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【电子行业标准(SJ)】 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
本网站 发布时间:
1975-07-26 15:00:00
- SJ966-1975
- 现行
标准号:
SJ 966-1975
标准名称:
硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1975-07-26 -
实施日期:
1976-06-01 出版语种:
简体中文下载格式:
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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准适用于硅开关二极管反向击穿电压的测试。测试反向击穿电压总的要求应符合SJ962-75. SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 SJ966-1975
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