【国家标准(GB)】 计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范

ICS13.100
中华人民共和国国家职业卫生标GBZ 187—2007
计算机X射线摄影(CR)质量
控制检测规范
Specification for testing of quality controlincomputedradiography(CR)
2007-03-16发布
人民卫生业服站
求海类
2007-10-01实施
中华人民共和国卫生部发布
规范性引用文件
术语和定义
质量控制检测的般要求
质量控制检测项目及技术要求
质量控制检测方法与评价
附录A（规范性附录）CR系统的检测项目与技术要求附录B(资料性附录）
CR系统的IP响应照射量的计算公式附录C(资料性附录）
CR系统专用检测项目所需要的设备与用具参考文献
GBZ1872007
本标准第4章至第6章和附录A是强制性条款。本标准的附录A是规范性附录，附录B、C是资料性附录。本标准由卫生部放射卫生防护标准专业委员会提出。本标准由中华人民共和国卫生部批准。本标准起草单位：中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所。本标准主要起草人：尉可道、岳保荣、程玉玺、刘澜涛、范瑶华。GBZ 187—2007
1范围
计算机X射线摄影(CR）质量控制检测规范本标准规定了计算机X射线摄影（CR）的质量控制检测项目、方法和评价标准。本标准适用于医院计算机X射线摄影(CR)设备的质量控制检测。2规范性引用文件
GBZ187-—2007
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T11755.1医用诊断X射线机管电压测试方法GB/T11757医用诊断X射线机曝光时间测试方法WS/T76一1996医用X射线诊断影像质量保证的一般要求WS/T189—1999医用X射线诊断设备质量控制检测规范YY/T0063医用诊断X射线管组件焦点特性3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准
computedradiography(CR)systems计算机X射线摄影(CR)系统
采用可重复使用的成像板代替增感屏胶片作为载体经X射线曝光，用激光扫描获得影像信息，通过光学系统收集和放大，计算机采集，得到数字化的影像显示的一种X射线摄影设备。简称CR系统。3.2
成像板imagingplate（IP）
采用一种X射线储存发光材料(如氟卤化钡）制成的X射线面探测器。X射线在IP中形成一幅电子空穴对分布的潜像，它在红色激光扫描激励下复合并发出紫光，其强度与X射线的强度成比例。CR系统的扫描读出装置将IP的电子潜影读出并将数字化的影像显示在CR系统的显示屏上。简称IP。3.3
照射量指示exposureindicatorsCR系统的生产厂提供的一种能反映影像采集过程中成像板所获取的入射照射量的特定技术方法。用这些照射量指示的技术方法实现受检者的辐射剂量限定和监测。3.4
混叠aliasing
对超过空间分辨力极限的一些高频率成分可能返回到低频率成分中，在影像中产生一种特殊的混叠的伪影。
尼奎斯特频率fNyquis
由采样间距a确定的空间频率，它们的关系式为：fNsquist=1/2a4质量控制检测的一般要求
4.1·影像质量控制检测一般采用非介入检测方法。对CR系统的检测按WS/T76一1996分为验收检1
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测（设备新安装或大修后）、状态检测（每年一次）和稳定性检测（每周、每月和每半年）。4.2验收检测前应对CR系统的所有供货清单盘点和核查。应对每一块成像板和暗盒进行目视检查，是否有表面缺陷或刮擦痕迹；检查暗盒的开启和合拢是否灵活。验收检测前对CR主机设备的外围附属的各种设备，如激光打印机、工作站影像监视器、胶片观片灯箱都应进行初始调试和检验。4.3在验收检测中，当对CR系统中管电压、曝光时间及有效焦点尺寸检测结果有异议时，应分别采用GB/T11755.1、GB/T11757规定的介入检测方法和YY/T0063规定的狭缝测量法进行检测。4.4当新安装的CR系统投入临床使用后，应定期进行状态检测和稳定性检测，前后的检测条件应严格保持一致，使各次检测结果有可比性。验收检测或状态检测表明其性能满意后，应进行初始稳定性检测，建立相关参数的基线值。
5质量控制检测项目及技术要求
5.1对CR系统的检测项目包括通用检测项目和专用检测项目两部分。通用检测项目与技术要求采用WS/T189—1999规定的方法评价标准参见附录A中表A
5.2对CR系统的专用检测项自与技术要求，在本标准6中作了详细规定，评价标准参见附录A中表A.2。
5.3本标准给出几个生产的CR系统IP响应照射量的计算公式，参见附录B中表B.1。本标准推荐CR系统专用检测项月所需要的设备与用具，参见附录C中表C.1。本标准列出对CR系统检测项目参考文献。
6质量控制检测方法与评价
6.1IP的暗噪声
6.1.1检测前对IP进行一次擦除处理。为IP放人阅读器中，用自动定标或固定定标算法和系统增益6.1.2任选3到5块未曝光的已擦除过的至最大，进行扫描读
使用窄的窗宽和低的窗位并分别获取硬或软拷贝影像。的照射量指示值，其值均应在生产厂的保证值以下。6.1.3读取每块
在观片灯箱上观察照片或在显示器上观繁原始影像。6.1.5照片或影像全野拉清晰、均匀一致，无伪影，如果超过2块IP影像上发现有不均勾一致或伪影，应对所有 IP 进行该项检测和评价。6. 2 IP 响应的均匀性和一致性6.2.1此测试适用于所有P，任选3块板分别用80kVp.0.5mmCu利1mmAl滤过，焦点到IP距离（SID）为180cm，2.58×10C/kg010mR）入射照射量对IP曝光，延退10分钟读取，获取三幅硬拷贝照片或软拷贝影像。
6.2.2用胶片光密度计分别测量一幅照中央区和四个象限区中心点光密度，获取并记录五个点光密度值；或者对工作站一幅影像中选中央和四个象限的兴趣区（ROI）获取五个平均数字值。选取的各兴趣区面积应大致相同。
6.2.3对单幅照片五个点计算平均光密度值或五个影像兴趣区的平均数字值，所有测量值在平均值的土10%内一致，则单一IP的响应均匀性良好。三块IP的平均值在其总平均值的士10%内一致，则3块IP的一致性良好。
6.3照射量指示校准
6.3.1任选3块不同尺寸/类型的IP，分别用80kVp，0.5mmCu和1mmAl滤过，焦点到IP距离（SID）为180cm，2.58×10-7C/kg（1mR）入射照射量对IP曝光，延迟10分钟后读取或按厂家指定时间读取。
6.3.2用生产厂提供的阅读方法对每块IP读取，获得3幅软拷贝影像，获取CR系统的照射量指示所2
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显示的读数值，利用生产厂提供的计算公式，计算IP曝光后的响应照射量E响应。计算公式参见附录B中表B.1。
6.3.3每块IP接受的测量照射量（E需量）（mR）与其响应照射量（E度）(mR）应在士20%内一致。对所有3块IP的平均值应在士10%内一致。6.4IP的响应线性
6.4.1使用单独一块IP，在80kVp，0.5mmCu和1mmAl滤过，在SID为180cm下，分别在2.58×10-8C/kg（0.1mR）、2.58×10-/C/kg（1mR）、2.58×10-C/kg（10mR）入射照射量按顺序完成3次哦光一读取周期，每次保持恒定延迟时间读取。6.4.2用生产厂提供的阅读方法对IP3次曝光在工作站上获取3幅影像，并记录CR系统照射量指示所显示的读数值，利用公式计算IP3次噪光的响应照射量。公式参见附录B中表B.1。6.4. 3对单个IP在 3个照射量档中测显照射量(mR)与响应照射量(mR)应在士20%内一致。o
6.5激光束功能
6.5.1用一把钢尺放在IP暗盒中心，使其长边垂直于激光束扫描线（通常激光束扫描线垂直于IP长边），选择60kVp，不加滤过SD为180cm，用129×10-6C/kg（5mR）人射照射量对IP曝光，获取一幅硬或软拷贝影像。
6.5.2用10~20倍放大镜观察照片或用软件放大影像，观察钢尺长边应为一条连续的直线，表明激光束没有颤动，如果发现钢直边有颤动，则用工作站的ROI测量工具测量，不应大于士1像素尺寸。6.6空间分辨力和分辨力一致性
相同型号分辨力测试卡，线对范围在0.5lpk6.6.1选用三个
mm5lp/mm，同时放置在一个IP暗盒上面，两个呈正交（水平和垂直），另一个10C/kg（5mR）
45角在60kVp不加滤过，SID为180cm，约用1.29×人射照射量对IP曝光和读取，获取一幅硬或软拷贝影像。6.6.2用一块乳腺摄影的屏/片密着检测板，对已擦除过的同一块IP，在6.6.1的相同曝光条件下进行曝光和读取，获取另
一幅硬或软拷贝影像
放大镜在硬或软拷贝影像上观察三个线对卡影像中最大可分辨的线对数目，分别6.6.3用10~20信
记录水平方向、垂直方间和45°角上的该线对数目：R水平、R垂直和R45。6.6.4在观察的整个像区域内，若屏/片密着检测板金属网格的影像呈均匀一致无模糊区域，表明IP分辨力一致性良好m
6.6.5从观察影像中测出R水平、R直和Rs与生产厂提供该IP的空间极限分辨力相比较，则R水平/（041×fNyust）均应大于90%。fNyquist，R直/fNyquit和R
6.7低对比度细节的探测
6.7.1选择适当的低对比度细节探测模体，放置在一个IP的暗盒上面，根据所选用模体说明书要求，选取管电压，和适当的滤过，sID为180cm，分别用约2.58×10-8C/kg（0.1mR），2.58×10-7C/kg（1mR），1.29×10-6C/kg（5mR）的入射照射量依次对同一个暗盒完成三次曝光一读取周期，读取时应使用相同延迟时间采集三幅硬或软拷贝影像6.7.2把三幅硬拷贝照片分别放在观片灯箱上或在工作站上的监视器分别观察硬或软拷贝模体影像，按模体说明书要求，观察和记录模体中细节影像可探测到最小细节。6.7.3验收检验应按模体说明书要求判断或者参照厂家的数据；状态或稳定性检验应与基线值进行比较。
6.8空间距离准确性
6.8.1将两把有刻度的钢尺分别垂直和水平放置在一个IP暗盒上面，用60kVp，无滤过，SID为180cm，约1.29×10-6C/kg（5mR）的人射照射量对IP曝光一读取，并采集一幅软拷贝影像，6.8.2用工作站上数字测距器对钢尺影像读取两个方向的测量距离（dm），和钢尺的真实距离（do），分别记录出它们的读数值。在垂直和水平两个方向上，则（dm一do）/do均应在土2%以内符合。3
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6.9IP擦除完全性
6.9.1将一块3mm厚的Pb板（4cm×4cm）放置在一个IP暗盒中央区，用60kVp，无滤过，SID为180cm，约1.29×10-5C/kg(50mR)的高人射照射量对IP曝光一读取，然后，再用上述条件下，无Pb板的情况下，约用2.58×10-7C/kg(1mR)低人射照射量对IP第二次曝光一读取，并获取一幅软拷贝影像。6.9.2在工作站上观察第二次曝光的影像，不应存在第一次曝光留下的Pb板的幻影，否则，表明IP板擦除不完全。然后应用“暗噪声”处理方式，将IP插人阅读器重复读取图像后，IP的照射量指示值在厂家规定的暗噪声水平以下。
6.10滤线栅效应（混叠）
6.10.1一个IP暗盒直接放置在滤线栅托盘中，使滤线栅Pb条平行于激光束扫描线（通常激光束扫描线垂直于IP长边），确保滤线栅固定不动。用80kVp，0.5mmCu和1mmAl滤过，使SID与滤线栅焦距相匹配，约2.58×10-7C/kg（1mR）人射照射量对IP曝光一读取，无延迟时间获取一幅硬拷贝照片或软拷贝影像。
6.10.2·用上述相同曝光条件，使滤线栅Pb条垂直于激光束扫描线放置一块IP，获取另一幅照片或影像。
6.10.3对于滤线栅Pb条垂直于激光束扫描线所获取影像中不应出现波纹状的混叠伪影。6.11IP通过量
6.11.1选择四个同型号和同尺寸的IP暗盒，在无延迟时间下连续对其读取。6.11.2从第一个IP暗盒放人阅读器开始计时到第四个IP暗盒的影像在CR观察屏上显示计时停止，记录所需这段时间间隔t(分钟）。6.11.3根据IP暗盒通过量的计算公式：Tm=60X4/t，计算该CR系统的IP暗盒每小时通过量（Tm）。6.11.4测得每小时的IP暗盒通过量(Tm)与生产厂给出的每小时IP暗盒通过量（To)应在10%内符合，可用公式（To一Tm）/To计算。编号
检测项目
管电压指示的偏离
输出量
输出量重复性
输出量线性
有用线束半值层
曝光时间指示的偏离
自动曝光控制
SID值的偏
几何光
有用线束垂
学特性
直度偏离
光野与照射
野偏离
滤线栅与有用线束
中心偏离
有效焦点尺寸
附录A
（规范性附录）
CR系统的检测项目与技术要求
表A.1CR系统的通用检测项目与技术要求检测方法及
相邻两档间
三相或直流
单相，≥0.1s
单相，<0.1s
影像光密度
空气比释动能
验收检测要求
参照厂家数据
≤10%
≥2.3mmAl
≤2%SID
无明显不对准
见WS/T189
1999中附录A
表A.4标称
焦点尺寸的允
状态检测
参照厂家数据
≤10%
≥2.3mmAl
≤2%SID
无明显不对准
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稳定性检测
士30%基线值
土30%基线值
±30%基线值
≤6°
≤2%SID
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检测项目
目视检查
IP暗噪声
IP响应均匀性及
-致性
照射量指示校准
表A.2CR系统专用检测项目与技术要求验收检测要求
IP及暗盒质量状况
IP初始清洁和擦除
照射量指示值应在保证值
之下，影像均匀，无伪影
在士10%（单板与多板）内
在±20%
LISHING
IP响应线性
动或颤动在！像素
激光束功能
R水平/fNygum>0.9
R重直/fnyqusr>0. 9
空间分辨力
R4s/(1.41XfNgi)>0.9
力重复性
网格影像均匀，无模糊区
细节技
低对比度维
空间距离
IP擦除完
滤线栅效应
IP通过量
参照厂家数据
在士2%内
状态检测
IP及暗盒质量状
况，必要时清洁
照射量指示值应在
保证值之下，影像
均匀，无伪影
在士10%（单板与
多板)内
在士20%（单板）内
在士10%多板内
在士20%内
无额动或额
像素尽寸内
R真力
Ras/(1.41X/gm）
网格影像均匀，无
模糊区域
参照厂家数据
在士2%内
不存在Pb板幻影，达到不存在Pb板幻影，暗噪声水平
未发现混叠伪影
在±10%内
达到暗噪声水平
未发现混叠伪影
土10%内
稳定性检测
IP及暗盒质量状
况，常规清洁IP
照射量指示值应在
保证值之下，影像
均匀，无伪影
在士10%（单板与
多板)内
在±20%（单板）内
在士10%（多板）内
在士20%内
额动或额动在
像素尺寸内
基线值土1个细节
±2%内
不存在P板幻影，
昊声水平
达到暗味
附录B
(资料性附录）
CR系统的IP响应照射量的计算公式GBZ187—2007
表B.1四个生产厂提供的CR系统IP的响应照射量（E响应）的计算公式Agfa
照射量指示表示www.bzxz.net
的量与符号
照射量指示的关
（E一照射量，mR）
计算响应照射量
（E确应）公式
照射量中位值M
感度值
GHOUSE
的对数
LgM-log(O
注：表中仅列出四
生产的ACR2000系统
600响应作为参考。
PVsmR表示接受8mR
（2276/S)X
-3.2768）
Em（mR)=200%S
Konica
感度值
(mR)=200/S
照射量指数
EI-1000log(E)+2000
logE应
（mR）=（EI-2000)/1000
的计算公式，其他厂家IP的响应照射量计算应参考厂家给出的方法，如对Lumisys公司MD-10型号的IP，已知该系统给出IP照射量为2.064X10-6C/kg（8mR）能产生像素值为600<±45，式中，
这种系统的IP照射量响应的校准，用下式表示其容许误差，PVmR人射典
射量时其80%影像区域中平
平均像系值。
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附录C
(资料性附录)
CR系统专用检测项目所需要的设备与用具表C.1
剂量测量仪器
胶片光密度计
空间分辨力测试卡
低对比度细节探测模体
屏一片密着检测板
滤线栅
放大镜
铜滤过板
铝滤过板
计时器(秒表)
测量用卷尺
固定用胶带
CR系统专用检测项目所需要的设备与用具数量
规格要求
已校准电离室或半导体探测器
光密度在0～3.5范围内读数一致性在士0.02内扇形或线对，0.5lp/mm~5lp/mm频率（Pb厚度≥0.05mm）
可选用多种，如LeedsTO-16、UAB或者CDRAD等模体乳腺摄影用细金属网格
固定，10：1或12：1,103线/英寸有刻度，长>30cm，宽2.5cm
10～20倍
厚度0.5mm，20cm×20cm
厚度1.0mm，20cm×20cm
厚度>3mm，4cm×4cm
长度>2m
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