【国家标准(GB)】 复合金属覆层厚度的测定 Χ荧光法

中华人民共和国国家标准
复合金属覆层厚度的测定
X荧光法
Method for measuring thickaess of coated layer on composite metalThe X-ray fiuorescent method1主题内容与适用范围
GB 11250.2—89
本标准规定了X荧光法测定复合材料覆层厚度的方法、使用的仪器、测量步骤、标准样品的制作以及测量曲线的绘制。
本标准适用于X荧光法对复合材覆层原度的测定。方法精密度为士5%。2方法原理
被测物质在放射源的激发下，产生X荧光。荧光的骼量是有特征性的，不同元素会产生不同的荧光，荧光的强度与该元素的含量有关，该元素的含量越离，荧光强度就越强，以此来代表在一定范围内后层物质的多少，从而反映出覆层的厚度。也可以选择性地测定底层物质的荧光。由于它穿过覆层时被吸收，覆层越厚，吸收越强烈，即测量到的底层物质的荧光就越弱，根据其减弱程度也定量的反映出覆层厚度。
3适用范显与应用举例
3.1适用范用Www.bzxZ.net
基体和覆层两种材料的原子序数都大于20，或两种材料中有一种原子序数大于20。3. 2应用举例
应用举例如下表。
镶镶快带的镀镍层
覆铝快带的覆铝层
键银铜板的镀银层
铁板上涤激的塑料层
4仪器
HYX.1型轻便X射线整光仪
5测量步
5.1敢大于测盘密口，直径为虹40的平面试样。覆层厚度m
5.2固定试样，将被测带材按测试要求，平放在仪器测量窗口上进行测试。5. 3被测试样为低能物质时,利用 Pu9放射源。被测试样为高能物质时,利用 Am241放射源。5.4当覆层与底层金属原子序数相近（如镀镍铁带的镀锦层），要加滤光片时，按仪器操作，各测一次，中华人民共和国机械电子工业部1989-03-24批准1990-01-D1实施
W.GB 11250.2--89
取其差值，并由仪器直接显示测量读数值。5.5每次采样时间为20s，测量三次，取其算术平均值。5.6根据测量的乎均值，查覆层厚度±与乎均读数慎充的关系曲线（见图1),取得被测覆层的厚度值。6标准样品的制作
6.1由于X荧光测定是相对比较测量，需要一套已知厚度的标样品作比较，以便将该读数换算成厚度。标准样品的制作，应与被测样品的如工方法相同，以消除由于密度等因素带来的误差。6.2对于镀镍铁带或覆铝铁带等复合金属，可用轧制好的凡种经精密测定已知厚度的镍箔或铝销等（厚度系列的选择，视工艺要求和被测试样的厚度而定)与铁片重登(尽可能藏少间隙)，作为标准样品。6. 3 对干电镀层,可选用度为 0. 001 mm 的量具先测定底展厚度,电镀后再定厚度,然后管出覆层厚度，作为标准样品。
覆层厚度与平均读数值关系曲线的绘制在制得标准样品后，可以根据上述方法，分别测出各标准厚度的平均读数值1，然后绘制成覆层厚度d与平均读数值n的关系曲线。见图1图1覆层厚度d与X荧光强度n的关系的曲线T一覆层 X 荧光强度与层厚度 d 的关系曲线;I一底层 X荧光强度 与覆层厚度 4 的关系曲线8精密度
本方法的精密度为士5%,其中测量误整不超过士2%.仪器系统误差为士3%。附加说明：
本标摊由745厂负责起草。
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