本标准规定了半导体集成电路TTL电路系列54/74F系列品种的名称、逻辑符号、引出端排列、逻辑图、逻辑表达式(或功能表)以及它们的主要电参数。 GB/T 12084-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 GB/T12084-1989

本标准规定了半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 12845-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压频率和频率/电压转换器的品种 GB/T12845-1

本标准规定了半导体集成电路采样／保持放大器的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种 GB/T12844-1991

本标准规定了半导体集成电路TTL电路PAL系列的品种的名称、引出端排列、功能框图、逻辑图和主要特性(包括输入、输出特性和主要电参数)。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。生产(研制)或选用器件时，应符合本标准的规定。若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。 GB/T 14129-1993

本规范规定了编制半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器详细规范的基本原则。本规范是半导体集成电路一系列空白详细规范中的一个，它应与GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范》一起使用。 GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。 GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T14115-1993

本标准规定了半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器的电参数测试。 GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993

本标准规定了半导体集成电路频率合成器(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 14027.6-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种 GB/T14027.6-1992

本标准规定了半导体集成电路模拟开关阵列(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 14027.3-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种 GB/T14027.3-1992

本标准规定了半导体集成电路80C86系列16位微型计算机电路的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。 GB/T 14026-1992 半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 GB/T14026-199