GB 3441-1982 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 GB3441-1982

GB 3440-1982 半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 GB3440-1982

本标准为第11部分，等同采用IEC 60748-11:1990《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》，代替GB/T 12750-1991。本标准适用于已封装的半导体集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路。 GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电

GB/T 7508-1987 半导体集成微型计算机电路cμ6821型 外围接口转接器功能验证方法 GB/T7508-1987

GB/T 11493-1989 半导体集成电路外壳空白详细规范 GB/T11493-1989

JB/T 6264.1-1992 半导体集成电路SJ213CP中英文打字机专用电路产品规范 JB/T6264.1-1992

本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。 GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) GB/T1

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2：1993《半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第二篇：线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细标准》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据。IEC电子器件质量评定体系遵循IEC

IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC

IEC电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000