本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠

GB/T 30543-2014 纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 GB/T30543-2014

本标准定义了扫描电子显微术（ＳＥＭ）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ＩＳＯ２３８３３中定义的术语。本标准适用于所有有关ＳＥＭ 实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）、分析电子显微术（ＡＥＭ）、能

本标准代替GB/T 15247-1994《碳钢和低合金钢中碳的电子探针定量分析方法 灵敏度曲线法(检量线法)》。本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(其他合金元素质量分数小于2%)中碳含量的校正曲线法。本标准包含试样制备、Х-射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。本标准适用于测定碳

本标准等同采用国际电工委员会IEC 60825-4:2006《激光产品安全——第4部分：激光防护屏》，仅有编辑性修改。本标准是对GB 18151-2000的修订。本标准详细说明了永久和临时(例如维修时)用来围封激光加工机工作区域的激光防护屏以及专用激光防护屏的要求。本标准适用于包括目视透明屏及视窗、

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。 GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则 GB/T20726-2006

本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。 GB/T 20176-2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 GB/T20176-2006

本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。 GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 GB/T20175-2006

本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm-500nm的点或线的间距。 GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T20307-2006

本标准规定了激光喇曼分光光度计的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本标准适用于双单色器、三单色器激光喇曼分光光度计(以下简称仪器)。 JB/T 9326-1999 激光喇曼分光光度计 JB/T9326-1999