【国家标准(GB)】 无损检测 金属材料X和伽玛射线 照相检测 基本规则

ICS 19. 100
中华人民共和国国家标准
GB/T199432005/1S05579:1998
无损检测
金属材料X和伽玛
射线照相检测
』基本规则
Non-desiructive testing-Radiographic examination ofmetallic materials by X-and gamma-rays---Basic rules(ISO5579.1998,IDT)
2006-09-19发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2006-04-01实施
规范性引用文件
射线照相技术分级
电离辐射防扩
检测布置
表面准备和检测时机
射线照相底片的标识
胶片的搭接
像质计(IQI)...
推荐的射线照相技术
X射线管电K和射线源的选择
胶片系统和增感屏
射线束的对推
散射线的控制
源至工件距离·
饮噪光最大区城
射线照相底片密度
胶片处理
观片条件
检测报告
GB/T 199432005/ISO 5579;1998m
版）。
不标准是首次制定。
GB/T19943—2005/ISO5579:1998本标准等同采用ISC5579：1998%无损检测金属材料X和伽马射线照相检测本标准等翻译150)5579：1998。为便于使用，本标剂做了下列编辑性修改：a）“本国际标准”.-词改为\本标准”，b)
用小数点”，“代替作为小数点的号“，”c
删除冈际标准的前言：
使用/T1.1—2000规的引导语
本标准由中国机械1业联合会提出。本标准非全风无损险测标准化技术委员会(SAC/TCG)归口。本标准起革单位：上海材料研究所。本标准主要起草人：金宇飞、恋中玉，基本规则》（英文
GB/T 19943—2005/1SO 5579: 1998引
用X射线或伽冯射线进行射线照相检测，其探伤能力取决于射线照相技术的细节。由于射线照相底片的质量不能完全通过使用像质计（IQI)来确保，本标准阐明了获得良好射线照相质量的基本规则和技术步骤。
相关的特定应用标准宜符合这些基本规则。注：本标准中的术语“伤，并不涉及拒收与验收的含义1范围
GB/T 19943—2005/1S0 5579 : 1998无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则
本标准规定了使用胶片技术，对金属材料和制品实施以探伤为日的的.I业X和伽玛射线照相的基本规则。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准.然而，鼓励根据本标准达戒协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版木适用于本标准。GB/T19348.1无损检测T业射线照相胶片第1部分：丁业射线照胶片系统的分类（GB/T[9348. 1—2003,ISO 11699-1:1998.1DT)GI3/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求（GB/T19802—2005,ISO55801985,IDT）CB/T19803无损检测射线照相像质计原则与标识（GB/T【9803-2005,ISO1027:1983Rediographie:image quality indicators for non-destructive testing-Principles and identificntion.IDT)GB/T19938无损检测焊缝射线照耕和底片观察条件像质计推荐型式的使用（GB/T199382005,IS02504,1973Radiographyof welds aricdl viewing conditions for filmsUtilization ofrecommended pallerns nf image tjuality indicators(I. Q. I ),Iry)3定义
本标采用的术语定义如下。
Enonainalthickness
标称厚度
鼓检范围内材料的标称序度，
注：不必考虑制造公差。
透照厚廣
penetrated thickness
以标称厚度（包括多瞻技术）为基础算出的射线束方向上材料的厚度，3.3
工件至胶片距离ohjeci-to-filmdistanceb
沿射线束中心线测出的被检工件射线源··侧至胶片表面之间的距离。3. 4
源尺寸 source size
射线源的尺寸，等于射线源的最大直径，3.5
源至胶片距离
sourcc-to-film disiancet SFD)1
GB/T 19943—2005/1SO 5579;1998射线束方向上测B的射线源至胶片之问的距离。3. 6
源至工件距离sourec-lo-ohject distancef
沿射线束中心线测出的射线源全射线源一侧的披检1件之间的离。4射线照相技术分级
射线照相未分为两个级别：
-—A 级;基术技术;
-·一B级：优化技术
当A级技术的灵敏度不够时应使用B级技术。可征得签约各方同意，采用含有所有适与检测参数的，比B级技术更优的技术规范：射线照相技术的选择应征得等约各方同意。如果由于技术原因而不可能满是β级技术规定的案项条件，如射线源种类或源干件距离了，经签约各方同意也可选月A级技术规定的条件。此时灵敏度的损失成通过将最小案度提高到3.0，或选用对比度更高的胶片系统来加以补偿。由于该灵敏度优于八级，检测部位可视为按B级检测。5振述
51电离辐射防护
注意：人体作何部位妥到X射线或伽玛射绒照射都可能严重损害键康。无论在何处使用双射线设备或放射源，均应遵循相应的法规要求。只要使用电离韬射，就应严格遵循地方、国家或国际的安全院护规定，
5,2捡测布置
捡测布置包括射线源，被检工作和暗袋中的胶片或胶片-屏组合，并取决于被检工件的形状和尺寸，以及被检区域的可接近性。通常宜从图1至图7中选择，其中图1最带用，射线束应对准被检部位中心,并应垂育于该点的工件表面,除非已知用其他方向射线束能再好地显赤某些街.
若射线方向与表面不垂直·则应在检测报告中注明。只有作单壁技术无法使用时，才允许使用双壁技术。5.3表面准备和检测时机
通常，表而不做准备，若囊面缺欠或覆盖层有可能使缺陷滩以检出时，则该长面就应打磨光滑，或该癫盖层应于去除。
除非另有规定时线照相应在制造的晟终阶段进行，如在打或热处理质5.4射线照相底片的标识
工件的每部位在进行射线照相时应效置标志符号，只要可能，这些标志符号的图像应出现在射线照相底片的评定范制之外，并成确保被检部位的标识准确无误，5.5标记
为使每张底片准确定位+被检1.件上应打上永久性标记，若材料的特性和（或)其使用条件不允许打匕永久性标记，可将位置摊确记录在草图上。5.6胶片的搭接
一个区或用两张或多张胶片射线照相叫，为确保射线照相到整个被检范围，胶片间应充分重叠、为此、应在工件表面上效置用于验证的高密度材料的标记，标记应显示在每张底片上。有效光学焦点尺寸为4的射线源；2-…胶片．
f——源垒T件距离
材料厚度;
&胶片率最靠近源工件表面的距离。图 1 布置 1 : 单壁透照
图注图1：
注：此布置优于布置4(见图 4) 图 2 布置 2 : 单壁透照
GB/T 19943—2005/ISO 5579:1998平板工件
曲面工件射线源置于凹面侧偏心位置胶片置于面侧GB/T19943—2005/ISO5579.1998图究图！免费标准bzxz.net
注，此技术优点是一次噪光遵照整个尚周此布置优于4置2（图2）有置46见图4或微5（元图：）图 3布置 3:单壁透照
图注见图1，
曲面工件射线源于圆心位置
图4布置4：单壁透照曲面工件射线源置于凸面侧胶片置于凹面侧图注见图】
注因慰线随紧贴上壁,不官评定上整内的伤。图 5布置5:双壁透照
图注见图1
单壁评定
GB/T19943—2005/IS05579:1998射线源和胶片在两侧
注：可评定上墅内的伤，有时可能要用H它角度（即不垂直上胶片面中心）进行选照。图6布置6：双擎透照双壁评定射线源和胶片在两侧GB/T19943—2005/ISO5579:1998图注见图1，
图7布罩7:单壁照不同厚度或材料的平板或曲面工件相同或不同感光速度双胶片5. 7 像质计(Q)
应按规定的应用标准GB/T19823和GB/T19938使用像质计验证像质，推荐的射线照相技术
6.x射线曾电压和射线源的选择
6. 1. 1 x射线设备
为获得良好的探伤灵敏度,应尽可能选用较低的X射线管电压。小同厚度的最高管电压值见图8。6.1.2其他射裁课
玛射线源和大于 1 MeV X射线设备允许的透照厚度范围见表 1。用%I和\C伽玛射线照相薄钢工件，其缺陷检测灵敏度不如采用技术参数适当的×射线：供伽码射线谢有操作方便和易于接近被检对象等优点齿此夜1 卵出子当使用X射线有科难时，叮使用迎玛射线源透照的厚度范围。
具体应用时，只要能获得相应的像质，透照厚度范围允许放宽，用伽玛射线照相时，移送源到指定位置的时间不应超过总曝光时间的10。6.2胶片系统和增感屏
射线照相捡测时，所用的胶片系统类别应与GB/T19348.1致，对于不同的射线源，最低的胶片系统类别见表2和表3。使用增感屏时，要求胶片与增感辨紧密贴合。可使用真空包装胶片或通过施加压力达到这一要求对于不同的射线源，衰 2 和表 3 给出了推荐的增感屏材料和厚度，只要满足签约各方所要求的像质，选用其他厚度的增感屏，6
GB/T19943-2005/ISO5579;1998
5060 70
避期厚度
小于500kVx射线机对不同透照厚魔和不同材料的最高管电压图8
伽玛射线源和能量大于等于 1 Me X 射线设备的进照厚度范围(钢,铜和镍基合金)射线源
能盘为(14)MeV的X射线设备
能量人于4MeV和小乎等下12
MeY的X射线设-备
能虽大于 12 MeV 的 x射线设备A级
2ste00
ze a 50
透照厚度
6ne:2:150
te -s0
对铝和,充许的透照厚度范围A级为10 mr1u~70 mm.B级为 25 mn~ umb对铝和，充许的透照厚度范围A级为35mm3w120mm。CB/T19943—2005/IS0 5579;1998表2
钢，铜基和镍基合金射线照相的胶片系统类别和金属增感屏射綫源
100V的×解线
二100 kV-- 150 kV的 ×射线
>150 kV--250kv的射线
a-l'ma
225k~50k的x扇线
能量为(1)MeV的X射线设备
能量大」4 MeV 和小于等于12 M:V的X射线设备
能量人！12MV的X射线设备
也可用更优的胶片系统类别，
透照厚斑
teeloy
100-*-300
w>-300
100-t*300
峻片系统类别
金属增感屏型和压理/m11
无屏,或前后屏0.93
就后铅屏：0.15
前后话屏 C. 32~ 0). 15
光屏或前后铅屏：0.03
前房钻屏0.2--3.1元
前后钻座1.02--0,3
前铅屏1, 1 -0. 3,后铅屏 0. 02 ~0. 3前后铅屏0.13.2
前铅屏 0. 02-~0, 2
后辨0,020.2
前铅屏 0. 1 ~.9.
前后屏或弱库 0. 25 - 0, 7°
前后银屏或铜屏0.25~~0.7
前铜异、钢屏或粗屏
后屏成钢年51后销屏0.店
前银屏1°,后屏
前屏1,组屏或0. 5
如果在胶片与工件之间敢置 n,1 mm的铅医,也可使用带有0. 03mm前屏的现成包装胶片A级也可使用0.5nm2的铅屏。
经签约各克同宽A级叫使用
经商定可使用势屏。
tet屏
表 3铝和钛的胶片系统类别和金属增感屏射线源
≤15u V 的 x射线
15--250kV的X线
500 ky 的x肝线
胶片系统类别
金属增感屏类型和乓度/inm
尤原，或前铅屏0.03，后铅屏≤0.15前话铅屏0.02.0.75
施后铅尿 3, 1-0. 2
前后铅屏c,02--,15
前铅展 0. 2*,后铅屏 0. 1--0. 2也可用更优的胶片系统类别。
可使两财带0.1mm惑被的.1mm屏代替0.2sirm豁屏。
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