【电子行业标准(SJ)】 信息处理－直径为２６６和３５６ｍｍ，每道１０７５００位磁通翻转的数据存储用磁盘盘片

中华人民共和国电子工业推荐性部标准信息处理-—-直径266mm和
365mm，每道107500位磁通翻
转的数据存储用磁盘盘片
SJ/Z9046—87
1So6902-1984
Information processingMagnetic disk for data storage devices—107500fluxtransitionspertrack,263mmand356mmdiameter1适用范围
本标准对未涂润滑剂的磁盘盘片的机械性能、物理性能和磁性能作出规定。它用于数据存储设备中。
本标准对该盘片的具体要求作出规定，以便使之能在每道107500次磁通翻转时具有良好的性能。
当用于其它密度，如每道161250次磁通翻转时、为了获得相同的性能，要改变机械，磁和电的部分规范。
规定了A和B两种类型。这两种类型的磁性能是相同的，并以同一个标准基准面为基准。它们所不同的仅仅是外径和某些有关的数据。当盘片满足A型或B型的全部要求时，该盘片就与本标准一致。引用标准
ISO1302《工程制图一在图上指示表面特征的方法》。3一般要求
3.1工作环境和存放环境
3.1.1工作环境
盘片周围空气的工作温度应为15～57℃，其相对湿度为8%～80%。湿球温度不应超过26℃。盘片周围的空气洁净度应为100级（见附录A）。3.1.2存放环境
存放温度应为-40～60℃，其相对湿度为8%～80%。湿球温度不应超过30℃。在任何情况下，盘片上不得凝露。应尽量避免在上述极限条件下存放。温度变化率不应超过10℃/h。为防止损坏数据，盘片表面周围的杂散磁场强度不应超过4000A/m。有磁头时，考虑到磁头铁芯的集聚效应，周围环境总的磁场强度还应减少。中华人民共和国电子工业部1987-·10—22批准Ss/Z9046--87
注，通常元牛的环境磁场强度上眼值在300～2000A/m范围内，5.2测试条件
除另有规定外，应在23±8℃，相对湿度为40%～60%的条件下进行测试。测试前应使盘片适应环境一段时间。在此期间内，盘片上不应凝露。用磁头进行测试时，应在空气洁净度100级条件下进行。
3.3材料
只要符合本标准规定的尺寸、惯量及其他功能要求，盘片可以用任何合适的材料制成。
3.4热膨胀系数
盘片材料的热膨胀系数应为
AL-1Lo.L1K1~=(24±1)×10-°K-1LAT
试样长度L为：
L-Lo+Lis
式中：L?和L1s分别为57℃和15℃时的试样长度。3.5盘面标志
磁头和盘片之间相对运动的方向应符合要求。作逆时针方向旋转的盘片表面上应有标志。
4尺寸（图1～3）
测量下述诸半径时，盘片应安装在基准轮毂（图1）上。在23士0.5℃下测得的该轮毂直径应为：
d.,-18,2508.010m
另一外半径为：
r.=90.5±0.1mm
所有半径均以该基准轮毂的对称轴线为基准。基准轮毂材料的热膨胀系数在3.4中规定。
4.1内径
在23±0.5℃下测得的盘片内径应为：da=168.280+0.051mm
盘片内圆必须位于半径差为公差值25m的两同心圆之间。4.2外径
盘片的外径应为，
对A型：
ds^=356.24±0.13mm
对B型：
daB=266.70±0.13mm
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盘片外圆必须位于半径差为公差值25um的两同心圆之间。4.3同轴度
盘片外圆柱面的轴线必须位于直径为50μm，且与内圆柱面轴线同轴的圆柱面内。4.4厚度
盘片的厚度应为：
e=1.905±0025mm
4.5边缘倒角（见图8）
盘片应在盘面边缘处倒角。倒角后，盘片的轮应在两个盘面延伸面之内。从盘片边缘起，倒去的距离为：
1≤13mm
为避免不平衡，圆周上所有倒角应完全相同。4.6紧固区域
盘片两面均有一个没有磁层的紧固区。它位于内缘圆周和以，为半径的圆周之间。半径.为：
r.>91.0mm
在r与倒角开始处这一*范围内，盘片厚度的变化量不应超过7.5μm。4.7磁层面的位置
在盘片两面，磁头可浮动其上的整个磁层面应从内半径r。直延伸到外半径t。rg<94.0mm
对A型：
r.A≥176.0mm
对B型：
r4B≥131.4mm
物理性能
5.1转动惯量
盘片的转动惯量不应超过：
对A型：8.0gm2
对B型，2.5gm2
5.2最高转速
盘片应能承受4000r/min的转速下所产生的应力。，3
5.3偏摆
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为测量轴向偏摆、轴向偏摆速度和轴向偏摆加速度，应按照5.3.1的要求紧固和驱动盘片。
在半径r。与r4之间这段区域内应满足5.3.2、5.3.3和5.3.4中的要求。5.3.1测试主轴的要求和紧固条件（图1）把盘片紧固到基准轮毅上所用的紧固力为：F=1500±200N
它应均匀地施加到r。和r之间的盘片环形表面上。其中：
re=86.5mm
re=90.4mm
在基准轮毂上用于安装盘片部位的表面粗糙度应为ISO1302中规定的N5级（最大算术偏差0.4μm）。
当基准轮毂以任意转速、但不超过最高转速（见5.2）旋转时，其轴向偏摆不应超过1.0μm。
基准轮毂相对于其旋转中心的径向偏摆，即指示器总读数，应包括在半径r的公差之内。
5.3.2轴向偏摆
当盘片以任意转速、但不超过最高转速（见5，2）旋转时，轴向偏摆指示器总读数不应超过0.10mm。而且，盘片每个面的所有点都应位于垂直于基准轮毂轴线的两个相距0.10mm的平面之间。
试图把本规定用于磁盘平面度测量时，一定要消除由于重力引起的重力下垂。5.3.3轴向偏摆速度
盘片转速为3600土36r/min时，记录盘面的轴向偏摆速度不应超过51mm/s。测量时，带宽应由低通滤波器确定。该滤波器的截止频率为2.2kHz其高频衰减率为18dBoct。探测头的直径应为1.7mm。5.3.4轴向偏摆加速度
盘片转速为3300土36r/min时，轴向偏摆加速度不应超过51m/s。测量时，带宽应由低通滤波器确定。该滤波器的截止频率为5kHz，其高频衰减率为18dB/oct。探测头的直径应为1.7mm。
5.3.5径向偏摆
盘片径向偏摆取决于内圆和外圆的同轴度（见4.3）和圆度（见4.1和4.2），以及取决于盘片在设备中的紧固情况。因此，本标准中不予规定。5.4表面粗糙度
5.4.1磁层面
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当用半径为2.5μm的探针，压力取为0.5mN时，在最大取样长度75um的范围内测量时，抛光后的磁层面粗糙度的轮廓算术平均值应小于0.035μm，平均值与轮廓最大高度的偏差不应超过0.38Am。
抛光后的磁表面应有一个波纹状的表面。当用半径为2.5μm的探针、压力取为0.5mN时，在径向长度4.8范围内，并在最小取样长度250μm范围内测量时，其轮廊峰-峰值应小于0.15μm。
5.4.2紧固区域
当用半径为2.5μm的探针，压力取为0.5mN时，在最大取样长度750μm的范围内测量时，抛光后的紧固区表面粗糙度的轮廓算术平均值应小于0.8从m，平均值与轮最大高度的偏差不应超过2.0μm。
5.5磁层面的清洗方法
当用91%（按容积）的异丙醇和9%的蒸馏水或去离子水的混合剂清洗时，盘片的磁层面应无不良反应。
5.6磁层面的耐久性
磁层工作时应耐磨损，并保持附着力和抗磨料磨蚀的能力。5.7磁头与盘片问的浮动要求
作浮动检验时，磁头在半径r处的最小浮动高度为0.61m，而在半径r处它按比例增加到0.84μm。这时，盘片磁层面的缺陷不致引起擦盘。5.8放电通路
盘片应充许电荷从磁层面流到紧固区。6磁性能测试
6.1般条件
6.1.1转速
作任何测试时，其转速应为3600±36r/min。6.1.2环境杂散磁场
环境杂散磁场强度不应超过800A/m。6.2磁道和记录条件
6.2.1磁道宽度
测量时，有效磁道宽度应为：
51±4μm
在附录B中推荐一种有效磁道宽度的测量方法。6.2.2磁道间距
测试时采用的磁道中心线间距应为：51±2μm
6.2.3测试区
在磁道中心线以r为半径的最内侧磁道和以：为半径的最外侧磁道之间，均应进行.5.
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所有功能测试和磁道质量测试。其中，r,=101.2mm
对A型：
rgA=166.4mm
对B型：
rsB=124.7mm
6.2.4存取线的位置
存取线应在径向上。
6.2.5记录偏角
写入或读出时，磁通翻转轴线与存取线之间的角度最大可为60°。6.3标准基准面
6.3.1特征
标准基准面以下列三个测试半径的特性来表征。rg=107.96mm
ri.=124.00mm
r11=163.69mm
当使用测试磁头以2f频率（见6.9）记录时，测得的磁道平均辐度（见6.8）应为：在半径r。处：2.20mV，
在半径r1处：2.75mV：
在半径r11处：3.80mV。
当使用测试磁头以2f频率（见6.9）记录时，测得的磁道平均幅度（见6.8）应为在半径r。处：1.70mV，
在半径rlo处：2.15mV；
在半径r11处：3.00mV。
6.3.2二级标准基准面
二级标准基准面的输出电压与标准基准面的输出电压相关。其校正系数为Cp1（1/）和CD2（2f）。
幅度校正系数为：
标准基准面输出电压
三级标准基准面输出电压
Cpi和Cpa应在半径r.、rto和ri处测得。当用两个频率在三条磁道上测量时，合格的二级标准基准面的校正系数CD应满足0.906.4测试磁头
测试磁头应用标准基准面进行校正。用它可测量幅度和磁层面。注：关于合适的测试磁头资料，原从ISO/TC97秘书处或ISO中央秘书处获得。.6.
6.4.1缝隙宽度
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记录缝隙的宽度（用光学方法测量）应为：50±2.5μm
6.4.2缝隙长度
记录缝隙的长度应为：
2.54±0.51um
6.4.3缝隙偏角
铁氧体铁芯的记录缝隙与磁头相应安装面之间的夹角最大可为30°。6.4.4浮动高度
当测试磁头在半径为。的磁道上方浮动时，磁头缝隙处的浮动高度应为0.89±0.05μm
6.4.5电感
频率为1MHz时，在空气中测得的磁头总电感应为23土2.3μH。每个绕组的电感应为6±0.6MH。
6.4.6谐振频率
在磁头引线插头座处测量时，磁头整个读写绕组的谐振频率应为10.7±1.3MHz。6.4.7分辨率
测试磁头在半径r。处的分辨率应为（76±5）%，在半径r11处应为（78±5）%。分辨率定义为：
2f辐度
1f幅度
6.4.8磁头加载力
磁头的净加载力应使磁头达到6.4.4中规定的浮动高度，它应为3.4±0.4N
6.4.9校正系数
应使用合适的测试磁头进行测量。合格的测试磁头在1/时的校正系数CH、在2/时的CHZ应满足0.90≤CHi≤1.10。在标准基准面上测量时，
标准基准面输出电压
实测的磁头输出电压
而在二级标准基准面上测量时，CHi=
6.4.10重写能力
标准基准面输出电压
（实测的磁头输出电压）×CD
磁头的重写能力应符合如下要求6.4.10.1步骤
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在标准基准面的半径r1处以1r写入，用选频电压表测出1f信号的平均幅度。不进行直流抹除，随后以2/重写一次，测出剩余的1f信号的平均幅度。6.4.10.2结果
其比值，
以2f重写后的1/信号的平均幅度以2f重写前的1f信号的平均幅度应为0.004±0.001。
6.5用测试磁头进行测量的条件
6.5.1写电流
2f频率的写电流波形应与图4相符。在磁头插头处测得的电流幅度如表1所示。表1
166.5~157.1
157.1~147.8
147.8~138.5
138.5~129.2
128,2~119,9
119.9~110.5
110,5~101,2
写电流（Iw++Iw_）公差
公差%
静态写电流正、负值之差|Iw+-Iw-|应小于2mA。T=70±5ns
Tp=70±5ns
过冲量：Iw的（3.5±1.5）%。其中Iw=0.5Iw++Iw-）。
两个相邻的半周期T。、T。与T+T.之差不应大于2%。2
6.5.2直流抹除电流
用直流抹除时，通过两个读写绕组之一的直流抹除电流如表2所示；8
6.6读出通道
6.6.1输人阻抗
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抹电流
166.5~157.1
157.1~147,8
147.8~138.5
138.5~129.2
129.2~119.9
119.9~110.5
110,5~101.2
公差%
读出通道的差动输入阻抗应为1200±60Q与15±3pF并联。它包括放大器的输入阻抗，以及在读放大器输入端测得的所有其他分布阻抗和集中阻抗。6.6.2频率和相位特性
当频率在10.0~6.45MHz（0.06～4F）之间时，频率响应曲线的平坦度应在土0.25dB以内。
3dB转折点应在9.675MHz（6f）处。频率高于9.675MHz时，衰减不应小于在9.675MHz处通过0dB点所作的一条直线，该直线的斜率为18dB/oct。
频率在0.10～6.45MHz（0.06f～4f）之间时，相移应为线性，其偏差应在士5°以内。
6.6.3传输特性
输入信号峰-峰值在0.3～10.0mV之间，时读出通道的传输特性线性度应在±8%或50V以内（取大值）。
6.7自动增益控制（AGC）放大器输人电压峰-峰值在（Vin）min=0.3mV～（Vin）max=10.0mV之间时，AGC放大器的输出电压VAGC应恒定在±1%以内（见图5）。输入信号幅度（Vin）作阶跃式降低50%时，AGC输出信号幅度（Vout）恢复到其标称输出幅度90%时的响应时间（TR）应为3.4±0.34μs。频率低于10kHz时，放大器增益应按6dB/oct的速率衰减。6.8磁道平均幅度（VTA）
VTA为盘片旋转一周时间测得的信号平均峰-峰值，它应在测试磁头的输出端测量。该磁头的负载应符合6.6中的规定。6.9测试信号记录频率1f和2规定为SJ/Z9046-87
1f=（3225±3）×10°翻转/秒
2f=（6450±6）×10°翻转/秒
6.10直流抹除
除另有规定外，在执行所有写操作前，应进行直流抹除。7盘面测试
7.1幅度测试
7.1.1步骤
以2/在盘面上的任何部分写入，读出并测出VTA。7.1.2结果
测试磁头输出经校正后，其VTA最大值在半径r，处的峰-峰值应为2.2mV。此后按线性增大，在半径r。处的峰-峰值如下：对A型：4.0mV
对B型，2.7mV
其VTA最小值在半径r7处的峰-峰值应为1.2inV。此后按线性增大，在半径r8处的峰一峰值如下，
对A型，2.2mV
对B型：1.6mV
（见图6）。
7.2分辨率测试
7.2.1步骤
以1f在盘面上的任何部分写人，读出并测出VTA。然后在同一位置上进行直流未除，并以2F写入，读出并测出VTA。所测出的VTA值应由相应的磁头校正系数（见6.4.9）校正。
7.2.2结果
在任何情况下，其比值
校正后的2f信号的VTA
校正后的1f信号的VTA
应为0.75±0.15。
7.3重写测试
7.3.1步骤
在半径r：处以1/写入，用选频电压表测出1F信号的平均幅度。不进行直流抹除，随后以2f重写一次，再用选频电压表测出剩余的1f信号的平均幅度。7.3.2结果
其比值
应小于0.01。
7.4剩余噪音测试
SJ/Z9046—87
重写后的1f信号的平均幅度
重写前的1f信号的平均幅度
7.4.1步骤
用直流抹除5条磁道宽的环带，环带的中心磁道在半径r处。在半径r处以2f写入，读出并用真有效值电压表测出有效值（VRMs）。该电压表一6dB处的带宽为10MHz。
然后用直流至少抹除5次，读出并测出有效值（VDCRMs）。使磁头退出盘面，并测出由所有其他噪音源所引起的噪音有效值（VNRMs）。7.4.2结果
其比值：
V\DCRMS-V\NRMS
应小于0.05。
8磁道质量测试
8.1正调制测试
8.1.1步骤
在任何磁道上以2f写入，读出并测出VTA。在测得读出脉冲大于0.5VTA幅度的125%后，延时ta=1.55±0.15us“并在tpm=3.10±0.15μs时间内，测出所有这类脉冲个数（见图7）。
8.1.2结果
如测出的这类脉冲个数超过16个时，则认为存在正幅度调制。8.2负调制测试
8.2.1步骤
在任何磁道上以2f写入，读出并测出VTA。在测得读出脉冲幅度小于0.5VTA。的75%后，延时td=1.55±0.15us，并在tnm=60±1μs时间内：测出所有这类脉冲个数（见图7）。
8.2.2结果
如测出的这类脉冲个数超过256个时，则认为存在幅度调制。8.3漏脉冲测试
8.3.1步骤
在每条磁道上以2f写人，并用AGC放大器读出。11
SJ/Z9046-87
8.3.2结果
任何读出脉冲其幅度小于AGC放大器输出电压（VAGC）的55%，即为漏脉冲。8.4冒脉冲测试
8.4.1步骤
在每条磁道上以2F写入，读出并测出VTA。然后直流抹除一次，并读出一整周的信号。
8.4.2结果
任何读出剩余信号其幅度大于0.5VTA的35%，即为冒脉冲。9
对磁层面的要求
9.1盘面要求
合格的盘片应符合第7章中规定的所有测试要求。9.2磁道质量要求
调制准则
任何磁道上不应出现8.1和8.2中所述的正调制或负调制。10磁层面的缺陷
10.1单个错误
出现一个漏脉冲（见8.3）或一个冒脉冲（见8.4）就称为单个错误。10.2验收准则
验收准则由买卖双方共同商定。d
装有盘片的基准轮毅剖视图
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