- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 电子行业标准(SJ) >>
- SJ 2722-1986 2CZ306型硅块开关整流二极管详细规范

【电子行业标准(SJ)】 2CZ306型硅块开关整流二极管详细规范
本网站 发布时间:
2024-07-13 16:38:35
- SJ2722-1986
- 现行
标准号:
SJ 2722-1986
标准名称:
2CZ306型硅块开关整流二极管详细规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1986-10-24 -
实施日期:
1987-10-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
492.77 KB

点击下载
标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
在彩色电视机及其它无线电电子设备中作中速开关或整流用。 SJ 2722-1986 2CZ306型硅块开关整流二极管详细规范 SJ2722-1986

部分标准内容:
中华人民共和国电子工业部部标准2CZ306型硅快开关整流二极管详细规范中华人民共和国电子工业部
器件质量评定是根据:
GB4936.1-85
《半导体分立器件总规范》
2CZ306型硅快开关整流二极管详细规范订货资料:见本规范第7章
1机械说明
外形符合GB7581—87中D2-10A
的要求(见本规范第10.2条)
SJ2722-86
2略说明
半导体材料:N型硅单晶
封装,非空腔玻璃钝化封装
SJ2722—86
应用:在彩色电视机及共它无线电电子设备中作快速开关或整流用3质量评定类别
参考数据:
2CZ306H
2CZ3061
22Z306J
2CZ306K
2CZ306L
中华人民共和国电子工业部1986—10-24发布1
Ip(Av)
(us)
1987—10-01实施
极限值(绝对最大额定值)
SJ2722-8S
除非另有规定,这些极限值在整个工作环境温度范围内适用。条款号
工作环境温度
些存温度
有效结温
反向重复峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
反向工作峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
反向不重复峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
正向平均电流
在规定的转折点温度Tbrea下的平均正向电流(见本规范10.1条)
测试电路为电阻性负载的单相电路。正弦波的导通角为180
正向(不重复)浪涌电流
正向(不重复)浪涌电流额定值为:在最大平灼正向电流下连续工作之后所加的正弦半波电流(50IIz、10ms)的最大值,
试验时不剂反向电压
IF(AV)
最小值
最大頭
5电特性
检验要求见本规范第8章
特性和条件
条款号
6标志
SJ2722-86
除非另有规定,Tamb=25℃
(见总规范第4章)
正向电压
正向峰值电压
所加正向峰值电流为倍最大
正向平均电流。“”取3。
反向电流
在VRRM下的最大反向峰值
电流(正弦半波,50Hz)
T.mb=25℃,无正向耗散
T.mb=150℃,无正向耗散
反向恢复时间
测试时,Ip=50mA
VR=10VR=759
脉冲前沿小于0.1μs
引线长度:10mm,散热铜
箔面积,5mm×5mm
6.1器件上的标志
Rer(j-a)
最小值
最大值
试验组别
6.1.1负极和电压标志在管体负极端标一色环,表示二极管极性,色环的颜色表示电压等级:
VRRM(V)
6.1.2恢复时间和电流标志在负极标志旁绕管体标三个黑色色点,表示反向恢复时间小于1.0μs,黑色表示正向平均电流为0.5A(见本规范第10.2条)。6.2包装盒(箱)上的标志
制造厂商标,
器件名称、型号、质量类别标志,c。检验批识别代码,
d.其它。
订货资料
订购本产品至少需要以下资料:a,产品名称、型号、质量类别;b。订货数量,
c.产品详细规范号;
d。其它。
试验条件和检验要求
SJ2722-88
本章中,除非另有规定,引用的条款号对应于总规范GB4936.1一85的条款号,测试方法引自GB4936.1-85的6.1.1款。A组一逐批
所有试验都是非破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
A1分组
外观检查
A2a分组
不工作器件
A2b分组
A3分组
引用标准
除非另有规定,Tb=25℃
(见总规范第4章)
IFM=1.5A,tp=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50z)
IpM=1.5A,tp=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
p=50mA
脉冲前治小于0.1μs
最小值最大值
极性颠倒
SJ2722-86
B组一逐批
只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
B1分组
B3分组
引用标准
引线弯曲(D)GB4937-85
B4分组
可捍性
B5分组
温度变化
继之以
GB4937--85
GB4937-85
交变湿热(D)IEC68-2-30
最后测试
同A2b分组
B8分组
电耐久性
GB4938--85
最后测试
CRRL分组
除非另有规定,T=25℃
(见总规范第4章)
试验采用方法1
受试引线数:2
外加力:5N
优先采用焊槽法
受试引线数:2
其它要求见本规范附录A
循环次数:
严格度:1
采用方式2
Tg=100℃
严格度:55℃
循环次数:2次
工作寿命
Ip(Av)0.5.A,to=1ms
VRM-VRRM
时间:168h
试验时,夹具夹在距管
体10~15mm的引线上。
Ipm=1.5A,t=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
B3、B4、B5和B8分组的属性资料检
最小值
最大值
无损坏
润湿良好
SJ2722-86
C组一周期
只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
C1分组
C2b分组
C2c分组
最后测试
同A26分组
引用标准
除非另有规定,Tmb=25℃
(见本规范第4章)
本规范
附录能
T.mb=150℃
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
Tamb= 40 C
LPSM=30A
周波数和浪源数均为1
C4分组
耐焊接热(D)
GB4937—85
最后测试
同A2b分组
CT分组
交变湿热D)IEC68—2-30
最后测试
同B8分组
C8分组
电耐久性
最后测试
同B8分组
C9分组
高温爬存(D)
最后测试
B8分组
GB4938—85
GB4937—85
C11分组
标志耐久性GB4937-85
CRRL分组
采用方法1A
采用方式2
严籍度:55℃
循环次数:6次
工作寿命
时简不少于1000h
其它条件同B8分组
Tstg=165℃
时间不少于100h
试验采用方法2
溶液:100%兰氯乙烯
检验要求
最小值
最大值
见GB4937—85
C4、C5、C7、C8、C9和C11分组的属性资料单
D组检验(不适用)
10附加资料
电流降额曲线
Jear)ca>
10.2外形图
恢复时间和电流标志
SJ2722-86
159Tam6(C)
电流降额曲线
负极和电压标志
单位:mm
最小值
标称值
图2外形图
最大值
A.1加速老化
SJ2722-86
附景A
可焊性试验的补充要求
(补充件)
对于在器件制成后,又进行沾锡(或镀锡)的器件,需做加速老化。其条件是:100℃水蒸汽中置放1小时。
A.2试验方法
a。优先采用焊槽法。
b.必要时,可采用润湿称量法。按国家标准GB2423.32-85《电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法的可焊试验方法》进行。润湿过程,按使用非活性焊剂时,在3秒钟内达到理论润湿的35%。附录B
正向(不重复)浪涌电流测试方法(补充件)
B.1目的
在规定条件下,验证二极管正向(不重复)浪涌电流的额定值。正向(不重复)浪涌电流测试电原理图如下:B.2电路图
B.3电路说明和要求
8.3.1电路说明
电路图
P1为测试通过被测二极管正向平均电流的仪表P2为峰值读数仪表或示波器等
为被测二极管。
为取样电阻。
为正向平均电流的调定电阻。
R2为浪涌电流的调定电阻。
S为控制器。
SJ2722-86
G1为向被测管提供正向平均电流的电源。G2为向被测管提供正向浪涌电流的电源。B.3.2电路要求
流过被测管的正向平均电流应与正向浪涌电流相位一致(见图B2)I(A)
图B2IrsM与I的相位示意图
IFS-正向浪涌电流
IPM正向峰值电流
B.4测试步骤
将G1和G2两电源都调至零。
将被测管按其极性标志插入测试台的管座,并检查环境温度。调节G1和R1,使P1上测得的正向平均电流达到规定值。调节G2和R2,使P2上测得的峰值电压达到规定值,此时正向浪涌电流也达到规定值。
开启控制器,按B.5规定的条件对被测管施加正向浪涌电流。根据试验后的测试来验证被测管承受正向浪涌电流额定值的能力。B.5规定条件
正向浪涌电流的数值,Www.bzxZ.net
每次浪涌的周波数、浪涌次数和重复率,环境温度,
试验后测试项目、极限值、测试条件。9
附加说明:
国内型号
SJ2722-86
附录C
国内外型号参考对照表
(参考件)
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306K
2CZ306L
本标准由中国电子技术标准化研究所提出。本标准由天津第三半导体器件厂负责起草。国外型号
本标准主要起草人:王思平、孙志昌、黄宗芬、李新华。-10
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
器件质量评定是根据:
GB4936.1-85
《半导体分立器件总规范》
2CZ306型硅快开关整流二极管详细规范订货资料:见本规范第7章
1机械说明
外形符合GB7581—87中D2-10A
的要求(见本规范第10.2条)
SJ2722-86
2略说明
半导体材料:N型硅单晶
封装,非空腔玻璃钝化封装
SJ2722—86
应用:在彩色电视机及共它无线电电子设备中作快速开关或整流用3质量评定类别
参考数据:
2CZ306H
2CZ3061
22Z306J
2CZ306K
2CZ306L
中华人民共和国电子工业部1986—10-24发布1
Ip(Av)
(us)
1987—10-01实施
极限值(绝对最大额定值)
SJ2722-8S
除非另有规定,这些极限值在整个工作环境温度范围内适用。条款号
工作环境温度
些存温度
有效结温
反向重复峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
反向工作峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
反向不重复峰值电压
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306J
2CZ306K
2CZ306L
正向平均电流
在规定的转折点温度Tbrea下的平均正向电流(见本规范10.1条)
测试电路为电阻性负载的单相电路。正弦波的导通角为180
正向(不重复)浪涌电流
正向(不重复)浪涌电流额定值为:在最大平灼正向电流下连续工作之后所加的正弦半波电流(50IIz、10ms)的最大值,
试验时不剂反向电压
IF(AV)
最小值
最大頭
5电特性
检验要求见本规范第8章
特性和条件
条款号
6标志
SJ2722-86
除非另有规定,Tamb=25℃
(见总规范第4章)
正向电压
正向峰值电压
所加正向峰值电流为倍最大
正向平均电流。“”取3。
反向电流
在VRRM下的最大反向峰值
电流(正弦半波,50Hz)
T.mb=25℃,无正向耗散
T.mb=150℃,无正向耗散
反向恢复时间
测试时,Ip=50mA
VR=10VR=759
脉冲前沿小于0.1μs
引线长度:10mm,散热铜
箔面积,5mm×5mm
6.1器件上的标志
Rer(j-a)
最小值
最大值
试验组别
6.1.1负极和电压标志在管体负极端标一色环,表示二极管极性,色环的颜色表示电压等级:
VRRM(V)
6.1.2恢复时间和电流标志在负极标志旁绕管体标三个黑色色点,表示反向恢复时间小于1.0μs,黑色表示正向平均电流为0.5A(见本规范第10.2条)。6.2包装盒(箱)上的标志
制造厂商标,
器件名称、型号、质量类别标志,c。检验批识别代码,
d.其它。
订货资料
订购本产品至少需要以下资料:a,产品名称、型号、质量类别;b。订货数量,
c.产品详细规范号;
d。其它。
试验条件和检验要求
SJ2722-88
本章中,除非另有规定,引用的条款号对应于总规范GB4936.1一85的条款号,测试方法引自GB4936.1-85的6.1.1款。A组一逐批
所有试验都是非破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
A1分组
外观检查
A2a分组
不工作器件
A2b分组
A3分组
引用标准
除非另有规定,Tb=25℃
(见总规范第4章)
IFM=1.5A,tp=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50z)
IpM=1.5A,tp=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
p=50mA
脉冲前治小于0.1μs
最小值最大值
极性颠倒
SJ2722-86
B组一逐批
只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
B1分组
B3分组
引用标准
引线弯曲(D)GB4937-85
B4分组
可捍性
B5分组
温度变化
继之以
GB4937--85
GB4937-85
交变湿热(D)IEC68-2-30
最后测试
同A2b分组
B8分组
电耐久性
GB4938--85
最后测试
CRRL分组
除非另有规定,T=25℃
(见总规范第4章)
试验采用方法1
受试引线数:2
外加力:5N
优先采用焊槽法
受试引线数:2
其它要求见本规范附录A
循环次数:
严格度:1
采用方式2
Tg=100℃
严格度:55℃
循环次数:2次
工作寿命
Ip(Av)0.5.A,to=1ms
VRM-VRRM
时间:168h
试验时,夹具夹在距管
体10~15mm的引线上。
Ipm=1.5A,t=1ms,8=2%
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
B3、B4、B5和B8分组的属性资料检
最小值
最大值
无损坏
润湿良好
SJ2722-86
C组一周期
只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6)条
检验或试验
C1分组
C2b分组
C2c分组
最后测试
同A26分组
引用标准
除非另有规定,Tmb=25℃
(见本规范第4章)
本规范
附录能
T.mb=150℃
VRM=VRRM(正弦半波,50Hz)
Tamb= 40 C
LPSM=30A
周波数和浪源数均为1
C4分组
耐焊接热(D)
GB4937—85
最后测试
同A2b分组
CT分组
交变湿热D)IEC68—2-30
最后测试
同B8分组
C8分组
电耐久性
最后测试
同B8分组
C9分组
高温爬存(D)
最后测试
B8分组
GB4938—85
GB4937—85
C11分组
标志耐久性GB4937-85
CRRL分组
采用方法1A
采用方式2
严籍度:55℃
循环次数:6次
工作寿命
时简不少于1000h
其它条件同B8分组
Tstg=165℃
时间不少于100h
试验采用方法2
溶液:100%兰氯乙烯
检验要求
最小值
最大值
见GB4937—85
C4、C5、C7、C8、C9和C11分组的属性资料单
D组检验(不适用)
10附加资料
电流降额曲线
Jear)ca>
10.2外形图
恢复时间和电流标志
SJ2722-86
159Tam6(C)
电流降额曲线
负极和电压标志
单位:mm
最小值
标称值
图2外形图
最大值
A.1加速老化
SJ2722-86
附景A
可焊性试验的补充要求
(补充件)
对于在器件制成后,又进行沾锡(或镀锡)的器件,需做加速老化。其条件是:100℃水蒸汽中置放1小时。
A.2试验方法
a。优先采用焊槽法。
b.必要时,可采用润湿称量法。按国家标准GB2423.32-85《电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法的可焊试验方法》进行。润湿过程,按使用非活性焊剂时,在3秒钟内达到理论润湿的35%。附录B
正向(不重复)浪涌电流测试方法(补充件)
B.1目的
在规定条件下,验证二极管正向(不重复)浪涌电流的额定值。正向(不重复)浪涌电流测试电原理图如下:B.2电路图
B.3电路说明和要求
8.3.1电路说明
电路图
P1为测试通过被测二极管正向平均电流的仪表P2为峰值读数仪表或示波器等
为被测二极管。
为取样电阻。
为正向平均电流的调定电阻。
R2为浪涌电流的调定电阻。
S为控制器。
SJ2722-86
G1为向被测管提供正向平均电流的电源。G2为向被测管提供正向浪涌电流的电源。B.3.2电路要求
流过被测管的正向平均电流应与正向浪涌电流相位一致(见图B2)I(A)
图B2IrsM与I的相位示意图
IFS-正向浪涌电流
IPM正向峰值电流
B.4测试步骤
将G1和G2两电源都调至零。
将被测管按其极性标志插入测试台的管座,并检查环境温度。调节G1和R1,使P1上测得的正向平均电流达到规定值。调节G2和R2,使P2上测得的峰值电压达到规定值,此时正向浪涌电流也达到规定值。
开启控制器,按B.5规定的条件对被测管施加正向浪涌电流。根据试验后的测试来验证被测管承受正向浪涌电流额定值的能力。B.5规定条件
正向浪涌电流的数值,Www.bzxZ.net
每次浪涌的周波数、浪涌次数和重复率,环境温度,
试验后测试项目、极限值、测试条件。9
附加说明:
国内型号
SJ2722-86
附录C
国内外型号参考对照表
(参考件)
2CZ306H
2CZ3061
2CZ306K
2CZ306L
本标准由中国电子技术标准化研究所提出。本标准由天津第三半导体器件厂负责起草。国外型号
本标准主要起草人:王思平、孙志昌、黄宗芬、李新华。-10
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

标准图片预览:





- 热门标准
- 电子行业标准(SJ)标准计划
- SJ/T11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
- SJ/T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
- SJ2242-1982 散热器强制风冷热阻测试方法
- SJ/T11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
- SJ/T11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
- SJ/T11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片
- SJ/T11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
- SJ20965-2006 光电器件用氧化铍陶瓷载体规范
- SJ/T11410-2009 九针点阵式打印机芯通用规范
- SJ/T11407.1-2009 数字接口内容保护系统技术规范 第1部分:系统结构
- SJ/T11395-2009 半导体照明术语
- SJ/T11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
- SJ/T11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范
- SJ/T10631-1995 工艺文件的编号
- SJ51919/5-2002 JGL30-2.5-01型舰用两芯多模光缆连接器详细规范
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:[email protected]
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1