【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件 ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033.46-- 94
半导体分立器件
2CZ59型硅整流二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification far type 2CZ59silicon rectifier diode
1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CZ59型硅整流二极管
详细规范
Semictnductor discrete deviceDetail speeirication for type 2Cz59sillcon rectifier diode
1范围
1.1 主题内容
本规范规定了2CZ59型硅整流二极管（以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等极
SJ 50033.46-94
按GJB33<平导体分立器件总规范>1.3条的规定，提供的质量保证等级为普军，特军和超特军三级，分别用字母 GP、GT和 GCT表示。2引用文件
GB4023-86半导体分立器件第2部分整流二极管GB7581—87半导体分立器件外形尺寸半寻体分立器件总规范
GJB 33—B5
GJB128—86半导体分立件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33和本规范的规定：3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3.2.1引出端徐层
器件装面应镀竭。对引出端涂层另有要求时、在合同或订货单中规定（见6.3条）。中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
TKAONKAca
3.2.2器件结构
ST50033.4694
在芯片的两面和引出端之间采用高温治金键合结构。号
C1 - 01C
图1外形图
3.2.3外形尺寸
SJ 50033.46 --94
外形尺寸应符合 GR 7581 的 C1 -01C型及如下的规定。见图 1。3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
2C2598
26759C
2C259D
2CZ59E
2CZ59F
2C2590
2C239H
2C259J
2C759K
Va= Vrw
tp= 10ms
当Tc超过75℃时，按267mA/C线性地降频。3.3.2主要电特性(T,=25℃)
IFu元60A
2C2591
2C259C
2C259D
2CZ59E
2CZ59F
2C259G
2CZ59H
2C739J
2CZ59K
最大恒
3.4电测试要求
Vr=VRwM
最大值
电测试应符合GB4023及本规范的规定。3.5标志
55 -150
Vα= Vawu
Tc=140C
最大值
- 55-175
最大慎
rKAoNiKAca-
SJ 50033. 46 --94
标志应符合 GJB 33和本规范的规定。3.5.1极性
器件的极性应采用二极管符号“以”表示，箭头指向为负极端。4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按 GIB 33 和本规范的规定。4.2监定检验
鉴定捡验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
筛选应按 GJB 33表 2 和本规范的规定。其测试应接本规范表1 进行,超过本规范表1极限值的器件应予除。
筛选（见 GJB33表 2)
3.热神击
7. 中间电参数测试Www.bzxZ.net
8.电老化
9元最后涎试
4.4质量一致性检验
测试或检验
除低温为外,其余同试验条件F。VaMiRi
Te=95-9C Io= 14AVx= VrwM f=50Hz 正弦半披本规范表「的2分组；
4IRI=初始值的 1(HI%或 4 0μA,政较大者;4Vr = ±0.1V.
质量一致性检验应按 GJB 33的规定。4.4.1 A纠检验
A组检验应按CIB33和本规范表1的规定进行。4.4.2 B组检验
B 检验应按GB 33 和本规范表 2 的规定进行。最后测试和变化量(4)的要求应按本规范表4相应步骤的规定。
4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。最后渊试和变化量（4)的要求应按本规范表4相应步骤的规定。
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表和如下规定：4.5.1稳态工作寿命
在器件的反向施加规定的正弦半波峰值电压，接着在正向施加规定的正弦半波平均整谛电流，整流中流的正向导通角应不大于180°,不小于150°。4.5.2脉冲测试
脉冲测试条件应按 GJB 128的 3·3·2+1的规定。4.5.3热
热阻测试应按 GB 4023 中的 2.2.3 条的规定进行。4
检验或试验
A1分组
外观及机綫检验
A2分组
正向电压
反向电流
A3分组
商润工作：
反向电流
低温工作：
正向电压：
A6分组
浪蒲电流
最后测试：
GJB128
IY-1 2 3
SJ50033.46—94
表 1 A组检验
GB 4023
T rm = 60A
。=300ms
Vh = Vwh
Te= 140t
Vr VrwM
Te = - 55t
IFM -6DA
tg—300gg
Th = 25t
Ve = Vkwm
IrSM—420A
p 10ms
周波教与浪
次数均为1
见表4步骤「和2
表2B组检验
检验或试验
B1 分组
可短性
标志久性
B2 分组
热冲击
细检漏
b粗检摘
最后测试：
焊接停留时间= [0 = 1s
轻限值
最小值
除低温为-35外,其余同试验
条件 F-1。
试验条件H
试验案件
见表 4 步骤1 和 2。
最大值
TKAONKAca-
检验或试验
B分组
稳态工作寿命
最后测试：
B4分组
开帽内部耳检
B6 分组
商温寿的(非工作状态)
最后测试：
检验或检验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热种击
引出端强皮
目。细
b.粗检漏
综合温度/湿
度周期试验
外观及机械检验
最后测试
C3 分组
变频振动
恒定加速度
SJ 50033.46 94
Te - 95-gcVr = Vrw
To = 14A
f=50Hz正弦半皱
现表4步骤1、2和3
TA = 175t
见表4此骤1.2和3
表3C组检验
见图1
试验条件
试验条件Dz
转矩;1.ON·r
时间：10～15s
试验条件 H
试验条件C
按表4步强1和2
a - 14700m/s*
t = 0, 5r119
冲击方向及次数：
沿X、Y2每
方向5次
非工作状态
离心加速度：
极限值
最小值
每批一个器件
70失效
最大镇
检验或检验
最后测试：
Cs 分组
(适珀时)
低气压
试验期间测试
反向电流
C6分组
稳态工作寿命
最后测试：
C7 分组
验或检验
正向电压
反向电流
反向电流变化
GB 4023
GB4023
FW -2.2.3
SJ 50033.4694
GB 128
98000m/
获表4步案1和2
试验条件 C
1= 60g
VR-YowMt
Te- 9s_2c
Jo=144
VR-VRwM
于 = 50H元正孩半波
见表4表骤1、2、和3
入=10
Zah(rei
表4A组、B组和C组的电测试
GB 4023
I-1-2-3
N-1-4-1
-1-4-1
IFM- 60A
1,=3003
V - VeWM
VR - VwM
注：1)本试验中I超过A组极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GIB33的规定。
5.2存要求
照存要求应按 GJB 33 的规定。5.3运输要求
运输要求应按 GJB 33的规定。
6说明事项
极限值
极限遣
最小值
最大值
最火值
初始值的100%或
4.0mA,取较大者。
TrKAONiKAca-
6.1预定用途
SJ50033.46—94
符合本规范的器件供新设备和现有的后勋保障用。6.2订货资料
订货合同应规定下列内容：
理。本规范的名称和编号；
b.等级(见1-31);
数量：
d．需要时.其它要求。
6.3对出端涂层有特殊要求时，应在合同或订货单中规定（见3·2·1条）。如使用单位衡要时，典型特性监线等可在合同或订货单中规定。附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由八七兰厂起草。
本规范主要起草人：彭琳、刘东才、金贵永。计划项目代号：B21025。
YIKAONIKAca-
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