本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件 JB/T5482-2004
本标准规定了透射电子显微镜-X射线能谱仪定量分析生物薄试样的技术要求和规范。本标准适用于生物薄试样所含非超轻素的定量分析。 GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜子-X射线能谱定量分析通则 GB/T18873-2002
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜——X射线能谱仪,测量比例因子(K A-B)所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。 GB/T 18735-2002 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样 通用规范 GB/T18735-2002
本标准规定了包括激光探测器在内的各种应用于100mm至1mm波长范围的激光功率能量测试器件和设备的有关术语定义、检验项目、条件和方法,测量误差和仪器级别以及应满足的最低要求等。 GB/T 6360-1995 激光功率能量测试仪器规范 GB/T6360-1995
本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。 GB/T 17723-1999
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