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【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范

本网站 发布时间: 2024-07-05 05:54:32
  • SJ20282-1993
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 20282-1993

  • 标准名称:

    半导体集成电路 JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1993-05-11
  • 实施日期:

    1993-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    578.03 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    石油>>石油综合>>E01技术管理

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    电子工业出版社
  • 页数:

    21页
  • 标准价格:

    19.0 元
  • 出版日期:

    1993-06-01

其他信息

  • 起草人:

    王静、孙人杰
  • 起草单位:

    中国电子技术标准化研究所和国营八七八厂
  • 归口单位:

    中国电子技术标准化研究所
  • 发布部门:

    中华人民共和国电子工业部
  • 相关标签:

    半导体 集成电路 详细 规范
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标准简介:

标准下载解压密码:www.bzxz.net

本规范规定了硅单片 JT54ls02、JT54ls27和JT54LS266型LS-TTL 或非门(以后简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20282-1993 半导体集成电路 JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范 SJ20282-1993

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ20282-97
JT54LS02、JT54LS27
JT54LS266型LS-TTL或非门
详细规范
Detail specificaion for types JT54LS02.JT54LS27and JT54LS266 NOR gates of LS-TTL semiconductor integrated circuits1993-05-11发布
1993-07-01实施
中华人民共和国电子工业部批准1范围
1.1主题内容
适用范围
1.3分类
2引用文件
3要求
3.1详细要求
设计、结构和外形尺寸
引线材料和涂覆
电特性
电试验要求
标志·
微电路组的划分
质量保证规定:
4.1抽样和检验
筛选·
鉴定检验
4.4质量一致性检验
4.5检验方法
5交货准备
5.1包装要求.
6说明事项
6.1订货资料.
6.2缩写、符号和定义
替代性·
-iiKAoNiKAca-
(25)
1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54L.S02、IT541S27、JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范SJ2028293
Detail specificationfor types JT54LS02、JT54LS27andJT54LS266NORgates ofLS-TTLscmiconductor integrated circuits1.1主题内容
本规范规定了硅单片JT54LS02、JT54LS27、JT54LS266型LS一TTL或非门(以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号
JT54LS02
JT54LS27
JT54LS266
1.3.1.2器件等级
器件名称
四2输入或非门
三3输入或非门
四2输入异或非门(OC)
器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。1.3.1.3封装形式
封装形式如下:
封装形式\
C20P3(陶瓷无引线片式载体封装)DI4S3((陶瓷双列封装)
F14X2((陶瓷扁平封装)
(H14×2陶瓷熔封扁平封装)
14S3(陶瓷熔封双列封装)
注:1)按GB7092《半导体集成电路外形尺寸》。中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实施
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
电源电压
输入电压
存温度
引线耐焊接温度(10s)
JT54LS02
功耗”
JT54LS27
JT54LS266
SJ20282—93
注:1)(应能承受测试「。时所增加的功耗。1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下:
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电压
输出截止态电压
输出高电平电流
输出低电平电流
工作环境温度
引用文件
JT54LS266
JT54LS02
JT54LS27
GB3431.1—82
GB3431.2—86
GB3439—82
GB4590—84
GB 4728.12-85
GB7092-
GJB548—88
GJB597—88
GJB ×× ×
规范值
VαOFF)
半导体集成电路文字符号
电参数文字符号
半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纳
iiKAoNKAca
3要求
3.1详细要求
SJ20282-93
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应按GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。JT54LS02
逻辑符号
逻辑图
JT54LS27
逻辑符号
D、F、HJ型
引出端排列
D、F、HJ型
2Y□6
引出端排列
212019
910111213
910111213
逻辑图
JT54LS266
逻辑符号
SJ20282-93
D、F、HJ型
引出端排列
iiKAoNirKAca=
910111213
逻辑图
3.2.2功能表
功能表如下:
JT54LS02
SJ20282-93
图1:逻辑符号、逻辑图和引出端排列JT54LS27
H一高电平:L一低电平:X一任意态:OFF一截止态。注:
3.2.3电原理图
JT54LS266
制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
输出高电平电压
输出低电平电压
输入钳位电压
最大输入电压时
输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2)
输出高电平时
电源电流
输出低电平时
电源电流
输出由高到低电平
传输延迟时间
输出由低到高电平
传输延迟时间
注:1)
SJ20282-93
表1—1JT54LS02的电特性
(若无其他规定、
55℃≤≤125℃)
Vcc=4.5V.Vu.=0.7V.
Ion=-400μA
Vc=4.5V,IoL=4mA.
Vcc= 4.5V, Ik= - 18mA,
TA=25C
Vu=5.5V,V,=7.0V
Vcc=5.5V,V,=2.7V
V.c=5.5V,V,=0.4VbzxZ.net
Ve=5.5V,V,=0V
Va=5.5V.V,=5.5V
Vcc=5.0V.CL=15pF,
RL=2kn
Voc= 5.0V,C,= 15pF,
完整的测试条件列于表3。
每次只短路一个输出端。
表1-2JT54LS27的电特性
输出高电平电压
输出低电平电压
输入猎位电压
(若无其他规定,
-55C≤TA≤125C)
Vcc=4.5V,Vn.=2.0V,
loH=-400μA
Vcc=4.5V,Iol.=4mA
Vcc=4.5V,Iik=-18mA,
iiKAoNKAca
最大输入电压时
输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2)
输出高电平时
电源电流
输出低电平时
电源电流
输出由高到低电平
传输延迟时间
输出由低到高电平
传输延迟时间
SJ20282-93
续表1—2
(若无其他规定,
55CTA≤125C)
Voc=5.5V,V,=7.0V
Vce=5.5V,V,=2.7V
Voc*5.5V, V,= 0.4V
Ve=5.5V,V,=0V
Voc=5.5V,V,=5.5V
Vcc=5.0V,C,=15pF,
Rt=2ka
Vcc=5.0V,C,-15pF,
R,=2ka
注:1)
完整的测试条件列于表3。
每次只短路一个输出端。
表1--3JT54I.S266的电特性
输出低电平电压
输入位电压
输出截止态电流
最大输入电压时
输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
电源电流
输出由高到低电平
传输延迟时间
输出由低到高电平
传输延迟时间
lorOFF)
(若无其他规定、
-55℃≤≤125℃)
Voc=4.5V,loL=4mA,
Vcc=4.5V.k=-18mA,
TA=25C
Vcc=4.5V,Vm=2.0V.
Vcc=5.5V.V,=7.0V
Vcc=5.5V,V,=2.7V
Vc=5.5V,V,=0.4V
Vcc = 5.0V, C, = 15pF,
Va= 5.0V, C.=15pF.
Ri=2kn
注:1)完整的测试条件列于表3。3.5电试验要求
SJ20282-93
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组,各个分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求
中间(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
最终电测试
A组试验要求
C组终点电测试
C组检验增的电试验分组
D组终点电测试
注:1)
B级器件
A2,A3,A9
A1,A2,A3,A9,A10,A11
A1,A2,A3
不要求
Al,A2,A3
该分组要求PDA计算(见4.2条)。分组(见表3)
BI级器件
A2,A3,A9
AI,A2,A3,A9
A1,A2,A3
表3—1JT54LS02的电测试
引用标准
GB3439
(若无其他规定,T=25C)
Vcc=4.5V,被测门所有输入Va=0.7V,其余所有输入V,=5.5V。被测输出IoH=-400μAVcc=4.5V.被测门一个输入Vm=2.0V其余所有输入V,=0V.被测输出Io.=4mAVcc=4.5V,被测输入Ik=-1.8mA
Vcc=5.5V被测输入V,=7.0V其余所有输人V,=0VVcc=5.5V.被测输入V,=2.7V.其余所有输人V,=0VVcc=5.5V.被测输大Vi=0.4V,其余所有输大Vr-V
Vcc=5.5V.被测门所有输入V,=0V.其余所有输入开路Vcc=5.5V所有输人V,=0V,输出端开路Vcc=4.5V.所有输入V,=5.5V,输出端开路TA=125C,参数、条件、规范值均同A1分组TA
55C参数、条件、规范值均同AI分组3.5条
Vcc=5.0V.本规范图2,非被测输入V,=0VTA=125C,Vcc=5.0V,本规范图2,非被测输V,=oV
-55℃,参数、条件和规范值均同A10分组。A,B-Y
iiKAoNKAca-
规范值
引用标准
GB3439
SJ20282-93
表3—2JT54LS27的电测试
(若无其他规定,TA=25)
Vcc=4.5V,被测门所有输入Vn=0.7V,其余所有输入V,=5.5V.被测输出1oH=-400μAVcc=4.5V,被测门一个输入Vm=2.0V,其余所有输入V,=0V.被测输出1o=4mAVcc=4.5V,被测输入Iik=-1.8mA
Vcc=5.5V,被测输入V,=7.0V,其余所有输入V,=0VVcc=5.5V,被测输入V,=2.7V.其余所有输入V,=0VVcc=5.5V,被测输大V,=0.4V,其余所有输大VSV
Vec=5.5V,被测门所有输入V,=0V,其余所有输入开路Vcc=5.5V.所有输入V,=0V,输出端开路Vcc=5.5V.所有输入V,=4.5V.输出端开路T^=125C,参数、条件、规范值均同A1分组TA
LooFF)
一55C,参数、条件、规范值均同A1分组3.5条
Vcc=5.0V,本规范图2,非被测输入V=0VT=125C,Vcc=5.0V本规范图2.非被测输V,=0v
55C,参数、条件、规范值均同A10分组表3—3JT54LS266的电测试
引用标准
GB3439
(若无其他规定,T^=25℃)
A,B,C-+)
A,B,C-→Y
Vcc=4.5V其东所有输
被测门所有输入Vu=0.7V
V,=5.5V.被测输出Vo=
被测门所有输大VmH=2.
Vcc=4.5V.被测门一个输入V.=0.7V.另一输人规范值
规范值
Vm=2.0V,其余所有输入V,=5.5V.被测输出Iol=4mAVcc=4.5V,被测输人Ik=-1.8mA
Vcc=5.5V.被测输入V,=7.0V.其余所有输入V,=0VVcc=5.5V.被测输入V,=2.7V,其余所有输入V,=0VVcc-5.5V.故测输大-V1=0:4V.其余所有输大V/=5.SV
Vcc=5.5V每门一个输入V,=4.5V,另-输入V,=0VTA=125℃,参数、条件、规范值均同A1分组最大
引用标准
GB3439
SJ20282-93
续表3—3
(若无其他规定,T=25℃)
55℃,参数、条件、规范值均同A1分组3.5条
Vcc=5.0V,本规范
T=125℃.
本规范图2
非被测输入V,=0V
非被测输入V,=2.7V
非被测输入V,=0V
非被测输入V,=2.7V
TA=-55C,参数、条件、规范值均同A10分组JT54LS02、JT54LS27
负载线路
浏试点
接黑件
AB-→Y
规范值
波形图
-iiKAoNiKAca-
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