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- SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法
标准号：
SJ 2658.5-1986
标准名称：
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法
标准类别：
电子行业标准(SJ)
标准状态：
现行-
实施日期：
1986-10-01 出版语种：
简体中文下载格式：
.rar.pdf下载大小：
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