【电子行业标准(SJ)】 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

本网站 发布时间: 1999-08-26 15:00:00
  • SJ/T11212-1999
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ/T 11212-1999

  • 标准名称:

    石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1999-08-26
  • 实施日期:

    1999-12-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件

关联标准

  • 采标情况:

    IEC 444-6-1995 IDT

出版信息

  • 页数:

    16页
  • 标准价格:

    17.0 元
  • 出版日期:

    1999-12-01

其他信息

  • 起草人:

    章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林
  • 起草单位:

    电子工业部标准化研究所
  • 归口单位:

    电子工业部标准化研究所
  • 提出单位:

    电子工业部标准化研究所
  • 发布部门:

    中华人民共和国信息产业部
标准简介标准简介/下载

点击下载

标准简介:

本规范适用于石英晶体件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础,适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 SJ/T11212-1999 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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