【其他行业标准】 光栅线位移测量系统 第1部分：光栅数字显示仪表

中华人民共和国机械行业标准 JB/T 10080.1—2011 代替 JB/T 10080.1—2000 光栅线位移测量系统 第1部分：光栅数字显示仪表 Grating linear displacement transducer-Part 1: Digital readouts for grating transducer 发布日期：2011-12-20 实施日期：2012-04-01 前言 JB/T 10080《光栅线位移测量系统》分为两个部分：第1部分：光栅数字显示仪表；第2部分：光栅线位移传感器。本部分为 JB/T 10080 的第1部分。本部分代替 JB/T 10080.1—2000《光栅数字显示仪表》。 本部分与 JB/T 10080.1—2000 相比，主要变化如下：增加了“基本参数”的内容（本版的 4.2）；取消了“MTBF”项（2000年版的 5.10）；修改了部分文字的叙述。本部分的附录 A 为规范性附录。 本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本部分负责起草单位：中国计量科学研究院、中国机床工具工业协会数显装置分会。本部分参加起草单位：贵阳新豪光电有限公司、广州市诺信数字测控设备有限公司、珠海市怡信测量科技有限公司、苏州怡信光电科技有限公司、东莞市万濠精密仪器有限公司、长春光机数显技术有限责任公司。本部分主要起草人：张恒、卢国纲、刘广黔、潘伟华、黄志良、陆庆年、巫孟良、孟辉。 1 范围 JB/T 10080.1—2011 本部分规定了光栅数字显示仪表的术语和定义、结构型式与基本参数、功能、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。本部分适用于以光栅线位移传感器和光栅角位移传感器为检测元件的光栅数字显示仪表（以下简称“数显表”）。 注：数显表与光栅位移传感器相连组成位移测量系统，主要用于机床、仪器的坐标线位移和角位移测量。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 - GB/T 191—2008 包装储运图示标志 (ISO 780:1997, MOD) - GB/T 2423.1—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT) - GB/T 2423.2—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT) - GB/T 2423.3—2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 C：恒定热试验 (IEC 60068-2-78:2001, IDT) - GB/T 2423.5—1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Ea 和导则：冲击 (IEC 60068-2-27:1987, IDT) - GB/T 2423.10—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦） (IEC 60068-2-6:1995, IDT) - GB/T 3168—1993 数字控制机床操作指示形象化符号 - GB 4208—2008 外壳防护等级 (IP代码) (IEC 60529:2001, IDT) - GB/T 4857.5—1992 包装运输包装件跌落试验方法 (eqv ISO 2248:1985) - GB/T 4879—1999 防锈包装 - GB/T 5048—1999 防潮包装 - GB/T 5226.1—2008 机械电气安全 第1部分：通用技术条件 (IEC 60204-1:2005, IDT) - GB/T 6388—1986 运输包装收发货标志 - GB/T 6587.8—1986 电子测量仪器电源频率与电压试验 - GB/T 9969—2008 工业产品使用说明书总则 - GB/T 13384—2008 机电产品包装通用技术条件 - GB/T 14436—1993 工业产品保证文件总则 - GB/T 17626.2—2006 电磁兼容试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 (IEC 61000-4-2:1995, IDT) - GB/T 17626.4—2008 电磁兼容试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 (IEC 61000-4-4:2004, IDT) - GB/T 17626.5—2008 电磁兼容试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 (IEC 61000-4-5:2005, IDT) - GB/T 17626.11—2008 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 (IEC 61000-4-11:2004, IDT) 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本部分： 3.1 光栅数字显示仪表 (Digital readouts for grating transducer)：与光栅位移传感器相连，直观显示位移示值的数字显示仪表。 3.2 环境适应性 (Environmental adaptability)：在规定的环境条件和预定的寿命期间，数显表服务于预定目的的适应能力。 3.3 倍频程 (Octave)：频率比率为 2:1 的两个频率的间隔。 3.4 抗扰性 (Immunity to a disturbance)：装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。 3.5 静电放电 (Electrostatic discharge, ESD)：具有不同静电电位的物体，在接近或通过直接接触时发生的电荷转移。 3.6 脉冲群 (Burst)：群数量有限的、可加以区分的脉冲或持续时间有限的振荡。 3.7 耦合网络 (Coupling network)：在与被测回路没有任何电连接的情况下，以共模形式将干扰信号耦合到被试回路的具有规定尺寸和特性的一种装置。 3.8 电压冲击 (Voltage surge)：沿线路传送的暂态电压波，其特征是电压先快速上升后缓慢下降。 3.9 电压暂降 (Voltage dip)：在电气系统的某一点的电压突然下降，经历半个周期到几秒钟的短暂持续期后，电压恢复正常。 3.10 短暂中断 (Short interruption)：供电电压消失一段时间，一般不超过 1 min，短暂中断可以认为是 100% 幅值的电压暂降。 4 结构型式与基本参数 4.1 结构型式 数显表按坐标数分为单坐标、双坐标及多坐标。 4.2 基本参数 表 1 基本参数 - 线位移最小显示步距：1 mm~0.001 μm - 角位移最小显示步距：1° ～1' - 一个信号周期的细分数：1、2、4、5、10、20～4096 - 供光栅位移传感器电压 (DC)：+5V 或 ±5V - 输入信号：约为 1Vpp 电压信号或约为 11μA 电流信号或 TTL 矩形波信号 5 基本功能 5.1 数显表与光栅位移传感器相连组成位移测量系统后，在最小步距的有效量程内应正确计数，且清晰可见数显数码显示数值。 5.2 具有参考零位显示功能的数显表，其零位功能应显示正确。 5.3 数显表应具有清零功能。 6 要求 6.1 外观 6.1.1 数显表的面板、机壳表面不得有明显的凹痕、划伤、裂缝和变形，表面涂层或镀层不应有气泡、龟裂、脱落和锈蚀等缺陷。 6.1.2 数显表机壳和面板上的开关、按钮、灯、插头座等均应有表示其功能的标志，标志应牢固、清晰、美观、耐久。功能标志应符合相关标准的规定。若使用形象化图形作为功能标志时，应符合 GB/T 3168 的规定。 6.1.3 连接导线和线径的颜色及面板上的开关、按键和灯的颜色应符合 GB 5226.1—2008 的规定。 6.2 工作频率范围 在数显表的使用说明书中应给定工作频率范围，并应符合第 5 章的规定。 6.3 防护等级 数显表应具有防护能力，机箱的防护等级不应低于 IP43，且面板的防护等级不应低于 IP54（见 GB 4208—2008）。 6.4 抗干扰能力 6.4.1 总则 数显表应具有一定的抗干扰能力。