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- SJ 1947-1981 2CZ(2DZ)32B、2CZ(2DZ)33B型硅电源整流二极管
标准号:
SJ 1947-1981
标准名称:
2CZ(2DZ)32B、2CZ(2DZ)33B型硅电源整流二极管
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1981-01-03 -
实施日期:
1982-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
249.27 KB
部分标准内容:
中华人民共和国第四机械工业部部标准28z33B型硅电源整流极二管
SJ1947-81
本标准适用于2D
Z32B型玻璃封装及2GZ33B型塑料封装硅功率二极管。该产品主要用于低压电源电视机作电源整流。1该产品除按标准规定外,还应符合SJ90874《半导体二极管(二类)总技术条件》的规定。
2.产品的外形尺寸应符合部标SJ206一81《半导体二极管外形尺寸》EM-3型(玻封)或EL-6型(塑封)的规定。3。技术要求和试验方法:
3.1产品电参数应符合规范表的规定。3.1产品电参数的测试方法应符合本标准的规定(见附录)。3.3高温反向平均电流试验方法
3.3.1高温反向平均电流试验方法1产品在温度为100士2℃下,恒温20分钟后,加反向重复峰值电压及规定的正向平均电流(按温度负荷曲线规定的比例值),工作1分钟时,测试反向平均电流。3.3.2高温反向平均电流试验方法I产品在最高结温Tjr下,恒温20分钟后,加反向重复峰值电压,工作1分钟时,测试反向平均电流。
注,交收试验时应采取与之相应的测试方法。3.4浪涌电流(正向不重复峰值电流)试验方法产品在室温下,加反向重复峰值电压和正向平均电流工作10分钟后,施以正向不重复峰值电流。其条件为参数规范表所规定。3.5环境试验项目及顾序:此内容来自标准下载网
试验项目
测试LX类参数
振动强度试验
机械冲击试验
变频振动试验
热冲击试验
《半导体二极管(二类)
总技术条件》条款
中华入民共和国第四机械工业部1932-01-03发布本标准条款
3.1、3.2
1982-07-01实施
交变湿热试验
高温性能试验
低温性能试验
接端强度试验
易焊性试验
SJ1947—81
4(1)(3)
上述9、10的试验项目,允许用同一批电参数不合格的产品进行试验。环境试验后考核标准见SJ908--74第24、25条。3.5.1报动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验后,测量JS类电参数,以不超过参数规范表的规定值为合格。3.5.2交变湿热试验后,测量室温反向平均电流IR1,其值以不大于20μA为合格。3.5.3高温性能试验按本标准3.3.1或3.3.2条高温反向平均电流试验方法I或I工作30分钟后,测试反向平均电流IR2,其值以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.5.4低温(-40℃)性能试验后,测量低温正向平均电压VF,其值以不大于参数规范表规定值的120%为合格。
3.5.5接端强度试验按SJ908--74第4条(1)款中注②及③款的规定进行。3.5.6易焊性试验后,检查引线上沾锡面积应不小于90%。3.6短期寿命试验按SJ908--74第16、26条的规定进行。产品在室温下,加反向重复峰值电压及正向平均电流,试验后测量JS类电参数。VF以不大于参数规范表的规定值,IR2以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.7高温贮存试验后,测量JS类电参数。VF以不大于参数规范表规定值的120%,R2以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.8浪涌电流(正向不重复峰值电流)试验按本标准第3.4条进行。随机抽取经成品检验合格的产品10只,进行正向不重复峰值电流试验。试验后,产品在室温下放置2小时,然后按规定条件测量JS类电参数,其值以不大于参数规范表的规定值为合格。该试验每半年进行1次。试验后,允许有2只不合格。若该试验不合格时,应另抽取加倍数量产品进行该项试验,若仍有2只以上产品不合格时,则该批产品为不合格。3.9硅功率二极管温度负荷特牲曲线应符合图1或图2的规定。IF
150℃
图1玻封二极管温度负荷曲线
图2玻封二极管温度负荷曲线
3.10产品标志
SJ1947-81
3.10.1塑封二极管打印型号并在负根端标志色环如图3所示。也可采用3.10.2条玻封二极管的标志方法。
3.10.2玻封二极管在负极端标志色环表示极性及电流等级;以色环的色泽表示电压等级,如图4所示。
电压等级(V):100
泽:棕
—电流等设标落
厂餐板
$J194761
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SJ1947-81
本标准适用于2D
Z32B型玻璃封装及2GZ33B型塑料封装硅功率二极管。该产品主要用于低压电源电视机作电源整流。1该产品除按标准规定外,还应符合SJ90874《半导体二极管(二类)总技术条件》的规定。
2.产品的外形尺寸应符合部标SJ206一81《半导体二极管外形尺寸》EM-3型(玻封)或EL-6型(塑封)的规定。3。技术要求和试验方法:
3.1产品电参数应符合规范表的规定。3.1产品电参数的测试方法应符合本标准的规定(见附录)。3.3高温反向平均电流试验方法
3.3.1高温反向平均电流试验方法1产品在温度为100士2℃下,恒温20分钟后,加反向重复峰值电压及规定的正向平均电流(按温度负荷曲线规定的比例值),工作1分钟时,测试反向平均电流。3.3.2高温反向平均电流试验方法I产品在最高结温Tjr下,恒温20分钟后,加反向重复峰值电压,工作1分钟时,测试反向平均电流。
注,交收试验时应采取与之相应的测试方法。3.4浪涌电流(正向不重复峰值电流)试验方法产品在室温下,加反向重复峰值电压和正向平均电流工作10分钟后,施以正向不重复峰值电流。其条件为参数规范表所规定。3.5环境试验项目及顾序:此内容来自标准下载网
试验项目
测试LX类参数
振动强度试验
机械冲击试验
变频振动试验
热冲击试验
《半导体二极管(二类)
总技术条件》条款
中华入民共和国第四机械工业部1932-01-03发布本标准条款
3.1、3.2
1982-07-01实施
交变湿热试验
高温性能试验
低温性能试验
接端强度试验
易焊性试验
SJ1947—81
4(1)(3)
上述9、10的试验项目,允许用同一批电参数不合格的产品进行试验。环境试验后考核标准见SJ908--74第24、25条。3.5.1报动强度试验、机械冲击试验、变频振动试验、热冲击试验后,测量JS类电参数,以不超过参数规范表的规定值为合格。3.5.2交变湿热试验后,测量室温反向平均电流IR1,其值以不大于20μA为合格。3.5.3高温性能试验按本标准3.3.1或3.3.2条高温反向平均电流试验方法I或I工作30分钟后,测试反向平均电流IR2,其值以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.5.4低温(-40℃)性能试验后,测量低温正向平均电压VF,其值以不大于参数规范表规定值的120%为合格。
3.5.5接端强度试验按SJ908--74第4条(1)款中注②及③款的规定进行。3.5.6易焊性试验后,检查引线上沾锡面积应不小于90%。3.6短期寿命试验按SJ908--74第16、26条的规定进行。产品在室温下,加反向重复峰值电压及正向平均电流,试验后测量JS类电参数。VF以不大于参数规范表的规定值,IR2以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.7高温贮存试验后,测量JS类电参数。VF以不大于参数规范表规定值的120%,R2以不大于参数规范表规定值的150%为合格。3.8浪涌电流(正向不重复峰值电流)试验按本标准第3.4条进行。随机抽取经成品检验合格的产品10只,进行正向不重复峰值电流试验。试验后,产品在室温下放置2小时,然后按规定条件测量JS类电参数,其值以不大于参数规范表的规定值为合格。该试验每半年进行1次。试验后,允许有2只不合格。若该试验不合格时,应另抽取加倍数量产品进行该项试验,若仍有2只以上产品不合格时,则该批产品为不合格。3.9硅功率二极管温度负荷特牲曲线应符合图1或图2的规定。IF
150℃
图1玻封二极管温度负荷曲线
图2玻封二极管温度负荷曲线
3.10产品标志
SJ1947-81
3.10.1塑封二极管打印型号并在负根端标志色环如图3所示。也可采用3.10.2条玻封二极管的标志方法。
3.10.2玻封二极管在负极端标志色环表示极性及电流等级;以色环的色泽表示电压等级,如图4所示。
电压等级(V):100
泽:棕
—电流等设标落
厂餐板
$J194761
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