GB 3436-1986 半导体集成电路运算放大器系列和品种 GB3436-1986

GB 3834-1983 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 GB3834-1983

本标准为第11部分，等同采用IEC 60748-11:1990《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》，代替GB/T 12750-1991。本标准适用于已封装的半导体集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路。 GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电

GB/T 7508-1987 半导体集成微型计算机电路cμ6821型 外围接口转接器功能验证方法 GB/T7508-1987

GB/T 7507-1987 半导体集成微型计算机电路cμ8080 A型8位微处理器功能验证方法 GB/T7507-1987

本标准规定了半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器(以下简称器件)的品种及其基本性能。 GB/T 6811-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 数字/模拟转换器和模拟/数字转换器的品种 GB/T6811-1986

本规范适用于半导体集成电路外壳(以下简称外壳)，它规定了对外壳进行质量评定时的总程序，并给出了下述测试和试验的总原则：电特性测试；气候和机械试验。对各类外壳，其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。 GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范 GB6649-1986

GB/T 11493-1989 半导体集成电路外壳空白详细规范 GB/T11493-1989

GB/T 3432.2-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H系列的品种 GB/T3432.2-1989

JB/T 6264.1-1992 半导体集成电路SJ213CP中英文打字机专用电路产品规范 JB/T6264.1-1992