【国家标准(GB)】 搪玻璃层的厚度测量 电磁法

中华人民共和国国家标准
携玻璃层的厚度测电磁法
Method for measuring the thickness of giass -llaedlayer by electro-magnetic meterUDC 666.293581
GB 7991--87
本标准规定了一种用电磁性仪器的测量方法。适用于无损测量磁性基体上的糖玻璃层厚度。本标准参照采用1SO20641980《金属和其他无机涂层—有关厚度测定的定义和通则》和ISO2178—1982《磁性基体上的非磁性涂层———厚度的测定-磁性测定法》而制订。1定义
本标准所引用的术语规定了以下楚义：1.1有效面积一-对产品的外观或适用性有明确要求的塘玻璃面为有效面积。1.2
测鼠点面积一
1.3 签考面积—
一进行每次测量时探头所触及的有效表面面积为测量点面积。一在有效面积中完或规定的各个谢最点所触及的测量点面积之和。1.4局部厚度在参考积上测得的各测最点厚度的算术平均值，以又表示。最大厚度一一在一件产品上有效面积内所有测量值中的最大值，以Kmx表示。1.5
1.6最小厚度一一在一件产品上有效面积内所有测值中的最小值，以Xm表示。2影响测量精度的因素
2:1塘玻璃尝厚度一测量的精度随着涂层厚度的变化而变化，这是由所用的方法和仪器而决定的。
2.2基体金属厚度一----每种仪器有：~个探头，每个探头对基体金属都有它的临养厚度要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属厚度增加的影响。所以除非此值已由议器制造广作出了规定，否则应通过实验来测定这个临界值。2.3.甚体金属的磁性质一一厚度测量值受基体金属磁性质变化的影响。（低碳钢的磁性质变化可以认为是轻微的。）
2.边缘效应一一电磁式测厚仪对样品的表面轮廓的突变是敏感的，因此，太靠近边缘或拐角处的测试将是无效的，除非该仪器针对上述条件作了专门的校正。这种影响可能延伸到距边角20排m处。2.5曲率一一测试受样品曲率的影响。曲率的影响与仪器的类型有相当大的关系，当曲率半径减小时；常常使此影响变得更为显著。强的杂散磁场，诸如各种电气设备所产生的杂散磁场可严重下扰电磁式测厚仪2.6杂散磁场—
的操作。
2.7探头压力一—施加于探头的压力的人小，对仪器的读数有影响。3仪器的调整
3.1每台仪器在使用前应预调整。使用适当厚度的标准板按照使用说明书规定进行调整。3.2为减少测量误差，在一些情况下，必须将仪器的探头转动几个角度来对仪器选行调整。3.3仪器的程要选定在需测量的量程范围之内。3.4一般情况下要选用大于临界厚度值的基体金属底板来进行仪器的调整。中华人民共和国化学工业部1987-07-01批准1987-10-01实施
4 测量步骤
GB 7991—87
4.！每台仪器应根据仪器制造厂的说明书进行操作并在现场进行调整，以保证仪器的准确性。测量过程中要注意第2章所列的影响精度的诸因素。4.2检查基体金属的厚度是否超过了临界厚度，如未超过，则可在测试点下面垫与基体金属相同材质的金属板使其总厚度超过临界厚度，或改变调整仪器用的金属底板厚度使之与被检验样品的基体金属厚度相同，以碱小測量误差。4.3被测样品有曲率时，要用与被测样品具有相同曲率的标准样进行校正以减少测量误差。4.4测量过程中要经常校正仪器。5测量精度免费标准下载网bzxz
测量精度取决于仪器的设计与校正及样品的形状。这种方法的测量精度，在正常情况下可达土10%以内。
6检验报告
检验报皆应记录样品的名称、规格、编号。各测点的测量厚度值。最后要计算出该检验样品的局部厚度的算术平均值、最大厚度值、最小厚度值及该样品的局部厚度标准偏差（S）示例
测量点厚度Xi，X，X.·.
最大厚度值：Xmax
最小厚度值：Xmi
局部厚度平均值：X
局部厚度标准偏差：S
(X -X)2
GB T891BT
附录A
据玻璃设备的测量部位及测最点数(补充件）
在本附录中给出了必须测量的部位及测量点数的最低限。但在实际测量中应作更多的测量部位与测量点，从而使统计值更有代表意义。A.1测量部位
A.t.1，購体
法兰圆角R，
上接环：
“下接环
下料口。
法兰圆角R，
底座支架
搅拌接孔：
温度计接孔：
任意接孔。
A.1.3搅拌器
焊接部：
翼下部，
直管。
A,1.4温度计套管
端部，
焊接部
直管。
A.2 测量点数
A.2.1罐体，罐盖当公称直径D1200mm时、每部位测量四点，当公称直径D》1200mm时，每部位测量五点。另外在有效面积内，再任意测量四叫点。A.2.2搅拌器、温度计套管当长度H（或L）1620mm时，每部位测量三点；当长度H（或L）>1620mm时，每部位测量四点。
附加说明：
本标准由全国塘玻璃设备标准化技术委员会烂口。本标准由化工部化工机械研究院负责起草。本标准主要起草人哭玉卿。
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