本通则适用于各种类型的扫描电子显微镜和X射线能谱仪。 JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T010-1996

本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm-500nm的点或线的间距。 GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T20307-2006

GB 10983-1989 看谱镜 GB10983-1989

本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。本标准适用于多晶X射线衍射仪(以下简称衍射仪)。 JB/T 9400-1999 X射线衍射仪 技术条件 JB/T9400-1999

本标准规定了衍射光栅的技术指标名称和代号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于JB/T8239.1规定的反射式衍射光栅。本标准中所述光谱均指一级光谱。 JB/T 8239.2-1999 衍射光栅 技术条件 JB/T8239.2-1999

本标准规定了电子显微镜的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 JB/T 5384-1991 扫描电子显微镜 技术条件 JB/T5384-1991

本标准规定了光谱仪器用滤光片的术语、分类、基本规格、参数和技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于光谱仪器用的滤光片，其基底材料为光学玻璃，其它光学仪器用的滤光片可以参照本标准。 JB/T 5590-1991 光谱仪器用滤光片 JB/T5590-1991

本标准规定了光谱仪器用狭缝的基本参数、技术要求和试验方法。本标准适用于摄谱仪、分光光度计、单色仪、强光分光仪等光谱仪器用狭缝。 JB/T 9331-1999 光谱仪器用狭缝 JB/T9331-1999

本标准规定了可见分光光度计的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。本标准适用于主要光谱区为360nm～800nm的可见分光光度计(以下简称仪器)。 JB/T 9324-1999 可见分光光度计 JB/T9324-1999

本标准规定了摄谱仪的感光板暗盒和暗盒框架的结构型式及其基本参数。 JB/T 6176-1992 摄谱仪感光板暗盒和暗盒框架 基本参数 JB/T6176-1992