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- SN/T 3915-2014 铝及铝合金中镁、硅钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定X射线荧光光谱法

【SN商检标准】 铝及铝合金中镁、硅钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定X射线荧光光谱法
- SN/T3915-2014
- 现行
标准号:
SN/T 3915-2014
标准名称:
铝及铝合金中镁、硅钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定X射线荧光光谱法
标准类别:
商检行业标准(SN)
标准状态:
现行出版语种:
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标准简介:
SN/T 3915-2014.Determination of magnesium, silicon, titanium, manganese , iron, nickel , copper , zinc,gallium in aluminum and aluminum alloy-X ray fluorescence spectrometry.
1范围
SN/T 3915规定了铝及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓含量的X射线荧光光谱法测定方法。
SN/T 3915适用于铝及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定,测定范围见表1。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则
3方法提要
将试样的分析面加工成光洁平面,在选定的仪器测量条件下,测定样品中待测元素特征谱线和内标元素铝的特征谱线的X射线荧光强度,根据待测元素特征谱线和内标元素铝的特征谱线的X射线荧光强度比值与待测元素含量之间的定量关系,选用合适的回归方法和数学校正模式,计算出待测元素的含量。
4试剂与材料
4.1亚甲烷气体(10%甲烷+ 90%氩气)。
4.2有证铝及铝合金标准物质:光谱用标准试块。各元素应至少有6块标准样品,其含量应有一定间隔,并覆盖待测元素的测定范围。
5仪器
5.1 波长色散X射线荧光光谱仪,符合GB/T 16597的规定。
5.2试样加工设备:车床或铣床。
6分析步骤
6.1试样制备
试样为块状样品,其最大横截尺寸不得超过42 mm,长度在20 mm~40mm。样品分析面用车床或铣床加工成光洁的平面,并保证在制样过程中试样不氧化,制样过程中应使用无水乙醇冷却。

部分标准内容:
铝及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定X射线荧光光谱法
Determination of magnesium , silicon , titanium, manganese , iron, nickel, copper, zinc,gallium in aluminum and aluminum alloy--X ray fluorescence spectrometry2014-04-09发布
华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2014-11-01实施
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起节。本标准由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本标准起草单位:中华人民共和国青海山入境检验检疫局。本标准主要起草人:戴达勇、连通、郭庆斌、张荣、李莉。SN/T3915-—2014
铝及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定
X射线荧光光谱法
SN/T3915—2014
本标准规定了铅及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓含量的X射线荧光光谱法测定方法。本标准适用于铅及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、钊、锌、镓的测定,测定范围见表1,表1方法的测定范围
规范性引用文件
测定范周
0.008 41.18
0.006 2-~1,20
0.004 1--.093
(.000 25-~0.205
0.002 7--0.143
0,00C 40 ~-0.111
0.003 0~-0.188
0.001 0~-C,086
0.063 1--0.050
下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注H期的引用文件仅注H期的版本适用于本义件。凡是不注口期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件GB/T16597治金产品分析方法:X射线荧光光谱法通则3方法提要
将试样的分析面加工成光洁平面,在选定的仪器测量条件下,测定样品巾待测元素特征谱线和内标心素铅的特征谱线的X射线荧光强度,根据待测元素特征谱线和内标儿素错的特征谱线的射线荧光强度比值与待测元素含量之间的定量关系,选用合适的回归方法和数学校正模式,计算山待测元素的含量。
4 试剂与材料
4.1亚甲烷气体(10%甲烷190%氯气)有证铝度铝合金标准物质:光谱用标准试块。各元素应至少有6块标准样品,其含量应有一定间4.2
SN/T3915—2014
隔,并覆盖待测元素的测定范围。5仪器
5.1波长色散X射线荧光光谱仪,符合GB/T16597的规定。5.2试样加工设备:车床或铣床。6分析步骤wwW.bzxz.Net
试样制备
试样为块状样品,其最大横截尺寸不得超过42mm,长度在20mm~40mm。样品分析面用车床或铣床加工成光洁的平面,并保证在制样过程中试样不氧化,制样过程中应使用无水乙醇冷却。6.2X射线荧光光谱分析
6.2.1测量条件
各元素测定的特征谱线以及特征谱线的测量条件通过优化获得,X射线荧光光谱仪的测量条件参见附录A。
6.2.2标准曲线的制作
选取不少于6块铝及铝合金标准物质(4.2)按照6.1进行制备,并按6.2.1确定的测量条件测定各元素特征谱线的X射线荧光强度,用铝元素作为内标,进行基体效应校正和谱线干扰校正,制作标准曲线。
6.3测定
6.3.1漂移校正
选择合适的漂移校正样品进行仪器自的漂移校正。
可采用单点校正
或两点校正,校正的问隔时问可根据仪器的稳定性决定。当更换流气计数器的气体后必须进行漂移校正。6.3.2试样测定
仪器预热并稳定后,按选定的测量条件测定样品(6.1)中待测元素特征谱线的X射线荧光强度。6.4结果计算
根据测出的试样中各元索特征谱线的X射线荧光强度,按标准曲线计算出各元素的含量。元素含量在1%以上时,计算结果表示到小数点后2位;元素含量在0.10%以下时,计算结果表示到2位有效数字。
7精密度
在重复性条件下获得的两次独立测定结果的绝对差值不超过算术平均值的10%。2
-irKAoNrkAca
附录A
(资料性附录)
X射线荧光光谱仪测量条件
推荐X射线荧光光谱仪条件见表A.1,表 A.1射线荧光光谱仪条件
Znk。
分光晶体
PE 002-C
PE 002-C:
推配器
检测器
Duplex
Duplex
Duplex
Duplex
SN/T3915-2014
1.324,1.175.
0.748.0.936
—0,878
—2.010,5.551
测最时间
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