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- GB/T 7424.2-2008 光缆总规范 第2部分: 光缆基本试验方法
【国家标准(GB)】 光缆总规范 第2部分: 光缆基本试验方法
- GB/T7424.2-2008
- 现行
标准号:
GB/T 7424.2-2008
标准名称:
光缆总规范 第2部分: 光缆基本试验方法
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
2008-03-31 -
实施日期:
2008-11-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
1.56 MB
替代情况:
替代GB/T 7424.2-2002采标情况:
MOD IEC 60794-1-2:2003
点击下载
标准简介:
GB/T 7424的本部分规定了光缆的机械性能、环境性能和元件的各试验方法的目的、试样、设备、程序、要求和待规定细节等。 本部分代替GB/T7424.2—2002《光缆总规范 第2部分:光缆基本试验方法》。本部分适用于GB/T 7424.1规定的光缆。 本部分与GB/T7424.2—2002的主要差异如下:———3.4标题由“标准大气条件”改为“试验环境条件和预处理条件”,并直接引用GB/T2421—1999的具体规定;———取消“3.6 图形符号与术语”,以下条目编号顺减;———3.8改为3.7,增加了具体内容;———增加了第4章“光缆试验”,以便与IEC60794?1?2:2003相同。本章说明本部分中的方法编号情况。以后的各章的编号顺延;———方法E7中的扭转角增加了建议值“±180°”;———方法E13又分为两个方法E13A 和E13B。E13A 与原来内容基本相同,但去掉了对弹着点数量的限制。E13B为新增加的方法;———方法E18分成了E18A 和E18B 两个方法,程序由2个增加为4个。增加了单一局部弯曲和多个局部弯曲的程序;———方法E19“风振”制定了详细的内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003中的方法E19;———增加并制定了方法E20“成圈性能”的详细内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003 中的方法E20;———方法F6的预处理限值由“光缆试样总质量的0.5%或0.5g”改为两者的较小者;———增加并制定了方法F10“耐静水压”及其具体内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003 中的方法F10;———增加并制定了方法H1“短路电流试验”及其具体内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003 中的方法H1;———增加并制定了方法H2“沿电力线路的架空光缆的雷电试验”及其具体内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003中的方法H2。 GB/T 7424.2-2008 光缆总规范 第2部分: 光缆基本试验方法 GB/T7424.2-2008
部分标准内容:
中华人民共和国国家标准
GB/T7424.2—2008
代替(G13/T7424.2—2002
光缆总规范
第2部分:光缆基本试验方法
Optical fibre cable generic specification-Part 2: Basic optical cable test procedures(IEC 60794-1-2:2003,Optical fibre cablc--Part I-2:Generic specificationBasic optical cable test procedures,MOD)2008-03-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-11-01实施
GB/T 7424.2-200B
2规范性引用文件
3总则
4光继试验
5方法E1:拉伸性能
6 方法 E2;磨摄
7方然法Fa:乐扇
方法E4:冲击
9方法E5:已成缆光纤的剥离力稳定性方法 E6:反复弯曲
方法E7:扭转
方法E8.曲挠
方法E10;弯折
方法E}:弯曲·
方法 E12:抗切穿
方法E13.枪击·
方法E17刚性
方法E18:张力下弯曲(过滑轮试验))19
方法F19:风振
方法E20:成圈性能
方法 F1:温度循环
方法F3:护套完整性
方法 F5:渗水
24方法F6:复合物滴流
25方法F7:核辐照
26方法F8.气阻
方法F9:老化
方法F10:耐静水压·
29方法G1:光缆元件的李曲
方法G2:光纤带几何尺寸的观测法30
方法G3:光纤带尺寸的孔规法
32方法G4:光纤带尺寸的千分表法33方法(5光纤带撕裂(可分性)34方法G6:光纤带扭转
35法G7套管弯折
36方法H1:短路电流试验
37方法H2:沿电力线路的架空光缆的雷电试验次
.P.+II.
GB/T7424《光缆总规范分为以卜部分:第1部分:总则;
一第2部分:光缆基本试验方法。本部分为GB/T7424&光缆总规范》的第2部分。CB/T 7424.2—2008
本部分修改采用IEC60794-1-2:2003光缆第1-2部分:光缆基本性能试验方法》,其主要差异如下:
一第3章\息则”中,量的数值按GB/T8170规定约:监测和检查的方法和抽样,按国内现行情况规定:
-将IFC中的\3.3定义\与\3.6图形符号和术语\合并为本条\3.3术语和定义”,并将IEC文本列于第29章中的光纤带定义移至本条中;\3.4标准大气条件”的标题改为“试验环境条件和预处理条件”,增加的具体规定摘录于“G1/T2121一1999电工了产品坏境试验第1部奔总则规定的标雅试验大气条件:\---1EC中方法 E14\复合物滴流\应是环境性:能试验,本部分中改为方法F6.TEC中方法E15\析油和蒸发足材料试验,本部分不列入!方法E1和方法E3中,补充『部分细书和其体数据方法 E4中建议落高为 1 m
了法F7中,扭转角度增加了按有定规范规是的角度:方法E10中,将光缆是否弯折的判定改为“使圆环的直径减小到有关规范规定的最小值”后再观察:
一方法 F11中,方法 F11A 加上名称\卷绕”,为方法 E11B加上名称\U 型弯曲”方法F1中,增加了试样应在20℃±5℃下处理24 h\的一般性规定。本部分代替(G1/『7424.2—2002%光缆总规范第2部分,光缆基本试验方法》。本部分与GB/T7424.2—2002的主要差异如下:3. 4 标题山\标准大气条件\改为\试验环境条件和预处埋条件\,并占接引用GB/T 2121-1999的具体规定;
一取消\3.6.图形符号与术\.以下条日编号顺减;3.8改为3.7.增加了具体内穿;
增加了第1章“光缆试验以便与IEC60794-1-2:2003相同。本章说明本部分中的方法编号情说。以斥的各章的缩号顺延:方法 F7 中的扭转角增加了建议值\二180°\;方法E13又分为两个方法E13A和E13B。E13A与源来内穿基本相同,但去掉了对弹着点数量的限制,E13B为新增加的方法:一法 E18分成了 E18A 和 E18B两个方法,程序出 2个增加为 4 个。增加了单一局部弯曲和多个局部弯曲的程序;
一方法E19\风振\制定了详细的内容,它等同采用[EC60794-12:2003中的方法E19:一~增加并制定了方法E20成图性能”的详细内容,它等同来用IFC 60794-[-2,2003收的力法E20;
GB/T 7424.2——200E
一方法F6的预处理限值由光缆试样总质量的0.5%或0,g\故为两者的较小者:--增加并制定了方法F10\耐静水压”及其具体内容,它等同采用IEC60794-1-2:2003中的方法F10,
---增加并制定了方法 H1\短路电流试验”及其具体内穿.它等同采用[EC 60794 1 2:2003 中的方法HI;
增加并制定了方法H2“沿电力线路的架空光缆的雷电试验”及其具体内容,它等向采用IEC60794-]-2:2003中的方法H2。本部分出中华人民共和信息产业部提出:本部分由中国通信标准化协会归几。本部分用四川汇源光通信股份有限公司,成都大康线缆有限公司,信息产业部有线通信产品质量监督检验中心、电信科学技术第五研究所起草。本部分王要起草人:王则民赵秋香、陈方春、薛梦驰虞春、宋志佗·时彬。本部分所代替标雅的历欲版本发布情况:)GB/T 7425(所有部分)—1987、GB/T8405(所有部分)—1987;h)GI3/T 7124,1—1998的第 3章和第6章:c) GB/T 7424.2 2002.
1范围
光缆总规范
第2部分:光缆基本试验方法
GB/T 7424.2—2008
GB/T7424的本部分规定了光缆的机械性能、环境性能和元件的各试验方法的目的、试样、设备、程序和要求等,
本部分适用于GB/T7424.1规定的光缆。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GH/T7424的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然面,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本,凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T2423.222002电工电了产品环境试验第2部分,试验方法试验N:温度变化(IEC 60068-2-14:1984,IDT)
CB5023.21997额定电压450/750V及以下案氧乙烯绝缘电缆第2部分:试验方法(ill1EC 60227-2:1979)
GB/T7424.1—2003光缆总规范第1部分,总则(IEC60794-1-1:2001,MOD)GB/T8170数值修约规则
GB/T15972.22一2008光纤试验方法规范第22部分:尺寸参数的测量方法和试验程序长度(1EC:60793-1-22:2001,M0D)GB/T15972.32光纤试验方法规范第32部分:机械性能的测量方法和试验程序·涂层
可剥性(GB/F15972.32—2008,IEC60793-1-322001,M0[)GB/T15972.46一2008光纤试验方法规范第46部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序——透光率变化(IEC60793-1-46:2001.M()D)GB/T15972.54光纤试验方法规范第54部分:环境性能的测量方法和试验程序-(GB/T15972.54—2008,IEC60793-1-54:2003,MOD)YD/T629(所有部分)光纤传输衰减变化的监测方法IEC60544(所有部分)电气绝缘材料离子辐期影响的确定3总则
除非详细规范中另有规定,本章的各条规定应适用于本部分规定的各试验方法。3.2试验方法格式
椰玛辐照
各试验方法格式应按如下标准顺序编制。在保持这个总体顺序的同时,插入加条款。月的
GB/T 7424.2-—2008
待规定细节
3.3术语和定义
下列术活和定义适用]图1所示的光纤带横载面。3. 3. 1
Fwidih and thickness
宽度和厚度
光纤带的宽度和厚度!是包围光纤带横截面的最小矩形的长边和边的尺寸。3.3.2
基线hasis line
基线足在光纤带横截面中通过第一根光纤(光纤)中心和最后一根光纤(光纤n)中心的直线3.3.3光纤排列
3. 3, 3. 1
光纤水平间距horizontalfibreseparation光纤水平间足在纤带横截面中两光纤中心在基线上的垂直投影距离。可区别为两个水平间距参数;
a)捕邻光纤中心闻的距离;
)两测光纤中心间的距离b。
3. 3. 3. 2
平整度planarity
光纤带的平整力是这些光纤心到基线的近直叫距最人正值和最大负值的绝对值之和。光纤中心在基线\之[\时·垂直间距为正、光纤中心在基线\之下“时,垂自间距为负基线
光纤!
光红带宽度:
光纤带厚度:
光纤2
光纤带中指邻咒纤中心问的距离:光纤带中两狮光虾巾心间的距离,光纤带平整度,
图1光纤带横截面几何结构示意图3.4试验环境条件和预处理条件此内容来自标准下载网
除非另有规定.本部分规定的试验环境条件应是标准试验人气条件,即应符合如下规定:温度为(15~-35):
相对湿度为25%~-75路:
压为(86-l0G) kPa.
GB/T 7424.2—2008
3.4.2除非另有规定.本部分规定的试验样品应在上述试验环境条件下预处埋243.5量的数值
本部分规定的量的数值应有明确的有效位数,测量值应按G/下8170规定修约到与规定值同样的有效位数后,再与规定值比较。3.6安全
待定。
3.7定标
3.7.1定标
定标程序可规定为这一套操作:在指定的条件下,建立测量系统指出的值和基准材料的已知值之间的相互关系,一旦建立起来,这个关系划用丁调节测量系统,以纠正统计品者偏差,只要知道确定性的关系存在,系统调节可以采取例如硬件或软件调节的形式。保证设备在使用前接制造商的说明定标和调节,以便使测量不确定性最小,记录定标过程的有关资料,例如基准材料或所用试验设备的定标值和不确定性。3.7.2评估不确定度11
测量不确定度可被定义为估计被测量(被测物理量)的真值落在处于给定可信度(置信水平)以内的范围。测量不确定度通常包含几个成分,其中有些可用统计技术估算(所谓的A型不确定度),而另一些可在实验或其他资料的基础上估算(所谓的B型不确定度),不确定度的成分或变化是加戒的,置信间可针对基于变化成分的总和的词量来计穿。不确定度的典型构成可包括如下来源的不确定度:。基准材料或所用设备的定标不确定度一一通常在标准的定标证书上陈述:转换不确定度…基准材料或设备的认证值因其被定标而产生的估算变化;,操作不确定度-环境系件(例如温度和湿度)的估算影;·试样和定标标准的测量的统Ⅱ(随机)不确定度一一起因于诺如电气噪音、振动、数据量化等。3.8监测和检查
3,8,1光纤传输衰减变化(即透光度变化)的监现在本部分方法F1中应按GH/115972.46—2008中方法或YI>/T629.2规定进行,在本部分其他方法中应按GB/T15972.46—2008中方法A或YD/T629.1规定进行。在受试光缆芯数不多于12芯时应监测金部光纤.在多于12芯时应监测至少12根光纤,抽样时应考虑到光纤结构位置和色谱等方面的代表。
3.8.2光纤的光学连续性和断裂的检测可采用通可见光日视捡测法或按GB/T15972.46—2008中方法B或YD/T629.2规定方法进行检测,应检测受试光缆中的全部光纤。3.8.3光缆护层检查
护套下裂检查,应以正常视力进行目视检查。3.8.4适时检测
应按有关规定.在试验之前、之中和(或)之后行适时监测和检查、4光缆试验
下面的测量程序叙述光缆的机械性能试验(编号E系列)和环境性能试验(编号F系列)、光缆元件的几何尺寸和机械性能试验(编号(系列)以及沿电力线路的架空光缆的电性能试验(编号H系列)。其中某些试验还在考患中,
注;由于本部分中的试验编号必可能与IEC60704-1-2中相同,较早1EC版本中的某些试验已被其他试验取代或已确定是不适用的,因此,在试验编号顺序中缺少 E9,E16,F2 利 F4 等号码:1)见I以/FC关于表达测量不确定度的守则,3
GB/T7424.2--2008
5方法E1:拉伸性能
5.1自的
本方法适用于测量光缆在规定拉伸负载(通常是安装期间允许的负载)范围内的拉伸性能,即测定光绝中光纤的衰减变化、光纤应变和(或)光继的应变与拉伸负载的函数关系。本方法的意图是非破坏性的,即施加的拉伸负载应在允许的最大拉力以内。本方法依所监测的项耳不同,分为:a)方法E1A,是确定光纤衰减变化的方法;b)方法E1B,是确定光纤伸长应变和光缆伸长应变的法。它能提供光统安装时的最大充许拉力和光缆腐变限量的资料。
诚按题详细规范或用户和制造厂间的协议,可单独使用方法E1A或方法E1B,或者联合使用这两个方法来分别测量光缆的不同拉伸性能。5.2试样
从盘装或成的光缆上取出·一段受试光巍,其长度足以敢得希辈的精度。当采用图2设备时,除非另有规定,光缆受试段长度近似为两卡盘人口切点间的光缆长度与一个卡盘周长之和,它应不小于50m㎡。当采用图3设备时.除非另有规定,光缆受试段长度为两夹头间的光缆长度,它应不小于25m。受蓝测的光纤两端应制备成平整,清洁并垂直于光纤轴的端面。5.3设备
试验设备示例见图2和图3。试验设备的拉力鼠程不得超过被试光缆最大允许拉为的5~10倍。试验设备应包括:
)机械装置
1)一套夹持装置,用于抓住光缆各元构件,使它们相互间无实质性滑移,且不会影响试验结果。例如图2中的卡盘和图3中的夹头,其卡盘直径应不小于试样外径30倍。注:对于自承式架空光缆,当详细规范有要求时,应循助与其光缆吊挂翻式相关的装置来进行光缆固定。对于某些重型铠装光缆.其夹持装置可以采用网套夹或类似销桩装置。2)一套可选用的传递装置,可用于图2设备中使较短的设备长度能容许较长的受试段长度,其滑轮直径应不小于试样外径30。3)一台拉力装置,用于以规定拉伸速率在规定的拉力范围内提供平稳的拉仲负载。b)监测设备
1)--套测力装置(含拉力传感器),用于测量试样所受拉伸负载,其传感器最大误差应尼它的最大测量范围的士3%。
2)一台光纤衰碱变化测量设备,用于方法E1A,它应符合CB/T15972.46—2008中方法 A或 YD/T 629. 1 规定。
3)一台光纤应变测量设备,用于方法E1B,它应符合GB/T15972.22—2008中方法C规定。4)一套可选用的光缆伸长测量装置,用于方法E1B,它可基于机械方法,也可基于电气方法,其精度应确保光缆应变谢量结果的误差不大于土0.01%。5)一只可选用的多路光开关,用于多路光纤监测的转换。5.4程序
a)试验环境条件应符含3.4 规定。b)把光缆装在拉伸设备上,在两端用夹持装置把光缆均勾地固紧,防止光缆的各元构件相互滑移。对于大多数光缆结构,例如层绞式光缆,实际是夹持住除光纤以外的各元树件,这足以用于测量拉伸性能例如囊减变化、光纤应变,光缆应变和最大充许拉力。但是,对于某此光缆4
GB/T 7424.2—2008
结构,例如中心管式光缆,可能需要注意防止光纤纵问滑移,以便得到止确的光纤应变。把受试光缆中的受监测光纤连接到监测设备。在拉伸试样时,应注意受监测的基准长度不得变化。
拉伸力应连续地增加到详细规范中规定的(各)要求值,例如长期充许拉伸力和最大拉伸力d)
(通带为短暂充许拉伸力),除非另有规定,保持时间至少为1min,拉伸速率应为5mm/min~10nm/min,然后,逐渐卸去负载。这样-个加载和卸载的过程.构成一个循环。在加载过程中,应作为光缆拉伸负载的函数来记录规定波长下的衰减变化,光纤应变和(或)光e
缆应变。除非另有规定,对于12芯以下光缆,应监测全部光纤,对于12芯及以上光缆·应监测至少12根光纤。
f)除非另有规定,试验循环次数应为1次。g)当有要求时,在最终卸载5min后、测量衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变的残余值。5.5要求
试样的衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变,以及去除拉力后它们的残余值,应衍合详细规范中舰定:
当详细规范有要求时:应提供和评价光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系,如图4所示。当有要求时,应确定光红应变始发点的拉伸负载数值,即光纤应变与拉伸负载的函数出线图上,曲线的线性部分与拉伸负载轴的交点处的拉伸负载。5.6待规定细节
详细规范应包括如下内容:
a)光缆长度和受拉仲长度;
负载传感器:
C)注人条件和衰减测量裴置(当必要时):光纤应变测敏装置(当必要时):e
是否要求在规定波长下衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系:拉伸增加的速率(当另有规定时);f
光缆长度测壁的最小精确度(当分有定时);环境温度(当不同于 3. 4规定时):卡盤
传递装置
工转置
批力装背
负裁传感器
桂上光缆
卡盘和传避液置
受试光段
光纤测量装置
传递装置
图2使用传递装置和卡盘的拉伸性能测量设备示例5
GB/T 7424.2—2008
拉力装置
负镜传感要
灾持装背
受试光露段
光纤测医较肾
图3拉伸性能测量设备
神长率(%)
光缆伸长率;
拉伸性能
光纤伸长率,
注,T:相应于光纤开始受应变的负载:T相应于规定的最大拉力负载,XTarx
图4光纤和光的伸长与负数的函数关系实例6方法E2:磨损
光缆耐磨损性包括两个方面:
a)护套耐磨损的能力;
b)光缆标志耐磨损的能力。
6.1方法E2A:光缆护套耐磨损
6. 1. 1 目的
本试验的目的是确定光缆护套耐磨损的能力。6.1.2试样
试样应是…段足以实施规定试验的光缆,其长度通常为750 mm。6.1.3设备
夹持装员
磨捆试验装备应能在(10士1)mm的长度上,以(55二5)循环/分的频率,平行于光缆纵轴的方向米回擦磨光缆表面。擦磨刃口来问各移动一次,构成一个循环。擦磨刃口应足一根钢针,其直径应符合详细规范中的规定。典型设备示例见图5。
6.1.4程序
试验环境条件应符合3.4规定。
用光缆夹把长度大约750nm的试样紧固在支撑板上。然后,应以重物对擦磨刃门加裁,在光b
缆上产生详细规范中陈述的力,同时要避免冲撞光缆。除非详细规范中另有规定,在每个试样上进行4次试验·在后一次试验前把诚样向前称动100mm并.总是相同方向旋转90\角。6
6.1.5要求
在完成规定的循环次数之后,护套应无穿孔,光红应保持光学连续性。6.1.6待规定细节
详细规范应包括如下内穿:
a)循环欲数:
b)针棒直径:
c)施加的力。
6.2方法E2B:光缆标志耐损
6. 2. 1 目的
本试验的目的是确定光缆标志耐磨损的能力。依据标志的种类和详细规范中的规定,应使用如下两种方法之一:。方法1.适用于坚硬的标志类型.例如压凸纹、压川纹和熔结的标志:方法2,适用于上述类型之外的标志。6.2.2试样
试样应是足以实施规定试验的-段光缆,其长度通常为750 tnm。6.2.3设备
6.2.3. 1方法1
典型设备示例见图5.
GB/T7424.2—2008
该装置应能在40mm的长度上,以(55二5)循坏/分的频率,擦磨平行于光缆纵轴的光缆标志。擦磨刃口来回各移动一次,构成个循环。擦刃应是一根钢针,其直径为1mm或按详细规范中的规定6.2.3.2方法2
该设备包括:
a)一台试验装置,用于把力通过羊毛毡施加到变试光缆上:典型示例见图6;b)两块白色羊毛毡:
c)对试样施加力的重物:
6.2.4程序
试验坏境条件应符合 3. 4 规定。6. 2. 4. 1 方法 1
用光缆夹把长度约750加m的试样紧固在支撑板上,使试样标志直接处于擦磨刃口下施行试验,然后,应以重物对擦磨几加载,在光缆上产生详细规范中规定的力,同时要避免冲撞光缆。然后,施行详细规范中规定的循环次数的擦磨,6. 2. 4. 2方法 2
应把带标志的光缆试样放在用水浸透的两块羊毛毡之间。然后,应把详细规范中规定的标称力(F)施加到在100mm上前后移动的诚样标志上,施行详细规范中规定的擦磨循环次数,6, 2. 5 要求
在完成详细规范中规定的循环次数之后,标志应宇迹清晰可辩。6.2. 6待规定细节
详细规范应包括如下内容:
a)循环次数:
b)所用方法:
r)针棒直径(方法1):
d)施加的力。
GB/T 7424.2—2008
行程发生器
支撑(铜)板
图 5 用于试验 E2A 和 E2B 方法 1 的典型试验装直(F)
羊毛毡
平衡物
图 6 用于试验 F2B 方法 2 的典型试验装量7方法E3压扁
7. 1目的
本试验的目的是确定光缆承受压扁的能力,7.2试样
试样应是一段足以实施规定试验的光缆。7.3设备
详图X
该设备的可移动钢板应能在光缆试样的100mm长度上均匀地施加压扁力,使试样在平的钢板基座和可移动钢板之间受到压扁。可移动钢板的边缘应以约5mm半径倒角,倒角边缘不包括在钢板的100mm平整部分之内。设备示意图见图?。
7.4程序
试验环境条件应符合3.4规定。
应把试样安放在两块钢板之间,防止横向移动,然后,逐渐地而无任何突然变化地施加力,如果以步级方式增加力,其增长比率应不超过1.5:1。除非详细规范中另有规定,施加的压扁力应增加到详细规范中规定的(各)值,例如长期允许压扁力和最大乐扁力(通常为短暂允许压扁力),并在保持时间至少1min后进行监测,然后逐渐卸去压扁力,过 5 min后再进行最终监测和检查。8
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