±20
500±25
纤芯界面
一包层界面
图2四同心圆标线尺寸
光纤的结构尺寸和外形见图1。
光纤纤芯和包层直径公差带见图2。3.1.2不圆度
纤芯:≤5%
包层,≤2%
被覆层:10%
3.1.3同心度
纤芯一包层,≥94%
包层一被覆层:≥86%
3.1.4接头处被覆层直径最大变化率不适用。
3.2连续长度
不小于1100m或1100m的整数倍。3.3接头
不允许。
3.4张力筛选
筛选张力为690MPa(或1%光纤应变),持续时间约1s3.5单位长度重量
不大于1kg/km。
数值孔径
0.20±0.02
0.20±0.02
0.20±0.02
0.23±0.02
0.23±0.02
0.23±0.02
3.6衰减常数
SJ20223-92
光纤在1310士20nm波长时的衰减常数为:≤1.0dB/km;光纤在850±10nm波长时的衰减常数为:≤3.0dB/km。3.7数值孔径
光纤在850nm波长时的有效数值孔径为:0.20±0.02或0.23±0.02。3.8带宽
光纤在1310士20nm波长时的带宽为:≥500MHz·km;光纤在850士10nm波长时的带宽为:≥200MHz·km。3.9浸渍
不适用。
3.10温度范围
光纤的使用温度范围为:一55~85℃;光纤的贮存温度范围为:一55~85℃。3.11耐核辐照
不适用。
3.12零件号(见图1))
Jxxx/xx-01;
Jxxx/xx-02;
Jxxx/xx-03;
Jxxx/xx-04;
Jxxx/xx-05;
Jxxx/xx-06。
4质量保证规定
4.1鉴定检验
鉴定检验应由表1所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2质量一致性检验
4.2.1A组检验
A组检验应由表2所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2.2B组检验
B组检验应由表3所规定的检验组成,并应按所示顺序进行。4.2.3C组检验
C组检验应由表4所规定的检验组成,并应按所示顺序进行,C组检验的周期为12个月。表1鉴定检验
外观和尺寸
张力筛选
衰减常数
试样长度m
试样数量(根)
衰减均匀性
数值孔径
宏弯衰减
机械剥离性
温度循环
非稳态衰减
温度冲击
温度一湿度循环
加速老化
尺寸稳定性
柔软性bzxz.net
注:1)用经温度冲击的试样;
2)在经1组检验后的试样上截取。检
外观和尺寸
张力筛选
轰减常数
衰减均匀性
数值孔径
温度循环
宏弯衰减
非稳态衰减
机械剃离性
柔软性
SJ20223—92
续表1
试样长度m
表2A组检验
表3B组检验
试样数量(根)
试样长度m
试样长度
温度冲击
温度一湿度循环
加速老化
尺寸稳定性
附加说明:
SJ20223—92
表4C组检验
试样长度m
本标准由中国电子工业总公司提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。试样数量(根)
本标准由机械电子工业部第二十三研究所、中国电子技术标准化研究所负责起草。本标准起草人:严润生、黄浩显、王毅。计划项目代号:B02035。
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