【国家标准(GB)】 识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

[X 35.240,15
中华人民共和国国家标准
CB/T17554.3-—2006
识别卡
测试方法第3部分：带触点
的集成电路卡及其相关接口设备Identification cardsTest methuds-Part 3:Integrated circuit(x)carlswith contacts and related interfaredevices(IS0/IEC 10373-3:2C01,MOD)
2006-03-14发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2006-07-01实施
规范性引用文准
术语和究义
测试有法的跌认条款
测瓦外境
山心原处理
4. 3缺认容差
总质量的不衡定性
1.5电测负的定
4. 5投弃
各类测方法和与之和关的盐木标准…4.
5带触点的染成电路卡均现特性的阅江方法，5.1触点的尺寸和位置
5..2电--++
5. 3触点的表面中阻
5.4触点表而轮碗-
6带触点的集或电路卡自气持性的划试法VCC职点
s. Glk 肥点
5.4RST触点
6. 5VPP触点
?带触点的集前电路卡逻辑快忙的测试方让...7.1安位用答（AIR）
1.2 T=0动
1读议
接口设备日物重特性的试达
谢点所
VC:业点
8.3I/0点...
C1.K触点
8.5RST触点
VPP能点
8.9链点学新
9IFD退缺操作试方法
4.1发位ATR)
T=o划说
GB/T 17554.3—2006
CB/T 17554.3-2006
S.3T-1协
附A料件录）
A.1凯献强浅
三轮测试
点到试
医如测式方站
IFI>对于无效CB的响应
A.3.1 仅器
谢试件
GB/T17554让别卡测试达次分为个部：第1部分：—-报特性测试
英2部分磁第卡
第3部分，带触点的费电路下及其相关拟口设备第4部分，无触点免成电片卡
一第部：光记忆卡
第6部分接近式下
第“部分：邻近或卡
CB/T 17554. 3—20DE
本部分为CB/T17554的驾3部分。您收采用日际标准150/1EC:10373-3，205:1识别下测试方
法第，部分，带舰点的巢录中路卡及共相关按口设备（英义版）。本部分与I5/E：103：1柜比，增加新格收？下别内穿：日培加了4,6.2.2\多数定义”
1附录A中咨加了A，1\点用测试”：2）附录A因增划A.1.2.其缩号作了编修改。丧据所版认别卡样缺点的案成电路F物理将标证做了以上接改本部分的附录A灵资料附录
会部分出中华人民共和区信总产业部责出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口非部分起草单位，中电了技术标准化研究所：本部分要积单人：整、蔡怀患、献方、金情、刘华茂1范丙
识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备心/T 17554, 3—2006
公部分定义了带触点的集放电毕下放息相美按11议各村性的试方法，该方决与GB1166s等的，一试方交引一个或标准这基标准以是/1，可以见一个或影个定义了声卫在识别卡应的信息存储装术的补允轻术：注：收研举包在本中，而尺在以上提及约习京非中本举！定义，剂点的案成电路下及共州关接口设备特性的测试方法：B/T175>。，点义了为一种或多冲技术所共用的测或方伙；其也部分以定义「各个专项技术的测试方法。本部分中措述的告十溯试方法可单速进行，规定的卡不要求序地通过所有期认，本部分中项三测或方达基于G3/下1GG1)中的定义。采而本部分宁描述的测试方法班改合卒的也成也路下《ICC)和按口没备（IFT)，不排款在实示独时出现失效。太帮分不包含可京性测式的内穿.规范性引用文件
下到文性中的余款逆进C3/工17551的本部分的H成为本部分的条款，凡是注已期的可月文件，其随后所有的燃改单（不他括勘误的内容>或传版均不适用于本部分，然而.载耐根求木部分达及没的务方研究件可便用这费文的新版，凡是不追月期的引片文件，其效新版本还用本帮分。
G/191—00以剃、物理特性1S>/IEC78.0,1995BT16649.12V36低别E带点的案成电路F第-部分：物亚特性:1$CI751E1Gn/T1i49.一识卡股触点共成鸟路下第2部分：划点的尺+和置（IS/TEC:$162.16sS.1D)
GB/T16649.2一200%认F带触点集成业降：量分，电信号和代缩协没（180/IEL73J6-$:1657.JDT
GB/T1754.：2006识别测武方法第1部分：--般性测试（180/1F：1C3731:938MOD)
14841996微电了据实冷片法和料厅方达3015静电效山类度分类[5>/IF:781t-1：199元识另.」传触的生成电路卡第1部分：变竞金令3小语和定义
下列术估和实义追用了在部分。2. 1
到试方法tesi meurt
为，证变低则利租关按口设备等台考十标准再对其持性理行测成的方队3.2
可浏试功能lestallyFunctional经受了苯些能的破坏性的用后：仍有以下功能：CB/T17554.3——2006
a卡上的征何磁条示出「轻期圣木标带进行录瞬前后信号幅度间约关系：b）卡上的任何共成电踏仍然给出了符合基本标推的复位应答响应；）与卡1的任何集成鸟路相关的任例触点仍然给出了符合本标准的申阻，山）下上的任何光存储器仍然龄出了符合基本标准的光学持性。3.3
正常使用armalge
涉及卡技术盲尽当的设新处殊的认别下使用，以这设备操作之,问个人文件的存储。3.4
集成电路卡TF.C
GB/T16e49要列标准定义的持然点的荣成也路卡。3.5
签口设备IFI
GB/工1664U系列标准定义的化融点的染中座卡相关的接可段备3. F
被器件
木部分牛敏供试的ICC或接口设备。3. 7
典型协议和特定应用通信typicalprotocoandapplicatianspecirkcecomnmonicatlonIT与相应谢试设备之间的通信，该通停求于DIIT中实现的协议应用，够够代表DUT的正常资用。
测试方案testgcenatio
规定的典型坏文和特定应用通估用于本部分定义的测试克法.4别试方法的账认条款
4.1削试环境
非有我定物自学和逻转特性战虚在温为231利用对显度为%-%的境下进行。
4.2·预处理
慎试方法要求预处理，除非丹有现定，则在测试拍应将得测试的识别下在测试环境中放置241，4. 3默认转善
除非为有患定，现定试设备（制如载在尺寸）和测试方法硬程（如，则试收备准)的特性态效的款认穿为士%
4. 4总脏身的不确定性
这些测式方法所确定的每个数值的总度量不确定性应在测试投告中于以说明。4. 5电气测量的约定
电价差是相对于卡的ND职点定义的，流入卡的流被认为是正的，4.6设
4.6.1默认ICC支架，费考轴和款认测试位胃当谢成方法需安时，环汇应放置于改下定义的融认位置。1）本部分升不定义建立全面起作果的乘成电路卡的注任础民，这益通优方然使要求验证效小功理虚（可施试功能，在适的情记下，过可以调让进步加以补充应用待追动随性则，阻该难则在般骨况下是不具有的，2
GB/T17554.3—20C6
然认的阅试位置要求ICC范置于[CC支架上产由平展半，采用该献认测试位量的所有创试应以：1给出的多考轴为推
4,多，1认的查架和鲁考轴
获认的支架应与图1一致
尺以意单
断有害至为=.1rm
法：1T应企位，持1面相5m，效面度R水平性平，
图1ICC支架
4. 6, 1. 2平板
座与2
尺以盈为
所有率检为±0. 01 mm
的精nam
国2平板
4. 6. 1. 3赋认测试位置
C和半板应安装在1C支架上·如图3新示：3
GD/T17554.3—2006
十的主边续
：和F：分别为加在卡片打需帮中尖力以固定卡于架一，平N10.2N。
图3[CC与平板处于ECC支架中的位互4.6.2别试带触点的集成电路卡设备(1CXC.测试设备>4. 6. 2. 1款述
F,=IN--2N
所有的对电定义（：3.XV，，！3xV或V，10.V)尽相对+ND得的V。值4.6.2.2参数定义
信号幅度以至心%的下降时间
信号幅度以1长率心%的上升时间4.6.2.3产生VX电压(V.）和时间教
4.6.2.4测量V(X电流师位社示
活方式
吋幼伴
ICC类
A炎,B类
3 nA- nA
4.6.2.B产生PP电压(V）和时间
1 -- 22u u
+1: μA
Iin es
分拜辛
平兰时同太十「m
分浑素
兰：心中的产用以术实现些动能，在这情品，（测实改备央具有应的谢或需如4. 5. 2. 6量 PP电流
随卵快
非活（西）
Uu.A~JuomA
0 mA--1OG mA
±I mAWww.bzxZ.net
GB/T 17554.3-2006
开讲车
证：C十的成用可以不实现其其动能，在2种情况下IC试改备不要求尺有相应的试脂力（如[）产生RST电压和时间
4. 6. 2. 7
4. 6. 2. 8 测量 RSI 电疏
tr +2;
4. 6. 2. 10
4.6.2. 11
SU ↓-A~20 μA
25U μA-~33 ±A
产生接收状态的1/0电压和时间
ICC:接收，
测量设备1发
ICC接收，
到禁微备发这
接收·
测网良奇发选
测量接收模此的1/0电法
接收，
测尿设咨：发
HA接收，
测康总告：发送
产生的[/1 电流
1:效活，
到置设备安收
OC.变送，
烈量设备按收
35G μA---Rn μ
1. 5 rA--30 μA
Vt上找2uks2
欢电路
n nA--I.b mA
-i v..2 v.
μg-- 2 J-2
2 v--6 V
2 v--1 v
1 y--2 V
±20 ng
luc us
+toons
到达要求电
后的度定时间
GB/T17554.32006
4. 6.2. 13
测量[/0电压和时闯
itx:类
产生CLK电压
产毛CLK遮形（单周期削量）
卢空此
4. 6. 2. 15
酮量 CI,K 电沫
-I V~E V
-1V--1V
0 --2
2 v-- v
-1 V~2 V
品期的353--E5
0.5 MHz--5. 5 MH
: MH.--XO b MH
送期的110元
30 rA--15C μA
15 m-90
量RST.CLK和I/O的接随电弃
0 pF.-50 pF
注：按触太,的接融电齐应在接独点和抵之迟行测量，4. 6,2. 17
产生活和停活触点的信号序列
划快信亏的他用
C *-1 s
3[/0协设的仿真
4.6.2. 18
± 2n ng
=i IHx
HcukiIz
2r: ns
分意率
一20U（或1个时钟质期，取点中的较小的一个，ICC测试改备应能信款工一心和T=1协设·并能仿享需要运对虚手心典型应用的将定通信程字的IFD应用。
：[CC可以不实成英比特定的阻达择在情无下的I测试装置不相要对底的曾式能力（如，X，可以不实死T—1欧次
4,6.2. 19在接收携式产生1/0宇符时序ICC划式投备应能按照G3/T16649.32006的要交坐戚10位流
所有的孝激虾位长，保护时间，带误标识信号等，应脂进行微，新
所有时序给粒
二4个时钟准期
4.5.2.201/)协议的测试和监控
GB/T 17554.3—2C06
心两试设各息能测试和监控相心于(LK率范线工的避识高低电平的时片、转证
所有时序特证
4.62.21协议分析
士2时针同期
[CX.则或装暨应能对将合GT36549.120CE=3和=1协议的/0签滋进行分所，并能提联游料效据流以使进行迷步的协设和还用愉证达：力的度用可能不莱些为能心诊随况下的大装骨小产安充心的范临文（期专的费可能实期T一1核设，拒民地，测让装音可能需要展配，测划，仰果ICC支持标准命令RIADPINARY、片产2/16195
4.6.3测试旁口设备的装置（1F1)划试装置）4.6.3. 1取述
听有相电压定义(:3.?.3.5×变：.)尽相于G的H以当时听测得的V参。
4.6.3.2产生vcC电流(ss?
深长泽
高祝节济长岸
即告存长店
产生发
空用预（钟厚止）
川断活
最大的经出牛,正应低F与V
上产生失呼的改高净件，
2.6.3.3量YCC:电压(F.和时间
IEx类
产坐YPP电洗
商活·
* 出电乐查制在 - 5 V--Y..
mA--120 mA
0 mA--70 1:L3
C m.a--1.2 na
1.2 mA--0 mA
JC: ns-- 5C0 n:
Juuscs
10 ~-2 4:
D mA-i nA
1. 3 A--C mA
12 mat
上5:ns
- 5: no
-3c mV
至，法市平后的稳定
:103 s
c:1c2 ns
分辨率
划电平污的艳定
lUu us
100 ns
CB/I17554,3—2C06
2, 6. 3. 5
4, 6, 3. 5
量TP电压和时间
产生H5T电流
摘乐4-u5 v~s.5
4. 6. 3. 7
Ix +fn
刚量R5T电压和时间
产生1/电流
经试表改接收格
IFD,世送和性
测证者：接收和
1PD放送和收
4 前出电压应限史在-心. 1~1, : V.4. 6. 3. 9
测量电函和时间
I V--25 V
1 p8--220s
电造范玉
3c. μA--2nn μ2
250 u-.10 ↓
-1.2 rA~.n mA
2 P-- V
-v--2 V
~ 2 μs
-4: μA~3 μA
>mA.-J.5T.A
2A--1
1.2mA--C mA
1 1--2 V
tsl: :nV
= 26: ng
分移司
我平的整定时与
icai n:
分异本
到达出平后的
秘进时司
100 ng
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