【QB轻工标准】 眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法

中华人民共和国行业标准
QB/T1912-93
眼镜架金属镀层厚度测试方法
X荧光光谱法
1994—01—06发布
中国轻工总会
1994-0801实施
中华人民共和国行业标准
眼镜架金属镀层厚度测试方法
X荧光光谱法
1主题内容与适用范围
QB/T1912-93
本标准规定了眼镜架金属镀层厚度的非接触式、无测试方法（X荧光光谱测试法）的测试原理、仪器设备、标准样品、试样、测试程序、测试不确定度及试验报告。本标准适用于定量测试眼镜架金属镀层的厚度。2术语
2.1X射线荧光Xrayfluorescent
高强度入射的X射线照射在物体上，使被照射物体产生特定能量的二次辐射。其能量特征与被射物的元素组成有关。
2.2辐射强度intensityofradiation指测试仪显示的辐射计数率，即单位时间探测器接收的辐射的辐射脉数（cps)。2.3饱和厚度satuzationthickness在一定条件下，被测材料的荧光辐射强度不再随材料厚度的增加而变化的最小厚度。2.4能量色散Energydispersion
用能量分析器将镀层或基体产生的二次辐射能量分离。波长与其等效能量关系为：
入E=1.2396
式中：入—波长，nm；
E-能量，kev。
3测试原理
以一束强而狭窄的X射线射到镀层与基体上即产生不同能量的X射线荧光。这些荧光具有构成镀层和基体所含的元素特性。当镀层厚度不大于饱和厚度时，其厚度与所产生的X荧光强度有一定关系，即镀层发出的X荧光强度随镀层厚度的增加而增加；由基体发出的X荧光强度随镀层厚度的增加而减小。
中国轻工总会1994-01—06批准
1994-08--01实施
QB/T1912-93
根据已知镀层厚度的标准样品建立的工作曲线，可测出与标准样品相同成份的试样镀层厚度。
镀层的X荧光强度与其厚度之间的关系可用下式表示：I=（-I)（1-e-μ）+I
式中：I-
X射线荧光强度，cps；
X-镀层厚度，μm；
一线吸收系数；
I——背景强度，cps；
Ie。饱和强度，cps。
仪器设备
使用的仪器设备由能量色散装置及微处理机组成：如图所示a一试样台；b-试样；
波器；g一正比计数器；
控制系统；
1一微电脑：
d-x射线开关：e一x射线管；f一滤C准直器：
h一放大器；
i-X射线源；j一多通道分析器：m一显示与打印：
n一监察器
5标准样品
QB/T 1912-93
5.1标准样品的镀层应均匀一致，清洁平整，且与标称值的误差不大于5%。5.2标准样品的X荧光辐射特性应与待测试样的特性相同。6试样
6.1镀层表面应洁净无腐蚀。
6.2基体厚度应不小于饱和厚度。7测试程序
7.1按标准样品建立工作曲线。
7.2试样测试
测试点数及位置
测5点：穿梁正面当中一点，左右正面镜圈下缘各一点，左右正面镜腿各一点。保持试样的被测面与试样台相对平行。7.2.2
7.2.3测试距离必须调整到聚焦最清晰为止。7.2.4准直器孔径必须与试样形状和尺寸相匹配。7.2.5测试时间：每点不小于20s。7.3将测试结果填入测试报告。
测试的不确定度
测试的不确定度应小于10%。
测试报告
测试报告应包括下列内容：
a.日期；
b.采用或参照的标准编号；
C.使用仪器的名称及型号；
d.试样编号：
e.测试条件：测试每点时间、准直器孔径、X射线强度、环境温度和湿度；.测试结果：镀层金属名称、测试位置、测试值；g.测试单位及测试人签名。
附加说明：
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本标准由中国轻工总会质量标准部提出。本标准由中国眼镜标准化中心归口。本标准由中国轻工总会玻璃塘瓷研究所和野尻眼镜有限公司负责起草。本标准主要起草人：钟荣世、张尼尼、张仁康、番白。中华人民共和国
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眼镜架金属镀层厚度测试方法
X荧光光谱法
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