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【YD通讯标准】 1310/1550nm 短距离单纤双向组件(模块)技术条件
- YD/T1318-2004
- 现行
标准号:
YD/T 1318-2004
标准名称:
1310/1550nm 短距离单纤双向组件(模块)技术条件
标准类别:
通信行业标准(YD)
标准状态:
现行出版语种:
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标准简介:
YD/T 1318-2004.Technical condition of 1310nm/1550nm single fiber bi-directional assembly (module) for short reach.
1范围
YD/T 1318规定了1310/1550nm短距离单纤双向组件(模块)的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存要求等。
YD/T 1318适用于1310/1550nm短距离单纤双向组件(模块) [以下简称 “组件(或模块)"
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T 2423.1电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法(idt IEC 60068- 2-1:1990)
GB/T 2423.2电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法(idt IEC 60068-2-2:1974)
GB/T 2423.3电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法(idt IEC 68-2-3:1984)
CB/T 2423.5电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击(idt IEC 68-2-7: 1987)
GB/T 2423.10电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe和导则:振动(正弦) (idt IEC 68-2-6: 1982)
GB/T 2423.22电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法(eqv IEC 68-2-14:1984)

部分标准内容:
中华人民共和国通信行业标准
YD/T 1318-2004
1310/1550nm短距离单纤双向
组件(模块)技术条件
Technical condition of 1310nm/1550nm single fiberbi-directional assembly (module) for short reach2004-07-16发布
2005-01-01实施
中华人民共和国信息产业部发布言
规范性引用文件
术语和定义
技术要求
测试方法
机械和环境性能试验
检验规则
标志、包装、运输和贮存
中专业心
-T KANr KAca-
YD/T1318-2004
YD/T1318-2004
本标准的试验项目和应力条件参照了Telcordia技术文件GR-468一CORE《用于电信设备中光电子器件可靠性保证规程》(1998年版),并根据我国的具体情况确定;试验方法参照了GB2423《电工电子产品环境试验规程》系列标准。
本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准起草单位:深圳飞通光电股份有限公司武汉邮电科学研究院
本标准主要起草人:许广俊 张晓峰 李春芳 丁国庆徐红春在制定过程中,本标准与以下标准的相关内容保持一致:GB/T15651-95《半导体器件分立器件和集成电路第5部分光电子器件》YD/T 701-93
YD/T 702-93
《半导体激光二极管组件测试方法》《PIN/FET光接收组件测试方法》YD/T834-1996
《分布反馈激光二极管检测方法》。I
1范围
1310/1550nm短距离单纤双向
组件(模块)技术条件
YD/T1318-2004
本标准规定了1310/1550nm短距离单纤双向组件(模块)的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存要求等。
本标准适用于1310/1550nm短距离单纤双向组件(模块)【以下简称“组件(或模块)”]2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 2423.1
GB/T2423.2
GB/T2423.3
GB/T 2423.5
GB/T 2423.10
GB/T 2423.22
GB/T2423.28
GB/T 2423.29
GB 2828
GB/T15651
GJB548A
YD/T 701
YD/T 702
YD/T834
3术语和定义
电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法(idtIEC60068-2-1:1990)
电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法(idtIEC60068-2-2:1974)
电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法(idtIEC68-2-3:1984)
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击(idtIEC68-2-7: 1987)
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)(idtIEC 68-2-6: 1982)
电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法(egvIEC68-2-14:1984)
电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验U:引出端及整体安装件强度(idt IEC 68-2-21: 1992)
逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(idtIEC747-5-:1992)
微电子器件试验方法和程序
半导体激光二极管组件测试方法PIN/FET光接收组件测试方法
分布反馈激光二极管检测方法
下列术语和定义适用于本标准。HTKAoNiKAca
YD/T 1318-2004
3.1定义
3.1.1 光串扰 (Optical Crosstalk, Cr)组件(或模块)发射端发出的光对组件(或模块)接收端引起的千扰。3.1.2隔离度(Isolation,Iso)接收端允许接收波长与禁止接收波长的响应度或灵敏度之比。3.1.3光回波损耗(Optical Return Loss,ORL)输人光功率中沿输人路径反射的光功率量度,以分贝表示。即:ORL=-10lgP。/P。
式中:P。是沿输入路径反射的光功率;P。是输人光功率。
3.1.4单纤双向组件 (Single Fiber Bi-directional Assembly)由发射器件、接收器件与其它辅助元件组成的组件,不带驱动电路和主放电路。3.1.5单纤双向模块(Single Fiber Bi-directional Module)由驱动电路、主放电路和单纤双向组件组成的模块。3.2缩略语
3.2.3P。
3.2.4 P。
4技术要求
4.1分类
Small Form Factor
Small Form-factor Pluggable
4.1.1本标准中规定的产品按波长分为:a)单波长(发送、接收的波长相同);b)双波长(发送、接收的波长不相同)。4.1.2按传输速率分为:
a) 155Mbit/s;
b) 622Mbit/s;
c) 1.25Gbit/s。
4.1.3按光接口分为:
带尾纤型和插拔式等。
4.2封装形式
本标准提供的组件封装形式为同轴型等。模块提供的封装形式为:1x9、SFF和SFP型。4.3组件和模块性能
4.3.1组件性能
4.3.1.1组件极限值见表1。
小型封装形式
插拔式小型封装形式
无光告普光功率
去告誉光功率
饱和光功率
参数名称
工作温度
贮存温度
工作电流(发送端)
工作电压 (接收端)
尾纤弯曲半径
光发射
光谱辐射
光接收
(全双工)
灵敏度
组件主要光电特性见表2。
表1 组件极限值
最小值
最大值
表2组件主要光电特性(除非另有规定,Tm=25℃)参数名称
峰值发射波长
输出功率
速率155Mbit/s
速率622Mbit/s
速率 155Mbit/s
速率 622Mbit/s
监视电流
示踪误差
响应波长范围
单波长(1310nm)
双波长(1310/1550mm)
单波长
双波长
饱和光功率
测试方法
YD/T 701 中 3.10
YD/T 701 中 3.4
YD/T 701 中 3.10
YD/T 701 中 3.10
YD/T 834中 4.13
YD/T 834中 4.9
YD/T 701 中 3.15
YD/T 702 A2.3
YD/T 702 中 A2.3
YD/T702中3.2.2
YD/T702中3.2.2
本标准 5.3.12
测试条件
工作温度范围
工作温度范围
均方根1=1310mm
均方根
均方根
A=1310nm
A=1550nm
=1550nm
P=-12dBm
工作温度范围
响应度变化10%的范围
工作电压:3.3V或5V
Po=1μw
速率155Mbit/s
A=1310nm/1550nm,
P≥-12dBm
速率622Mbit/s,双波长
↑=1310nm/1550nm,
P≥-12dBm
V-3.3V 或 5V,
4=1310nm或 1550nm,
NRZ随机码,误码率10-0
KAoNKAca-
YD/T 1318-2004
最小值
最大值
YD/T 1318-2004
参数名称
光串扰
单波长
双波长
光回波损耗
隔离度
1.25G待研究
模块性能
光发射
模块极限值见表3。
参数名称
工作温度
贮存温度
工作电压
尾纤弯曲半径
模块主要光电特性见表4。
裘2 (续)
测试方法
本标准5.3.9
本标准5.3.10
本标准5.3.11
测试条件
电源电压为3.3V或5V,
工作温度范围
单波长=1310nm
A=1310nm/1550nm
表3模块极限值
最小值
最大值
模块主要光电特性(除非另有规定,Tm-25℃)参数名称
蜂值发射波长
输出功率
速率155Mbit/s
光谱辐
射带宽
光接收
速率622Mbit/s
速率155Mbit/s
速率622Mbit/s
消光比
响应波长范围
测试方法
YD/T 701 中 3.10
YD/T 701 中 3.4
YD/T 701 中 3.10
YD/T 701 中 3.10
YD/T 834 中 4.13
YD/T 701 中 3.6
YD/T 702中 A2.1
测试条件
工作温度范围
工作温度范围
均方根
均方根
均方根
1=1310nm
1=1310nm
A=1550m
=1550nm
工作温度范围
灵敏度变化0.5dB的范围
最小值
最小值
最大值
最大值
灵敏度
参数名称
单波长
双波长
饱和光功率
双波长
无光告
警光功率
去告警
光功率
单波长
双波长
双波长
单波长
双波长
信号检测高电平
信号检测低电平
1.25G待研究
5测试方法
5.1测试环境要求
测试方法
表4(续)
测试条件
全双工,=1310nm/1550nm2
YD/T 702 中 3.2.2
本标准5.3.12
本标准5.3.13
本标准5.3.13
本标准 5.3.13Www.bzxZ.net
本标准5.3.13
组件的性能测试应在下述大气条件下进行:温
度:15℃~35℃
相对湿度:45%~75%
大气压力:86~106kPa
5.2测试仪器
速率155Mbit/s,P≥-5dBm
全双工,1=1310nm/1550nm
速率622Mbit/s,P≥-15dBm
Va.=3.3V或5V,±=1310nm
或1550nm,NRZ随机码,
误码率10-10
速率155Mbit/s
误码率10-10
速率622Mbit/s
误码率 10-10
误码率10-10
速率155Mbit/s
误码率 10-10
速率622Mbit/s
最小值
YD/T 1318-2004
最大值
测试所用的仪器仪表应在有效校准期内,其精度应高于所测参数精度的一个数量级。5.3光电性能测试
5.3.1蜂值发射波长
按YD/T701中3.10规定的条件和要求进行。5.3.2输出功率
按YD/T701中3.4规定的条件和要求进行。5.3.3光诺辐射带宽
均方根带宽的测试按YD/T701中3.10规定的条件和要求进行;-20dB带宽的测试按YD/T834中4.13规定的条件和要求进行。
5.3.4监视电流
按YD/T834中4.9规定的条件和要求进行。5
KAONT KAca-
YD/T 1318-2004
5.3.5示踪误差
按YD/T701中3.15规定的条件和要求进行。5.3.6消光比
按YD/T701中3.6规定的条件和要求进行。5.3.7响应度和响应波长范围
按YD/T702中A2.3规定的条件和要求进行。5.3.8灵敏度
按YD/T702中3.2.2规定的条件和要求进行。5.3.9光串扰
a)接收组件为单PIN结构的测试方法1)目的
在规定条件下,测试组件光接收端中的光串扰。2)测试框图
测试框图如图1(a)所示。
LD 测试系统
测试夹具
图 1 (a)
3)测试步骤
单纤双
向组件
接收组件为单 PIN 结构的测试框图打开稳定光源,调整稳定光源输出光功率为规定值P;将稳定光源的跳线接口与组件相接;打开PA计,读取其光电流值In;除去稳定光源的跳线,连接光功率计;启动LD测试系统,调整组件光功率输出为规定值Paa;读出PA计上的光电流值Ia;
根据下式计算出光串扰值:
C,=10lg
4)规定条件
电源电压为3.3V或5V,工作温度范围。b)接收组件为PIN/TIA结构的测试方法6
稳定光源
光功率计
1)目的
在规定条件下,测试组件光接收端中的光串扰。2)测试框图
测试框图如图1(b)所示。
调制驱动源
测试夹具
3)测试步骤
图1 (b)
射mV表
单纤双
向组件
接收组件为PIN/TIA结构的测试框图开启调制驱动源,调整组件输出光功率值为规定值Pa;开启并读取组件接收端输出到射频mV表上的电平值Vi;YD/T1318-2004
调制光源
光衰减器
光功率计
断开光功率计,接人规定波长的调制光源,调整光衰减器,使射频mV表上的电平值为V1;读出此时光衰减器的光功率值P;根据下式计算出光串扰值:
Cr=10lg (Pir/Paa)
4)电源电压为3.3V或5V,工作温度范围。5.3.10光回波损耗的测试
a)测试目的
在规定条件下,测试组件光回波损耗。b)测试框图
测试框图如图2所示。
回损仪
图2光回波损耗测试椎图
c)测试步骤
1)校准系统;
2)按图2连接好光路及电路,从回损仪读出光回波损耗。d)规定条件
波长:1310/1550mm
KANrKAca-
被测组件
YD/T 1318-2004
5.3.11隔离度的测试
a)目的
在规定条件下,测试组件的隔离度。b)测试框图
测试框图如图3所示。
双波长稳定光源
/调制光源
c)测试步骤
被测组件
直流电源
图 3 隔离度测试框图
示波器
1)调节双波长稳定光源/调制光源的输出峰值波长为1550nm,输出光功率为Pisso;2)组件加上规定的电源电压;
3)从示波器上读出此时对应的电压峰值Vp-Pi,改变光源的输出峰值波长为1310nm,输出光功率为P1310,从示波器上读出此时对应的输出电压峰值Vp-Pus,代人公式(3-2)计算出组件的隔离度Iso。a
Iso=10lg/v
注:组件发射波长为1550nm。
/P1310
Vp-Prm/Pisso
Iso=10lgl
注:组件发射波长为1310nm。
d)规定条件
环境温度:工作温度范围
偏置电压:3.3V或5V
波长:1310/1550nm
5.3.12饱和光功率的测试
a)目的
在规定条件下,测试组件中光接收器件的饱和光功率。b)测试框图
测试框图如图4所示。
可调制LD光源
误码仪
c)测试步骤
1)被测组件加上规定的工作条件;8
可变光衰减器
图4 饱和光功率测试框图
被测组件
误码仪
YD/T 1318-2004
2)可变光衰减器的衰减量由最大逐步变小,直至误码仪出现误码时,读出可变光误减器的输出光功率,此时的光功率即为饱和光功率。d)规定条件
偏置电压:3.3V或5V
工作波长:1310nm或1550nm
误码率:10-10(NRZ随机码)
5.3.13无光告警、去告警光功率和信号检测电平的测试a)目的
在规定条件下,测试模块无光告警和去告警的光功率。b)测试框图
测试框图如图5所示。
信码源
c)测试步骤
光可变衰
光功率计
图 5 告警功率测试框图
被测模块
直流电压表
1)在正常工作状态下,用直流电压表测出接收端的SD脚输出电平值为逻辑高电平“1”;2)增加光衰减器的衰减量,当接收的光功率下降到某一值时,使接收端SD脚输出电平值翻转到逻辑低电平“0”,此时的输人光功率即为无光告警光功率;3)减少衰减器的衰减量,当接收输出端SD脚输出逻辑电平值由“0”翻转到逻辑高电平“1”时,此时的输入光功率即为去告警光功率;4)测出逻辑电平“1”或“0”时的电平值,即为信号检测电平。d)规定条件
环境温度:25℃
偏置电压:3.3V或5V
6机械和环境性能试验
6.1试验环境要求
试验环境要求同5.1。
6.2机械和环境性能试验
机械和环境性能试验项目见表5。KAoNrKAca-
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