【国家标准(GB)】 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法

ICS33-180.10
中华人民共和国国家标准
GB/T7424.2—2002
部分代替GI/T7424.1-1998
光缆总规范
第2部分：光缆基本试验方法
Optical fibre cable generic specification-Part 2:Basic optical cable test procedures(IEC60791.1-2:1999,
Optical fibre cable-Part 1-2:Generic spccification-Basic optical cable test proccdures,MOD)2002-0809发布
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
200304-01实施
规范性引用文件
力法E1:拉伸性能
方法E2磨损
方法 E3:压点
方法E4:冲击
方法E5：已成缆光纤的剥离力稳定性方法E6·反复弯曲
力法E7:扭转
方法F8:曲挠
方法E10:弯折·
方法E11:弯曲
方法F12:抗切穿·
方法E13：枪
方法E17：刚性
法E18：张力下变曲（动态试验）-方法E19：风振利舞动
方法F1：温度循环
方法F3.护套完整性
方法 F5:渗水
方法F6:复合物滴流
方法 F7;核辐射
方法F8：气阻
方法F9：老化
方法G1：光缆元件的弯曲
方法G2：光纤带几何结构尺寸的观测法方法心3光纤带心寸的孔规法
方法（4：光红带尺寸的千分表法方法G5：光纤带撕裂（可分性）方法G6：光纤带扭转
方法G7：套管弯折
G1/T 7424. 2- 2002
GB/T7424%光缆总规范》包括以下两部分：第」部分：总则；
第2部分：光缆基本试验方法。
GB/T7424.2-2002
本部分为（B/T7424的第2部分，对应于IEC60794-1-2：1999≤光缆第1-2部分：总规范光缆基本试验方法》（荧文版）。止C60791-1-2叙述光缆机械性能及环境性能的种光缆元件的各试验程序，其中某些试验待定。在IFC 60794-1-2中，因原有的某些试验已被其他试验取代或已确定是不适用的，故在试验编号欲序中缺少儿个号码，它们是E9、F16、F2,F4和F6。本部分马FC6079412的一致性程度为修改采川，其主要差另如下1！第3章“总则”中，部分条款参照过去的有关标雅和我国的实际情况作了H体规定。例如，试验坏境条件采用GB/2421规定的标准大气条件，并且通常足（:T3/T2427规定的正常试验人气条件：量的数值按GB/1 8170规定修约;监测和检查的打法和抽样,按国内现行情说况规定。同时，IEC文本列于第29章中的光纤定义移至本章“3.3定义\中。2)IFC义本中力法F14\复介物滴流\在本文本中改为方法F6.IEC文本中方法E15\析汕和蒸发\是材料试验，在本文本中不列入。3）本部分中，方法F1，力达F3,力达E4,法E7.方法E10、法F11、方法G2、方法（7为修改用IEC60794-1-2的对应方法,H其余方法则是等同采用4）方法F1和方法E3中.作为推荐性的内容，补充广国内多年实瓶有效的细节和其体数据，5）方法E1 中,建议了通常采用的落高为」m,6）方法 E7 中,扭转角度改为由有关标准中规定7）方法F10中，仍采用过去版本的写法，即把光缆环缩小到规定的最小允许直径8）方法E1中，按过去版本的习惯，为方法E11A 加上名称\卷绕”，为方法E11B加卜.名称\U弯曲”。
9）方法 F中,增加了*试样应在20 C+5C下处21 h\的一般性规定10）方法（中，要求改划“符合有关光纤带的舰范舰定”，11）存法心7中，试验参数改为“在有关现范中规定”。本部分代替GB/T7424.1-1998光缆第1部分：总规范\的第3章和第6章。本部分由中华人民共利国信息产业部提出。本部分出信息产业部电信研究院归口，本部分山大店电信科技股份有限公司光通信分公司起草。本部分主要起草人：工则民·薛梦驰，季然山.鹿中晖，梅健，何伟，1范围
光缆总规范
第2部分：光缆基本试验方法
GB/T 7424.22002
GB/T7424的本部分规定「光缆的机械性能，环境性能和儿件的各试验方法的日的试样，设备、程序、要求和待规定细节等，
本部分适用于各种类型光缆的型式试验、例行试验和出厂检验.交收试验。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用丁本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各力研究是否可使用这些文件的最新版木。凡是不注口期的引而文件，其最新版本适丁本部分。GB/12421电工电子产品环境试验第1部分：总则(GB/T2421—1999.idt1EC60068-1:1988）CB/T8170数值修约规则
GB/T 15972(所有部分）光纤总舰范（GB/T15972.【~-15972.5-1998,cqVIEC 60793-1-1-~60793-1-5:1995)
YD/T629（所有部分）光纤传输衰减变化的监测方法IEC6006名-2-14：1984环境试验第2部分：试验试验V：温度变化IEC:60227-2：1997额定电压450/750V及以下的聚氯乙烯绝缘电缆第2部分：试验方法
1EC60544（所有部分）：电气绝缘材料离子辐射影响的确定[EC61931/1R3：1998纤维光学术语3总则
3.1引言
除非详纫规范中另有规定，本章的各条舰定应适用丁本部分规定的各试验方法。3.2试验方法格式
备试验法格式应接如下标雅顺序编制，在保持这个总体顺序的同时，叫插人附邮条款。目的
待规定细节
3.3术语和定义
3.3.1光纤带几何结构尺寸的定义下列定义适而十图「所示光纤带横截面，3. 3. 1. 1
fwidth and thickness
宽度和厚度
光纤带的宽度和厚度是包闹光纤带横截面的最小矩形的长边和短边的尺寸。1
GB/T 7424.22002
基线basis line
基线尾在光纤带横截面中通过第一根光纤（光纤1)中心和最后一根光纤（光纤n）中心的直线，3.3.1.3光纤排列
3. 3. 1. 3. 1
光纤水平间距lorizontal fibreseparation光纤水间距是在纤带横截面中两光纤中心在基线上的垂占投影距离：可区别为两个水平间距参数：
a）相邻光纤中心间的距离：
h）两侧光纤中心间的距离
3. 3. 1. 3. 7
平整度planrity
光纤带的平整度是
心在基线“之上“时垂真
3.4标准大气条件
垂直间距最大正值和最大负值的绝对值之和。光纤中中心到其线的
中心在基线“之下“时垂直间距为负。·光纤
光纤带横载面几何结构示意图
本部分采用的标准
条件应符合GB
T2421规定。除非另有规定，本部分规定的试验环境条件验大气条件
应是GB/T2421规定的
3.5量的数值
本部分规定的量的数值应有明确的有效位数，测量值应按G170规定修约到与规定值同样的有效位数后.币与规定值比较
3.6图形符号和术语
参见 IEC 61931/TR3.
3.7安全
3.8定标
待定。
3.9监测和检查
除另有规定，本部分规定的试验方法中的监测和检查,应符合本条规定。3.9.1光纤传输衰减变化（即透光度变化）的监测在本部分方法FT中应按GB/T15972方法C10B或YD/T629.2规定进行，在本部分其他方法中应按GB/T15972方法C10A或YD/T629.1规定进行。在受试光统芯数不多于12芯时应监测全影光GB/T 7424.2--2002
纤，在多于12芯时应监测至少12根光纤，抽样时应考虑到光纤结构位置和色谱等方面的代表性。3.9.2.光纤的光学连续性和断裂的检测可采用道可见光日视检测方法或按GB/T15972方法C10B或YD/T629.2规定方法进行检测，成检测受试光缆中的全部光纤。
3.9.3光缆护层检查
彻如护套开裂检查·应以正常视力逆行H视检查。3.9.4适时检测
成按有关规定，在试验之前、之中和（或）之后进行适时监测和检查。4方法 F1:拉伸性能
4.1日的
本方法适用于测量光统在规定节仙负载范围内的拉仲性能即测定光缆中光纤的衰减变化、光纤应意图是非破坏性的即施加的拉伸负载应在允许蓝数美育
变和(或}光缆的应变与拉伸负载前H
的最大拉力以内：
本方法依所监测的项目不同，分为：a）方法F1A.是
b）方法E1B,是
本方法
纤衰减变化的方
免纤伸长应变和光缆仲长应变的方法和制造厂问的协议可单独使用方法E1A或方法EIB.或者联合使用这账应按照详绍规范或用
个方法来分别测量光
不同拉伸性能
4.2试样
从盘装或成图片
上取出一段受试光缆，其长度足以取得希望的精度。非另有规定，光缆受试段长度近似为两卡盘人口切点间的光级长凌与一个卡当采用图2设备
盘周长之和,它应不
小0m。
盗力装置
负载传感器
盘上光锁
卡盘和传递装置
递装置
受试光缆所
光纤测量装置
传追装置
使用传递装置和卡盘的拉伸性能测量设备示例图2
GB/T 7424. 2—2002
当采用图3设备时，除非另有规定，光缆受试段长度为两夹头间的光缆长度，它应不小于25111受监测的光红两端应制备成平整、清洁并垂直于光纤轴的端面。拉力装暨
4.3设备
负载传感器
夹持装置
爱试光缆段
光红洲油装
图3拉伸性能测量设备
夹持装置
试验设备示例见图2和图3。当深用图2设备时，试验结果除了反映光缆拉伸性能外-还包含光缆变曲的影懈。试验设备的拉力量程不得超过被试光缆最大允许拉力的5~10倍。试验设备应包括：
a）机械装置
1）-套夹持装置，用于抓任光缆各元构件，使它们相币问无实质性滑移，且不会影响试验结果例如图2中的卡盘和图3中的爽头，其卡盘百径应不小于试样外径倍。注：对于自承式渠室光缆·当详细规范有要求时，应借助与其光缆吊佳型式相关的装暨来进行光缆固定，对于些重型恺装光缆，其变持装置可以采用网套尖或类似锚柱装置.2）一套可选用的传递装置，可用图2设备巾使较短的设备长度能容许较长的受试段长度，基滑轮直径应不小于试样外径30倍3）台拉力装置.用于以规定拉伸速率在规定的拉力范国内提供平稳的拉伸负载。b）监测设备
1）“一套测力装置（含拉力传感器），用于测量试样所受拉仲负载，其传撼器最人误差应是它的最大测量范用的士3%。
2）一台光纤衰减变化测量设备，用下方法F1A，它应符合GB/T15972方法C10A或YD/T629.【规定。
3）一台光红应变测量设备，用于方法E1R，它应符合GB/T15972方法A7期定4
·套可选的光缆伸长测量装置.用于方法EIB，它可基于机械方法，也可基于电气力法，其精度应确保光缆应变测量结果的误差不超过工0.01%。5）一只可选用的多路光开关，用于多路光纤监測的转换。、4.4程序
8）试验环境条件应符合 3. 4规定。b）把光缆装在拉伸设备上，在两端用持装置把光缆均勾地固紧、防止光缆的各元构件相互滑移。对丁大多数光缆结构，例如层绞式光缆，实际是夹持住除光纤以外的各元构件，这足以用于测量拉伸性能，例如衰减变化、光纤应变、光缆应变和最大允许拉力。但是，对于某些光缆结构，例如中心管式光缆，可能需要注意防止光红纵向滑移以便得到正确的光纤应变。把受试光缆中的受监测光纤连接到监测设备。在拉伸试样时，应注意变监测的基准长度不得c
变化。
l）拉伸力应连续地增加到详细规范巾规定的（各)值，例如长期允许拉伸力和最大拉伸力（通常为短暂允许拉伸力）,除非有规定,保持时间至少为 1 min，拉伸速率应为5 III/mi~l0 mi1/tnin，然，逐渐卸去负载。这样一个加载和卸载的过程，构成个环。e）在加载过程中，应作为光缆拉伸负载的涵数来记录规定波长下的衰减变化、光纤应变和（或)光缆应变，除非另有规定,对于12芯以下光缆，应监测个部光纤,对于12芯及以上光缆,应监测至少12根光纤，
）除非另有规定,试验循坏次数应为「次。CB/T 7424.2—2002
g）当有要求时，在最终卸载5mim后，测量&减变化、光纤应变和（或）光缆应变的残余值。4.5要求
试样的衰减变化、光纤应变和（或)光缆应变，以及去除拉力后它们的残余值，应衍合详细规范中规定。
当详细规范有要求时，应提供和评价光纤应变和（或)光缆应变与拉仲负载的函数关系，如图4所示。当有要求时，应确定光纤应变始发点的拉伸负载数值，即光纤应变与拉伸负载的函数曲线图上，曲线的线性部分与拉仲负载轴的交点处的拉仲负载。必要吋，随试验结果提交的全套数据应包括有美光纤实测相移或脉冲时延对光纤伸长的定标曲线或系数.
伸长率／%
光蜡佛长率：
光轩仲长率：
拉伸性能
注：T:相应于光纤并始受成变的负载;Tk相应]规定的最大拉力负载、图 4光纤和光缆的伸长与负载的函数关系实例4.6待规定细节
详细规范应包括如下内容：
光缆长度和变拉仲长度；
负载传感；
注人条件和衰减测量装置（当必要时)；光纤应变测量装置(当必要叫)；是否要求在规定波长下疫减变化、光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系；拉仲增血的速率，当另有规定时;光缆长度测量的最小精确度（当另有规定时）：环境温度（当不同于3.4规定时）。5方法F2:磨损
光缆耐磨损性包括两个方面：
a）护套耐磨损的能力；
b）光缆标志磨损的能力。
5.1方法F:2A：光缆护套耐磨损
5.1.1目的
本试验的月的是确定光缆护套耐磨损的能力。GB/T 7424. 22002
5.1.2试样
试样应是一段足以实施规定试验的光缆，H长度通常为750 nim。5.1.3设备
磨损试验装备应能在（10±1）mm的长度上，以（55土5）循环/min的频率，沿平行于光缆纵轴的方向来回擦磨光缆表面，察磨刃口来回各移动一次，构成一个循环擦磨刃口应是一根钢针，其直径应符合详细规范中的规定，典型设备示例见图5。
行程发生器
支承（翊）板
用于试验L2A和E2B方法1的典型试验装置图5
5.1.4步骤
a）试验环境立符合3.4规定
用光缆光
度大约750mm的试样紧固在支撑板上。然后，应以重物对擦磨刃口加载·在光b
缆上产生
次数，
规范中陈述的力，同时要避免冲擅光缆。然后，施行详细规范十定的磨损循环在每个证中进行4次试验，在bzxZ.net
转90°角
次试验前把试样向前移动100mm并总是沿相同方向施S
5. 1.5要求
在究成规定的数之后，护套应无穿孔，光年应保持光学连续性。5.1.6待规定细节
详细规范应包括
a）裕环次数：
b）针棒直径；
施加的力。
5.2方法F2B：光缆标志耐磨损
5.2.1目的
本试验的目的是确定光缆标志耐磨损的能依据标志的种类和详细规范中的规定，应使用如下两种方法之一）方法1，适用于坚破的标志类型，如压凹纹，压凹纹和熔结的标志；b）方法2.造用丁上述类型之外的标志。5.2.2试样
试样应是足以实施规定试验的一段光缆.H长度通常为750mm。5.2.3设备
5. 7. 3. 1 方法 1
典型设备示例见图5
GB/T7424.22002
该装置应能在40mm的长度上，以（55+5）循环/mil的频率，擦磨平行于光缆纵轴的光缆标志。擦磨刃口来回各移动一次，构成一个循环擦磨刃口应是一根钢针，其直径为1mm或按详细舰范中的规定。5.2.3.2方法2
该设备包话：
a）一台试验装置，用于把力施加到羊毛毡上。费型示例见图6；1）一块白色羊毛毡；
）对试样施加力的重物。
力(F)
5.2.4步骤
街重物
图6用于试验E2B方法2的典型试验装置量3.4规定：
试验坏境条件符
5.2.4. 1方法 1
用光缆夹把长度
mm的试样紧固在支撑板上，使试样标志直接处于擦誉刃下施行试验。然四载，在光缆上产生详绍规范中规定的力，同时要避免冰撞光缆。然后，施行详后.应以重物对擦磨力
细规范中规定的循环次教磨。
5.2.4.2方法2
应把带标志的光缆试用水没适的两块羊毛他之间。然后，应把准细规范中规定的标称力（F）施加到在100mm上前后移购试详称志上施行详细规范中规定的撑磨话环欠数5.2.5要求
在完成详细规范中规定的话环次数之后，标志虚字迹清楚可辩5.2.6待规定细节
详细规范应包括如下内容：
循环欲数；
h）所用方法；
针越直径(方泌1)：
d）施划的
6方法E3:压扁
本试验的目的是确定光缆承受压扁的能力。GB/T7424.2—2002
6.2试样
试样应是段是以实施规定试验的光缆，6.3设备
该设备的可移动钢板应能在光缆试样的100 mm长度l:均匀地施加压扁力，使试样在平的钢板座和可移动钢板之间受到压扁。可移动钢板的边缘应以约5n半径倒角.倒角边缘不包括在钢板的100mm平整部分之内。设备尔意图见图？。
可移动钢板
逆缘倒角
(半格=5mm)
光缆试样
板基座
图7压扁试验
6.4程序
试验坏境条件应衍合3.4规定。
应把试样安敬在两块钢板之间，防止横向移动，然后，遂渐地而无任何疚然变化地施加力。如果以步级方式增加力，其增长比率应不超过1.5：「除非详细规范中另有规定.施加的压扁力应增加到详细规范中规定的（各)值，例如长期允许压扇力和最大压扁力(通常为短暂允许压扁力),并在保持时间至少1min 后进行监测:然后遂渐卸去压扇力，过 5 min 后再逃行最终监测和检查。除非另有规定，试验应施行三次，把力加在试样上间距不小于50mm的3个不同地方。当详细规范中有要求模拟特殊的工作条件吋，可垂直于试样插入一根或多根钢棒来实施一个附加试验或苷代试验（除非详细规范中另有规定，心棒直径为25 mm）。6.5要求
除非详细规范中另有规定.本试验的合格判拢是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。
6. 6 待规定细节
详细规范应包括如下内容：
施加的(各)压扁力
1）施加力的持续时间（当另有规定时）；c
试验次数（当男有规定时）；
试验点之间的间距(当另有规定时)：心棒排列方式（当来用时）。
7方法F:4冲击
7.1目的
本试验的目的是确定光缆承受冲击的能力。7.2试样
7.2.1试样长度
GB/T 7424.22002
试样长度应足以施行规定的试验。当只是评定物埋损伤时，长度范困可从「I（例如小直径的软跳线或双芯光缆）到5m（例如较大点径光缆）。当要求监测衰减变化时，则试伴应是够长度光统端部的一段。
7.2.2终端
试样可在两端以连接器或者以把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起的适当方式进行终端。冲击设备上的央子可能适用，或省试样足够长而不再需要终端约束。7.3设备
该设备应能把冲击施加到固定在坚实的乎钢座上的光缆试样1当要求一次或仅仅儿次冲击时，川采用图8a)所小的设备，它使一个重物垂直跌落在一个钢块上钢块再把冲击传递到光缆试样。当要求反复冲山时（例如大丁5次），可来用图8b)所示的设备，它用一个跌落的重锤进行多次冲击，在这两种情况中，也可采用其他等效的设备。接触试样的撞出表面应是详细规范中规定的表面半径为R的圆弧形，或者像-个半球（图8c)的A),或肾足一个圆柱面(图 8 )的 B)。当详细规范巾中规定监测光纤衰减变化等时，试验设备成包括3.9规定的设备。7.4程序
试验环境条件应符合3.4规定。当必要时，试样应在标准大气条件下预处理24 h应调整重物或跌落重锤的质量和下落高度来产生详细规范中规定的冲击能量值。除非另有规定，下落高度通常为1㎡。然后，按详细规范中规定的速率和冲击饮数，在详细规范中规定的试样位置上进行冲击。试验期间,按详细规范的要求进行监测和检查。7.5要求
除非详细规范中乃有规定。本试验的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不升裂。
7.6待规定细节
详细规范应包括如下内容：
a）冲出次数；
b）冲山能量；
c）试验温度；
d）撞击表面的半径R；
e）多茨冲击的频率(当需要时)：f）在试样上的冲击位置；
g）光纤衰减变化（当要求时）。9
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